학술논문
'학술논문'
에서 검색결과 34건 | 목록
1~10
Academic Journal
Augur, R.; Child, C.; Ahn, J.H.; Tang, T.J.; Clevenger, L.; Kioussis, D.; Masuda, H.; Srivastava, R.; Oda, Y.; Oguma, H.; Quon, R.; Kim, B.; Sheng, H.; Hirooka, S.; Gupta, R.; Thomas, A.; Singh, S.M.; Fang, Q.; Schiwon, R.; Hamieh, B.; Wornyo, E.; Allen, S.; Kaltalioglu, E.; Ribes, G.; Zhang, G.; Fryxell, T.; Ogino, A.; Shimada, E.; Aizawa, H.; Minda, H.; Kim, S.O.; Oki, T.; Fujii, K.; Pallachalil, M.; Takewaki, T.; Hu, C.K.; Sundlof, B.; Permana, D.; Bolom, T.; Engel, B.; Labelle, C.; Sapp, B.; Nogami, T.; Simon, A.; Shobha, H.; Gates, S.; Ryan, E.T.; Bonilla, G.; Daubenspeck, T.; Shaw, T.; Osborne, G.; Grill, A.; Edelstein, D.; Restaino, D.; Molis, S.; Spooner, T.; Ferreira, P.; Biery, G.; Sampson, R.
In Microelectronic Engineering April 2012 92:42-44
Conference
Narasimha, S.; Jagannathan, B.; Ogino, A.; Jaeger, D.; Greene, B.; Sheraw, C.; Zhao, K.; Haran, B.; Kwon, U.; Mahalingam, A. K. M.; Kannan, B.; Morganfeld, B.; Dechene, J.; Radens, C.; Tessier, A.; Hassan, A.; Narisetty, H.; Ahsan, I.; Aminpur, M.; An, C.; Aquilino, M.; Arya, A.; Augur, R.; Baliga, N.; Bhelkar, R.; Biery, G.; Blauberg, A.; Borjemscaia, N.; Bryant, A.; Cao, L.; Chauhan, V.; Chen, M.; Cheng, L.; Choo, J.; Christiansen, C.; Chu, T.; Cohen, B.; Coleman, R.; Conklin, D.; Crown, S.; da Silva, A.; Dechene, D.; Derderian, G.; Deshpande, S.; Dilliway, G.; Donegan, K.; Eller, M.; Fan, Y.; Fang, Q.; Gassaria, A.; Gauthier, R.; Ghosh, S.; Gifford, G.; Gordon, T.; Gribelyuk, M.; Han, G.; Han, J.H.; Han, K.; Hasan, M.; Higman, J.; Holt, J.; Hu, L.; Huang, L.; Huang, C.; Hung, T.; Jin, Y.; Johnson, J.; Johnson, S.; Joshi, V.; Joshi, M.; Justison, P.; Kalaga, S.; Kim, T.; Kim, W.; Krishnan, R.; Krishnan, B.; Anil, K.; Kumar, M.; Lee, J.; Lee, R.; Lemon, J.; Liew, S.L.; Lindo, P.; Lingalugari, M.; Lipinski, M.; Liu, P.; Liu, J.; Lucarini, S.; Ma, W.; Maciejewski, E.; Madisetti, S.; Malinowski, A.; Mehta, J.; Meng, C.; Mitra, S.; Montgomery, C.; Nayfeh, H.; Nigam, T.; Northrop, G.; Onishi, K.; Ordonio, C.; Ozbek, M.; Pal, R.; Parihar, S.; Patterson, O.; Ramanathan, E.; Ramirez, I.; Ranjan, R.; Sarad, J.; Sardesai, V.; Saudari, S.; Schiller, C.; Senapati, B.; Serrau, C.; Shah, N.; Shen, T.; Sheng, H.; Shepard, J.; Shi, Y.; Silvestre, M.C.; Singh, D.; Song, Z.; Sporre, J.; Srinivasan, P.; Sun, Z.; Sutton, A.; Sweeney, R.; Tabakman, K.; Tan, M.; Wang, X.; Woodard, E.; Xu, G.; Xu, D.; Xuan, T.; Yan, Y.; Yang, J.; Yeap, K.B.; Yu, M.; Zainuddin, A.; Zeng, J.; Zhang, K.; Zhao, M.; Zhong, Y.; Carter, R.; Lin, C.-H.; Grunow, S.; Child, C.; Lagus, M.; Fox, R.; Kaste, E.; Gomba, G.; Samavedam, S.; Agnello, P.; Sohn, D. K.
2017 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2017 IEEE International. :29.5.1-29.5.4 Dec, 2017
Conference
Filippi, R.G.; McGrath, J.F.; Shaw, T.M.; Murray, C.E.; Rathore, H.S.; McLaughlin, P.S.; McGahay, V.; Nicholson, L.; Wang, P.-C.; Lloyd, J.R.; Lane, M.; Rosenberg, R.; Liu, X.; Wang, Y.-Y.; Landers, W.; Spooner, T.; Demarest, J.J.; Engel, B.H.; Gill, J.; Goth, G.; Barth, E.; Biery, G.; Davis, C.R.; Wachnik, R.A.; Goldblatt, R.; Ivers, T.; Swinton, A.; Barile, C.; Aitken, J.
