e-Article
'e-Article'
searched 26,071results | List
1~10
Report
Nycz, M.; Armstrong, W.; Averett, T.; Gayoso, C. Ayerbe; Bai, X.; Bane, J.; Barcus, S.; Benesch, J.; Bhatt, H.; Bhetuwal, D.; Biswas, D.; Camsonne, A.; Cates, G.; Chen, J-P.; Chen, J.; Chen, M.; Cotton, C.; Dalton, M-M.; Deltuva, A.; Deur, A.; Dhital, B.; Duran, B.; Dusa, S. C.; Fernando, I.; Fuchey, E.; Gamage, B.; Gao, H.; Gaskell, D.; Gautam, T.; Gauthier, N.; Golak, J.; Hansen, J. -O.; Hauenstein, F.; Henry, W.; Higinbotham, D. W.; Huber, G.; Jantzi, C.; Jia, S.; Jin, K.; Jones, M.; Joosten, S.; Karki, A.; Karki, B.; Katugampola, S.; Kay, S.; Keppel, C.; King, E.; King, P.; Korsch, W.; Kumar, V.; Li, R.; Li, S.; Li, W.; Mack, D.; Malace, S.; Markowitz, P.; Matter, J.; McCaughan, M.; Meziani, Z-E.; Michaels, R.; Mkrtchyan, A.; Mkrtchyan, H.; Morean, C.; Nelyubin, V.; Niculescu, G.; Niculescu, M.; Peng, C.; Premathilake, S.; Puckett, A.; Rathnayake, A.; Rehfuss, M.; Reimer, P.; Riley, G.; Roblin, Y.; Roche, J.; Roy, M.; Sauer, P. U.; Scopeta, S.; Satnik, M.; Sawatzky, B.; Seeds, S.; Širca, S. S.; Skibiński, R.; Smith, G.; Sparveris, N.; Szumila-Vance, H.; Tadepalli, A.; Tadevosyan, V.; Tian, Y.; Usman, A.; Voskanyan, H.; Witala, H.; Wood, S.; Yale, B.; Yero, C.; Yoon, A.; Zhang, J.; Zhao, Z.; Zheng, X.; Zhou, J.
Report
Belle; Collaborations, Belle II; Aggarwal, L.; Ahmed, H.; Aihara, H.; Akopov, N.; Aloisio, A.; Althubiti, N.; Ky, N. Anh; Asner, D. M.; Atmacan, H.; Aushev, V.; Aversano, M.; Ayad, R.; Babu, V.; Bae, H.; Baghel, N. K.; Bahinipati, S.; Bambade, P.; Banerjee, Sw.; Baudot, J.; Baur, A.; Beaubien, A.; Becherer, F.; Becker, J.; Bennett, J. V.; Bernlochner, F. U.; Bertacchi, V.; Bertemes, M.; Bertholet, E.; Bessner, M.; Bettarini, S.; Bhardwaj, V.; Bianchi, F.; Bilka, T.; Biswas, D.; Bobrov, A.; Bodrov, D.; Boschetti, A.; Bozek, A.; Bračko, M.; Branchini, P.; Briere, R. A.; Browder, T. E.; Budano, A.; Bussino, S.; Campajola, M.; Cao, L.; Casarosa, G.; Cecchi, C.; Cerasoli, J.; Chang, M. -C.; Chang, P.; Cheema, P.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Chirapatpimol, K.; Cho, H. -E.; Cho, K.; Cho, S. -J.; Choi, S. -K.; Choudhury, S.; Cochran, J.; Corona, L.; Cui, J. X.; De La Cruz-Burelo, E.; De La Motte, S. A.; De Nardo, G.; De Pietro, G.; de Sangro, R.; Destefanis, M.; Dhamija, R.; Di Canto, A.; Di