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Academic Journal
Flores, E.; Viallon, J.; Idrees, F.; Moussay, P.; Wielgosz, R.; De Jesús Ávila Salas, M.; Delgado, J.K.; Oh, S.-H.; Lee, S.; Jung, J.; Jozela, M.; Ntsasa, N.G.; Tshilongo, J.; Mphamo, T.; Worton, D.R.; Brewer, P.; Ward, M.; Persijn, S.; De Krom, I.; Van Der Veen, A.
In: Metrologia . (Metrologia, 1 January 2023, 60(1 A))
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[AR] De Jesús Ávila Salas, M.
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-
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