e-Article
'e-Article'
searched 7results | List
1~10
Conference
Auth, C.; Aliyarukunju, A.; Asoro, M.; Bergstrom, D.; Bhagwat, V.; Birdsall, J.; Bisnik, N.; Buehler, M.; Chikarmane, V.; Ding, G.; Fu, Q.; Gomez, H.; Han, W.; Hanken, D.; Haran, M.; Hattendorf, M.; Heussner, R.; Hiramatsu, H.; Ho, B.; Jaloviar, S.; Jin, I.; Joshi, S.; Kirby, S.; Kosaraju, S.; Kothari, H.; Leatherman, G.; Lee, K.; Leib, J.; Madhavan, A.; Marla, K.; Meyer, H.; Mule, T.; Parker, C.; Parthasarathy, S.; Pelto, C.; Pipes, L.; Post, I.; Prince, M.; Rahman, A.; Rajamani, S.; Saha, A.; Santos, J. Dacuna; Sharma, M.; Sharma, V.; Shin, J.; Sinha, P.; Smith, P.; Sprinkle, M.; Amour, A. St.; Staus, C.; Suri, R.; Towner, D.; Tripathi, A.; Tura, A.; Ward, C.; Yeoh, A.
2017 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2017 IEEE International. :29.1.1-29.1.4 Dec, 2017
Conference
Mistry, K.; Allen, C.; Auth, C.; Beattie, B.; Bergstrom, D.; Bost, M.; Brazier, M.; Buehler, M.; Cappellani, A.; Chau, R.; Choi, C.-H.; Ding, G.; Fischer, K.; Ghani, T.; Grover, R.; Han, W.; Hanken, D.; Hattendorf, M.; He, J.; Hicks, J.; Huessner, R.; Ingerly, D.; Jain, P.; James, R.; Jong, L.; Joshi, S.; Kenyon, C.; Kuhn, K.; Lee, K.; Liu, H.; Maiz, J.; McIntyre, B.; Moon, P.; Neirynck, J.; Pae, S.; Parker, C.; Parsons, D.; Prasad, C.; Pipes, L.; Prince, M.; Ranade, P.; Reynolds, T.; Sandford, J.; Shifren, L.; Sebastian, J.; Seiple, J.; Simon, D.; Sivakumar, S.; Smith, P.; Thomas, C.; Troeger, T.; Vandervoorn, P.; Williams, S.; Zawadzki, K.
2007 IEEE International Electron Devices Meeting Electron Devices Meeting, 2007. IEDM 2007. IEEE International. :247-250 Dec, 2007
Conference
Natarajan, S.; Agostinelli, M.; Akbar, S.; Bost, M.; Bowonder, A.; Chikarmane, V.; Chouksey, S.; Dasgupta, A.; Fischer, K.; Fu, Q.; Ghani, T.; Giles, M.; Govindaraju, S.; Grover, R.; Han, W.; Hanken, D.; Haralson, E.; Haran, M.; Heckscher, M.; Heussner, R.; Jain, P.; James, R.; Jhaveri, R.; Jin, I.; Kam, H.; Karl, E.; Kenyon, C.; Liu, M.; Luo, Y.; Mehandru, R.; Morarka, S.; Neiberg, L.; Packan, P.; Paliwal, A.; Parker, C.; Patel, P.; Patel, R.; Pelto, C.; Pipes, L.; Plekhanov, P.; Prince, M.; Rajamani, S.; Sandford, J.; Sell, B.; Sivakumar, S.; Smith, P.; Song, B.; Tone, K.; Troeger, T.; Wiedemer, J.; Yang, M.; Zhang, K.
