e-Article
'e-Article'
searched 630results | List
1~10
Academic Journal
Feher, S.; Ambrosio, G.; Apollinari, G.; Baldini, M.; Bossert, R.; Carcagno, R.; Chlachidze, G.; DiMarco, J.; Rabehl, R.; Stoynev, S.; Strauss, T.; Vouris, A.; Prin, H.; Ramos, D.; Todesco, E.; Ferracin, P.; Vallone, G.
IEEE Transactions on Applied Superconductivity IEEE Trans. Appl. Supercond. Applied Superconductivity, IEEE Transactions on. 34(5):1-5 Aug, 2024
Report
Baldini, M.; Ambrosio, G.; Apollinari, G.; Blowers, J.; Bossert, R.; Carcagno, R.; Chlachidze, G.; DiMarco, J.; Feher, S.; Krave, S.; Lombardo, V.; Martin, L.; Narug, C.; Nicol, T. H.; Nikolic, V.; Nobrega, A.; Marinozzi, V.; Orozco, C.; Page, T.; Stoynev, S.; Strauss, T.; Turenne, M.; Turrioni, D.; Vouris, A.; Yu, M.; Baskys, A.; Cheng, D.; Croteau, J. F.; Ferracin, P.; Fajardo, L. Garcia; Lee, E.; Lin, A.; Marchev-sky, M.; Naus, M.; Pan, H.; Pong, I.; Prestemon, S.; Ray, K.; Sabbi, G.; Sanabria, C.; Vallone, G.; Wang, X.; Amm, K.; Anerella, M.; Yahia, A. Ben; Hocker, H.; Joshi, P.; Muratore, J.; Schmalzle, J.; Song, H.; Wanderer, P.
JACoW IPAC2024 (2024) THYN1
Academic Journal
Vouris, A.; Bossert, R.; DiMarco, J.; Feher, S.; Martin, L.; Strauss, T.; Wilson, C.; Prin, H.; Todesco, E.
IEEE Transactions on Applied Superconductivity IEEE Trans. Appl. Supercond. Applied Superconductivity, IEEE Transactions on. 33(5):1-5 Aug, 2023
Academic Journal
Ambrosio, G.; Amm, K.; Anerella, M.; Apollinari, G.; Izquierdo, G.A.; Baldini, M.; Ballarino, A.; Barth, C.; Yahia, A.B.; Blowers, J.; Borges De Sousa, P.; Bossert, R.; Bulat, B.W.; Carcagno, R.H.; Cheng, D.W.; Chlachidze, G.; Cooley, L.; Crouvizier, M.; Devred, A.; DiMarco, J.; Feher, S.; Ferracin, P.; Troitino, J.F.; Fajardo, L.G.; Gourlay, S.; Hocker, H.M.; Bermudez, S.I.; Joshi, P.; Krave, S.T.; Lee, E.M.; Levitan, J.W.; Lombardo, V.; Lu, J.; Marchevsky, M.; Marinozzi, V.; Moros, A.; Muratore, J.F.; Naus, M.; Nobrega, A.; Page, T.; Pong, I.; Perez, J.; Prestemon, S.; Ray, K.L.; Sabbi, G.; Schmalzle, J.; Seyl, J.; Sgobba, S.; Stoynev, S.; Strauss, T.; Todesco, E.; Turrioni, D.; Vallone, G.; Van Weelderen, R.; Wanderer, P.; Wang, X.; Yu, M.
IEEE Transactions on Applied Superconductivity IEEE Trans. Appl. Supercond. Applied Superconductivity, IEEE Transactions on. 33(5):1-8 Aug, 2023
Academic Journal
IEEE Transactions on Applied Superconductivity IEEE Trans. Appl. Supercond. Applied Superconductivity, IEEE Transactions on. 33(5):1-5 Aug, 2023
Academic Journal
Bossert, R.; Arnold, D.; Feher, S.; Martin, L.; Narug, C.; Nikolic, V.; Orozco, C.; Rabehl, R.; Robotham, W.; Strauss, T.; Vouris, A.; Prin, H.; Todesco, E.