Capua, F.; Dingfelder, J.; Doležal, Z.; Dong, T. V.; Dorigo, M.; Dubey, S.; Dugic, K.; Dujany, G.; Ecker, P.; Epifanov, D.; Eppelt, J.; Feichtinger, P.; Ferber, T.; Fillinger, T.; Finck, C.; Finocchiaro, G.; Fodor, A.; Forti, F.; Fulsom, B. G.; Gabrielli, A.; Ganiev, E.; Garcia-Hernandez, M.; Garg, R.; Gaudino, G.; Gaur, V.; Gaz, A.; Gellrich, A.; Ghevondyan, G.; Ghosh, D.; Ghumaryan, H.; Giakoustidis, G.; Giordano, R.; Giri, A.; Gironell, P. Gironella; Gobbo, B.; Godang, R.; Gogota, O.; Goldenzweig, P.; Gradl, W.; Graziani, E.; Gruberová, Z.; Guan, Y.; Gudkova, K.; Haide, I.; Han, Y.; Hara, T.; Hayashii, H.; Hazra, S.; Hearty, C.; Heidelbach, A.; de la Cruz, I. Heredia; Higuchi, T.; Hoek, M.; Hohmann, M.; Hoppe, R.; Horak, P.; Hsu, C. -L.; Humair, T.; Iijima, T.; Ipsita, N.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, M.; Jackson, P.; Jacobs, W. W.; Jang, E. -J.; Ji, Q. P.; Jia, S.; Jin, Y.; Johnson, A.; Joo, K. K.; Junkerkalefeld, H.; Kandra, J.; Kang, K. H.; Kang, S.; Karyan, G.; Kawasaki, T.; Keil, F.; Ketter, C.; Kiesling, C.; Kim, C. -H.; Kim, D. Y.; Kim, J. -Y.; Kim, K. -H.; Kim, Y. -K.; Kinoshita, K.; Kodyš, P.; Koga, T.; Kohani, S.; Kojima, K.; Korobov, A.; Korpar, S.; Kovalenko, E.; Kowalewski, R.; Križan, P.; Krokovny, P.; Kuhr, T.; Kulii, Y.; Kumar, R.; Kumara, K.; Kunigo, T.; Kuzmin, A.; Kwon, Y. -J.; Lai, Y. -T.; Lalwani, K.; Lam, T.; Lau, T. S.; Laurenza, M.; Leboucher, R.; Diberder, F. R. Le; Lee, M. J.; Lemettais, C.; Leo, P.; Li, C.; Li, L. K.; Li, Q. M.; Li, W. Z.; Li, Y.; Li, Y. B.; Liao, Y. P.; Libby, J.; Lin, J.; Liu, M. H.; Liu, Q. Y.; Liu, Y.; Liu, Z. Q.; Liventsev, D.; Longo, S.; Lueck, T.; Lyu, C.; Maggiora, M.; Maharana, S. P.; Maiti, R.; Mancinelli, G.; Manfredi, R.; Manoni, E.; Mantovano, M.; Marcantonio, D.; Marcello, S.; Marinas, C.; Martellini, C.; Martens, A.; Martini, A.; Martinov, T.; Massaccesi, L.; Maurya, S. K.; McKenna, J. A.; Mehta, R.; Meier, F.; Merola, M.; Miller, C.; Mirra, M.; Mitra, S.; Mondal, S.; Moneta, S.; Moser, H. -G.; Nakamura, I.; Nakao, M.; Naruki, M.; Natkaniec, Z.; Natochii, A.; Nayak, M.; Nazaryan, G.; Neu, M.; Nishida, S.; Ogawa, S.; Ono, H.; Otani, F.; Oxford, E. R.; Pakhlova, G.; Paoloni, E.; Pardi, S.; Park, H.; Park, J.; Park, K.; Park, S. -H.; Passeri, A.; Pedlar, T. K.; Peruzzi, I.; Pestotnik, R.; Piccolo, M.; Piilonen, L. E.; Podobnik, T.; Pokharel, S.; Praz, C.; Prell, S.; Prencipe, E.; Prim, M. T.; Prudiiev, I.; Purwar, H.; Rados, P.; Raeuber, G.; Raiz, S.; Rauls, N.; Reif, M.; Reiter, S.; Remnev, M.; Reuter, L.; Ripp-Baudot, I.; Rizzo, G.; Roehrken, M.; Roney, J. M.; Rostomyan, A.; Rout, N.; Sakai, Y.; Sanders, D. A.; Sandilya, S.; Santelj, L.; Savinov, V.; Scavino, B.; Schneider, S.; Schnepf, M.; Schwanda, C.; Schwartz, A. J.; Seino, Y.; Selce, A.; Senyo, K.; Serrano, J.; Sevior, M. E.; Sfienti, C.; Shan, W.; Sharma, C.; Shi, X. D.; Shillington, T.; Shimasaki, T.; Shiu, J. -G.; Shtol, D.; Shwartz, B.; Sibidanov, A.; Simon, F.; Singh, J. B.; Skorupa, J.; Sobie, R. J.; Sobotzik, M.; Soffer, A.; Sokolov, A.; Solovieva, E.; Spataro, S.; Spruck, B.; Song, W.; Starič, M.; Stavroulakis, P.; Stefkova, S.; Stroili, R.; Strube, J.; Sue, Y.; Sumihama, M.; Sumisawa, K.; Sutcliffe, W.; Suwonjandee, N.; Svidras, H.; Takizawa, M.; Tamponi, U.; Tanida, K.; Tenchini, F.; Thaller, A.; Tittel, O.; Tiwary, R.; Torassa, E.; Trabelsi, K.; Tsaklidis, I.; Ueda, I.; Unger, K.; Unno, Y.; Uno, K.; Uno, S.; Urquijo, P.; Vahsen, S. E.; van Tonder, R.; Veronesi, M.; Vismaya, V. S.; Vitale, L.; Vobbilisetti, V.; Volpe, R.; Wakai, M.; Wallner, S.; Wang, M. -Z.; Wang, X. L.; Wang, Z.; Warburton, A.; Watanuki, S.; Wessel, C.; Xu, X. P.; Yabsley, B. D.; Yamada, S.; Yan, W.; Yelton, J.; Yin, J. H.; Yuan, C. Z.; Zani, L.; Zeng, F.; Zhou, J. S.; Zhou, Q. D.; Zhukova, V. I.; Žlebčík, R.
Academic Journal
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems IEEE Trans. VLSI Syst. Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, IEEE Transactions on. 32(6):1018-1031 Jun, 2024
Report
Li, R.; Sparveris, N.; Atac, H.; Jones, M. K.; Paolone, M.; Akbar, Z.; Ali, M.; Gayoso, C. Ayerbe; Berdnikov, V.; Biswas, D.; Boer, M.; Camsonne, A.; Chen, J. -P.; Diefenthaler, M.; Duran, B.; Dutta, D.; Gaskell, D.; Hansen, O.; Hauenstein, F.; Heinrich, N.; Henry, W.; Horn, T.; Huber, G. M.; Jia, S.; Joosten, S.; Karki, A.; Kay, S. J. D.; Kumar, V.; Li, X.; Li, W. B.; Liyanage, A. H.; Mack, D.; Malace, S.; Markowitz, P.; McCaughan, M.; Meziani, Z. -E.; Mkrtchyan, H.; Morean, C.; Muhoza, M.; Narayan, A.; Pasquini, B.; Rehfuss, M.; Sawatzky, B.; Smith, G. R.; Smith, A.; Trotta, R.; Yero, C.; Zheng, X.; Zhou, J.
Conference
Mishra, S.; Vermeersch, B.; Sankatali, V.; Kukner, H.; Sharma, A.; Mirabeli, G.; Bufler, F. M.; Brunion, M.; Abdi, D.; Oprins, H.; Biswas, D.; Zografos, O.; Catthoor, F.; Weckx, P.; Hellings, G.; Myers, J.; Ryckaert, J.
