학술논문
'학술논문'
에서 검색결과 18건 | 목록
1~10
Academic Journal
IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 69(12):7135-7140 Dec, 2022
Academic Journal
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems IEEE Trans. VLSI Syst. Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, IEEE Transactions on. 30(1):60-67 Jan, 2022
Conference
Wang, J.; Suk, S. D.; Chu, A.; Hook, T.; Young, A.; Krishnan, R.; Bao, R.; Seshadri, I.; Senapati, B.; Zalani, V.; Philip, T.; Zhou, H.; Zhao, K.; Dechene, D.; Haran, B.; Guo, D.; Bu, H.
2021 Symposium on VLSI Technology VLSI Technology, 2021 Symposium on. :1-2 Jun, 2021
Conference
Jagannathan, H.; Anderson, B.; Sohn, C-W.; Tsutsui, G.; Strane, J.; Xie, R.; Fan, S.; Kim, K-I.; Song, S.; Sieg, S.; Seshadri, I.; Mochizuki, S.; Wang, J.; Rahman, A.; Cheon, K-Y.; Hwang, I.; Demarest, J.; Do, J.; Fullam, J.; Jo, G.; Hong, B.; Jung, Y.; Kim, M.; Kim, S.; Lallement, R.; Levin, T.; Li, J.; Miller, E.; Montanini, P.; Pujari, R.; Osborn, C.; Sankarapandian, M.; Son, G-H.; Waskiewicz, C.; Wu, H.; Yim, J.; Young, A.; Zhang, C.; Varghese, A.; Robison, R.; Burns, S.; Zhao, K.; Yamashita, T.; Dechene, D.; Guo, D.; Divakaruni, R.; Wu, T.; Seo, K-I.; Bu, H.
2021 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2021 IEEE International. :26.1.1-26.1.4 Dec, 2021
Conference
Bao, R.; Watanabe, K.; Zhang, J.; Guo, J.; Zhou, H.; Gaul, A.; Sankarapandian, M.; Li, J.; Hubbard, A. R.; Vega, R.; Pancharatnam, S.; Jamison, P.; Wang, M.; Loubet, N.; Basker, V.; Dechene, D.; Guo, D.; Haran, B.; Bu, H.; Khare, M.
2019 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2019 IEEE International. :11.2.1-11.2.4 Dec, 2019
Conference
Zhang, J.; Frougier, J.; Greene, A.; Miao, X.; Yu, L.; Vega, R.; Montanini, P.; Durfee, C.; Gaul, A.; Pancharatnam, S.; Adams, C.; Wu, H.; Zhou, H.; Shen, T.; Xie, R.; Sankarapandian, M.; Wang, J.; Watanabe, K.; Bao, R.; Liu, X.; Park, C.; Shobha, H.; Joseph, P.; Kong, D.; De La Pena, A. Arceo; Li, J.; Conti, R.; Dechene, D.; Loubet, N.; Chao, R.; Yamashita, T.; Robison, R.; Basker, V.; Zhao, K.; Guo, D.; Haran, B.; Divakaruni, R.; Bu, H.
2019 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2019 IEEE International. :11.6.1-11.6.4 Dec, 2019
Periodical
Kim, Ryoung-Han; Lafferty, Neal V.; Lanzillo, N. A.; Chu, A.; Vega, R.; Perez, N.; Clevenger, L.; Dechene, D.
Proceedings of SPIE; April 2023, Vol. 12495 Issue: 1 p124950U-124950U-5, 1124556p
Conference
Narasimha, S.; Jagannathan, B.; Ogino, A.; Jaeger, D.; Greene, B.; Sheraw, C.; Zhao, K.; Haran, B.; Kwon, U.; Mahalingam, A. K. M.; Kannan, B.; Morganfeld, B.; Dechene, J.; Radens, C.; Tessier, A.; Hassan, A.; Narisetty, H.; Ahsan, I.; Aminpur, M.; An, C.; Aquilino, M.; Arya, A.; Augur, R.; Baliga, N.; Bhelkar, R.; Biery, G.; Blauberg, A.; Borjemscaia, N.; Bryant, A.; Cao, L.; Chauhan, V.; Chen, M.; Cheng, L.; Choo, J.; Christiansen, C.; Chu, T.; Cohen, B.; Coleman, R.; Conklin, D.; Crown, S.; da Silva, A.; Dechene, D.; Derderian, G.; Deshpande, S.; Dilliway, G.; Donegan, K.; Eller, M.; Fan, Y.; Fang, Q.; Gassaria, A.; Gauthier, R.; Ghosh, S.; Gifford, G.; Gordon, T.; Gribelyuk, M.; Han, G.; Han, J.H.; Han, K.; Hasan, M.; Higman, J.; Holt, J.; Hu, L.; Huang, L.; Huang, C.; Hung, T.; Jin, Y.; Johnson, J.; Johnson, S.; Joshi, V.; Joshi, M.; Justison, P.; Kalaga, S.; Kim, T.; Kim, W.; Krishnan, R.; Krishnan, B.; Anil, K.; Kumar, M.; Lee, J.; Lee, R.; Lemon, J.; Liew, S.L.; Lindo, P.; Lingalugari, M.; Lipinski, M.; Liu, P.; Liu, J.; Lucarini, S.; Ma, W.; Maciejewski, E.; Madisetti, S.; Malinowski, A.; Mehta, J.; Meng, C.; Mitra, S.; Montgomery, C.; Nayfeh, H.; Nigam, T.; Northrop, G.; Onishi, K.; Ordonio, C.; Ozbek, M.; Pal, R.; Parihar, S.; Patterson, O.; Ramanathan, E.; Ramirez, I.; Ranjan, R.; Sarad, J.; Sardesai, V.; Saudari, S.; Schiller, C.; Senapati, B.; Serrau, C.; Shah, N.; Shen, T.; Sheng, H.; Shepard, J.; Shi, Y.; Silvestre, M.C.; Singh, D.; Song, Z.; Sporre, J.; Srinivasan, P.; Sun, Z.; Sutton, A.; Sweeney, R.; Tabakman, K.; Tan, M.; Wang, X.; Woodard, E.; Xu, G.; Xu, D.; Xuan, T.; Yan, Y.; Yang, J.; Yeap, K.B.; Yu, M.; Zainuddin, A.; Zeng, J.; Zhang, K.; Zhao, M.; Zhong, Y.; Carter, R.; Lin, C.-H.; Grunow, S.; Child, C.; Lagus, M.; Fox, R.; Kaste, E.; Gomba, G.; Samavedam, S.; Agnello, P.; Sohn, D. K.
2017 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2017 IEEE International. :29.5.1-29.5.4 Dec, 2017
Conference
In: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering , DTCO and Computational Patterning II. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2023, 12495)
Academic Journal
In: Employee Assistance Quarterly . (Employee Assistance Quarterly, 1998, 14(1):33-42)
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[AR] Dechene, D.
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어