e-Article
'e-Article'
searched 105results | List
1~10
Conference
Park, I.-M.; Lee, K. W.; Park, J.-H.; Song, S. J.; Kim, T. Y.; Wu, Z.; Lee, W. J.; Choi, B. D.; Jeong, Y. J.; Oh, S. C.; Park, K.; Kuh, B. J.; Song, Y. J.; Shin, Y. G.; Song, J. H.
2023 International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2023 International. :1-4 Dec, 2023
Conference
Han, S. H.; Lee, J. H.; Suh, K. S.; Nam, K. T.; Jeong, D. E.; Oh, S. C.; Hwang, S. H.; Ji, Y.; Lee, K.; Song, Y. J.; Hong, Y. G.; Jeong, G. T.
2021 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) Reliability Physics Symposium (IRPS), 2021 IEEE International. :1-5 Mar, 2021
Conference
Suh, K.; Lee, J. H.; Shin, H. M.; Lee, J. M.; Lee, K. M.; Hong, Y. J.; Han, S. H.; Kim, Y. J.; Kim, C. K.; Pyo, S.; Jung, H. T.; Ji, Y.; Seo, B. I.; Hwang, S. H.; Kim, D. S.; Kim, Y. H.; Oh, S. C.; Jeong, D. E.; Nam, K. T.; Kwon, B. S.; Cho, M. K.; Song, Y. J.; Lee, K.; Hong, Y. G.; Jeong, G. T.
2021 Symposium on VLSI Technology VLSI Technology, 2021 Symposium on. :1-2 Jun, 2021
Conference
Han, S. H.; Lee, J. M.; Shin, H. M.; Lee, J. H.; Suh, K. S.; Nam, K. T.; Kwon, B. S.; Cho, M. K.; Lee, J.; Jeong, J. H.; Park, J. H.; Oh, S. C.; Park, S. O.; Hwang, S. H.; Pyo, S.; Jung, H. T.; Ji, Y.; Bak, J. H.; Kim, D. S.; Ham, W. S.; Kim, Y. J.; Lee, K.; Song, Y. J.; Koh, G. H.; Hong, Y. G.; Jeong, G. T.
2020 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2020 IEEE International. :11.2.1-11.2.4 Dec, 2020
Conference
Park, J.-H.; Lee, J.; Jeong, J.; Pi, U.; Kim, W.K.; Lee, S.; Noh, E.; Kim, K.; Lim, W. C.; Kwon, S.; Bae, B.-J.; Kim, I.; Ji, N.; Lee, K.; Shin, H.; Han, S. H.; Hwang, S.; Jeong, D.; Oh, S. C.; Park, S. O.; Song, Y. J.; Jeong, G. T.; Koh, G. H.; Hyun, S.; Hwang, K.; Nam, S. W.; Kang, H. K.; Jung, E. S.
2019 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2019 IEEE International. :2.5.1-2.5.4 Dec, 2019
Conference
Song, Y. J.; Lee, J. H.; Han, S. H.; Shin, H. C.; Lee, K. H.; Suh, K.; Jeong, D. E.; Koh, G. H.; Oh, S. C.; Park, J. H.; Park, S. O.; Bae, B. J.; Kwon, O. I.; Hwang, K. H.; Seo, B.Y.; Lee, Y.K.; Hwang, S. H.; Lee, D. S.; Ji, Y.; Park, K.C.; Jeong, G. T.; Hong, H. S.; Lee, K. P.; Kang, H. K.; Jung, E. S.
2018 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2018 IEEE International. :18.2.1-18.2.4 Dec, 2018
Conference
2012 19th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2012 19th IEEE International Symposium on the. :1-3 Jul, 2012
Conference
Song, Y. J.; Lee, J. H.; Shin, H. C.; Lee, K. H.; Suh, K.; Kang, J. R.; Pyo, S. S.; Jung, H. T.; Hwang, S. H.; Koh, G. H.; Oh, S. C.; Park, S. O.; Kim, J. K.; Park, J. C.; Kim, J.; Hwang, K. H.; Jeong, G. T.; Lee, K. P.; Jung, E. S.
2016 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2016 IEEE International. :27.2.1-27.2.4 Dec, 2016
Academic Journal
IEEE Transactions on Nuclear Science IEEE Trans. Nucl. Sci. Nuclear Science, IEEE Transactions on. 57(6):3489-3492 Dec, 2010
Conference
Kim, Ju Hyun; Lim, W. C.; Pi, U. H.; Lee, J. M.; Kim, W. K.; Kim, J. H.; Kim, K. W.; Park, Y. S.; Park, S. H.; Kang, M. A.; Kim, Y. H.; Kim, W. J.; Kim, S. Y.; Park, J. H.; Lee, S. C.; Lee, Y. J.; Yoon, J. M.; Oh, S. C.; Park, S. O.; Jeong, S.; Nam, S. W.; Kang, H. K.; Jung, E. S.
2014 Symposium on VLSI Technology (VLSI-Technology): Digest of Technical Papers VLSI Technology (VLSI-Technology): Digest of Technical Papers, 2014 Symposium on. :1-2 Jun, 2014
Refining the search results
Facets
[AR] Oh, S. C.
Publication year
-
Database provider
Title
Publisher
자료유형(Source Type)
Subject
Language