2014 IEEE International Electron Devices Meeting Electron Devices Meeting (IEDM), 2014 IEEE International. :3.7.1-3.7.3 Dec, 2014
Conference
Auth, C.; Allen, C.; Blattner, A.; Bergstrom, D.; Brazier, M.; Bost, M.; Buehler, M.; Chikarmane, V.; Ghani, T.; Glassman, T.; Grover, R.; Han, W.; Hanken, D.; Hattendorf, M.; Hentges, P.; Heussner, R.; Hicks, J.; Ingerly, D.; Jain, P.; Jaloviar, S.; James, R.; Jones, D.; Jopling, J.; Joshi, S.; Kenyon, C.; Liu, H.; McFadden, R.; McIntyre, B.; Neirynck, J.; Parker, C.; Pipes, L.; Post, I.; Pradhan, S.; Prince, M.; Ramey, S.; Reynolds, T.; Roesler, J.; Sandford, J.; Seiple, J.; Smith, P.; Thomas, C.; Towner, D.; Troeger, T.; Weber, C.; Yashar, P.; Zawadzki, K.; Mistry, K.
2012 Symposium on VLSI Technology (VLSIT) VLSI Technology (VLSIT), 2012 Symposium on. :131-132 Jun, 2012
Conference
Auth, C.; Aliyarukunju, A.; Asoro, M.; Bergstrom, D.; Bhagwat, V.; Birdsall, J.; Bisnik, N.; Buehler, M.; Chikarmane, V.; Ding, G.; Fu, Q.; Gomez, H.; Han, W.; Hanken, D.; Haran, M.; Hattendorf, M.; Heussner, R.; Hiramatsu, H.; Ho, B.; Jaloviar, S.; Jin, I.; Joshi, S.; Kirby, S.; Kosaraju, S.; Kothari, H.; Lee, K.; Leib, J.; Madhavan, A.; Maria, K.; Meyer, H.; Mule, T.; Parker, C.; Parthasarathy, S.; Pelto, C.; Pipes, L.; Post, I.; Prince, M.; Rajamani, S.; Saha, A.; Sharma, M.; Sharma, V.; Shin, J.; Sinha, P.; Smith, P.; Sprinkle, M.; Amour, A.St.; Staus, C.; Suri, R.; Towner, D.; Tripathi, A.; Tura, A.; Ward, C.; Yeoh, A.; Leatherman, G.; Rahman, A.; Dacuna Santos, J.
In: Technical Digest - International Electron Devices Meeting, IEDM , 2017 IEEE International Electron Devices Meeting, IEDM 2017. (Technical Digest - International Electron Devices Meeting, IEDM, 23 January 2018, :29.1.1-29.1.4)
Conference
Natarajan, S.; Akbar, S.; Bost, M.; Bowonder, A.; Chikarmane, V.; Chouksey, S.; Dasgupta, A.; Fischer, K.; Fu, Q.; Ghani, T.; Govindaraju, S.; Grover, R.; Han, W.; Hanken, D.; Haralson, E.; Haran, M.; Heckscher, M.; Heussner, R.; Jain, P.; James, R.; Jhaveri, R.; Jin, I.; Kam, H.; Karl, E.; Kenyon, C.; Liu, M.; Luo, Y.; Neiberg, L.; Packan, P.; Paliwal, A.; Parker, C.; Patel, P.; Patel, R.; Pelto, C.; Pipes, L.; Plekhanov, P.; Prince, M.; Rajamani, S.; Sandford, J.; Sell, B.; Sivakumar, S.; Smith, P.; Song, B.; Tone, K.; Troeger, T.; Wiedemer, J.; Yang, M.; Zhang, K.; Agostinelli, M.; Giles, M.; Mehandru, R.; Morarka, S.
In: Technical Digest - International Electron Devices Meeting, IEDM , 2014 IEEE International Electron Devices Meeting, IEDM 2014. (Technical Digest - International Electron Devices Meeting, IEDM, 20 February 2015, 2015-February(February):3.7.1-3.7.3)
Academic Journal
Balci, Y.; Spaine, P.; Podleckis, E. V.; Somboju, N.; Bateman, M.; Colon, L.; OKeefe, G.; Rodriguez-Yanes, R.; Singh, I.; Hanken, D.; Rabindran, S.
Refining the search results
Facets
[AR] Hanken, D.
Publication year
-
Database provider
Title
Publisher
자료유형(Source Type)
Subject
Language