e-Article
전자자료 공정이용 안내
우리 대학 도서관에서 구독·제공하는 모든 전자자료(데이터베이스, 전자저널, 전자책 등)는 국내외 저작권법과 출판사와의 라이선스 계약에 따라 엄격하게 보호를 받고 있습니다.
전자자료의 비정상적 이용은 출판사로부터의 경고, 서비스 차단, 손해배상 청구 등 학교 전체에 심각한 불이익을 초래할 수 있으므로, 아래의 공정이용 지침을 반드시 준수해 주시기 바랍니다.
공정이용 지침
- 전자자료는 개인의 학습·교육·연구 목적의 비영리적 사용에 한하여 이용할 수 있습니다.
- 합리적인 수준의 다운로드 및 출력만 허용됩니다. (일반적으로 동일 PC에서 동일 출판사의 논문을 1일 30건 이하 다운로드할 것을 권장하며, 출판사별 기준에 따라 다를 수 있습니다.)
- 출판사에서 제공한 논문의 URL을 수업 관련 웹사이트에 게재할 수 있으나, 출판사 원문 파일 자체를 복제·배포해서는 안 됩니다.
- 본인의 ID/PW를 타인에게 제공하지 말고, 도용되지 않도록 철저히 관리해 주시기 바랍니다.
불공정 이용 사례
- 전자적·기계적 수단(다운로딩 프로그램, 웹 크롤러, 로봇, 매크로, RPA 등)을 이용한 대량 다운로드
- 동일 컴퓨터 또는 동일 IP에서 단시간 내 다수의 원문을 집중적으로 다운로드하거나, 전권(whole issue) 다운로드
- 저장·출력한 자료를 타인에게 배포하거나 개인 블로그·웹하드 등에 업로드
- 상업적·영리적 목적으로 자료를 전송·복제·활용
- ID/PW를 타인에게 양도하거나 타인 계정을 도용하여 이용
- EndNote, Mendeley 등 서지관리 프로그램의 Find Full Text 기능을 이용한 대량 다운로드
- 출판사 콘텐츠를 생성형 AI 시스템에서 활용하는 행위(업로드, 개발, 학습, 프로그래밍, 개선 또는 강화 등)
위반 시 제재
- 출판사에 의한 해당 IP 또는 기관 전체 접속 차단
- 출판사 배상 요구 시 위반자 개인이 배상 책임 부담
'e-Article'
searched 444results | List
1~20
Academic Journal
C. Adams; M. Alrashed; R. An; J. Anthony; J. Asaadi; A. Ashkenazi; M. Auger; S. Balasubramanian; B. Baller; C. Barnes; G. Barr; M. Bass; F. Bay; A. Bhat; K. Bhattacharya; M. Bishai; A. Blake; T. Bolton; L. Camilleri; D. Caratelli; I. Caro Terrazas; R. Carr; R. Castillo Fernandez; F. Cavanna; G. Cerati; Y. Chen; E. Church; D. Cianci; E. O. Cohen; G. H. Collin; J. M. Conrad; M. Convery; L. Cooper-Troendle; J. I. Crespo-Anadón; M. Del Tutto; D. Devitt; A. Diaz; K. Duffy; S. Dytman; B. Eberly; A. Ereditato; L. Escudero Sanchez; J. Esquivel; J. J Evans; A. A. Fadeeva; R. S. Fitzpatrick; B. T. Fleming; D. Franco; A. P. Furmanski; D. Garcia-Gamez; V. Genty; D. Goeldi; S. Gollapinni; O. Goodwin; E. Gramellini; H. Greenlee; R. Grosso; R. Guenette; P. Guzowski; A. Hackenburg; P. Hamilton; O. Hen; J. Hewes; C. Hill; G. A. Horton-Smith; A. Hourlier; E.-C. Huang; C. James; J. Jan de Vries; X. Ji; L. Jiang; R. A. Johnson; J. Joshi; H. Jostlein; Y.-J. Jwa; G. Karagiorgi; W. Ketchum; B. Kirby; M. Kirby; T. Kobilarcik; I. Kreslo; I. Lepetic; Y. Li; A. Lister; B. R. Littlejohn; S. Lockwitz; D. Lorca; W. C. Louis; M. Luethi; B. Lundberg; X. Luo; A. Marchionni; S. Marcocci; C. Mariani; J. Marshall; J. Martin-Albo; D. A. Martinez Caicedo; A. Mastbaum; V. Meddage; T. Mettler; K. Mistry; A. Mogan; J. Moon; M. Mooney; C. D. Moore; J. Mousseau; M. Murphy; R. Murrells; D. Naples; P. Nienaber; J. Nowak; O. Palamara; V. Pandey; V. Paolone; A. Papadopoulou; V. Papavassiliou; S. F. Pate; Z. Pavlovic; E. Piasetzky; D. Porzio; G. Pulliam; X. Qian; J. L. Raaf; A. Rafique; L. Ren; L. Rochester; M. Ross-Lonergan; C. Rudolf von Rohr; B. Russell; G. Scanavini; D. W. Schmitz; A. Schukraft; W. Seligman; M. H. Shaevitz; R. Sharankova; J. Sinclair; A. Smith; E. L. Snider; M. Soderberg; S. Söldner-Rembold; S. R. Soleti; P. Spentzouris; J. Spitz; J. St. John; T. Strauss; K. Sutton; S. Sword-Fehlberg; A. M. Szelc; N. Tagg; W. Tang; K. Terao; M. Thomson; R. T. Thornton; M. Toups; Y.-T. Tsai; S. Tufanli; T. Usher; W. Van De Pontseele; R. G. Van de Water; B. Viren; M. Weber; H. Wei; D. A. Wickremasinghe; K. Wierman; Z. Williams; S. Wolbers; T. Wongjirad; K. Woodruff; T. Yang; G. Yarbrough; L. E. Yates; G. P. Zeller; J. Zennamo; C. Zhang
European Physical Journal C: Particles and Fields, Vol 79, Iss 8, Pp 1-12 (2019)
Academic Journal
C. Adams; R. An; J. Anthony; J. Asaadi; M. Auger; S. Balasubramanian; B. Baller; C. Barnes; G. Barr; M. Bass; F. Bay; A. Bhat; K. Bhattacharya; M. Bishai; A. Blake; T. Bolton; L. Camilleri; D. Caratelli; R. Castillo Fernandez; F. Cavanna; G. Cerati; H. Chen; Y. Chen; E. Church; D. Cianci; E. Cohen; G. H. Collin; J. M. Conrad; M. Convery; L. Cooper-Troendle; J. I. Crespo-Anadón; M. Del Tutto; D. Devitt; A. Diaz; S. Dytman; B. Eberly; A. Ereditato; L. Escudero Sanchez; J. Esquivel; J. J. Evans; A. A. Fadeeva; B. T. Fleming; W. Foreman; A. P. Furmanski; D. Garcia-Gamez; G. T. Garvey; V. Genty; D. Goeldi; S. Gollapinni; E. Gramellini; H. Greenlee; R. Grosso; R. Guenette; P. Guzowski; A. Hackenburg; P. Hamilton; O. Hen; J. Hewes; C. Hill; J. Ho; G. A. Horton-Smith; A. Hourlier; E.-C. Huang; C. James; J. Jan de Vries; L. Jiang; R. A. Johnson; J. Joshi; H. Jostlein; Y.-J. Jwa; D. Kaleko; G. Karagiorgi; W. Ketchum; B. Kirby; M. Kirby; T. Kobilarcik; I. Kreslo; Y. Li; A. Lister; B. R. Littlejohn; S. Lockwitz; D. Lorca; W. C. Louis; M. Luethi; B. Lundberg; X. Luo; A. Marchionni; S. Marcocci; C. Mariani; J. Marshall; D. A. Martinez Caicedo; A. Mastbaum; V. Meddage; T. Mettler; T. Miceli; G. B. Mills; A. Mogan; J. Moon; M. Mooney; C. D. Moore; J. Mousseau; M. Murphy; R. Murrells; D. Naples; P. Nienaber; J. Nowak; O. Palamara; V. Pandey; V. Paolone; A. Papadopoulou; V. Papavassiliou; S. F. Pate; Z. Pavlovic; E. Piasetzky; D. Porzio; G. Pulliam; X. Qian; J. L. Raaf; A. Rafique; L. Rochester; M. Ross-Lonergan; C. Rudolf von Rohr; B. Russell; D. W. Schmitz; A. Schukraft; W. Seligman; M. H. Shaevitz; J. Sinclair; A. Smith; E. L. Snider; M. Soderberg; S. Söldner-Rembold; S. R. Soleti; P. Spentzouris; J. Spitz; J. St. John; T. Strauss; K. Sutton; S. Sword-Fehlberg; A. M. Szelc; N. Tagg; W. Tang; K. Terao; M. Thomson; M. Toups; Y.-T. Tsai; S. Tufanli; T. Usher; W. Van De Pontseele; R. G. Van de Water; B. Viren; M. Weber; H. Wei; D. A. Wickremasinghe; K. Wierman; Z. Williams; S. Wolbers; T. Wongjirad; K. Woodruff; T. Yang; G. Yarbrough; L. E. Yates; G. P. Zeller; J. Zennamo; C. Zhang
European Physical Journal C: Particles and Fields, Vol 79, Iss 3, Pp 1-31 (2019)
Academic Journal