2024 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2024 IEEE. :1-6 Apr, 2024
Report
Bhatt, H.; Bosted, P.; Jia, S.; Armstrong, W.; Dutta, D.; Ent, R.; Gaskell, D.; Kinney, E.; Mkrtchyan, H.; Ali, S.; Ambrose, R.; Androic, D.; Gayoso, C. Ayerbe; Bandari, A.; Berdnikov, V.; Bhetuwal, D.; Biswas, D.; Boer, M.; Brash, E.; Camsonne, A.; Chen, J. P.; Chen, J.; Chen, M.; Christy, E. M.; Covrig, S.; Danagoulian, S.; Diefenthaler, M.; Duran, B.; Elaasar, M.; Elliot, C.; Fenker, H.; Fuchey, E.; Hansen, J. O.; Hauenstein, F.; Horn, T.; Huber, G. M.; Jones, M. K.; Kabir, M. L.; Karki, A.; Karki, B.; Kay, S. J. D.; Keppel, C.; Kumar, V.; Lashley-Colthirst, N.; Li, W. B.; Mack, D.; Malace, S.; Markowitz, P.; McCaughan, M.; McClellan, E.; Meekins, D.; Michaels, R.; Mkrtchyan, A.; Niculescu, G.; Niculescu, I.; Pandey, B.; Park, S.; Pooser, E.; Rehfuss, M.; Sawatzky, B.; Smith, G. R.; Szumila-Vance, H.; Tadepalli, A. S.; Tadevosyan, V.; Trotta, R.; Voskanyan, H.; Wood, S. A.; Ye, Z.; Yero, C.; Zheng, X.
Report
Elmers, H. J.; Tkach, O.; Lytvynenko, Y.; Yogi, P.; Schmitt, M.; Biswas, D.; Liu, J.; Chernov, S. V.; Hoesch, M.; Kutnyakhov, D.; Wind, N.; Wenthaus, L.; Scholz, M.; Rossnagel, K.; Gloskovskii, A.; Schlueter, C.; Winkelmann, A.; Haghighirad, A. -A.; Lee, T. -L.; Sing, M.; Claessen, R.; Tacon, M. Le; Demsar, J.; Schonhense, G.; Fedchenko, O.
Academic Journal
Dasgupta, S.; Ahmed, A.H.M.T.; Bhattacharjee, I.; Firdoushi, S.; Biswas, D.; Mukherjee, S.; Bandyopadhyay, R.; Tudu, B.
IEEE Sensors Journal IEEE Sensors J. Sensors Journal, IEEE. 24(13):20750-20757 Jul, 2024
Academic Journal
IEEE Embedded Systems Letters IEEE Embedded Syst. Lett. Embedded Systems Letters, IEEE. 16(2):218-221 Jun, 2024
Report
Belle II Collaboration; Adachi, I.; Aggarwal, L.; Aihara, H.; Akopov, N.; Aloisio, A.; Althubiti, N.; Ky, N. Anh; Asner, D. M.; Atmacan, H.; Aushev, T.; Aushev, V.; Aversano, M.; Ayad, R.; Babu, V.; Bae, H.; Bahinipati, S.; Bambade, P.; Banerjee, Sw.; Bansal, S.; Barrett, M.; Baudot, J.; Bauer, M.; Baur, A.; Beaubien, A.; Becherer, F.; Becker, J.; Bennett, J. V.; Bernlochner, F. U.; Bertacchi, V.; Bertemes, M.; Bertholet, E.; Bessner, M.; Bettarini, S.; Bhuyan, B.; Bianchi, F.; Bierwirth, L.; Bilka, T.; Biswas, D.; Bobrov, A.; Bodrov, D.; Bolz, A.; Borah, J.; Boschetti, A.; Bozek, A.; Bračko, M.; Branchini, P.; Briere, R. A.; Browder, T. E.; Budano, A.; Bussino, S.; Campagna, Q.; Campajola, M.; Cao, L.; Casarosa, G.; Cecchi, C.; Cerasoli, J.; Chang, M. -C.; Chang, P.; Cheaib, R.; Cheema, P.