e-Article
'e-Article'
searched 8results | List
1~10
Conference
Lee, T. Y.; Yamane, K.; Hau, L. Y.; Chao, R.; Chung, N. L.; Naik, V. B.; Sivabalan, K.; Kwon, J.; Lim, J. H.; Neo, W. P.; Khua, K.; Thiyagarajah, N.; Jang, S. H.; Behin-Aein, B.; Toh, E. H.; Otani, Y.; Zeng, D.; Balasankaran, N.; Goh, L. C.; Ling, T.; Hwang, J.; Zhang, L.; Low, R.; Tan, S. L; Seet, C. S.; Ting, J. W.; Ong, S.; You, Y. S.; Woo, S. T.; Quek, E.; Siah, S. Y.
2020 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) Reliability Physics Symposium (IRPS), 2020 IEEE International. :1-4 Apr, 2020
Conference
Lee, T. Y.; Yamane, K.; Kwon, J.; Naik, V. B.; Otani, Y.; Zeng, D.; Lim, J. H.; Sivabalan, K.; Chiang, C.; Huang, Y.; Jang, S. H.; Hau, L. Y.; Chao, R.; Chung, N. L.; Neo, W. P.; Khua, K.; Thiyagarajah, N.; Ling, T.; Goh, L. C.; Hwang, J.; Zhang, L.; Low, R.; Balasankaran, N.; Tan, F.; Wong, J.; Seet, C. S.; Ting, J. W.; Ong, S.; You, Y. S.; Woo, S. T.; Siah, S. Y.
2020 IEEE Symposium on VLSI Technology VLSI Technology, 2020 IEEE Symposium on. :1-2 Jun, 2020
Conference
Lee, T. Y.; Yamane, K.; Otani, Y.; Zeng, D.; Kwon, J.; Lim, J. H.; Naik, V. B.; Hau, L. Y.; Chao, R.; Chung, N. L.; Ling, T.; Jang, S. H.; Goh, L. C.; Hwang, J.; Zhang, L.; Low, R.; Balasankaran, N.; Tan, F.; Ting, J. W.; Chang, J.; Seet, C. S.; Ong, S.; You, Y. S.; Woo, S. T.; Chan, T. H.; Siah, S. Y.
2020 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2020 IEEE International. :11.6.1-11.6.4 Dec, 2020
Conference
Naik, V. B.; Lee, K.; Yamane, K.; Chao, R.; Kwon, J.; Thiyagarajah, N.; Chung, N. L.; Jang, S. H.; Behin-Aein, B.; Lim, J. H.; Lee, T. Y.; Neo, W. P.; Dixit, H.; K, S.; Goh, L. C.; Ling, T.; Hwang, J.; Zeng, D.; Ting, J. W.; Toh, E. H.; Zhang, L.; Low, R.; Balasankaran, N.; Zhang, L. Y.; Gan, K. W.; Hau, L. Y.; Mueller, J.; Pfefferling, B.; Kallensee, O.; Tan, S. L.; Seet, C. S.; You, Y. S.; Woo, S. T.; Quek, E.; Siah, S. Y.; Pellerin, J.
2019 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2019 IEEE International. :2.3.1-2.3.4 Dec, 2019
Conference
Lee, K.; Yamane, K.; Noh, S.; Naik, V. B.; Yang, H.; Jang, S. H.; Kwon, J.; Behin-Aein, B.; Chao, R.; Lim, J. H.; S. K.; Gan, K. W.; Zeng, D.; Thiyagarajah, N.; Goh, L. C.; Liu, B.; Toh, E. H.; Jung, B.; Wee, T. L.; Ling, T.; Chan, T. H.; Chung, N. L.; Ting, J. W.; Lakshmipathi, S.; Son, J. S.; Hwang, J.; Zhang, L.; Low, R.; Krishnan, R.; Kitamura, T.; You, Y. S.; Seet, C. S.; Cong, H.; Shum, D.; Wong, J.; Woo, S. T.; Lam, J.; Quek, E.; See, A.; Siah, S. Y.
2018 IEEE Symposium on VLSI Technology VLSI Technology, 2018 IEEE Symposium on. :183-184 Jun, 2018
Conference
Lee, K.; Chao, R.; Yamane, K.; Naik, V. B.; Yang, H.; Kwon, J.; Chung, N. L.; Jang, S. H.; Behin-Aein, B.; Lim, J.H.; K, S.; Liu, B.; Toh, E. H.; Gan, K. W.; Zeng, D.; Thiyagarajah, N.; Goh, L. C.; Ling, T.; Ting, J. W.; Hwang, J.; Zhang, L.; Low, R.; Krishnan, R.; Tan, S. L; You, Y. S.; Seet, C. S.; Cong, H.; Wong, J.; Woo, S. T.; Quek, E.; Siah, S. Y.
2018 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2018 IEEE International. :27.1.1-27.1.4 Dec, 2018
Conference
Shum, D.; Houssameddine, D.; Woo, S. T.; You, Y. S.; Wong, J.; Wong, K. W.; Wang, C. C.; Lee, K. H.; Yamane, K.; Naik, V. B.; Seet, C. S.; Tahmasebi, T.; Hai, C.; Yang, H. W.; Thiyagarajah, N.; Chao, R.; Ting, J. W.; Chung, N. L.; Ling, T.; Chan, T. H.; Siah, S. Y.; Nair, R.; Deshpande, S.; Whig, R.; Nagel, K.; Aggarwal, S.; DeHerrera, M.; Janesky, J.; Lin, M.; Chia, H.-J.; Hossain, M.; Lu, H.; Ikegawa, S.; Mancoff, F. B.; Shimon, G.; Slaughter, J. M.; Sun, J. J.; Tran, M.; Alam, S. M.; Andre, T.
2017 Symposium on VLSI Technology VLSI Technology, 2017 Symposium on. :T208-T209 Jun, 2017
Academic Journal
Analytical Letters; Jan1989, Vol. 22 Issue 1, p1-13, 13p
Refining the search results
Facets
[AR] Woo, S. T.
Publication year
-
Database provider
Title
Publisher
자료유형(Source Type)
Subject
Language