e-Article
'e-Article'
searched 123results | List
1~10
Report
Montier, L.; Mot, B.; de Bernardis, P.; Maffei, B.; Pisano, G.; Columbro, F.; Gudmundsson, J. E.; Henrot-Versillé, S.; Lamagna, L.; Montgomery, J.; Prouvé, T.; Russell, M.; Savini, G.; Stever, S.; Thompson, K. L.; Tsujimoto, M.; Tucker, C.; Westbrook, B.; Ade, P. A. R.; Adler, A.; Allys, E.; Arnold, K.; Auguste, D.; Aumont, J.; Aurlien, R.; Austermann, J.; Baccigalupi, C.; Banday, A. J.; Banerji, R.; Barreiro, R. B.; Basak, S.; Beall, J.; Beck, D.; Beckman, S.; Bermejo, J.; Bersanelli, M.; Bonis, J.; Borrill, J.; Boulanger, F.; Bounissou, S.; Brilenkov, M.; Brown, M.; Bucher, M.; Calabrese, E.; Campeti, P.; Carones, A.; Casas, F. J.; Challinor, A.; Chan, V.; Cheung, K.; Chinone, Y.; Cliche, J. F.; Colombo, L.; Cubas, J.; Cukierman, A.; Curtis, D.; D'Alessandro, G.; Dachlythra, N.; De Petris, M.; Dickinson, C.; Diego-Palazuelos, P.; Dobbs, M.; Dotani, T.; Duband, L.; Duff, S.; Duval, J. M.; Ebisawa, K.; Elleflot, T.; Eriksen, H. K.; Errard, J.; Essinger-Hileman, T.; Finelli, F.; Flauger, R.; Franceschet, C.; Fuskeland, U.; Galloway, M.; Ganga, K.; Gao, J. R.; Genova-Santos, R.; Gerbino, M.; Gervasi, M.; Ghigna, T.; Gjerløw, E.; Gradziel, M. L.; Grain, J.; Grupp, F.; Gruppuso, A.; de Haan, T.; Halverson, N. W.; Hargrave, P.; Hasebe, T.; Hasegawa, M.; Hattori, M.; Hazumi, M.; Herman, D.; Herranz, D.; Hill, C. A.; Hilton, G.; Hirota, Y.; Hivon, E.; Hlozek, R. A.; Hoshino, Y.; de la Hoz, E.; Hubmayr, J.; Ichiki, K.; Iida, T.; Imada, H.; Ishimura, K.; Ishino, H.; Jaehnig, G.; Kaga, T.; Kashima, S.; Katayama, N.; Kato, A.; Kawasaki, T.; Keskitalo, R.; Kisner, T.; Kobayashi, Y.; Kogiso, N.; Kogut, A.; Kohri, K.; Komatsu, E.; Komatsu, K.; Konishi, K.; Krachmalnicoff, N.; Kreykenbohm, I.; Kuo, C. L.; Kushino, A.; Lanen, J. V.; Lattanzi, M.; Lee, A. T.; Leloup, C.; Levrier, F.; Linder, E.; Louis, T.; Luzzi, G.; Maciaszek, T.; Maino, D.; Maki, M.; Mandelli, S.; Martinez-Gonzalez, E.; Masi, S.; Matsumura, T.; Mennella, A.; Migliaccio, M.; Minami, Y.; Mitsuda, K.; Morgante, G.; Murata, Y.; Murphy, J. A.; Nagai, M.; Nagano, Y.; Nagasaki, T.; Nagata, R.; Nakamura, S.; Namikawa, T.; Natoli, P.; Nerval, S.; Nishibori, T.; Nishino, H.; O'Sullivan, C.; Ogawa, H.; Oguri, S.; Ohsaki, H.; Ohta, I. S.; Okada, N.; Pagano, L.; Paiella, A.; Paoletti, D.; Patanchon, G.; Peloton, J.; Piacentini, F.; Polenta, G.; Poletti, D.; Puglisi, G.; Rambaud, D.; Raum, C.; Realini, S.; Reinecke, M.; Remazeilles, M.; Ritacco, A.; Roudil, G.; Rubino-Martin, J. A.; Sakurai, H.; Sakurai, Y.; Sandri, M.; Sasaki, M.; Scott, D.; Seibert, J.; Sekimoto, Y.; Sherwin, B.; Shinozaki, K.; Shiraishi, M.; Shirron, P.; Signorelli, G.; Smecher, G.; Stompor, R.; Sugai, H.; Sugiyama, S.; Suzuki, A.; Suzuki, J.; Svalheim, T. L.; Switzer, E.; Takaku, R.; Takakura, H.; Takakura, S.; Takase, Y.; Takeda, Y.; Tartari, A.; Taylor, E.; Terao, Y.; Thommesen, H.; Thorne, B.; Toda, T.; Tomasi, M.; Tominaga, M.; Trappe, N.; Tristram, M.; Tsuji, M.; Ullom, J.; Vermeulen, G.; Vielva, P.; Villa, F.; Vissers, M.; Vittorio, N.; Wehus, I.; Weller, J.; Wilms, J.; Winter, B.; Wollack, E. J.; Yamasaki, N. Y.; Yoshida, T.; Yumoto, J.; Zannoni, M.; Zonca, A.
Proc. of SPIE Vol. 11443 14432G (2020)
Report
Hazumi, M.; Ade, P. A. R.; Adler, A.; Allys, E.; Arnold, K.; Auguste, D.; Aumont, J.; Aurlien, R.; Austermann, J.; Baccigalupi, C.; Banday, A. J.; Banjeri, R.; Barreiro, R. B.; Basak, S.; Beall, J.; Beck, D.; Beckman, S.; Bermejo, J.; de Bernardis, P.; Bersanelli, M.; Bonis, J.; Borrill, J.; Boulanger, F.; Bounissou, S.; Brilenkov, M.; Brown, M.; Bucher, M.; Calabrese, E.; Campeti, P.; Carones, A.; Casas, F. J.; Challinor, A.; Chan, V.; Cheung, K.; Chinone, Y.; Cliche, J. F.; Colombo, L.; Columbro, F.; Cubas, J.; Cukierman, A.; Curtis, D.; D'Alessandro, G.; Dachlythra, N.; De Petris, M.; Dickinson, C.; Diego-Palazuelos, P.; Dobbs, M.; Dotani, T.; Duband, L.; Duff, S.; Duval, J. M.; Ebisawa, K.; Elleflot, T.; Eriksen, H. K.; Errard, J.; Essinger-Hileman, T.; Finelli, F.; Flauger, R.; Franceschet, C.; Fuskeland, U.; Galloway, M.; Ganga, K.; Gao, J. R.; Genova-Santos, R.; Gerbino, M.; Gervasi, M.; Ghigna, T.; Gjerløw, E.; Gradziel, M. L.; Grain, J.; Grupp, F.; Gruppuso, A.; Gudmundsson, J. E.; de Haan, T.; Halverson, N. W.; Hargrave, P.; Hasebe, T.; Hasegawa, M.; Hattori, M.; Henrot-Versillé, S.; Herman, D.; Herranz, D.; Hill, C. A.; Hilton, G.; Hirota, Y.; Hivon, E.; Hlozek, R. A.; Hoshino, Y.; de la Hoz, E.; Hubmayr, J.; Ichiki, K.; Iida, T.; Imada, H.; Ishimura, K.; Ishino, H.; Jaehnig, G.; Kaga, T.; Kashima, S.; Katayama, N.; Kato, A.; Kawasaki, T.; Keskitalo, R.; Kisner, T.; Kobayashi, Y.; Kogiso, N.; Kogut, A.; Kohri, K.; Komatsu, E.; Komatsu, K.; Konishi, K.; Krachmalnicoff, N.; Kreykenbohm, I.; Kuo, C. L.; Kushino, A.; Lamagna, L.; Lanen, J. V.; Lattanzi, M.; Lee, A. T.; Leloup, C.; Levrier, F.; Linder, E.; Louis, T.; Luzzi, G.; Maciaszek, T.; Maffei, B.; Maino, D.; Maki, M.; Mandelli, S.; Martinez-Gonzalez, E.; Masi, S.; Matsumura, T.; Mennella, A.; Migliaccio, M.; Minami, Y.; Mitsuda, K.; Montgomery, J.; Montier, L.; Morgante, G.; Mot, B.; Murata, Y.; Murphy, J. A.; Nagai, M.; Nagano, Y.; Nagasaki, T.; Nagata, R.; Nakamura, S.; Namikawa, T.; Natoli, P.; Nerval, S.; Nishibori, T.; Nishino, H.; Noviello, F.; O'Sullivan, C.; Ogawa, H.; Oguri, S.; Ohsaki, H.; Ohta, I. S.; Okada, N.; Pagano, L.; Paiella, A.; Paoletti, D.; Patanchon, G.; Peloton, J.; Piacentini, F.; Pisano, G.; Polenta, G.; Poletti, D.; Prouvé, T.; Puglisi, G.; Rambaud, D.; Raum, C.; Realini, S.; Reinecke, M.; Remazeilles, M.; Ritacco, A.; Roudil, G.; Rubino-Martin, J. A.; Russell, M.; Sakurai, H.; Sakurai, Y.; Sandri, M.; Sasaki, M.; Savini, G.; Scott, D.; Seibert, J.; Sekimoto, Y.; Sherwin, B.; Shinozaki, K.; Shiraishi, M.; Shirron, P.; Signorelli, G.; Smecher, G.; Stever, S.; Stompor, R.; Sugai, H.; Sugiyama, S.; Suzuki, A.; Suzuki, J.; Svalheim, T. L.; Switzer, E.; Takaku, R.; Takakura, H.; Takakura, S.; Takase, Y.; Takeda, Y.; Tartari, A.; Taylor, E.; Terao, Y.; Thommesen, H.; Thompson, K. L.; Thorne, B.; Toda, T.; Tomasi, M.; Tominaga, M.; Trappe, N.; Tristram, M.; Tsuji, M.; Tsujimoto, M.; Tucker, C.; Ullom, J.; Vermeulen, G.; Vielva, P.; Villa, F.; Vissers, M.; Vittorio, N.; Wehus, I.; Weller, J.; Westbrook, B.; Wilms, J.; Winter, B.; Wollack, E. J.; Yamasaki, N. Y.; Yoshida, T.; Yumoto, J.; Zannoni, M.; Zonca, A.
Proc. of SPIE Vol. 11443 114432F (2020)
Report
Sekimoto, Y.; Ade, P. A. R.; Adler, A.; Allys, E.; Arnold, K.; Auguste, D.; Aumont, J.; Aurlien, R.; Austermann, J.; Baccigalupi, C.; Banday, A. J.; Banerji, R.; Barreiro, R. B.; Basak, S.; Beall, J.; Beck, D.; Beckman, S.; Bermejo, J.; de Bernardis, P.; Bersanelli, M.; Bonis, J.; Borrill, J.; Boulanger, F.; Bounissou, S.; Brilenkov, M.; Brown, M.; Bucher, M.; Calabrese, E.; Campeti, P.; Carones, A.; Casas, F. J.; Challinor, A.; Chan, V.; Cheung, K.; Chinone, Y.; Cliche, J. F.; Colombo, L.; Columbro, F.; Cubas, J.; Cukierman, A.; Curtis, D.; D'Alessandro, G.; Dachlythra, N.; De Petris, M.; Dickinson, C.; Diego-Palazuelos, P.; Dobbs, M.; Dotani, T.; Duband, L.; Duff, S.; Duval, J. M.; Ebisawa, K.; Elleflot, T.; Eriksen, H. K.; Errard, J.; Essinger-Hileman, T.; Finelli, F.; Flauger, R.; Franceschet, C.; Fuskeland, U.; Galloway, M.; Ganga, K.; Gao, J. R.; Genova-Santos, R.; Gerbino, M.; Gervasi, M.; Ghigna, T.; Gjerløw, E.; Gradziel, M. L.; Grain, J.; Grupp, F.; Gruppuso, A.; Gudmundsson, J. E.; de Haan, T.; Halverson, N. W.; Hargrave, P.; Hasebe, T.; Hasegawa, M.; Hattori, M.; Hazumi, M.; Henrot-Versillé, S.; Herman, D.; Herranz, D.; Hill, C. A.; Hilton, G.; Hirota, Y.; Hivon, E.; Hlozek, R. A.; Hoshino, Y.; de la