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Chirapatpimol, K.; Cho, H. -E.; Cho, K.; Cho, S. -J.; Choi, S. -K.; Choudhury, S.; Corona, L.; Cui, J. X.; Dattola, F.; De La Cruz-Burelo, E.; De La Motte, S. A.; De Nardo, G.; De Nuccio, M.; De Pietro, G.; de Sangro, R.; Destefanis, M.; Dey, S.; Dhamija, R.; Di Canto, A.; Di Capua, F.; Dingfelder, J.; Doležal, Z.; Jiménez, I. Domínguez; Dong, T. V.; Dorigo, M.; Dorner, D.; Dort, K.; Dossett, D.; Dreyer, S.; Dubey, S.; Dugic, K.; Dujany, G.; Ecker, P.; Eliachevitch, M.; Feichtinger, P.; Ferber, T.; Fillinger, T.; Finck, C.; Finocchiaro, G.; Fodor, A.; Forti, F.; Frey, A.; Fulsom, B. G.; Gabrielli, A.; Garcia-Hernandez, M.; Garg, R.; Gaudino, G.; Gaur, V.; Gaz, A.; Gellrich, A.; Ghevondyan, G.; Ghosh, D.; Ghumaryan, H.; Giakoustidis, G.; Giordano, R.; Giri, A.; Glazov, A.; Gobbo, B.; Godang, R.; Gogota, O.; Goldenzweig, P.; Granderath, S.; Greenwald, D.; Gruberová, Z.; Gu, T.; Gudkova, K.; Haide, I.; Halder, S.; Han, Y.; Hara, T.; Harris, C.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hazra, S.; Hearty, C.; Hedges, M. T.; Heidelbach, A.; de la Cruz, I. Heredia; Villanueva, M. Hernández; Higuchi, T.; Hoek, M.; Hohmann, M.; Horak, P.; Hsu, C. -L.; Humair, T.; Iijima, T.; Inami, K.; Ipsita, N.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, M.; Jackson, P.; Jacobs, W. W.; Jang, E. -J.; Jia, S.; Jin, Y.; Johnson, A.; Joo, K. K.; Junkerkalefeld, H.; Kalita, D.; Kaliyar, A. B.; Kandra, J.; Kang, K. H.; Kang, S.; Karyan, G.; Kawasaki, T.; Keil, F.; Kiesling, C.; Kim, C. -H.; Kim, D. Y.; Kim, K. -H.; Kim, Y. -K.; Kindo, H.; Kinoshita, K.; Kodyš, P.; Koga, T.; Kohani, S.; Kojima, K.; Konno, T.; Korobov, A.; Korpar, S.; Kovalenko, E.; Kowalewski, R.; Križan, P.; Krokovny, P.; Kuhr, T.; Kulii, Y.; Kumar, J.; Kumar, M.; Kumar, R.; Kumara, K.; Kunigo, T.; Kuzmin, A.; Kwon, Y. -J.; Lacaprara, S.; Lalwani, K.; Lam, T.; Lanceri, L.; Lange, J. S.; Laurenza, M.; Lautenbach, K.; Leboucher, R.; Diberder, F. R. Le; Lee, M. J.; Leo, P.; Lemettais, C.; Levit, D.; Lewis, P. M.; Li, L. K.; Li, S. X.; Li, Y.; Li, Y. B.; Libby, J.; Liptak, Z.; Liu, M. H.; Liu, Q. Y.; Liu, Z. Q.; Liventsev, D.; Longo, S.; Lueck, T.; Lyu, C.; Ma, Y.; Maggiora, M.; Maharana, S. P.; Maiti, R.; Maity, S.; Mancinelli, G.; Manfredi, R.; Manoni, E.; Mantovano, M.; Marcantonio, D.; Marcello, S.; Marinas, C.; Martellini, C.; Martens, A.; Martini, A.; Martinov, T.; Massaccesi, L.; Masuda, M.; Matvienko, D.; Maurya, S. K.; McKenna, J. A.; Mehta, R.; Meier, F.; Merola, M.; Metzner, F.; Miller, C.; Mirra, M.; Mitra, S.; Miyabayashi, K.; Mizuk, R.; Mohanty, G. B.; Mondal, S.; Moneta, S.; Moser, H. -G.; Mrvar, M.; Mussa, R.; Nakamura, I.; Nakao, M.; Nakazawa, Y.; Charan, A. Narimani; Naruki, M.; Narwal, D.; Natkaniec, Z.; Natochii, A.; Nayak, L.; Nayak, M.; Nazaryan, G.; Neu, M.; Niiyama, M.; Nishida, S.; Ogawa, S.; Onishchuk, Y.; Ono, H.; Pakhlova, G.; Pardi, S.; Parham, K.; Park, H.; Park, J.; Park, S. -H.; Paschen, B.; Passeri, A.; Patra, S.; Paul, S.; Pedlar, T. K.; Peschke, R.; Pestotnik, R.; Piccolo, M.; Piilonen, L. E.; Angioni, G. Pinna; Podesta-Lerma, P. L. M.; Podobnik, T.; Pokharel, S.; Praz, C.; Prell, S.; Prencipe, E.; Prim, M. T.; Prudiiev, I.; Purwar, H.; Rados, P.; Raeuber, G.; Raiz, S.; Rauls, N.; Reif, M.; Reiter, S.; Remnev, M.; Reuter, L.; Ripp-Baudot, I.; Rizzo, G.; Robertson, S. H.; Roehrken, M.; Roney, J. M.; Rostomyan, A.; Rout, N.; Sanders, D. A.; Sandilya, S.; Santelj, L.; Sato, Y.; Savinov, V.; Scavino, B.; Schmitt, C.; Schneider, S.; Schnepf, M.; Schwanda, C.; Seino, Y.; Selce, A.; Senyo, K.; Serrano, J.; Sevior, M. E.; Sfienti, C.; Shan, W.; Sharma, C.; Shen, C. P.; Shi, X. D.; Shillington, T.; Shimasaki, T.; Shiu, J. -G.; Shtol, D.; Sibidanov, A.; Simon, F.; Singh, J. B.; Skorupa, J.; Sobie, R. J.; Sobotzik, M.; Soffer, A.; Sokolov, A.; Solovieva, E.; Spataro, S.; Spruck, B.; Starič, M.; Stavroulakis, P.; Stefkova, S.; Stroili, R.; Sumihama, M.; Sumisawa, K.; Sutcliffe, W.; Suwonjandee, N.; Svidras, H.; Takahashi, M.; Takizawa, M.; Tamponi, U.; Tanaka, S.; Tanida, K.; Tenchini, F.; Thaller, A.; Tittel, O.; Tiwary, R.; Tonelli, D.; Torassa, E.; Trabelsi, K.; Uchida, M.; Ueda, I.; Uglov, T.; Unger, K.; Unno, Y.; Uno, K.; Uno, S.; Ushiroda, Y.; Vahsen, S. E.; van Tonder, R.; Varvell, K. E.; Veronesi, M.; Vinokurova, A.; Vismaya, V. S.; Vitale, L.; Vobbilisetti, V.; Volpe, R.; Vossen, A.; Wach, B.; Wakai, M.; Wallner, S.; Wang, E.; Wang, M. -Z.; Wang, Z.; Warburton, A.; Watanabe, M.; Watanuki, S.; Wessel, C.; Won, E.; Xu, X. P.; Yabsley, B. D.; Yamada, S.; Yang, S. B.; Yelton, J.; Yin, J. H.; Yook, Y. M.; Yoshihara, K.; Yuan, C. Z.; Zani, L.; Zeng, F.; Zhang, B.; Zhilich, V.; Zhou, J. S.; Zhou, Q. D.; Zhou, X. Y.; Zhukova, V. I.; Žlebčík, R.
Refining the search results
Facets
[Author] Biswas D
Publication year
-
Database provider
Title
Publisher
자료유형(Source Type)
Subject
Language