e-Article
'e-Article'
searched 310results | List
1~10
Academic Journal
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability IEEE Trans. Device Mater. Relib. Device and Materials Reliability, IEEE Transactions on. 24(3):437-447 Sep, 2024
Academic Journal
IEEE Transactions on Applied Superconductivity IEEE Trans. Appl. Supercond. Applied Superconductivity, IEEE Transactions on. 34(5):1-7 Aug, 2024
Academic Journal
In Renewable and Sustainable Energy Reviews January 2021 135
Academic Journal
IEEE Transactions on Power Electronics IEEE Trans. Power Electron. Power Electronics, IEEE Transactions on. 38(9):10933-10946 Sep, 2023
Academic Journal
Wallach, I.; Bernard, D.; Nguyen, K.; Ho, G.; Morrison, A.; Stecula, A.; Rosnik, A.; O’Sullivan, A.M.; Davtyan, A.; Samudio, B.; Thomas, B.; Worley, B.; Butler, B.; Laggner, C.; Thayer, D.; Moharreri, E.; Friedland, G.; Truong, H.; van den Bedem, H.; Ng, H.L.; Stafford, K.; Sarangapani, K.; Giesler, K.; Ngo, L.; Mysinger, M.; Ahmed, M.; Anthis, N.J.; Henriksen, N.; Gniewek, P.; Eckert, S.; de Oliveira, S.; Suterwala, S.; PrasadPrasad, S.V.K.; Shek, S.; Contreras, S.; Hare, S.; Palazzo, T.; O’Brien, T.E.; Van Grack, T.; Williams, T.; Chern, T.-R.; Kenyon, V.; Heifets, A.; Lee, A.H.; Cann, A.B.; Bergman, B.; Anderson, B.M.; Cox, B.D.; Warrington, J.M.; Sorenson, J.M.; Goldenberg, J.M.; Young, M.A.; Abramyan, T.M.; DeHaan, N.; Pemberton, R.P.; Schroedl, S.; Gupta, T.; Mysore, V.; Presser, A.G.; Rubin, E.J.; Qin, X.; Ferrando, A.A.; Taglialatela, A.; Reglero, C.; Leuzzi, G.; Zhou, H.; Rayman, J.B.; Ben-Johny, M.; Andricopulo, A.D.; de Souza, G.E.; Valli, M.; Guido, R.V.C.; Ghosh, A.; Paparella, A.S.; Agianian, B.; Gavathiotis, E.; Mahmoodi, N.; Harijan, R.K.; Ayachi, A.G.; Luo, D.; Lescar, J.; Trinh, N.M.; Bharambe, N.; Chung, Z.; Mushtaq, A.; Shaqra, A.M.; Toh, A.K.L.; Thompson, E.W.; Haupt, L.M.; Gandhi, N.S.; Smrcka, A.V.; Ciccia, A.; Karan, C.; Li, H.; Lieberman, H.B.; Hopkins, K.M.; Zhang, Z.; de Oliveira, A.S.; Sverzhinsky, A.; Pascal, J.M.; de Sousa, A.M.; Moreira, P.O.L.; do Monte-Neto, R.L.; Agoulnik, A.I.; Myhr, C.; Kushnir, A.; Freiberg, A.N.; Gong, B.; Alkan, C.; Zhou, J.; Cunningham, K.A.; Anastasio, N.C.; Escaffre, O.; Ikegami, T.; Su, Z.; Statsyuk, A.V.; Gingras, A.R.; Patel, A.K.; O’Donoghue, A.J.; Duggan, B.M.; Ballatore, C.; Welsbie, D.S.; Glukhov, E.; Siqueira-Neto, J.L.; Bogomolovas, J.; Francisco, K.R.; Degterev, A.; Tomilov, A.; Pressly, B.; Hammock, B.D.; Morisseau, C.; Cortopassi, G.; Shim, H.; Wulff, H.; Nasburg, J.A.; Vrielink, A.; Samantha, A.; Kahler, C.M.; Thai, V.C.; Garaeva, A.A.; Borowska, A.; Paulino, C.; Slotboom, D.J.; Bryant-Friedrich, A.; Berti, A.; Bedi, M.; He, Y.; Caflisch, A.; Müller, A.; Rangarajan, A.V.; Chou, T.; Matheeussen, A.; Caljon, G.; Vleminckx, M.; Van