IEEE Transactions on Applied Superconductivity IEEE Trans. Appl. Supercond. Applied Superconductivity, IEEE Transactions on. 32(6):1-4 Sep, 2022
Academic Journal
Ambrosio, G.; Amm, K.; Anerella, M.; Apollinari, G.; Baldini, M.; Blowers, J.; Bossert, R.; Carcagno, R.; Cheng, D.W.; Chlachidze, G.; Cooley, L.D.; DiMarco, J.; Feher, S.; Ferracin, P.; Bermudez, S.I.; Joshi, P.; Krave, S.; Levitan, J.; Lombardo, V.; Lu, J.; Marchevsky, M.; Marinozzi, V.; Muratore, J.; Nobrega, A.; Page, T.; Pan, H.; Parker, M.; Pong, I.; Prestemon, S.; Ravaioli, E.; Sabbi, G.; Schmalzle, J.; Song, H.; Stoynev, S.; Strauss, T.; Takala, E.; Todesco, E.; Turrioni, D.; Vallone, G.; Wanderer, P.; Wang, X.; Yu, M.
IEEE Transactions on Applied Superconductivity IEEE Trans. Appl. Supercond. Applied Superconductivity, IEEE Transactions on. 31(5):1-5 Aug, 2021
Academic Journal
Ferracin, P.; Ambrosio, G.; Anerella, M.; Bajas, H.; Bajko, M.; Bordini, B.; Bossert, R.; Bourcey, N.; Cheng, D.W.; Chlachidze, G.; Cooley, L.D.; Troitino, S.F.; Fiscarelli, L.; Fleiter, J.; Guinchard, M.; Bermudez, S.I.; Krave, S.; Lackner, F.; Mangiarotti, F.; Marchevsky, M.; Marinozzi, V.; Muratore, J.; Nobrega, A.; Pan, H.; Perez, J.C.; Pong, I.; Prestemon, S.; Prin, H.; Ravaioli, E.; Sabbi, G.L.; Schmalzle, J.; Tavares, S.S.; Stoynev, S.; Todesco, E.; Vallone, G.; Wanderer, P.; Wang, X.; Yu, M.
IEEE Transactions on Applied Superconductivity IEEE Trans. Appl. Supercond. Applied Superconductivity, IEEE Transactions on. 29(5):1-9 Aug, 2019
Academic Journal
Byrum, K.; Corrodi, S.; Oksuzian, Y.; Winter, P.; Xia, L.; Wagner, R.; Carey, R.M.; Edmonds, A.; Israel, S.; Miller, J.P.; Mott, J.; Barnes, E.; Palladino, A.; Jorjadze, V.; Khalatian, V.; Quirk, J.; Roberts, B.L.; Song, H.; Tran, N.; Wang, Y.; Marciano, W.J.; Ding, D.; Herman, A.; Hirsh, S.; Kolomensky, Y.G.; Singh, V.; Varier, D.; Harrig, K.; Nguyen, M.T.; Prebys, E.J.; Minh, T.N.; Molzon, W.; Borrel, L.; Cheng, C.-H.; Echenard, B.; Flood, K.; Hitlin, D.G.; Kim, J.-H.; Li, Y.; Lin, D.; Middleton, S.; Miyashita, T.; Oyang, J.; Porter, F.; Roehrken, M.; Trevor, J.; Zhu, R.