Hoz, E.; Hubmayr, J.; Ichiki, K.; iida, T.; Imada, H.; Ishimura, K.; Ishino, H.; Jaehnig, G.; Kaga, T.; Kashima, S.; Katayama, N.; Kato, A.; Kawasaki, T.; Keskitalo, R.; Kisner, T.; Kobayashi, Y.; Kogiso, N.; Kogut, A.; Kohri, K.; Komatsu, E.; Komatsu, K.; Konishi, K.; Krachmalnicoff, N.; Kreykenbohm, I.; Kuo, C. L.; Kushino, A.; Lamagna, L.; Lanen, J. V.; Lattanzi, M.; Lee, A. T.; Leloup, C.; Levrier, F.; Linder, E.; Louis, T.; Luzzi, G.; Maciaszek, T.; Maffei, B.; Maino, D.; Maki, M.; Mandelli, S.; Martinez-Gonzalez, E.; Masi, S.; Matsumura, T.; Mennella, A.; Migliaccio, M.; Minanmi, Y.; Mitsuda, K.; Montgomery, J.; Montier, L.; Morgante, G.; Mot, B.; Murata, Y.; Murphy, J. A.; Nagai, M.; Nagano, Y.; Nagasaki, T.; Nagata, R.; Nakamura, S.; Namikawa, T.; Natoli, P.; Nerval, S.; Nishibori, T.; Nishino, H.; O'Sullivan, C.; Ogawa, H.; Oguri, S.; Ohsaki, H.; Ohta, I. S.; Okada, N.; Pagano, L.; Paiella, A.; Paoletti, D.; Patanchon, G.; Peloton, J.; Piacentini, F.; Pisano, G.; Polenta, G.; Poletti, D.; Prouvé, T.; Puglisi, G.; Rambaud, D.; Raum, C.; Realini, S.; Reinecke, M.; Remazeilles, M.; Ritacco, A.; Roudil, G.; Rubino-Martin, J. A.; Russell, M.; Sakurai, H.; Sakurai, Y.; Sandri, M.; Sasaki, M.; Savini, G.; Scott, D.; Seibert, J.; Sherwin, B.; Shinozaki, K.; Shiraishi, M.; Shirron, P.; Signorelli, G.; Smecher, G.; Stever, S.; Stompor, R.; Sugai, H.; Sugiyama, S.; Suzuki, A.; Suzuki, J.; Svalheim, T. L.; Switzer, E.; Takaku, R.; Takakura, H.; Takakura, S.; Takase, Y.; Takeda, Y.; Tartari, A.; Taylor, E.; Terao, Y.; Thommesen, H.; Thompson, K. L.; Thorne, B.; Toda, T.; Tomasi, M.; Tominaga, M.; Trappe, N.; Tristram, M.; Tsuji, M.; Tsujimoto, M.; Tucker, C.; Ullom, J.; Vermeulen, G.; Vielva, P.; Villa, F.; Vissers, M.; Vittorio, N.; Wehus, I.; Weller, J.; Westbrook, B.; Wilms, J.; Winter, B.; Wollack, E. J.; Yamasaki, N. Y.; Yoshida, T.; Yumoto, J.; Zannoni, M.; Zonca, A.
SPIE proceedings 1145310 (2020)
Report
Collaboration, CHIME/Pulsar; Amiri, M.; Bandura, K. M.; Boyle, P. J.; Brar, C.; Cliche, J. F.; Crowter, K.; Cubranic, D.; Demorest, P. B.; Denman, N. T.; Dobbs, M.; Dong, F. Q.; Fandino, M.; Fonseca, E.; Good, D. C.; Halpern, M.; Hill, A. S.; Höfer, C.; Kaspi, V. M.; Landecker, T. L.; Leung, C.; Lin, H. -H.; Luo, J.; Masui, K. W.; McKee, J. W.; Mena-Parra, J.; Meyers, B. W.; Michilli, D.; Naidu, A.; Newburgh, L.; Ng, C.; Patel, C.; Pinsonneault-Marotte, T.; Ransom, S. M.; Renard, A.; Scholz, P.; Shaw, J. R.; Sikora, A. E.; Stairs, I. H.; Tan, C. M.; Tendulkar, S. P.; Tretyakov, I.; Vanderlinde, K.; Wang, H.; Wang, X.