R. Acciarri; C. Adams; R. An; J. Anthony; J. Asaadi; M. Auger; L. Bagby; S. Balasubramanian; B. Baller; C. Barnes; G. Barr; M. Bass; F. Bay; M. Bishai; A. Blake; T. Bolton; L. Camilleri; D. Caratelli; B. Carls; R. Castillo Fernandez; F. Cavanna; H. Chen; E. Church; D. Cianci; E. Cohen; G. H. Collin; J. M. Conrad; M. Convery; J. I. Crespo-Anadón; M. Del Tutto; D. Devitt; S. Dytman; B. Eberly; A. Ereditato; L. Escudero Sanchez; J. Esquivel; A. A. Fadeeva; B. T. Fleming; W. Foreman; A. P. Furmanski; D. Garcia-Gamez; G. T. Garvey; V. Genty; D. Goeldi; S. Gollapinni; N. Graf; E. Gramellini; H. Greenlee; R. Grosso; R. Guenette; A. Hackenburg; P. Hamilton; O. Hen; J. Hewes; C. Hill; J. Ho; G. Horton-Smith; A. Hourlier; E.-C. Huang; C. James; J. Jan de Vries; C.-M. Jen; L. Jiang; R. A. Johnson; J. Joshi; H. Jostlein; D. Kaleko; G. Karagiorgi; W. Ketchum; B. Kirby; M. Kirby; T. Kobilarcik; I. Kreslo; A. Laube; Y. Li; A. Lister; B. R. Littlejohn; S. Lockwitz; D. Lorca; W. C. Louis; M. Luethi; B. Lundberg; X. Luo; A. Marchionni; C. Mariani; J. Marshall; D. A. Martinez Caicedo; V. Meddage; T. Miceli; G. B. Mills; J. Moon; M. Mooney; C. D. Moore; J. Mousseau; R. Murrells; D. Naples; P. Nienaber; J. Nowak; O. Palamara; V. Paolone; V. Papavassiliou; S. F. Pate; Z. Pavlovic; E. Piasetzky; D. Porzio; G. Pulliam; X. Qian; J. L. Raaf; A. Rafique; L. Rochester; C. Rudolf von Rohr; B. Russell; D. W. Schmitz; A. Schukraft; W. Seligman; M. H. Shaevitz; J. Sinclair; A. Smith; E. L. Snider; M. Soderberg; S. Söldner-Rembold; S. R. Soleti; P. Spentzouris; J. Spitz; J. St. John; T. Strauss; A. M. Szelc; N. Tagg; K. Terao; M. Thomson; M. Toups; Y.-T. Tsai; S. Tufanli; T. Usher; W. Van De Pontseele; R. G. Van de Water; B. Viren; M. Weber; D. A. Wickremasinghe; S. Wolbers; T. Wongjirad; K. Woodruff; T. Yang; L. Yates; G. P. Zeller; J. Zennamo; C. Zhang
European Physical Journal C: Particles and Fields, Vol 78, Iss 1, Pp 1-25 (2018)
Academic Journal
Moura, C.A.; Paulucci, L.; Dos Santos, M.V.; Valdiviesso, G.A.; Blaszczyk, F.D.M.; Carey, R.; Gastler, D.; Kearns, E.; Linehan, R.; Smith, D.; Zhang, S.; Dedin, P.; Gratieri, D.R.; Kemp, E.; MacHado, A.A.B.; Mendes Santos, L.; Passarelli Gelli, B.; Reggiani Guzzo, M.; Soares Nunes, M.; Segreto, E.; Kawai, H.; Tabata, M.; Bouabid, R.; Cevallos Aleman, J.I.; Foreman, W.; Ho, J.; Schmitz, D.W.; Johnson, R.A.; John, J.M.S.; Acciarri, R.; Backfish, M.; Badgett, W.; Baller, B.; Castillo Fernandez, R.; Cavanna, F.; Escobar, C.; Hahn, A.; Jensen, D.; Jostlein, H.; Kirby, M.; Kobilarcik, T.; Kryczyński, P.; Lockwitz, S.; Marchionni, A.; Nutini, I.; Palamara, O.; Paley, J.; Raaf, J.L.; Rebel, B.; Ross-Lonergan, M.; Stancari, M.; Totani, D.; Wenzel, H.; Yang, T.; Zeller, G.P.; Zhu, J.; Benevides Rodrigues, O.; Ghosh, T.; Gomes, R.A.; Iwai, E.; Maruyama, T.; Hugon, J.; Metcalf, W.; Olivier, A.; Tzanov, M.; Walker, D.; Evans, J.; Garcia-Gamez, D.; Guzowski, P.; Hill, C.; Spagliardi, F.; Szelc, A.M.; Bromberg, C.; Edmunds, D.; Shooltz, D.; Elkins, M.; Gran, R.; Habig, A.; Stefan, D.; Sulej, R.; Esquivel, J.; Hamilton, P.; Pulliam, G.; Soderberg, M.; Asaadi, J.A.; Chatterjee, A.; Falcone, A.; Farbin, A.; Parmaksiz, I.; Sessumes, D.; Shahsavarani, S.; Williams, Z.; Yu, J.; Flanagan, W.; Lang, K.; Phan, D.; Soubasis, B.; Holin, A.; Nichol, R.; Kordosky, M.; Stephens, M.; Adams, C.; Fleming, B.T.; Gramellini, E.; Luo, X.
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, April 2020, 15(4))
Academic Journal
Auger, M.; Chen, Y.; Ereditato, A.; Goeldi, D.; Kreslo, I.; Lorca, D.; Luethi, M.; Mettler, T.; Rudolf Von Rohr, C.; Sinclair, J.; Weber, M.; Bass, M.; Bishai, M.; Gu, W.; Ji, X.; Joshi, J.; Kirby, B.; Li, Y.; Qian, X.; Viren, B.; Wei, H.; Zhang, C.; Anthony, J.; Escudero Sanchez, L.; Jan De Vries, J.; Marshall, J.; Smith, A.; Thomson, M.; Mastbaum, A.; Schmitz, D.W.; Grosso, R.; Johnson, R.A.; Caro Terrazas, I.; Mooney, M.; Rogers, H.E.; Camilleri, L.; Cianci, D.; Crespo-Anadón, J.I.; Genty, V.; Jwa, Y.-J.; Karagiorgi, G.; Ross-Lonergan, M.; Seligman, W.; Shaevitz, M.H.; Sutton, K.; Eberly, B.; Baller, B.; Caratelli, D.; Castillo Fernandez, R.; Cavanna, F.; Cerati, G.; Duffy, K.; Gramellini, E.; Greenlee, H.; James, C.; Jostlein, H.; Ketchum, W.; Kirby, M.; Kobilarcik, T.; Lockwitz, S.; Lundberg, B.; Marchionni, A.; Marcocci, S.; Moore, C.D.; Palamara, O.; Pavlovic, Z.; Raaf, J.L.; Schukraft, A.; Snider, E.L.; Spentzouris, P.; Stancari, M.; John, J.S.; Strauss, T.; Toups, M.; Wolbers, S.; Wu, W.; Yang, T.; Zeller, G.P.; Zennamo, J.; Adams, C.; Guenette, R.; Martin-Albo, J.; Soleti, S.R.; Van De Pontseele, W.; An, R.; Lepetic, I.; Littlejohn, B.R.; Martinez Caicedo, D.A.; Alrashed, M.; Bolton, T.; Horton-Smith, G.A.; Meddage, V.; Rafique, A.; Blake, A.; Devitt, D.; Lister, A.; Nowak, J.; Huang, E.-C.; Louis, W.C.; Thornton, R.T.; Van De Water, R.G.; Evans, J.J.; Furmanski, A.P.; Garcia-Gamez, D.; Goodwin, O.; Guzowski, P.; Hill, C.; Mistry, K.; Murrells, R.; Porzio, D.; Söldner-Rembold, S.; Szelc, A.M.; Ashkenazi, A.; Carr, R.; Collin, G.H.; Conrad, J.M.; Diaz, A.; Hen, O.; Hourlier, A.; Moon, J.; Papadopoulou, A.; Yates, L.E.; Abratenko, P.; Barnes, C.; Fitzpatrick, R.S.; Mousseau, J.; Spitz, J.; Papavassiliou, V.; Pate, S.F.; Ren, L.; Sword-Fehlberg, S.; Woodruff, K.; Tagg, N.; Barr, G.; Del Tutto, M.; Bhattacharya, K.; Church, E.; Wierman, K.; Dytman, S.; Jiang, L.; Naples, D.; Paolone, V.; Wickremasinghe, D.A.; Nienaber, P.; Convery, M.; Domine, L.; Rochester, L.; Terao, K.; Tsai, Y.-T.; Usher, T.; Bhat, A.; Esquivel, J.; Hamilton, P.; Pulliam, G.; Soderberg, M.; Cohen, E.O.; Piasetzky, E.; Gollapinni, S.; Mogan, A.; Tang, W.; Yarbrough, G.; Asaadi, J.; Williams, Z.; Bay, F.; Mason, K.; Mills, J.; Sharankova, R.; Wongjirad, T.; Gu, L.; Mariani, C.; Murphy, M.; Pandey, V.; Balasubramanian, S.; Cooper-Troendle, L.; Fleming, B.T.; Franco, D.; Hackenburg, A.; Luo, X.; Russell, B.; Scanavini, G.; Tufanli, S.