-Y.; Casler, H.; Lynch, K.R.; Popp., J.L.; Artikov, A.; Atanov, N.; Baranov, V.; Budagov, I.; Chokheli, D.; Davydov, Y.; Glagolev, V.; Suslov, I.; Oh, S.; Wang, C.; Adentunji, J.; Alber, R.; Allen, D.; Allspach, D.; Ambrosio, G.; Andreev, N.; Arnold, D.; Badgley, K.; Ball, M.; Barker, J.; Bartoszek, L.; Bernstein, R.H.; Bianchi, I.; Biery, K.; Boi, S.; Bono, J.; Bossert, R.; Bowden, M.; Brandt, J.; Brown, G.; Brown, H.; Buelher, M.; Campbell, M.; Casey, B.; Cheban, S.; Chen, M.; Coghill, J.; Coleman, R.N.; Crowley, C.; Culbertson, R.; Deshpande, A.; Dey, J.; Dhanraj, J.; Dinnon, M.; Dixon, S.; Drake, G.; Drendel, B.; Duerling, G.; Eddy, N.; Evans, R.; Evbota, D.; Fagan, J.; Feher, S.; Fellenz, B.; Flumerfelt, E.; Friedsam, H.; Gallo, G.; Gaponenko, A.; Gardner, M.; Gaugel, S.; Genser, K.L.; Ginther, G.; Glass, H.; Glenzinski, D.A.; Goodenough, L.; Hahn, A.; Hansen, S.; Hartsell, B.; Hays, S.; Hocker, A.; Huedem, E.; Huffman, D.; Ibrahim, A.; Johnstone, C.; Kargiantoulakis, M.; Kashikhin, V.; Kasper, P.; Kiper, T.; Knapp, D.; Knoepfel, K.; Kokosa, L.; Kozlovsky, M.; Kracczyk, G.; Kramp, M.; Krave, S.; Krempetz, K.; Kutschke, R.K.; Kwarciany, R.; Lackowski, T.; Lamm, M.J.; Larwill, M.; Leavell, F.; Leeb, D.; Leveling, T.; Lewis, R.; Lincoln, D.; Lombardo, V.; Lopes, M.L.; Luca, A.; Makulski, A.; Martinez, A.; McArthur, D.; McConologue, F.; Michelotti, L.; Mitchell, D.; Mokhov, N.; Morgan, J.; Mukherjee, A.; Murat, P.; Nagaslaev, V.; Neuffer, D.V.; Nicol, T.; Niehoff, J.; Nogiec, J.; Norman, A.; O’Dell, V.; Olderr, P.; Olson, M.; Orris, D.; Oshinowo, B.; Ostojic, R.; Page, T.; Park, C.; Peterson, T.; Pilipenko, R.; Pla-Dalmau, A.; Poloubotko, V.; Popovic, M.; Prieto, P.; Pronskikh, V.; Pushka, D.; Rabehl, R.; Rakness, G.; Ray, R.E.; Rechenmacher, R.; Rivera, R.; Robotham, W.; Rubinov, P.; Rucinski, R.; Rusu, V.L.; Sarychev, M.; Scarpine, V.; Schappert, W.; School, D.; Stefanik, A.; Still, D.; Stratakis, D.; Strauss, T.; Sun, Y.; Tang, Z.; Tanovic, N.; Tartaglia, M.; Tinsley, D.; Tope, T.; Tschirhart, R.S.; Vogel, G.; Wagner, R.; Wands, R.; Wang, M.; Werkema, S.; White, H.B.; Whitmore, J.; Wielgos, R.; Woods, R.; Worel, C.; Yucel, M.; Zifko, R.; Bini, S.; Bloise, C.; Colao, F.; Diociaiuti, E.; Gargiulo, R.; Giovannella, S.; Hampai, D.; Happacher, F.; Miscetti, S.; Paesani, D.; Sanzani, E.; Saputi, A.; Sarra, I.; Bersani, A.; Fabbricatore, P.; Farinon, S.; Musenich, R.; Ferrari, A.; Knodel, O.; Mueller, S.; Rachamin, R.; Alexander, D.; Ahmed, W.; Daniel, A.; Caron, J.F.; Hungerford, E.; Bolton, T.; Horton-Smith, G.; Maravin, Y.; Neely, R.; Taylor, R.; Sobering, T.; Bonventre, R.; Brown, D.; Lee, M.J.; Pagan, S.; Soleti, S.R.; Varier, D.; Vinas, L.; Grancagnolo, F.; Tassielli, G.; Hooper, R.; Mesmer, N.; Kozminski, J.; Bowcock, T.; Harkness-Brennan, L.; Judson, D.; Price, J.; Tickle, S.; Chislett, R.; Motuk, E.; Plesniak, P.; Warren, M.; Brown, D.N.; Alvarez-Garcia, C.; Appleby, R.; Borghi, S.; Gersabeck, M.; Keshavarzi, A.; Lancaster, M.; Fontana, F.; Martini, M.; Devilbiss, M.; Tecchio, M.; Wu, Y.; Abdi, F.; Ambrose, D.; Boedigheimer, K.; Breach, M.; Bulugean, G.