Pelt, N.; Segers, V.F.M.; Battistoni, A.; Ammendola, S.; Caporali, A.; Motyl, A.A.L.; Mameli, E.; Chaytow, H.; Faller, K.M.E.; Gillingwater, T.H.; Chini, A.; Solano, R.; Ilari, A.; Colotti, G.; Mattevi, A.; Minakova, A.; Arrigoni, C.; Reis, J.; Lolicato, M.; Buroni, S.; Scoffone, V.C.; Foote, A.T.; Kelm, R.J.; Trabocchi, A.; Lenci, E.; Stahl, A.; Del Rio Flores, A.; Dempsey, G.; Zhang, W.; Herr, A.B.; Liou, B.; Hildeman, D.A.; Krishnamurthy, D.; Maciag, J.J.; Sun, Y.; Freywald, A.; Vizeacoumar, F.S.; Mellor, P.; Maranda, V.; Reidenbach, A.G.; Lam, A.; Kemet, C.M.; Feng, H.; Finkelstein, J.M.; Cuddihy, A.R.; White, A.; Apfel, A.M.; Lawrence, D.A.; Garcia, G.A.; Cakir, I.; Soellner, M.B.; Merrill, N.M.; Toogood, P.; Lee, P.H.; Phadke, S.; Ashkar, S.R.; Ojha, A.K.; Agrawal, R.K.; Cathcart, A.M.; Englinger, B.; Zeina, C.M.; Dirksen, D.; So, J.; Walensky, L.D.; Hahn, W.C.; D’Antuono, A.; Montanaro, A.; Roti, G.; Hirsch, A.K.H.; Johannsen, S.; Porcelli, A.M.; Lama, E.; Girolimetti, G.; Iommarini, L.; De Luise, M.; Fiorillo, A.; Antonelli, L.; Virtanen, A.; Musta, K.; Silvennoinen, O.; Haikarainen, T.; Garmendia, A.E.; Huang, C.; Kejriwal, R.; White, S.J.; Robinson, V.L.; Tang, Y.; Pineda-Lucena, A.; Lasarte, J.J.; Panganiban, A.T.; Chatterjee, A.K.; Haas, A.L.; John, A.L.S.; Huimei, C.; Mantri, C.K.; Petretto, E.; Prince, A.; Manor, D.; Hu, D.; van den Akker, F.; Boorman, J.; Molyneaux, K.A.; Brady-Kalnay, S.M.; Chen, Y.; Li, Y.; Wang, Z.; ElSheikh, A.; Colomba, A.; Svensson, F.; Fish, P.V.; Angell, R.M.; O’Dea, A.; Diallo, B.N.; Hoppe, H.; Lobb, K.A.; Bishop, O.T.; Swart, T.; Ribeiro, B.M.R.M.; Mota, B.E.F.; Kroon, E.G.; Abrahão, J.S.; Serafim, M.S.M.; Rocha, R.E.O.; Ferreira, R.S.; Maltarollo, V.G.; Bailey-Elkin, B.A.; Peltier, C.; Stetefeld, J.; McManus, K.J.; Legare, S.; Banerji, V.; Edelman, B.L.; Riches, D.W.H.; Perry, B.; Kratz, J.M.; Chua, B.S.K.; Bruning, J.B.; Pederick, J.L.; Kováts, B.; Bognár, G.; Prikler, G.; Balakrishnan, B.; Chaudhuri, D.; Ingoglia, F.; Miner, J.; Lai, K.; Pasquali, M.; Longo, N.; Salas, B.P.M.; Zhang, Y.J.; Geisbrecht, B.V.; Herdendorf, T.J.; Xu, X.; Dymock, B.W.; Morten, B.C.; Stuchbury, G.D.; Kwiatkowski, J.; Ashton, M.R.; Matovic, N.; Dickinson, B.C.; Hosfield, D.J.; Greene, G.L.; Chen, L.; Lan, T.; Wu, X.; Fraser, C.; Lempicki, C.; Milosavljevic, J.; Hermle, T.; Novina, C.D.; Wert-Lamas, L.; Torner, C.; Macias, M.J.; Martin-Malpartida, P.; Bon, C.; Espinoza, S.; Gustincich, S.; Chapman, C.J.; Glubb, D.M.; O’Mara, T.A.; Partch, C.L.; Parico, G.C.G.; Ngoi, P.; Chaton, C.T.; Korotkov, K.V.; Yang, C.