부산대학교 도서관

Bendre, N.; Ebadi, N.; Prevost, J.J.; Najafirad, P.

IEEE Access Access, IEEE. 8:57749-57761 2020

Hill, M.D.; Goyal, M.; Menon, B.K.; Demchuk, A.M.; Zerna, C.; Ospel, J.M.; Joshi, M.; Almekhlafi, M.A.; Ryckborst, K.J.; Coutts, S.B.; Lowerison, M.W.; Buck, B.H.; Rempel, J.L.; Phillips, S.J.; Mandzia, J.L.; Poppe, A.Y.; Roy, D.; Iancu, D.; Teitelbaum, J.; Dowlatshahi, D.; Kelly, M.E.; Silver, F.L.; Bharatha, A.; Swartz, R.H.; Yu, A.Y.X.; Camden, M.-C.; van Adel, B.A.; Sahlas, D.J.; Field, T.S.; Rohr, A.C.; Shah, R.A.; Devlin, T.G.; Frei, D.F.; Choe, H.; Jadhav, A.; Turkel-Parrella, D.; McDougall, C.G.; Starkman, S.; Heck, D.; McTaggart, R.A.; Cutting, S.M.; Lopez, G.A.; Sauvageau, E.; Hanel, R.A.; Nogueira, R.G.; Haussen, D.; Puri, A.S.; English, J.; Martin, C.O.; Schindler, J.L.; Tarpley, J.W.; Gupta, R.; Budzik, R.F.; Bang, O.Y.; Heo, J.H.; Rha, J.-H.; Sohn, S.-I.; Campbell, B.C.V.; Kleinig, T.J.; Thornton, J.; Murphy, S.; Burns, P.A.; Holmin, S.; Thomalla, G.; Puetz, V.; Psychogios, M.-N.; Chapot, R.; Nagel, S.; Heard, K.; Garman, D.; Tymianski, M.; Barber, P.; Smith, E.; Bal, 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