Report
Collaboration, The CHIME/FRB; Amiri, M.; Andersen, B. C.; Bandura, K. M.; Bhardwaj, M.; Boyle, P. J.; Brar, C.; Chawla, P.; Chen, T.; Cliche, J. F.; Cubranic, D.; Deng, M.; Denman, N. T.; Dobbs, M.; Dong, F. Q.; Fandino, M.; Fonseca, E.; Gaensler, B. M.; Giri, U.; Good, D. C.; Halpern, M.; Hessels, J. W. T.; Hill, A. S.; Höfer, C.; Josephy, A.; Kania, J. W.; Karuppusamy, R.; Kaspi, V. M.; Keimpema, A.; Kirsten, F.; Landecker, T. L.; Lang, D. A.; Leung, C.; Li, D. Z.; Lin, H. -H.; Marcote, B.; Masui, K. W.; Mckinven, R.; Mena-Parra, J.; Merryfield, M.; Michilli, D.; Milutinovic, N.; Mirhosseini, A.; Naidu, A.; Newburgh, L. B.; Ng, C.; Nimmo, K.; Paragi, Z.; Patel, C.; Pen, U. -L.; Pinsonneault-Marotte, T.; Pleunis, Z.; Rafiei-Ravandi, M.; Rahman, M.; Ransom, S. M.; Renard, A.; Sanghavi, P.; Scholz, P.; Shaw, J. R.; Shin, K.; Siegel, S. R.; Singh, S.; Smegal, R. J.; Smith, K. M.; Stairs, I. H.; Tendulkar, S. P.; Tretyakov, I.; Vanderlinde, K.; Wang, H.; Wang, X.; Wulf, D.; Yadav, P.; Zwaniga, A. V.
Nature, Volume 582, page 351--355 (2020)
Broadband, millimeter-wave antireflection coatings for large-format, cryogenic aluminum oxide optics
Report
Nadolski, A.; Vieira, J. D.; Sobrin, J. A.; Kofman, A. M.; Ade, P. A. R.; Ahmed, Z.; Anderson, A. J.; Avva, J. S.; Thakur, R. Basu; Bender, A. N.; Benson, B. A.; Bryant, L.; Carlstrom, J. E.; Carter, F. W.; Cecil, T. W.; Chang, C. L.; Cheshire IV, J. R.; Chesmore, G. E.; Cliche, J. F.; Cukierman, A.; de Haan, T.; Dierickx, M.; Ding, J.; Dutcher, D.; Everett, W.; Farwick, J.; Ferguson, K. R.; Florez, L.; Foster, A.; Fu, J.; Gallicchio, J.; Gambrel, A. E.; Gardner, R. W.; Groh, J. C.; Guns, S.; Guyser, R.; Halverson, N. W.; Harke-Hosemann, A. H.; Harrington, N. L.; Harris, R. J.; Henning, J. W.; Holzapfel, W. L.; Howe, D.; Huang, N.; Irwin, K. D.; Jeong, O.; Jonas, M.; Jones, A.; Korman, M.; Kovac, J.; Kubik, D. L.; Kuhlmann, S.; Kuo, C. -L.; Lee, A. T.; Lowitz, A. E.; McMahon, J.; Meier, J.; Meyer, S. S.; Michalik, D.; Montgomery, J.; Natoli, T.; Nguyen, H.; Noble, G. I.; Novosad, V.; Padin, S.; Pan, Z.; Paschos, P.; Pearson, J.; sada, C. M. Po; Quan, W.; Rahlin, A.; Riebel, D.; Ruhl, J. E.; Sayre, J. T.; Shirokoff, E.; Smecher, G.; Stark, A. A.; Stephen, J.; Story, K. T.; Suzuki, A.; Tandoi, C.; Thompson, K. L.; Tucker, C.; Vanderlinde, K.; Wang, G.; Whitehorn, N.; Yefremenko, V.; Yoon, K. W.; Young, M. R.
Applied Optics, Vol. 59, Issue 10, pp. 3285-3295 (2020)
Academic Journal
Anderson, A. J.; Ade, P. A. R.; Ahmed, Z.; Avva, J. S.; Barry, P. S.; Thakur, R. Basu; Bender, A. N.; Benson, B. A.; Bryant, L.; Byrum, K.; Carlstrom, J. E.; Carter, F. W.; Cecil, T. W.; Chang, C. L.; Cho, H.-M.; Cliche, J. F.; Cukierman, A.; de Haan, T.; Denison, E. V.; Ding, J.
Academic Journal
Bender, A. N.; Anderson, A. J.; Avva, J. S.; Ade, P. A. R.; Ahmed, Z.; Barry, P. S.; Basu Thakur, R.; Benson, B. A.; Bryant, L.; Byrum, K.; Carlstrom, J. E.; Carter, F. W.; Cecil, T. W.; Chang, C. L.; Cho, H.-M.; Cliche, J. F.; Cukierman, A.; de Haan, T.; Denison, E. V.; Ding, J.