-M.; Ciampa, K.; Ekka, U.; Frand, M.; Gray, P.; Heller, K.; Lema-Sinchi, J.; Ley, A.; Li, B.; Manolis, J.; Martin, E.; Messerly, B.; Molenaar, D.; Moore, J.; Northrup, K.; Ragheb, A.; Rizzo, G.; Samavat, M.F.; Schmitter, P.; Ta, J.; Torkelson, A.; Turnberg, S.; Wardlaw, I.; Wildberger, R.; Wills, L.; Djilkibaev, R.; Abrams, R.; Ankenbrandt, C.M.; Cummings, M.A.C.; Roberts, T.J.; Blazey, G.; Dychkant, A.; Francis, K.; Hedin, D.; Narayanan, A.; Pohlman, N.; Syphers, M.J.; Uzunyan, S.; Zutshi, V.; De Gouvea, A.; Ding, D.; Kampa, C.; Mackenzie, M.; Pollack, B.; Schmitt, M.; Szemraj, L.; Velasco, M.; Amirkhanov, A.; Logashenko, I.; Zhadan, D.; Bellettini, G.; Cervelli, F.; Ciolini, R.; Chitirasreemadam, N.; Crescimbeni, L.; Di Falco, S.; De Felice, G.; Donati, S.; Ferrari, C.; Gioiosa, A.; Giusti, V.; Marini, A.; Morescalchi, L.; Pasciuto, D.; Pedreschi, E.; Raffaelli, F.; Spinella, F.; Taffara, A.; Vitali, B.; Cao, H.; Chen, J.; Finley, J.; Hedges, M.; Huang, S.; Jones, M.; Koltick, D.; Shi, X.; Frank, M.; Jenkins, M.; You, Z.; Zanetti, A.M.; Barton, B.; Dukes, E.C.; Ehrlich, R.; Farrell, W.; Farris, P.; Fernandez, E.; Gandrajula, R.P.; Goadhouse, S.; Group, C.; Hung, P.Q.; Miles, C.; Roberts, S.; Schumacher, K.; Solt, M.; Song, E.; Srivastav, M.; Stetzler, S.; Zadeh, P.; Demers, S.; Pezzullo, G.; Stortini, M.
In: Universe . (Universe, January 2023, 9(1))
Academic Journal
Ferracin, P.; Ambrosio, G.; Anerella, M.; Bajas, H.; Bajko, M.; Bordini, B.; Bossert, R.; Bourcey, N.; Cheng, D.W.; Chlachidze, G.; Cooley, L.D.; Troitino, S.F.; Fiscarelli, L.; Fleiter, J.; Guinchard, M.; Bermudez, S.I.; Krave, S.; Lackner, F.; Mangiarotti, F.; Marchevsky, M.; Marinozzi, V.; Muratore, J.; Nobrega, A.; Pan, H.; Perez, J.C.; Pong, I.; Prestemon, S.; Prin, H.; Ravaioli, E.; Sabbi, G.L.; Schmalzle, J.; Tavares, S.S.; Stoynev, S.; Todesco, E.; Vallone, G.; Wanderer, P.; Wang, X.; Yu, M.
IEEE Transactions on Applied Superconductivity IEEE Trans. Appl. Supercond. Applied Superconductivity, IEEE Transactions on. 30(7):1-1 Oct, 2020
Refining the search results
Facets
[AR] Bossert, R.
Publication year
-
Database provider
Title
Publisher
자료유형(Source Type)
Subject
Language