e-Article
'e-Article'
searched 34results | List
1~10
Report
Ahmed, M. W.; Alarcon, R.; Aleksandrova, A.; Baessler, S.; Barron-Palos, L.; Bartoszek, L. M.; Beck, D. H.; Behzadipour, M.; Berkutov, I.; Bessuille, J.; Blatnik, M.; Broering, M.; Broussard, L. J.; Busch, M.; Carr, R.; Cianciolo, V.; Clayton, S. M.; Cooper, M. D.; Crawford, C.; Currie, S. A.; Daurer, C.; Dipert, R.; Dow, K.; Dutta, D.; Efremenko, Y.; Erickson, C. B.; Filippone, B. W.; Fomin, N.; Gao, H.; Golub, R.; Gould, C. R.; Greene, G.; Haase, D. G.; Hasell, D.; Hawari, A. I.; Hayden, M. E.; Holley, A.; Holt, R. J.; Huffman, P. R.; Ihloff, E.; Imam, S. K.; Ito, T. M.; Karcz, M.; Kelsey, J.; Kendellen, D. P.; Kim, Y. J.; Korobkina, E.; Korsch, W.; Lamoreaux, S. K.; Leggett, J.; Leung, K. K. H.; Lipman, A.; Liu, C. Y.; Long, J.; MacDonald, S. W. T.; Makela, M.; Matlashov, A.; Maxwell, J. D.; Mendenhall, M.; Meyer, H. O.; Milner, R. G.; Mueller, P. E.; Nouri, N.; O'Shaughnessy, C. M.; Osthelder, C.; Peng, J. C.; Penttila, S. I.; Phan, N. S.; Plaster, B.; Ramsey, J. C.; Rao, T. M.; Redwine, R. P.; Reid, A.; Saftah, A.; Seidel, G. M.; Silvera, I.; Slutsky, S.; Smith, E.; Snow, W. M.; Sondheim, W.; Sosothikul, S.; Stanislaus, T. D. S.; Sun, X.; Swank, C. M.; Tang, Z.; Dinani, R. Tavakoli; Tsentalovich, E.; Vidal, C.; Wei, W.; White, C. R.; Williamson, S. E.; Yang, L.; Yao, W.; Young, A. R.
Journal of Instrumentation, Vol 14, P11017, 2019
Report
Leung, K. K. H.; Ahmed, M.; Alarcon, R.; Aleksandrova, A.; Baeßler, S.; Barrón-Palos, L.; Bartoszek, L.; Beck, D. H.; Behzadipour, M.; Bessuille, J.; Blatnik, M. A.; Broering, M.; Broussard, L. J.; Busch, M.; Carr, R.; Chu, P. -H.; Cianciolo, V.; Clayton, S. M.; Cooper, M. D.; Crawford, C.; Currie, S. A.; Daurer, C.; Dipert, R.; Dow, K.; Dutta, D.; Efremenko, Y.; Erickson, C. B.; Filippone, B. W.; Fomin, N.; Gao, H.; Golub, R.; Gould, C. R.; Greene, G. L.; Haase, D. G.; Hasell, D.; Hawari, A. I.; Hayden, M. E.; Holley, A. T.; Holt, R. J.; Huffman, P. R.; Ihloff, E.; Ito, T. M.; Kelsey, J.; Kim, Y. J.; Koivuniemi, J.; Korobkina, E.; Korsch, W.; Lamoreaux, S. K.; Leggett, E.; Lipman, A.; Liu, C. -Y.; Long, J.; MacDonald, S. W. T.; Makela, M.; Matlashov, A.; Maxwell, J.; McCrea, M.; Mendenhall, M.; Meyer, H. O.; Milner, R.; Mueller, P.; Nouri, N.; O'Shaughnessy, C. M.; Osthelder, C.; Peng, J. -C.; Penttila, S.; Phan, N. S.; Plaster, B.; Ramsey, J.; Rao, T.; Redwine, R. P.; Reid, A.; Saftah, A.; Seidel, G. M.; Silvera, I. F.; Slutsky, S.; Smith, E.; Snow, W. M.; Sondheim, W.; Sosothikul, S.; Stanislaus, T. D. S.; Sun, X.; Swank, C. M.; Tang, Z.; Dinani, R. Tavakoli; Tsentalovich, E.; Vidal, C.; Wei, W.; White, C. R.; Williamson, S. E.; Yang, L.; Yao, W.; Young, A. R.