Report
Anderson, A. J.; Ade, P. A. R.; Ahmed, Z.; Avva, J. S.; Barry, P. S.; Thakur, R. Basu; Bender, A. N.; Benson, B. A.; Bryant, L.; Byrum, K.; Carlstrom, J. E.; Carter, F. W.; Cecil, T. W.; Chang, C. L.; Cho, H. -M.; Cliche, J. F.; Cukierman, A.; de Haan, T.; Denison, E. V.; Ding, J.; Dobbs, M. A.; Dutcher, D.; Everett, W.; Ferguson, K. R.; Foster, A.; Fu, J.; Gallicchio, J.; Gambrel, A. E.; Gardner, R. W.; Gilbert, A.; Groh, J. C.; Guns, S.; Guyser, R.; Halverson, N. W.; Harke-Hosemann, A. H.; Harrington, N. L.; Henning, J. W.; Hilton, G. C.; Holzapfel, W. L.; Howe, D.; Huang, N.; Irwin, K. D.; Jeong, O. B.; Jonas, M.; Jones, A.; Khaire, T. S.; Kofman, A. M.; Korman, M.; Kubik, D. L.; Kuhlmann, S.; Kuo, C. -L.; Lee, A. T.; Leitch, E. M.; Lowitz, A. E.; Meyer, S. S.; Michalik, D.; Montgomery, J.; Nadolski, A.; Natoli, T.; Nguyen, H.; Noble, G. I.; Novosad, V.; Padin, S.; Pan, Z.; Paschos, P.; Pearson, J.; Posada, C. M.; Quan, W.; Rahlin, A.; Riebel, D.; Ruhl, J. E.; Sayre, J. T.; Shirokoff, E.; Smecher, G.; Sobrin, J. A.; Stark, A. A.; Stephen, J.; Story, K. T.; Suzuki, A.; Thompson, K. L.; Tucker, C.; Vale, L. R.; Vanderlinde, K.; Vieira, J. D.; Wang, G.; Whitehorn, N.; Yefremenko, V.; Yoon, K. W.; Young, M. R.
Report
Bender, A. N.; Anderson, A. J.; Avva, J. S.; Ade, P. A. R.; Ahmed, Z.; Barry, P. S.; Thakur, R. Basu; Benson, B. A.; Bryant, L.; Byrum, K.; Carlstrom, J. E.; Carter, F. W.; Cecil, T. W.; Chang, C. L.; Cho, H. -M.; Cliche, J. F.; Cukierman, A.; de Haan, T.; Denison, E. V.; Ding, J.; Dobbs, M. A.; Dutcher, D.; Everett, W.; Ferguson, K. R.; Foster, A.; Fu, J.; Gallicchio, J.; Gambrel, A. E.; Gardner, R. W.; Gilbert, A.; Groh, J. C.; Guns, S.; Guyser, R.; Halverson, N. W.; Harke-Hosemann, A. H.; Harrington, N. L.; Henning, J. W.; Hilton, G. C.; Holzapfel, W. L.; Howe, D.; Huang, N.; Irwin, K. D.; Jeong, O. B.; Jonas, M.; Jones, A.; Khaire, T. S.; Kofman, A. M.; Korman, M.; Kubik, D. L.; Kuhlmann, S.; Kuo, C. -L.; Lee, A. T.; Leitch, E. M.; Lowitz, A. E.; Meyer, S. S.; Michalik, D.; Montgomery, J.; Nadolski, A.; Natoli, T.; Nguyen, H.; Noble, G. I.; Novosad, V.; Padin, S.; Pan, Z.; Paschos, P.; Pearson, J.; Posada, C. M.; Quan, W.; Rahlin, A.; Riebel, D.; Ruhl, J. E.; Sayre, J. T.; Shirokoff, E.; Smecher, G.; Sobrin, J. A.; Stark, A. A.; Stephen, J.; Story, K. T.; Suzuki, A.; Thompson, K. L.; Tucker, C.; Vale, L. R.; Vanderlinde, K.; Vieira, J. D.; Wang, G.; Whitehorn, N.; Yefremenko, V.; Yoon, K. W.; Young, M. R.
Refining the search results
Facets
[AR] Cliche, J. F.
Publication year
-
Database provider
Title
Publisher
자료유형(Source Type)
Subject
Language