-Y.; Yuan, X.; Keller, C.; Nagamori, K.; Dieck, C.L.; Liu, C.; Pham, K.; Pusztai, L.; Müller, C.E.; Voss, J.H.; Namasivayam, V.; Weber, C.; von Hundelshausen, P.; Muli, C.S.; Loy, C.A.; Trader, D.J.; Clayton, W.B.; Wilson, C.M.; Byrne, L.J.; Al-Yozbaki, M.; Santiago, C.; García-Cuesta, E.M.; Tumes, D.J.; Keedy, D.A.; Singh, N.; Hossain, S.; Azeem, S.M.; Mehlman, T.; Woods, V.A.; Chen, D.; Blumenthal, R.M.; Drewry, D.H.; Liu, P.; Liu, P.; Capuzzi, S.J.; Dowling, D.J.; Smith, D.M.; Chuah, J.; Moreira, D.; Costoya, J.A.; Iglesias, P.; Siderovski, D.P.; Agogo-Mawuli, P.; Shum, D.; Jo, E.; Lee, G.; Windisch, M.P.; Byun, S.Y.; Park, S.; Krist, D.T.; Ferraris, D.M.; Rizzi, M.; Garavaglia, S.; Anderson, D.H.; Coombe, D.R.; Ortiz, D.; Landfear, S.M.; Shyng, S.-L.; Alramadhani, D.; Sistla, J.C.; Safo, M.K.; Radhakrishnan, S.K.; Desai, U.R.; Zhang, D.; Levin, M.; Pai, V.P.; Ronning, D.R.; Jayasinghe, T.D.; Lee, D.; Cerna, M.V.C.; Shoue, D.A.; McDowell, M.A.; Champion, M.M.; Taylor, R.E.; Lu, X.; Zhu, Y.; Zochodne, D.W.; Duncan, D.; Leung, E.; Wong, K.S.; Sugamori, K.S.; Cowen, L.E.; Whitesell, L.; Barghash, M.M.; Ip, P.; Batey, R.A.; Houry, W.A.; Liu, Z.; Gelardi, E.L.M.; Hsiao, E.C.; Wentworth, K.L.; Blelloch, R.; Lynn, E.G.; Silva, E.B.; Giardini, M.A.; Gerwick, W.H.; Aguilera, E.; Abraham, E.T.; Gebauer, J.M.; Baumann, U.; Christensen, E.M.; Mason, E.R.; Chu, S.; Trakhtenberg, E.F.; Strauss, E.; Mostert, K.J.; Kotzé, T.J.; Cione, E.; Dolce, V.; Lisabeth, E.M.; MacKeigan, J.P.; Martin, K.R.; O’Connell, P.; Celano, S.L.; Aldhamen, Y.A.; Fan, E.; Buckner, F.S.; Ojo, K.K.; Van Voorhis, W.C.; Yu, F.; Machaca, K.; Xiang, F.; Seo, S.-Y.; Leng, F.; Chadni, S.H.; Tse-Dinh, Y.-C.; Wang, F.; Li, S.; Chou, T.-F.; Borriello, F.; Vizeacoumar, F.J.; Luh, F.; Wang, J.; Su, L.; Yen, Y.; Bdira, F.B.; Dame, R.T.; Rodriguez, G.M.; Wang, J.; Ebright, R.H.; Hu, Y.; Lembo, G.; Conticello, S.G.; Zhang, G.; Eitzen, G.; Mayer, G.; Lukacs, G.L.; Veit, G.; De Keulenaer, G.; Cools, J.; Fiermonte, G.; Gorgoglione, R.; Gasparre, G.; Dahal, G.; Viola, R.E.; Michlewski, G.; Stec, N.; Zhu, S.; Conn, G.L.; Zelinskaya, N.; Bowman, G.R.; Shorter, J.; Lin, J.; Popowicz, G.M.; Akk, G.; Alvarez, G.; Artía, Z.; Rucinski, G.; Tilford, H.; Ng, J.; Watkins, J.; Christodoulides, M.; Cildir, G.; Breton, H.E.; Tanner, J.J.; Koppisetti, R.K.; Van Doren, S.R.; Jafar-Nejad, H.; Zhou, S.; Yu, X.; Li, Y.; Zhou, H.; Gunasekharan, V.; Moore, H.P.; Yuan, H.; Katyal, S.; Tam, H.-K.; Foong, W.E.; Van Remmen, H.; Xu, H.; Debonsi, H.M.; Teixeira, T.R.; Jung, H.; Kee, J.-M.; Fan, H.-Y.; Lake, R.J.; Kim, H.J.; Kee, J.