In: Physical Review Letters . (Physical Review Letters, 23 September 2019, 123(13))
Academic Journal
Auger, M.; Chen, Y.; Ereditato, A.; Goeldi, D.; Kreslo, I.; Lorca, D.; Luethi, M.; Mettler, T.; Rudolf Von Rohr, C.; Sinclair, J.; Weber, M.; Bass, M.; Bishai, M.; Ji, X.; Joshi, J.; Kirby, B.; Li, Y.; Qian, X.; Viren, B.; Wei, H.; Zhang, C.; Anthony, J.; Escudero Sanchez, L.; Jan De Vries, J.; Marshall, J.; Smith, A.; Thomson, M.; Mastbaum, A.; Schmitz, D.W.; Grosso, R.; Johnson, R.A.; Caro Terrazas, I.; Mooney, M.; Camilleri, L.; Cianci, D.; Crespo-Anadón, J.I.; Fadeeva, A.A.; Genty, V.; Jwa, Y.-J.; Karagiorgi, G.; Ross-Lonergan, M.; Seligman, W.; Shaevitz, M.H.; Sutton, K.; Eberly, B.; Baller, B.; Caratelli, D.; Castillo Fernandez, R.; Cavanna, F.; Cerati, G.; Duffy, K.; Greenlee, H.; James, C.; Jostlein, H.; Ketchum, W.; Kirby, M.; Kobilarcik, T.; Lockwitz, S.; Lundberg, B.; Marchionni, A.; Marcocci, S.; Moore, C.D.; Palamara, O.; Pavlovic, Z.; Raaf, J.L.; Schukraft, A.; Snider, E.L.; Spentzouris, P.; St John, J.; Strauss, T.; Toups, M.; Wolbers, S.; Yang, T.; Zeller, G.P.; Zennamo, J.; Adams, C.; Guenette, R.; Martin-Albo, J.; Soleti, S.R.; Van De Pontseele, W.; An, R.; Lepetic, I.; Littlejohn, B.R.; Martinez Caicedo, D.A.; Alrashed, M.; Bolton, T.; Horton-Smith, G.A.; Meddage, V.; Rafique, A.; Blake, A.; Devitt, D.; Lister, A.; Nowak, J.; Huang, E.-C.; Louis, W.C.; Thornton, R.T.; Van De Water, R.G.; Evans, J.J.; Furmanski, A.P.; Garcia-Gamez, D.; Goodwin, O.; Guzowski, P.; Hewes, J.; Hill, C.; Mistry, K.; Murrells, R.; Porzio, D.; Söldner-Rembold, S.; Szelc, A.M.; Ashkenazi, A.; Carr, R.; Collin, G.H.; Conrad, J.M.; Diaz, A.; Hen, O.; Hourlier, A.; Moon, J.; Papadopoulou, A.; Yates, L.E.; Barnes, C.; Fitzpatrick, R.S.; Mousseau, J.; Spitz, J.; Papavassiliou, V.; Pate, S.F.; Ren, L.; Sword-Fehlberg, S.; Woodruff, K.; Tagg, N.; Barr, G.; Del Tutto, M.; Bhattacharya, K.; Church, E.; Wierman, K.; Dytman, S.; Jiang, L.; Naples, D.; Paolone, V.; Wickremasinghe, D.A.; Nienaber, P.; Convery, M.; Rochester, L.; Terao, K.; Tsai, Y.-T.; Usher, T.; Bhat, A.; Esquivel, J.; Hamilton, P.; Pulliam, G.; Soderberg, M.; Cohen, E.O.; Piasetzky, E.; Gollapinni, S.; Mogan, A.; Tang, W.; Yarbrough, G.; Asaadi, J.; Williams, Z.; Bay, F.; Sharankova, R.; Wongjirad, T.; Mariani, C.; Murphy, M.; Pandey, V.; Balasubramanian, S.; Cooper-Troendle, L.; Fleming, B.T.; Franco, D.; Gramellini, E.; Hackenburg, A.; Luo, X.; Russell, B.; Scanavini, G.; Tufanli, S.
In: Physical Review D . (Physical Review D, 1 May 2019, 99(9))
Academic Journal
Auger, M.; Chen, Y.; Ereditato, A.; Goeldi, D.; Kreslo, I.; Lorca, D.; Luethi, M.; Mettler, T.; Rudolf Von Rohr, C.; Sinclair, J.; Weber, M.; Bass, M.; Bishai, M.; Chen, H.; Ji, X.; Joshi, J.; Kirby, B.; Li, Y.; Qian, X.; Viren, B.; Wei, H.; Zhang, C.; Anthony, J.; Escudero Sanchez, L.; Jan De Vries, J.; Marshall, J.; Smith, A.; Thomson, M.; Mastbaum, A.; Schmitz, D.W.; Grosso, R.; Johnson, R.A.; Caro Terrazas, I.; Mooney, M.; Camilleri, L.; Cianci, D.; Crespo-Anadón, J.I.; Fadeeva, A.A.; Genty, V.; Jwa, Y.-J.; Karagiorgi, G.; Ross-Lonergan, M.; Seligman, W.; Shaevitz, M.H.; Sutton, K.; Eberly, B.; Baller, B.; Caratelli, D.; Castillo Fernandez, R.; Cavanna, F.; Cerati, G.; Duffy, K.; Greenlee, H.; James, C.; Jostlein, H.; Ketchum, W.; Kirby, M.; Kobilarcik, T.; Lockwitz, S.; Lundberg, B.; Marchionni, A.; Marcocci, S.; Moore, C.D.; Palamara, O.; Pavlovic, Z.; Raaf, J.L.; Schukraft, A.; Snider, E.L.; Spentzouris, P.; John, J.S.; Strauss, T.; Toups, M.; Wolbers, S.; Yang, T.; Zeller, G.P.; Zennamo, J.; Guenette, R.; Martin-Albo, J.; Soleti, S.R.; Van De Pontseele, W.; An, R.; Lepetic, I.; Littlejohn, B.R.; Martinez Caicedo, D.A.; Alrashed, M.; Bolton, T.; Horton-Smith, G.A.; Meddage, V.; Rafique, A.; Blake, A.; Devitt, D.; Lister, A.; Nowak, J.; Huang, E.-C.; Louis, W.C.; Thornton, R.T.; Van De Water, R.G.; Evans, J.J.; Furmanski, A.P.; Garcia-Gamez, D.; Goodwin, O.; Guzowski, P.; Hewes, J.; Hill, C.; Mistry, K.; Murrells, R.; Porzio, D.; Söldner-Rembold, S.; Szelc, A.M.; Ashkenazi, A.; Carr, R.; Collin, G.H.; Conrad, J.M.; Diaz, A.; Hen, O.; Hourlier, A.; Moon, J.; Papadopoulou, A.; Yates, L.E.; Barnes, C.; Fitzpatrick, R.S.; Mousseau, J.; Spitz, J.; Papavassiliou, V.; Pate, S.F.; Ren, L.; Sword-Fehlberg, S.; Woodruff, K.; Tagg, N.; Barr, G.; Del Tutto, M.; Bhattacharya, K.; Church, E.; Wierman, K.; Dytman, S.; Jiang, L.; Naples, D.; Paolone, V.; Wickremasinghe, D.A.; Nienaber, P.; Convery, M.; Rochester, L.; Terao, K.; Tsai, Y.-T.; Usher, T.; Bhat, A.; Esquivel, J.; Hamilton, P.; Pulliam, G.; Soderberg, M.; Cohen, E.; Piasetzky, E.; Gollapinni, S.; Mogan, A.; Tang, W.; Yarbrough, G.; Asaadi, J.; Williams, Z.; Bay, F.; Sharankova, R.; Wongjirad, T.; Mariani, C.; Murphy, M.; Pandey, V.; Adams, C.; Balasubramanian, S.; Cooper-Troendle, L.; Fleming, B.T.; Franco, D.; Gramellini, E.; Hackenburg, A.; Luo, X.; Russell, B.; Scanavini, G.; Tufanli, S.