Report
Ito, T. M.; Ramsey, J. C.; Yao, W.; Beck, D. H.; Cianciolo, V.; Clayton, S. M.; Crawford, C.; Currie, S. A.; Filippone, B. W.; Griffith, W. C.; Makela, M.; Schmid, R.; Seidel, G. M.; Tang, Z.; Wagner, D.; Wei, W.; Williamson, S. E.
Rev. Sci. Instrum. 87, 045113 (2016)
Report
G0 Collaboration; Androic, D.; Armstrong, D. S.; Arvieux, J.; Bailey, S. L.; Beck, D. H.; Beise, E. J.; Benesch, J.; Benmokhtar, F.; Bimbot, L.; Birchall, J.; Bosted, P.; Breuer, H.; Capuano, C. L.; Chao, Y. -C.; Coppens, A.; Davis, C. A.; Ellis, C.; Flores, G.; Franklin, G.; Furget, C.; Gaskell, D.; Grames, J.; Gericke, M. T. W.; Guillard, G.; Hansknecht, J.; Horn, T.; Jones, M. K.; King, P. M.; Korsch, W.; Kox, S.; Lee, L.; Liu, J.; Lung, A.; Mammei, J.; Martin, J. W.; McKeown, R. D.; Micherdzinska, A.; Mihovilovic, M.; Mkrtchyan, H.; Muether, M.; Page, S. A.; Papavassiliou, V.; Pate, S. F.; Phillips, S. K.; Pillot, P.; Pitt, M. L.; Poelker, M.; Quinn, B.; Ramsay, W. D.; Real, J. -S.; Roche, J.; Roos, P.; Schaub, J.; Seva, T.; Simicevic, N.; Smith, G. R.; Spayde, D. T.; Stutzman, M.; Suleiman, R.; Tadevosyan, V.; van Oers, W. T. H.; Versteegen, M.; Voutier, E.; Vulcan, W.; Wells, S. P.; Williamson, S. E.; Wood, S. A.
Report
G0 Collaboration; Androić, D.; Armstrong, D. S.; Arvieux, J.; Bailey, S. L.; Beck, D. H.; Beise, E. J.; Benesch, J.; Benmokhtar, F.; Bimbot, L.; Birchall, J.; Bosted, P.; Breuer, H.; Capuano, C. L.; Chao, Y. -C.; Coppens, A.; Davis, C. A.; Ellis, C.; Flores, G.; Franklin, G.; Furget, C.; Gaskell, D.; Gericke, M. T. W.; Grames, J.; Guillard, G.; Hansknecht, J.; Horn, T.; Jones, M. K.; King, P. M.; Korsch, W.; Kox, S.; Lee, L.; Liu, J.; Lung, A.; Mammei, J.; Martin, J. W.; McKeown, R. D.; Micherdzinska, A.; Mihovilovic, M.; Mkrtchyan, H.; Muether, M.; Page, S. A.; Papavassiliou, V.; Pate, S. F.; Phillips, S. K.; Pillot, P.; Pitt, M. L.; Poelker, M.; Quinn, B.; Ramsay, W. D.; Real, J. -S.; Roche, J.; Roos, P.; Schaub, J.; Seva, T.; Simicevic, N.; Smith, G. R.; Spayde, D. T.; Stutzman, M.; Suleiman, R.; Tadevosyan, V.; van Oers, W. T. H.; Versteegen, M.; Voutier, E.; Vulcan, W.; Wells, S. P.; Williamson, S. E.; Wood, S. A.
Report
The G0 Collaboration; Androić, D.; Armstrong, D. S.; Arvieux, J.; Bailey, S. L.; Beck, D. H.; Beise, E. J.; Benesch, J.; Benmokhtar, F.; Bimbot, L.; Birchall, J.; Bosted, P.; Breuer, H.; Capuano, C. L.; Chao, Y. -C.; Coppens, A.; Davis, C. A.; Ellis, C.; Flores, G.; Franklin, G.; Furget, C.; Gaskell, D.; Gericke, M. T. W.; Grames, J.; Guillard, G.; Hansknecht, J.; Horn, T.; Jones, M. K.; King, P. M.; Korsch, W.; Kox, S.; Lee, L.; Liu, J.; Lung, A.; Mammei, J.; Martin, J. W.; McKeown, R. D.; Micherdzinska, A.; Mihovilovic, M.; Mkrtchyan, H.; Muether, M.; Page, S. A.; Papavassiliou, V.; Pate, S. F.; Phillips, 10 S. K.; Pillot, P.; Pitt, M. L.; Poelker, M.; Quinn, B.; Ramsay, W. D.; Real, J. -S.; Roche, J.; Roos, P.; Schaub, J.; Seva, T.; Simicevic, N.; Smith, G. R.; Spayde, D. T.; Stutzman, M.; Suleiman, R.; Tadevosyan, V.; van Oers, W. T. H.; Versteegen, M.; Voutier, E.; Vulcan, W.; Wells, S. P.; Williamson, S. E.; Wood, S. A.; Pasquini, B.; Vanderhaeghen, M.
