Catalog
| LDR | 00950namka2200277 c 4500 | ||
| 001 | 0092292209▲ | ||
| 005 | 20180519001919▲ | ||
| 008 | 140127s2014 bnka m FC 000a kor ▲ | ||
| 035 | ▼a(DCOLL221016)000000091222▲ | ||
| 040 | ▼a221016▼c221016▲ | ||
| 041 | 0 | ▼akor▼beng▲ | |
| 082 | 0 | 4 | ▼a005.4469▼221▲ |
| 090 | ▼a005.4469▼b이849ㅇ▲ | ||
| 100 | 1 | ▼a이필수▲ | |
| 245 | 1 | 0 | ▼a임베디드 시스템의 명세 데이터를 이용한 테스트 코드 자동 생성 시스템 =▼xAutomatic Generation of Test Code System Using Detail Data for Embedded Systems /▼d이필수▲ |
| 260 | ▼a부산 :▼b부산대학교 대학원,▼c2014▲ | ||
| 300 | ▼av, 40 장 :▼b삽화 ;▼c26 cm▲ | ||
| 500 | ▼a지도교수:우균▲ | ||
| 502 | 0 | ▼a학위논문(석사)--▼b부산대학교 대학원 :▼c전자전기컴퓨터공학과,▼d2014. 2.▲ | |
| 504 | ▼a참고문헌: 장 35-38▲ | ||
| 520 | 3 | ▼a권 말에 Abstract 수록▲ | |
| 538 | ▼aRequires PDF file reader(application/pdf)▲ | ||
| 653 | ▼a테스트 코드▼a자동 생성▼a명세 데이터▼a임베디드▲ | ||
| 856 | 4 | ▼adcollection.pusan.ac.kr▼uhttp://dcollection.pusan.ac.kr/jsp/common/DcLoOrgPer.jsp?sItemId=000000091222▲ | |
| 900 | 1 | 1 | ▼aLee, Pil Su▲ |
| 999 | ▼c이현진▲ |
임베디드 시스템의 명세 데이터를 이용한 테스트 코드 자동 생성 시스템 =Automatic Generation of Test Code System Using Detail Data for Embedded Systems
Document Type
Thesis
Title
임베디드 시스템의 명세 데이터를 이용한 테스트 코드 자동 생성 시스템 = Automatic Generation of Test Code System Using Detail Data for Embedded Systems / 이필수
개인저자
Publication
부산 : 부산대학교 대학원 , 2014
Physical Description
v, 40 장 : 삽화 ; 26 cm
General Note
지도교수:우균
Dissertation Note
학위논문(석사)-- 부산대학교 대학원 : 전자전기컴퓨터공학과 , 2014. 2.
Bibliography Note
참고문헌: 장 35-38
Summary Note
권 말에 Abstract 수록
System Note
Requires PDF file reader(application/pdf)
Call Number
005.4469 이849ㅇ
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