In: Physical Review D . (Physical Review D, 1 May 2019, 99(9))
Academic Journal
Auger, M.; Chen, Y.; Ereditato, A.; Goeldi, D.; Kreslo, I.; Lorca, D.; Luethi, M.; Mettler, T.; Rohr, C.R.V.; Sinclair, J.; Weber, M.; Bass, M.; Bishai, M.; Joshi, J.; Kirby, B.; Li, Y.; Qian, X.; Viren, B.; Wei, H.; Zhang, C.; Anthony, J.; Sanchez, L.E.; De Vries, J.J.; Marshall, J.; Smith, A.; Thomson, M.; Mastbaum, A.; Schmitz, D.W.; Zennamo, J.; Grosso, R.; Johnson, R.A.; Terrazas, I.C.; Mooney, M.; Camilleri, L.; Caratelli, D.; Cianci, D.; Crespo-Anadón, J.I.; Fadeeva, A.A.; Genty, V.; Jwa, Y.-J.; Karagiorgi, G.; Ross-Lonergan, M.; Seligman, W.; Shaevitz, M.H.; Sutton, K.; Baller, B.; Fernandez, R.C.; Cavanna, F.; Cerati, G.; Duffy, K.; Greenlee, H.; James, C.; Jostlein, H.; Ketchum, W.; Kirby, M.; Kobilarcik, T.; Lockwitz, S.; Lundberg, B.; Marchionni, A.; Marcocci, S.; Moore, C.D.; Palamara, O.; Pavlovic, Z.; Raaf, J.L.; Schukraft, A.; Snider, E.L.; Spentzouris, P.; John, J.S.; Strauss, T.; Toups, M.; Wolbers, S.; Yang, T.; Zeller, G.P.; Adams, C.; Guenette, R.; Martin-Albo, J.; Soleti, S.R.; Pontseele, W.V.D.; An, R.; Littlejohn, B.R.; Caicedo, D.A.M.; Alrashed, M.; Bolton, T.; Horton-Smith, G.A.; Meddage, V.; Rafique, A.; Blake, A.; Devitt, D.; Lister, A.; Nowak, J.; Garvey, G.T.; Huang, E.-C.; Louis, W.C.; Mills, G.B.; Thornton, R.T.; De Water, R.G.V.; Evans, J.J.; Furmanski, A.P.; Garcia-Gamez, D.; Goodwin, O.; Guzowski, P.; Hewes, J.; Hill, C.; Mistry, K.; Murrells, R.; Porzio, D.; Söldner-Rembold, S.; Szelc, A.M.; Ashkenazi, A.; Carr, R.; Collin, G.H.; Conrad, J.M.; Diaz, A.; Hen, O.; Hourlier, A.; Moon, J.; Papadopoulou, A.; Yates, L.E.; Barnes, C.; Fitzpatrick, R.S.; Mousseau, J.; Spitz, J.; Papavassiliou, V.; Pate, S.F.; Sword-Fehlberg, S.; Woodruff, K.; Tagg, N.; Barr, G.; Tutto, M.D.; Bhattacharya, K.; Church, E.; Wierman, K.; Dytman, S.; Jiang, L.; Naples, D.; Paolone, V.; Wickremasinghe, D.A.; Nienaber, P.; Convery, M.; Eberly, B.; Rochester, L.; Terao, K.; Tsai, Y.-T.; Usher, T.; Bhat, A.; Esquivel, J.; Hamilton, P.; Pulliam, G.; Soderberg, M.; Cohen, E.; Piasetzky, E.; Gollapinni, S.; Mogan, A.; Tang, W.; Yarbrough, G.; Asaadi, J.; Williams, Z.; Bay, F.; Sharankova, R.; Wongjirad, T.; Mariani, C.; Murphy, M.; Pandey, V.; Balasubramanian, S.; Cooper-Troendle, L.; Fleming, B.T.; Franco, D.; Gramellini, E.; Hackenburg, A.; Luo, X.; Russell, B.; Tufanli, S.
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, 8 April 2019, 14(4))
Academic Journal
Auger, M.; Chen, Y.; Ereditato, A.; Goeldi, D.; Kreslo, I.; Lorca, D.; Luethi, M.; Mettler, T.; Rohr, C.R.V.; Sinclair, J.; Weber, M.; Bass, M.; Bishai, M.; Chen, H.; Dolce, M.; Joshi, J.; Kirby, B.; Li, Y.; Qian, X.; Radeka, V.; Viren, B.; Wei, H.; Yu, B.; Zhang, C.; Anthony, J.; Sanchez, L.E.; De Vries, J.J.; Marshall, J.; Smith, A.; Thomson, M.; Foreman, W.; Ho, J.; Mastbaum, A.; Schmitz, D.W.; Zennamo, J.; Grosso, R.; Johnson, R.A.; John, J.S.; Terrazas, I.C.; Mooney, M.; Camilleri, L.; Caratelli, D.; Cianci, D.; Crespo-Anadón, J.I.; Fadeeva, A.A.; Genty, V.; Jwa, Y.-J.; Kaleko, D.; Karagiorgi, G.; Ross-Lonergan, M.; Seligman, W.; Shaevitz, M.H.; Sutton, K.; Baller, B.; Fernandez, R.C.; Cavanna, F.; Cerati, G.; Greenlee, H.; James, C.; Jostlein, H.; Ketchum, W.; Kirby, M.; Kobilarcik, T.; Lockwitz, S.; Lundberg, B.; Marchionni, A.; Marcocci, S.; Moore, C.D.; Palamara, O.; Pavlovic, Z.; Raaf, J.L.; Schukraft, A.; Snider, E.L.; Spentzouris, P.; Strauss, T.; Toups, M.; Wolbers, S.; Yang, T.; Zeller, G.P.; Adams, C.; Guenette, R.; Soleti, S.R.; Pontseele, W.V.D.; An, R.; Littlejohn, B.R.; Caicedo, D.A.M.; Bolton, T.; Horton-Smith, G.A.; Meddage, V.; Rafique, A.; Blake, A.; Devitt, D.; Lister, A.; Nowak, J.; Garvey, G.T.; Huang, E.-C.; Louis, W.C.; Mills, G.B.; De Water, R.G.V.; Evans, J.J.; Furmanski, A.P.; Garcia-Gamez, D.; Guzowski, P.; Hewes, J.; Hill, C.; Murrells, R.; Porzio, D.; Söldner-Rembold, S.; Szelc, A.M.; Carr, R.; Collin, G.H.; Conrad, J.M.; Diaz, A.; Hen, O.; Hourlier, A.; Moon, J.; Papadopoulou, A.; Yates, L.E.; Barnes, C.; Mousseau, J.; Spitz, J.; Miceli, T.; Papavassiliou, V.; Pate, S.F.; Sword-Fehlberg, S.; Woodruff, K.; Tagg, N.; Barr, G.; Tutto, M.D.; Bhattacharya, K.; Church, E.; Wierman, K.; Dytman, S.; Jiang, L.; Naples, D.; Paolone, V.; Wickremasinghe, D.A.; Nienaber, P.; Convery, M.; Eberly, B.; Rochester, L.; Terao, K.; Tsai, Y.-T.; Usher, T.; Bhat, A.; Esquivel, J.; Hamilton, P.; Pulliam, G.; Soderberg, M.; Cohen, E.; Piasetzky, E.; Gollapinni, S.; Mogan, A.; Tang, W.; Yarbrough, G.; Asaadi, J.; Williams, Z.; Bay, F.; Wongjirad, T.; Mariani, C.; Murphy, M.; Pandey, V.; Balasubramanian, S.; Cooper-Troendle, L.; Fleming, B.T.; Gramellini, E.; Hackenburg, A.; Luo, X.; Russell, B.; Tufanli, S.