Phys.Rev.Lett.107:022501,2011
Report
G0 Collaboration; Androic, D.; Armstrong, D. S.; Arvieux, J.; Asaturyan, R.; Averett, T. D.; Bailey, S. L.; Batigne, G.; Beck, D. H.; Beise, E. J.; Benesch, J.; Benmokhtar, F.; Bimbot, L.; Birchall, J.; Biselli, A.; Bosted, P.; Breuer, H.; Brindza, P.; Capuano, C. L.; Carlini, R. D.; Carr, R.; Chant, N.; Chao, Y. -C.; Clark, R.; Coppens, A.; Covrig, S. D.; Cowley, A.; Dale, D.; Davis, C. A.; Ellis, C.; Falk, W. R.; Fenker, H.; Finn, J. M.; Forest, T.; Franklin, G.; Frascaria, R.; Furget, C.; Gaskell, D.; Gericke, M. T. W.; Grames, J.; Griffioen, K. A.; Grimm, K.; Guillard, G.; Guillon, B.; Guler, H.; Gustafsson, K.; Hannelius, L.; Hansknecht, J.; Hasty, R. D.; Allen, A. M. Hawthorne; Horn, T.; Ito, T. M.; Johnston, K.; Jones, M.; Kammel, P.; Kazimi, R.; King, P. M.; Kolarkar, A.; Korkmaz, E.; Korsch, W.; Kox, S.; Kuhn, J.; Lachniet, J.; Laszewski, R.; Lee, L.; Lenoble, J.; Liatard, E.; Liu, J.; Lung, A.; MacLachlan, G. A.; Mammei, J.; Marchand, D.; Martin, J. W.; Mack, D. J.; McFarlane, K. W.; McKee, D. W.; McKeown, R. D.; Merchez, F.; Mihovilovic, M.; Micherdzinska, A.; Mkrtchyan, H.; Moffit, B.; Morlet, M.; Muether, M.; Musson, J.; Nakahara, K.; Neveling, R.; Niccolai, S.; Nilsson, D.; Ong, S.; Page, S. A.; Papavassiliou, V.; Pate, S. F.; Phillips, S. K.; Pillot, P.; Pitt, M. L.; Poelker, M.; Porcelli, T. A.; Quemener, G.; Quinn, B. P.; Ramsay, W. D.; Rauf, A. W.; Real, J. -S.; Ries, T.; Roos, J. Roche P.; Rutledge, G. A.; Schaub, J.; Secrest, J.; Seva, T.; Simicevic, N.; Smith, G. R.; Spayde, D. T.; Stepanyan, S.; Stutzman, M.; Suleiman, R.; Tadevosyan, V.; Tieulent, R.; van de Wiele, J.; van Oers, W. T. H.; Versteegen, M.; Voutier, E.; Vulcan, W. F.; Wells, S. P.; Warren, G.; Williamson, S. E.; Woo, R. J.; Wood, S. A.; Yan, C.; Yun, J.; Zeps, V.
Nucl. Instrum. Methods A 646 (2011)59
Academic Journal
Academic Journal
Ito, T. M.; Ramsey, J. C.; Yao, W.; Beck, D. H.; Cianciolo, V.; Clayton, S. M.; Crawford, C.; Currie, S. A.; Filippone, B. W.; Griffith, W. C.; Makela, M.; Schmid, R.; Seidel, G. M.; Tang, Z.; Wagner, D.; Wei, W.; Williamson, S. E.
Conference
Electron-Nucleus Scattering - Proceedings of the Workshop; 1994, p251-263, 13p
Refining the search results
Facets
[AR] Williamson, S. E.
Publication year
-
Database provider
Title
Publisher
자료유형(Source Type)
Subject
Language