-M.; Greig, I.R.; Giorgis, M.; Caliandro, I.; Lolli, M.L.; Sainas, S.; Corvo, I.; Arozarena, I.; Mungrue, I.N.; Verhamme, I.M.; Sarilla, S.; Qureshi, I.A.; Lotsaris, I.; Vandenberg, R.J.; Malkas, L.H.; Hickey, R.J.; Ferreira, J.; Fries, J.; Granneman, J.G.; Mousa, J.J.; Maynes, J.T.; Evans, J.D.; Dickhout, J.; Austin, R.C.; Perry, J.J.P.; Jossart, J.N.; Liao, J.; Xu, J.; Xu, J.; Zhu, J.; Zhao, J.; Nagai, M.H.; Zhou, P.; Lin, J.; Wilson, M.A.; Lee, J.; Bruning, J.B.; Coles, J.G.; Gruber, J.J.; Rodríguez-Frade, J.M.; Mellado, M.; Arias, J.A.S.; Oyarzabal, J.; Rabal, O.; Liao, J.; Tang, W.; Sishtla, K.; Hussain, M.S.; Richardson, T.I.; Corson, T.W.; Hansen, K.B.; Rouzbeh, N.; Gadar, K.; McCarthy, R.R.; Parang, K.; Ghilarducci, K.; Lussier, M.P.; Liu, K.; Chan, N.-L.; Smith, K.S.; Sarosiek, K.; Kandror, O.; Akopian, T.; Inde, Z.; Rohde, K.H.; Geden, S.E.; Kim, K.K.; Rowswell-Turner, R.B.; Moore, R.G.; Lee, K.H.; Paige, M.; Lehtiö, L.; Maksimainen, M.M.; Wazir, S.; Puchades-Carrasco, L.; Zhuo, L.; Zahler, S.; Hedstrom, L.; Hedstrom, L.; Cullinane, R.T.; Wang, X.; Randall, L.M.; Fathallah, M.D.; Khalaf, N.B.; Kilkenny, M.L.; Caroleo, M.C.; Tye, M.A.; Mazitschek, R.; Hannink, M.; Su, T.; Maurice, M.S.; Schneider, N.O.; Donaldson, W.A.; Mehedi, M.; Dallman, S.; Alteen, M.G.; Skorodinsky, M.; O’Mara, M.L.; Mowat, M.; Jackson, M.R.; Olson, S.H.; Kootstra, N.A.; Singh, N.; Yan, R.; Horstmann, N.; Shelburne, S.A.; Gumede, N.J.; Sobrado, P.; Chuong, P.; Wu, P.; Jones, P.L.; Balaña-Fouce, R.; Reguera, R.M.; Pérez-Pertejo, Y.; Ramachandran, R.; Qi, X.; Verma, R.; Singh, R.K.; Tiwari, R.K.; Douville, R.N.; Bradley, R.K.; Gierse, R.M.; Uribe, R.V.; Dzhumaev, S.; Chauhan, S.; Maruta, S.; Ogunwa, T.H.; Tsimbalyuk, S.; Xu, S.Q.; Banerjee, S.; Tandon, V.; Waggoner, S.N.; Poirier, S.; Marx, S.O.; Teramoto, T.; Abaffy, T.; Moreda, T.L.; Kampourakis, T.; O’Meara, T.R.; Banjo, T.; Ronchi, V.P.; Van Hung Le, V.; Lowther, W.T.; Li, W.; Kerr, W.G.; Bradshaw, W.J.; Blanchet, X.; Zhang, X.; Gupta, Y.K.; Sidorova, Y.A.; Li, Y.; Frangos, Z.J.
In: Scientific Reports . (Scientific Reports, December 2024, 14(1))
Academic Journal
In: Microelectronics Reliability . (Microelectronics Reliability, February 2024, 153)
Academic Journal
In: IEEE Transactions on Industrial Electronics . (IEEE Transactions on Industrial Electronics, 2024, :1-11)
Academic Journal
IEEE Open Journal of the Industrial Electronics Society IEEE Open J. Ind. Electron. Soc. Industrial Electronics Society, IEEE Open Journal of the. 3:65-80 2022
Academic Journal
IEEE Open Journal of the Industrial Electronics Society IEEE Open J. Ind. Electron. Soc. Industrial Electronics Society, IEEE Open Journal of the. 3:188-202 2022
Academic Journal
In: IEEE Transactions on Device and Materials Reliability . (IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, 1 December 2023, 23(4):544-563)
Refining the search results
Facets
[AR] Mellor, P.
Publication year
-
Database provider
Title
Publisher
자료유형(Source Type)
Subject
Language