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, 6 July 2018, 13(7))
Academic Journal
Auger, M.; Chen, Y.; Ereditato, A.; Goeldi, D.; Kreslo, I.; Lorca, D.; Luethi, M.; Rohr, C.R.V.; Sinclair, J.; Weber, M.; Bass, M.; Bishai, M.; Chen, H.; Joshi, J.; Kirby, B.; Li, Y.; Mooney, M.; Qian, X.; Radeka, V.; Thorn, C.; Viren, B.; Wei, H.; Yu, B.; Zhang, C.; Anthony, J.; Sanchez, L.E.; De Vries, J.J.; Marshall, J.; Smith, A.; Thomson, M.; Foreman, W.; Ho, J.; Mastbaum, A.; Schmitz, D.W.; Zennamo, J.; Grosso, R.; Johnson, R.A.; John, J.S.; Camilleri, L.; Caratelli, D.; Cianci, D.; Crespo-Anadón, J.I.; Fadeeva, A.A.; Genty, V.; Jwa, Y.-J.; Kaleko, D.; Karagiorgi, G.; Ross-Lonergan, M.; Seligman, W.; Shaevitz, M.H.; Sutton, K.; Terao, K.; Bagby, L.; Baller, B.; Fernandez, R.C.; Cavanna, F.; Cerati, G.; Greenlee, H.; James, C.; Jostlein, H.; Ketchum, W.; Kirby, M.; Kobilarcik, T.; Lockwitz, S.; Lundberg, B.; Marchionni, A.; Marcocci, S.; Moore, C.D.; Palamara, O.; Pavlovic, Z.; Raaf, J.L.; Schukraft, A.; Snider, E.L.; Spentzouris, P.; Strauss, T.; Toups, M.; Wolbers, S.; Yang, T.; Zeller, G.P.; Adams, C.; Guenette, R.; Soleti, S.R.; Pontseele, W.V.D.; An, R.; Littlejohn, B.R.; Caicedo, D.A.M.; Bolton, T.; Horton-Smith, G.A.; Meddage, V.; Rafique, A.; Blake, A.; Devitt, D.; Lister, A.; Nowak, J.; Garvey, G.T.; Huang, E.-C.; Louis, W.C.; Mills, G.B.; De Water, R.G.V.; Evans, J.J.; Furmanski, A.P.; Garcia-Gamez, D.; Guzowski, P.; Hewes, J.; Hill, C.; Murrells, R.; Porzio, D.; Söldner-Rembold, S.; Szelc, A.M.; Collin, G.H.; Conrad, J.M.; Diaz, A.; Hen, O.; Hourlier, A.; Moon, J.; Papadopoulou, A.; Wongjirad, T.; Yates, L.E.; Barnes, C.; Mousseau, J.; Spitz, J.; Miceli, T.; Papavassiliou, V.; Pate, S.F.; Sword-Fehlberg, S.; Woodruff, K.; Tagg, N.; Barr, G.; Tutto, M.D.; Bhattacharya, K.; Church, E.; Wierman, K.; Dytman, S.; Jiang, L.; Naples, D.; Paolone, V.; Wickremasinghe, D.A.; Nienaber, P.; Convery, M.; Eberly, B.; Rochester, L.; Tsai, Y.-T.; Usher, T.; Bhat, A.; Esquivel, J.; Hamilton, P.; Pulliam, G.; Soderberg, M.; Cohen, E.; Piasetzky, E.; Gollapinni, S.; Mogan, A.; Tang, W.; Yarbrough, G.; Asaadi, J.; Williams, Z.; Bay, F.; Mariani, C.; Murphy, M.; Pandey, V.; Balasubramanian, S.; Cooper-Troendle, L.; Fleming, B.T.; Gramellini, E.; Hackenburg, A.; Luo, X.; Russell, B.; Tufanli, S.
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, 6 July 2018, 13(7))
Academic Journal
Auger, M.; Ereditato, A.; Goeldi, D.; Kreslo, I.; Lorca, D.; Luethi, M.; Rudolf Von Rohr, C.; Sinclair, J.; Weber, M.; Bishai, M.; Chen, H.; Joshi, J.; Kirby, B.; Li, Y.; Mooney, M.; Qian, X.; Viren, B.; Zhang, C.; Anthony, J.; Escudero Sanchez, L.; Jan De Vries, J.; Marshall, J.; Smith, A.; Thomson, M.; Foreman, W.; Ho, J.; Schmitz, D.W.; Zennamo, J.; Grosso, R.; Johnson, R.A.; John, J.S.; Camilleri, L.; Caratelli, D.; Cianci, D.; Crespo-Anadón, J.I.; Fadeeva, A.A.; Genty, V.; Kaleko, D.; Karagiorgi, G.; Seligman, W.; Shaevitz, M.H.; Terao, K.; Acciarri, R.; Bagby, L.; Baller, B.; Carls, B.; Castillo Fernandez, R.; Cavanna, F.; Greenlee, H.; James, C.; Jostlein, H.; Ketchum, W.; Kirby, M.; Kobilarcik, T.; Lockwitz, S.; Lundberg, B.; Marchionni, A.; Moore, C.D.; Palamara, O.; Pavlovic, Z.; Raaf, J.L.; Schukraft, A.; Snider, E.L.; Spentzouris, P.; Strauss, T.; Toups, M.; Wolbers, S.; Yang, T.; Zeller, G.P.; Adams, C.; Guenette, R.; An, R.; Littlejohn, B.R.; Martinez Caicedo, D.A.; Bolton, T.; Gollapinni, S.; Horton-Smith, G.; Meddage, V.; Rafique, A.; Blake, A.; Devitt, D.; Lister, A.; Nowak, J.; Garvey, G.T.; Huang, E.-C.; Louis, W.C.; Mills, G.B.; Van De Water, R.G.; Furmanski, A.P.; Garcia-Gamez, D.; Hewes, J.; Hill, C.; Murrells, R.; Porzio, D.; Söldner-Rembold, S.; Szelc, A.M.; Collin, G.H.; Conrad, J.M.; Hen, O.; Hourlier, A.; Moon, J.; Wongjirad, T.; Yates, L.; Barnes, C.; Mousseau, J.; Spitz, J.; Miceli, T.; Papavassiliou, V.; Pate, S.F.; Woodruff, K.; Tagg, N.; Barr, G.; Bass, M.; Del Tutto, M.; Laube, A.; Soleti, S.R.; Van De Pontseele, W.; Church, E.; Dytman, S.; Graf, N.; Jiang, L.; Naples, D.; Paolone, V.; Wickremasinghe, D.A.; Nienaber, P.; Convery, M.; Eberly, B.; Rochester, L.; Tsai, Y.-T.; Usher, T.; Esquivel, J.; Hamilton, P.; Pulliam, G.; Soderberg, M.; Cohen, E.; Piasetzky, E.; Asaadi, J.; Bay, F.; Jen, C.-M.; Kalousis, L.N.; Lange, G.; Mariani, C.; Pelkey, R.; Balasubramanian, S.; Fleming, B.T.; Gramellini, E.; Hackenburg, A.; Luo, X.; Russell, B.; Tufanli, S.
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, 20 December 2017, 12(12))
Academic Journal
Auger, M.; Ereditato, A.; Goeldi, D.; Kreslo, I.; Lorca, D.; Luethi, M.; Rohr, C.R.V.; Sinclair, J.; Weber, M.; Bishai, M.; Chen, H.; Joshi, J.; Kirby, B.; Li, Y.; Mooney, M.; Qian, X.; Viren, B.; Zhang, C.; Anthony, J.; Sanchez, L.E.; De Vries, J.J.; Marshall, J.; Thomson, M.; Foreman, W.; Ho, J.; Schmitz, D.W.; Zennamo, J.; Grosso, R.; Johnson, R.A.; John, J.S.; Camilleri, L.; Caratelli, D.; Cianci, D.; Crespo-Anadón, J.I.; Genty, V.; Kaleko, D.; Karagiorgi, G.; Seligman, W.; Shaevitz, M.H.; Terao, K.; Acciarri, R.; Bagby, L.; Baller, B.; Carls, B.; Fernandez, R.C.; Cavanna, F.; Greenlee, H.; James, C.; Jostlein, H.; Ketchum, W.; Kirby, M.; Kobilarcik, T.; Lockwitz, S.; Lundberg, B.; Marchionni, A.; Moore, C.D.; Palamara, O.; Pavlovic, Z.; Raaf, J.L.; Schukraft, A.; Snider, E.L.; Spentzouris, P.; Strauss, T.; Toups, M.; Wolbers, S.; Yang, T.; Zeller, G.P.; An, R.; Littlejohn, B.R.; Caicedo, D.A.M.; Bolton, T.; Gollapinni, S.; Horton-Smith, G.; Meddage, V.; Rafique, A.; Blake, A.; Devitt, D.; Lister, A.; Nowak, J.; Garvey, G.T.; Huang, E.-C.; Louis, W.C.; Mills, G.B.; De Water, R.G.V.; Furmanski, A.P.; Garcia-Gamez, D.; Hewes, J.; Hill, C.; Murrells, R.; Porzio, D.; Söldner-Rembold, S.; Szelc, A.M.; Bugel, L.; Collin, G.H.; Conrad, J.M.; Hen, O.; Moon, J.; Wongjirad, T.; Yates, L.; Abratenko, P.; Barnes, C.; Mousseau, J.; Spitz, J.; Miceli, T.; Papavassiliou, V.; Pate, S.F.; Woodruff, K.; Tagg, N.; Barr, G.; Bass, M.; Tutto, M.D.; Guenette, R.; Laube, A.; Soleti, S.R.; Church, E.; Dytman, S.; Graf, N.; Jiang, L.; Naples, D.; Paolone, V.; Wickremasinghe, D.A.; Nienaber, P.; Convery, M.; Eberly, B.; Rochester, L.; Tsai, Y.-T.; Usher, T.; Esquivel, J.; Hamilton, P.; Pulliam, G.; Soderberg, M.; Cohen, E.; Piasetzky, E.; Asaadi, J.; Bay, F.; Jen, C.-M.; Kalousis, L.N.; Mariani, C.; Adams, C.; Balasubramanian, S.; Fleming, B.T.; Gramellini, E.; Hackenburg, A.; Luo, X.; Russell, B.; Tufanli, S.
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, 18 October 2017, 12(10))
Academic Journal
Auger, M.; Ereditato, A.; Goeldi, D.; Kreslo, I.; Lorca, D.; Luethi, M.; Rohr, C.R.V.; Sinclair, J.; Weber, M.; Bishai, M.; Chen, H.; Joshi, J.; Kirby, B.; Li, Y.; Mooney, M.; Qian, X.; Viren, B.; Zhang, C.; Anthony, J.; Sanchez, L.E.; De Vries, J.J.; Marshall, J.; Thomson, M.; Foreman, W.; Ho, J.; Schmitz, D.W.; Zennamo, J.; Grosso, R.; Johnson, R.A.; John, J.S.; Camilleri, L.; Caratelli, D.; Cianci, D.; Crespo-Anadón, J.I.; Genty, V.; Kaleko, D.; Karagiorgi, G.; Seligman, W.; Shaevitz, M.H.; Sutton, K.A.; Terao, K.; Acciarri, R.; Bagby, L.; Baller, B.; Carls, B.; Fernandez, R.C.; Cavanna, F.; Greenlee, H.; James, C.; Jostlein, H.; Ketchum, W.; Kirby, M.; Kobilarcik, T.; Lockwitz, S.; Lundberg, B.; Marchionni, A.; Moore, C.D.; Palamara, O.; Pavlovic, Z.; Raaf, J.L.; Schukraft, A.; Snider, E.L.; Spentzouris, P.; Strauss, T.; Toups, M.; Wolbers, S.; Yang, T.; Zeller, G.P.; An, R.; Littlejohn, B.R.; Caicedo, D.A.M.; Bolton, T.; Gollapinni, S.; Horton-Smith, G.; Meddage, V.; Rafique, A.; Blake, A.; Devitt, D.; Lister, A.; Nowak, J.; Garvey, G.T.; Huang, E.-C.; Louis, W.C.; Mills, G.B.; De Water, R.G.V.; Furmanski, A.P.; Garcia-Gamez, D.; Hewes, J.; Hill, C.; Murrells, R.; Porzio, D.; Söldner-Rembold, S.; Szelc, A.M.; Bugel, L.; Collin, G.H.; Conrad, J.M.; Hen, O.; Moon, J.; Wongjirad, T.; Yates, L.; Barnes, C.; Mousseau, J.; Spitz, J.; Miceli, T.; Papavassiliou, V.; Pate, S.F.; Woodruff, K.; Tagg, N.; Barr, G.; Bass, M.; Tutto, M.D.; Guenette, R.; Laube, A.; Soleti, S.R.; Church, E.; Dytman, S.; Graf, N.; Jiang, L.; Naples, D.; Paolone, V.; Wickremasinghe, D.A.; Nienaber, P.; Convery, M.; Eberly, B.; Rochester, L.; Tsai, Y.-T.; Usher, T.; Esquivel, J.; Hamilton, P.; Pulliam, G.; Soderberg, M.; Cohen, E.; Piasetzky, E.; Asaadi, J.; Bay, F.; Jen, C.-M.; Mariani, C.; Adams, C.; Balasubramanian, S.; Fleming, B.T.; Gramellini, E.; Hackenburg, A.; Luo, X.; Russell, B.; Tufanli, S.
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, 14 September 2017, 12(9))
Academic Journal
Auger, M.; Ereditato, A.; Goeldi, D.; Kreslo, I.; Lorca, D.; Luethi, M.; Rohr, C.R.V.; Sinclair, J.; Weber, M.; Bishai, M.; Bullard, B.; Chen, H.; Geronimo, G.D.; Joshi, J.; Kirby, B.; Li, S.; Li, Y.; Mooney, M.; Qian, X.; Radeka, V.; Rescia, S.; Thorn, C.; Viren, B.; Yu, B.; Zhang, C.; Anthony, J.; Sanchez, L.E.; De Vries, J.J.; Marshall, J.; Smith, A.; Thomson, M.; Foreman, W.; Ho, J.; Schmitz, D.W.; Zennamo, J.; Grosso, R.; Johnson, R.A.; John, J.S.; Camilleri, L.; Caratelli, D.; Cianci, D.; Crespo-Anadón, J.I.; Fadeeva, A.A.; Genty, V.; Kaleko, D.; Karagiorgi, G.; Seligman, W.; Shaevitz, M.H.; Terao, K.; Acciarri, R.; Bagby, L.; Baller, B.; Carls, B.; Fernandez, R.C.; Cavanna, F.; Greenlee, H.; James, C.; Jostlein, H.; Ketchum, W.; Kirby, M.; Kobilarcik, T.; Lockwitz, S.; Lundberg, B.; Marchionni, A.; Moore, C.D.; Palamara, O.; Pavlovic, Z.; Raaf, J.L.; Schukraft, A.; Snider, E.L.; Spentzouris, P.; Strauss, T.; Toups, M.; Wolbers, S.; Yang, T.; Zeller, G.P.; An, R.; Littlejohn, B.R.; Caicedo, D.A.M.; Bolton, T.; Gollapinni, S.; Horton-Smith, G.; Meddage, V.; Rafique, A.; Blake, A.; Devitt, D.; Lister, A.; Nowak, J.; Garvey, G.T.; Huang, E.-C.; Louis, W.C.; Mills, G.B.; De Water, R.G.V.; Furmanski, A.P.; Garcia-Gamez, D.; Hewes, J.; Hill, C.; Murrells, R.; Porzio, D.; Söldner-Rembold, S.; Szelc, A.M.; Collin, G.H.; Conrad, J.M.; Hen, O.; Hourlier, A.; Moon, J.; Wongjirad, T.; Yates, L.; Barnes, C.; Mousseau, J.; Spitz, J.; Miceli, T.; Papavassiliou, V.; Pate, S.F.; Woodruff, K.; Tagg, N.; Barr, G.; Bass, M.; Tutto, M.D.; Guenette, R.; Laube, A.; Soleti, S.R.; Pontseele, W.V.D.; Church, E.; Dytman, S.; Graf, N.; Jiang, L.; Naples, D.; Paolone, V.; Wickremasinghe, D.A.; Nienaber, P.; Convery, M.; Eberly, B.; Rochester, L.; Tsai, Y.-T.; Usher, T.; Esquivel, J.; Hamilton, P.; Pulliam, G.; Soderberg, M.; Cohen, E.; Piasetzky, E.; Asaadi, J.; Bay, F.; Jen, C.-M.; Mariani, C.; Adams, C.; Balasubramanian, S.; Fleming, B.T.; Gramellini, E.; Hackenburg, A.; Luo, X.; Russell, B.; Tufanli, S.
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, 4 August 2017, 12(8))
Academic Journal
Auger, M.; Ereditato, A.; Goeldi, D.; Kreslo, I.; Lorca, D.; Luethi, M.; Von Rohr, C.R.; Sinclair, J.; Weber, M.; Bishai, M.; Chen, H.; Joshi, J.; Kirby, B.; Li, Y.; Mooney, M.; Qian, X.; Viren, B.; Zhang, C.; Sanchez, L.E.; De Vries, J.J.; Marshall, J.; Thomson, M.; Weston, J.; Foreman, W.; Ho, J.; Schmitz, D.W.; Zennamo, J.; Grosso, R.; Johnson, R.A.; John, J.; Camilleri, L.; Caratelli, D.; Cianci, D.; Crespo-Anadón, J.I.; Genty, V.; Kaleko, D.; Karagiorgi, G.; Seligman, W.; Shaevitz, M.H.; Terao, K.; Acciarri, R.; Bagby, L.; Baller, B.; Carls, B.; Fernandez, R.C.; Cavanna, F.; Greenlee, H.; James, C.; Jostlein, H.; Ketchum, W.; Kirby, M.; Kobilarcik, T.; Lockwitz, S.; Lundberg, B.; Marchionni, A.; Moore, C.D.; Palamara, O.; Pavlovic, Z.; Raaf, J.L.; Schukraft, A.; Snider, E.L.; Spentzouris, P.; Strauss, T.; Toups, M.; Wolbers, S.; Yang, T.; Zeller, G.P.; An, R.; Littlejohn, B.R.; Caicedo, D.A.M.; Bolton, T.; Gollapinni, S.; Horton-Smith, G.; Meddage, V.; Rafique, A.; Blake, A.; Devitt, D.; Lister, A.; Nowak, J.; Garvey, G.T.; Louis, W.C.; Mills, G.B.; Van De Water, R.G.; Furmanski, A.P.; Hewes, J.; Hill, C.; Murrells, R.; Porzio, D.; Söldner-Rembold, S.; Szelc, A.M.; Bugel, L.; Collin, G.H.; Conrad, J.M.; Hen, O.; Jones, B.J.P.; Moon, J.; Wongjirad, T.; Mousseau, J.; Spitz, J.; Miceli, T.; Papavassiliou, V.; Pate, S.F.; Woodruff, K.; Tagg, N.; Barr, G.; Bass, M.; Del Tutto, M.; Guenette, R.; Laube, A.; Soleti, S.R.; Church, E.; Dytman, S.; Graf, N.; Jiang, L.; Naples, D.; Paolone, V.; Wickremasinghe, D.A.; Nienaber, P.; Convery, M.; Eberly, B.; Rochester, L.; Tsai, Y.-T.; Usher, T.; Esquivel, J.; Hamilton, P.; Pulliam, G.; Soderberg, M.; Asaadi, J.; Bay, F.; Jen, C.-M.; Mariani, C.; Adams, C.; Fleming, B.T.; Gramellini, E.; Hackenburg, A.; Luo, X.; Russell, B.; Tufanli, S.
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, 14 March 2017, 12(3))
Academic Journal
Auger, M.; Ereditato, A.; Goeldi, D.; Haenni, R.; Kreslo, I.; Lee, W.M.; Lorca, D.; Luethi, M.; Rudolf Von Rohr, C.; Sinclair, J.; Weber, M.; Bishai, M.; Chen, H.; Chen, K.; Duffin, S.; Farrell, J.; Joshi, J.; Kirby, B.; Lanni, F.; Li, Y.; Lissauer, D.; Mahler, G.; Makowiecki, D.; Mead, J.; Mooney, M.; Qian, X.; Radeka, V.; Rescia, S.; Ruga, A.; Sondericker, J.; Thorn, C.; Viren, B.; Wu, K.C.; Yu, B.; Zhang, C.; Escudero Sanchez, L.; Jan De Vries, J.; Marshall, J.; Thomson, M.; Weston, J.; Foreman, W.; Ho, J.; Norton, N.; Schmitz, D.W.; Zennamo, J.; Grosso, R.; Johnson, R.A.; St John, J.; Ayoub, N.; Callahan, C.; Camilleri, L.; Caratelli, D.; Chi, C.-Y.; Cianci, D.; Crespo-Anadon, J.I.; Genty, V.; Kaleko, D.; Karagiorgi, G.; Phipps, M.; Seligman, W.; Shaevitz, M.H.; Sippach, W.; Smith, A.; Sutton, K.; Tatum, K.; Terao, K.; Acciarri, R.; Aparicio, A.; Aponte, S.; Bagby, L.; Baller, B.; Barger, R.; Biery, K.; Bocean, V.; Boehnlein, D.; Bogert, V.D.; Carls, B.; Castillo Fernandez, R.; Cavanna, F.; Chappa, S.; Cornele, J.; Cowan, P.; Crutcher, G.; Darve, C.; Davis, R.; Erickson, D.; Featherston, D.; Geynisman, M.; Green, J.; Greenlee, H.; Griffin, T.; Healey, P.; Hill, K.; Huffman, D.; James, C.; James, E.; Jaskierny, W.; Johnson, B.; Johnson, M.; Jostlein, H.; Ketchum, W.; Kilmer, J.; King, B.; Kirby, M.; Kobilarcik, T.; Krull, R.; Kubinski, R.; Lathrop, A.; Lockwitz, S.; Lukhanin, G.; Lundberg, B.; Marchionni, A.; Markley, D.; Miner, W.; Moore, C.D.; Norris, B.; O'Boyle, M.; Olszanowski, T.; Palamara, O.; Pavlovic, Z.; Pordes, S.; Raaf, J.L.; A Rameika, R.; Rebel, B.; Rechenmacher, R.; Sanders, R.; Sarychev, M.; Schukraft, A.; Scott, R.; Shoun, M.; Snider, E.L.; Spentzouris, P.; Strauss, T.; Taheri, K.; Teng, J.; Tillman, J.; Toups, M.; Utes, M.; Vendetta, C.; Voirin, E.; Voirin, J.; Wolbers, S.; Yang, T.; Zeller, G.P.; Zuckerbrot, M.; An, R.; Littlejohn, B.R.; Martinez Caicedo, D.A.; Bolton, T.; Farooq, S.; Gollapinni, S.; Himes, L.; Horton-Smith, G.; McKee, D.; Meddage, V.; Rafique, A.; Blake, A.; Devitt, D.; Lister, A.; Nowak, J.; Louis, W.C.; Mills, G.B.; Van De Water, R.G.; Furmanski, A.P.; Hewes, J.; Hill, C.; Murrells, R.; Porzio, D.; Söldner-Rembold, S.; Szelc, A.M.; Bugel, L.; Chiu, C.S.; Collin, G.H.; Conrad, J.M.; Greene, A.; Hen, O.; Ignarra, C.M.; Jones, B.J.P.; Katori, T.; Moon, J.; Moss, Z.; Smidt, T.; Vergani, S.; Wester, T.; Wongjirad, T.; Mousseau, J.; Spitz, J.; Henderson, E.; McLean, A.; Miceli, T.; Papavassiliou, V.; Pate, S.F.; Woodruff, K.; Goff, B.; Kellogg, P.; Majoros, I.; Tagg, N.; Watkins, P.; Barr, G.; Bass, M.; Del Tutto, M.; Guenette, R.; Laube, A.; Soleti, S.R.; Church, E.; Dytman, S.; Graf, N.; Jiang, L.; Naples, D.; Paolone, V.; Wickremasinghe, D.A.; McDonald, K.T.; Sands, W.R.; Nienaber, P.; Convery, M.; Eberly, B.; Rochester, L.; Tsai, Y.-T.; Usher, T.; Esquivel, J.; Hamilton, P.; Pulliam, G.; Soderberg, M.; Asaadi, J.; Bay, F.; Jen, C.-M.; Kalousis, L.N.; Lange, G.; Mariani, C.; Pelkey, R.; Solano-Gonzalez, M.; Adams, C.; Fleming, B.T.; Gramellini, E.; Hackenburg, A.; Klein, E.; Luo, X.; Russell, B.; Tufanli, S.
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, 24 February 2017, 12(2))
Academic Journal
Anghel, I.; Ayres, D.S.; Dharmapalan, R.; Djurcic, Z.; Goodenough, L.; Goodman, M.C.; Grudzinski, J.; Guarino, V.; Huang, X.; Magill, S.; Sahoo, H.; Sanchez, M.C.; Sepulveda-Quiroz, J.; Suter, L.; Talaga, R.L.; Wood, K.; Zhao, A.; Lokajicek, M.; Zalesak, J.; Tzanakos, G.; Singh, V.; Lee, K.; Backhouse, C.; Bays, K.; Howcroft, C.; Lozier, J.; Michael, D.; Mualem, L.; Newman, H.B.; Patterson, R.B.; Pershey, D.; Trevor, J.; Soustruznik, K.; Tas, P.; Aurisano, A.; Sousa, A.; Yang, S.; Thayyullathil, R.B.; Jediny, F.; Martincik, J.; Smolik, J.; Vrba, T.; Choudhary, B.C.; Pandey, P.; Adamson, P.; Ader, C.; Andrews, M.; Bernstein, R.; Biery, K.; Bocean, V.; Bogert, D.; Bowden, M.; Broemmelsiek, D.; Brunetti, G.; Bu, X.; Capista, D.; Childress, S.; Cooper, J.; Del Tutto, M.; Derwent, P.F.; Deuerling, G.; Dey, J.; Ding, P.; Dixon, S.; Foulkes, S.; Freeman, W.; Grossman, N.; Hatcher, R.; Hylen, J.; Jensen, C.; Jensen, D.; Jostlein, H.; Kephart, K.; Koizumi, G.; Kourbanis, I.; Kreymer, A.; Kwarciancy, R.; Lee, A.; Lee, W.M.; Lu, Q.; Lucas, P.; Lukens, P.; Lukhanin, G.; Martens, M.; Matera, K.; McCluskey, E.; Miao, T.; Norman, A.; Paley, J.; Para, A.; Perevalov, D.; Piccoli, L.; Pla-Dalmau, A.; Plunkett, R.K.; Pushka, D.; Rameika, R.A.; Ray, R.; Rebel, B.; Rechenmacher, R.; Reilly, R.; Saoulidou, N.; Schlabach, P.; Shanahan, P.; Tariq, S.; Tesarek, R.J.; Valerio, L.; Wehmann, A.; Wilcer, N.; Wildman, D.; Williams, K.; Xiao, M.; Zwaska, R.; Ghosh, T.; Gomes, R.A.; Tognini, S.C.; Bhuyan, B.; Yadav, N.; Feldman, G.J.; Felt, N.; Kafka, G.K.; Oliver, J.; Schroeter, R.; Toner, R.; Bambah, B.A.; Deepthi, K.N.; Kasetti, S.; Mohanta, R.; Giri, A.; Baird, M.; Bower, C.; Davies, G.S.; Gebhard, M.; Ishitsuka, M.; Johnson, C.; Merritt, H.; Messier, M.D.; Mufson, S.; Musser, J.; Niner, E.; Psihas, F.; Urheim, J.; Whittington, D.; Butkevich, A.; Luchuk, S.; Matveev, V.; Mikheyev, S.P.; Rodkin, D.; Stenkin, Y.; Zadorozhnyy, S.; Catano-Mur, E.; Kutnink, T.; Xin, T.; Potukuchi, B.; Anfimov, N.; Bolshakova, A.; Kulenberg, Ch.; Olshevskiy, A.; Samoylov, O.; Sheshukov, A.; Sotnikov, A.; Grichine, V.; Kotelnikov, S.; Ryabov, V.; Bromberg, C.; Demuth, D.; Habig, A.; Moren, A.; Thomsen, K.; Arms, K.; Betancourt, M.; Bian, J.; Chase, T.R.; Cronin-Hennessy, D.; Desai, S.; Gabrielyan, M.; Gilbert, W.; Heller, K.; Kasahara, S.M.S.; Krahn, Z.; Kwong, J.; Lein, S.; Marshak, M.L.; Miller, W.H.; Nowak, J.; Pawloski, G.; Pearson, N.; Peterson, E.; Poling, R.; Raddatz, N.; Rocco, D.; Ruddick, K.; Rusack, R.; Sachdev, K.; Sherwood, B.; Smith, A.; Strait, M.; Wildberger, R.; Zirnstein, J.; Weber, A.; Bhatnagar, V.; Kumar, A.; Maan, K.; Sahijpal, S.; Singh, J.; Chowdhury, B.; Duyang, H.; Guo, B.; Mishra, S.R.; Petti, R.; Tian, X.; Corwin, L.; Reed, B.; Smith, D.; Arrieta-Diaz, E.; Coan, T.E.; Kravtsov, V.; Wang, B.; Qiu, X.; Wojcicki, S.G.; Blackburn, T.; Davies, J.P.; Hartnell, J.; Tamsett, M.C.; Vinton, L.; Waldron, A.V.; Zamorano, B.; Flumerfelt, E.; Handler, T.; Hatzikoutelis, A.; Kamyshkov, Y.; Mason, P.; Huang, J.; Lang, K.; Mehdiyev, R.; Cunningham, A.; Fenyves, E.J.; Coelho, J.A.B.; Gallagher, H.R.; Mann, W.A.; Mayer, N.; Olson, T.; Schneps, J.; Dukes, E.C.; Ehrlich, R.; Frank, M.J.; Goadhouse, S.; Group, R.; Oksuzian, Y.; Wang, Z.; Meyer, H.; Muether, M.; Solomey, N.; Colo, M.; Devan, A.; Liu, J.; Mathis, M.; Nelson, J.K.; Radovic, A.; Vahle, P.; Phan-Budd, S.
In: Physical Review Letters . (Physical Review Letters, 13 April 2016, 116(15))
Academic Journal
Anghel, I.; Ayres, D.S.; Dharmapalan, R.; Djurcic, Z.; Goodenough, L.; Goodman, M.C.; Grudzinski, J.; Guarino, V.; Huang, X.; Magill, S.; Sahoo, H.; Sanchez, M.C.; Sepulveda-Quiroz, J.; Suter, L.; Talaga, R.L.; Wood, K.; Zhao, A.; Lokajicek, M.; Zalesak, J.; Tzanakos, G.; Singh, V.; Lee, K.; Backhouse, C.; Bays, K.; Howcroft, C.; Lozier, J.; Michael, D.; Mualem, L.; Newman, H.B.; Patterson, R.B.; Pershey, D.; Trevor, J.; Soustruznik, K.; Tas, P.; Aurisano, A.; Sousa, A.; Yang, S.; Thayyullathil, R.B.; Jediny, F.; Martincik, J.; Smolik, J.; Vrba, T.; Choudhary, B.C.; Pandey, P.; Adamson, P.; Ader, C.; Andrews, M.; Bernstein, R.; Biery, K.; Bocean, V.; Bogert, D.; Bowden, M.; Broemmelsiek, D.; Brunetti, G.; Bu, X.; Capista, D.; Childress, S.; Cooper, J.; Del Tutto, M.; Derwent, P.F.; Deuerling, G.; Dey, J.; Ding, P.; Dixon, S.; Foulkes, S.; Freeman, W.; Grossman, N.; Hatcher, R.; Hylen, J.; Jensen, C.; Jensen, D.; Jostlein, H.; Kephart, K.; Koizumi, G.; Kourbanis, I.; Kreymer, A.; Kwarciancy, R.; Lee, A.; Lee, W.M.; Lu, Q.; Lucas, P.; Lukens, P.; Lukhanin, G.; Martens, M.; Matera, K.; McCluskey, E.; Miao, T.; Norman, A.; Paley, J.; Para, A.; Perevalov, D.; Piccoli, L.; Pla-Dalmau, A.; Plunkett, R.K.; Pushka, D.; Rameika, R.A.; Ray, R.; Rebel, B.; Rechenmacher, R.; Reilly, R.; Saoulidou, N.; Schlabach, P.; Shanahan, P.; Tariq, S.; Tesarek, R.J.; Valerio, L.; Wehmann, A.; Wilcer, N.; Wildman, D.; Williams, K.; Xiao, M.; Zwaska, R.; Ghosh, T.; Gomes, R.A.; Tognini, S.C.; Bhuyan, B.; Yadav, N.; Feldman, G.J.; Felt, N.; Kafka, G.K.; Oliver, J.; Schroeter, R.; Toner, R.; Bambah, B.A.; Deepthi, K.N.; Kasetti, S.; Mohanta, R.; Giri, A.; Baird, M.; Bower, C.; Davies, G.S.; Gebhard, M.; Ishitsuka, M.; Johnson, C.; Merritt, H.; Messier, M.D.; Mufson, S.; Musser, J.; Niner, E.; Psihas, F.; Urheim, J.; Whittington, D.; Butkevich, A.; Luchuk, S.; Matveev, V.; Mikheyev, S.P.; Rodkin, D.; Stenkin, Y.; Zadorozhnyy, S.; Catano-Mur, E.; Kutnink, T.; Xin, T.; Potukuchi, B.; Anfimov, N.; Bolshakova, A.; Kulenberg, C.; Olshevskiy, A.; Samoylov, O.; Sheshukov, A.; Sotnikov, A.; Grichine, V.; Kotelnikov, S.; Ryabov, V.; Bromberg, C.; Demuth, D.; Habig, A.; Moren, A.; Thomsen, K.; Arms, K.; Betancourt, M.; Bian, J.; Chase, T.R.; Cronin-Hennessy, D.; Desai, S.; Gabrielyan, M.; Gilbert, W.; Heller, K.; Kasahara, S.M.S.; Krahn, Z.; Kwong, J.; Lein, S.; Marshak, M.L.; Miller, W.H.; Nowak, J.; Pawloski, G.; Pearson, N.; Peterson, E.; Poling, R.; Raddatz, N.; Rocco, D.; Ruddick, K.; Rusack, R.; Sachdev, K.; Sherwood, B.; Smith, A.; Strait, M.; Wildberger, R.; Zirnstein, J.; Weber, A.; Bhatnagar, V.; Kumar, A.; Maan, K.; Sahijpal, S.; Singh, J.; Chowdhury, B.; Duyang, H.; Guo, B.; Mishra, S.R.; Petti, R.; Tian, X.; Corwin, L.; Reed, B.; Smith, D.; Arrieta-Diaz, E.; Coan, T.E.; Kravtsov, V.; Wang, B.; Qiu, X.; Wojcicki, S.G.; Blackburn, T.; Davies, J.P.; Hartnell, J.; Tamsett, M.C.; Vinton, L.; Waldron, A.V.; Zamorano, B.; Flumerfelt, E.; Handler, T.; Hatzikoutelis, A.; Kamyshkov, Y.; Mason, P.; Huang, J.; Lang, K.; Mehdiyev, R.; Cunningham, A.; Fenyves, E.J.; Coelho, J.A.B.; Gallagher, H.R.; Mann, W.A.; Mayer, N.; Olson, T.; Schneps, J.; Dukes, E.C.; Ehrlich, R.; Frank, M.J.; Goadhouse, S.; Group, R.; Oksuzian, Y.; Wang, Z.; Meyer, H.; Muether, M.; Solomey, N.; Colo, M.; Devan, A.; Liu, J.; Mathis, M.; Nelson, J.K.; Radovic, A.; Vahle, P.; Phan-Budd, S.
In: Physical Review D . (Physical Review D, 25 March 2016, 93(5))
Academic Journal
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, 22 March 2016, 11(3))
Academic Journal
Acciarri, R.; Carls, B.; James, C.; Johnson, B.; Jostlein, H.; Lockwitz, S.; Lundberg, B.; Raaf, J.L.; Rameika, R.; Rebel, B.; Zeller, G.P.; Zuckerbrot, M.
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, 1 November 2014, 9(11))
Refining the search results
Facets
[AR] H. Jostlein
Publication year
-
Database provider
Title
Publisher
자료유형(Source Type)
Subject
Language