2004 IEEE International Reliability Physics Symposium. Proceedings Reliability physics Reliability Physics Symposium Proceedings, 2004. 42nd Annual. 2004 IEEE International. :61-67 2004
Conference
Gusev, E.P.; Cabral, C., Jr.; Under, B.P.; Kim, Y.H.; Maitra, K.; Carrier, E.; Nayfeh, H.; Amos, R.; Biery, G.; Bojarczuk, N.; Callegari, A.; Carruthers, R.; Cohen, S.A.; Copel, M.; Fang, S.; Frank, M.; Guha, S.; Gribelyuk, M.; Jamison, P.; Jammy, R.; Ieong, M.; Kedzierski, J.; Kozlowski, P.; Ku, K.; Lacey, D.; LaTulipe, D.; Narayanan, V.; Ng, H.; Nguyen, P.; Newbury, J.; Paruchuri, V.; Rengarajan, R.; Shahidi, G.; Steegen, A.; Steen, M.; Zafar, S.; Zhang, Y.
IEDM Technical Digest. IEEE International Electron Devices Meeting, 2004. Electron devices meeting Electron Devices Meeting, 2004. IEDM Technical Digest. IEEE International. :79-82 2004
Conference
Leobandung, E.; Barth, E.; Sherony, M.; Lo, S.-H.; Schulz, R.; Chu, W.; Khare, M.; Sadana, D.; Schepis, D.; Boiam, R.; Sleight, I.; White, F.; Assaderaghi, F.; Moy, D.; Biery, G.; Goldblan, R.; Chen, T.-C.; Davari, B.; Shahidi, G.
International Electron Devices Meeting 1999. Technical Digest (Cat. No.99CH36318) Electron devices Electron Devices Meeting, 1999. IEDM '99. Technical Digest. International. :679-682 1999
Conference
Sankaran, S.; Arai, S.; Augur, R.; Beck, M.; Biery, G.; Bolom, T.; Bonilla, G.; Bravo, O.; Chanda, K.; Chae, M.; Chen, F.; Clevenger, L.; Cohen, S.; Cowley, A.; Davis, P.; Demarest, J.; Doyle, J.; Dimitrakopoulos, C.; Economikos, L.; Edelstein, D.; Farooq, M.; Filippi, R.; Fitzsimmons, J.; Fuller, N.; Gates, S. M.; Greco, S. E.; Grill, A.; Grunow, S.; Hannon, R.; Ida, K.; Jung, D.; Kaltalioglu, E.; Kelling, M.; Ko, T.; Kumar, K.; Labelle, C.; Landis, H.; Lane, M.W.; Landers, W.; Lee, M.; Li, W.; Liniger, E.; Liu, X.; Lloyd, J. R.; Liu, W.; Lustig, N.; Malone, K.; Marokkey, S.; Matusiewicz, G.; McLaughlin, P. S.; McLaughlin, P. V.; Mehta, S.; Melville, I.; Miyata, K.; Moon, B.; Nitta, S.; Nguyen, D.; Nicholson, L.; Nielsen, D.; Ong, P.; Patel, K.; Patel, V.; Park, W.; Pellerin, J.; Ponoth, S.; Petrarca, K.; Rath, D.; Restaino, D.; Rhee, S.; Ryan, E.T.; Shoba, H.; Simon, A.; Simonyi, E.; Shaw, T.M.; Spooner, T.; Standaert, T.; Sucharitaves, J.; Tian, C.; Wendt, H.; Werking, J.; Widodo, J.; Wiggins, L.; Wisnieff, R.; Ivers, T.
2006 International Electron Devices Meeting Electron Devices Meeting, 2006. IEDM '06. International. :1-4 Dec, 2006
Conference
Crowder, S.; Greco, S.; Ng, H.; Barth, E.; Beyer, K.; Biery, G.; Connolly, J.; DeWan, C.; Ferguson, R.; Chen, X.; Hargrove, M.; Nowak, E.; McLaughlin, P.; Purtell, R.; Logan, R.; Oberschmidt, J.; Ray, A.; Ryan, D.; Tallman, K.; Wagner, T.; McGahay, V.; Crabbe, E.; Agnello, P.; Goldblatt, R.; Su, L.; Davari, B.
1999 Symposium on VLSI Technology. Digest of Technical Papers (IEEE Cat. No.99CH36325) VLSI technology VLSI Technology, 1999. Digest of Technical Papers. 1999 Symposium on. :105-106 1999
Conference
Su, L.; Schulz, R.; Adkisson, J.; Beyer, K.; Biery, G.; Cote, W.; Crabbe, E.; Edelstein, D.; Ellis-Monaghan, J.; Eld, E.; Foster, D.; Gehres, R.; Goldblatt, R.; Greco, N.; Guenther, C.; Heidenreich, J.; Herman, J.; Kiesling, D.; Lin, L.; Lo, S.-H.; McKenna, J.; Megivern, C.; Ng, H.; Oberschmidt, J.; Ray, A.; Rohrer, N.; Tallman, K.; Wagner, T.; Davari, B.
1998 Symposium on VLSI Technology Digest of Technical Papers (Cat. No.98CH36216) VLSI technology VLSI Technology, 1998. Digest of Technical Papers. 1998 Symposium on. :18-19 1998
Conference
Sleight, J.W.; Varekamp, P.R.; Lustig, N.; Adkisson, J.; Allen, A.; Bula, O.; Chen, X.; Chou, T.; Chu, W.; Fitzsimmons, J.; Gabor, A.; Gates, S.; Jamison, P.; Khare, M.; Lai, L.; Lee, J.; Narasimha, S.; Ellis-Monaghan, J.; Peterson, K.; Rauch, S.; Shukla, S.; Smeys, P.; Su, T.-C.; Quinlan, J.; Vayshenker, A.; Ward, B.; Womack, S.; Barth, E.; Biery, G.; Davis, C.; Ferguson, R.; Goldblatt, R.; Leobandung, E.; Weiser, J.; Yang, I.; Agnello, P.
International Electron Devices Meeting. Technical Digest (Cat. No.01CH37224) Electron devices meeting 2001 Electron Devices Meeting, 2001. IEDM '01. Technical Digest. International. :11.3.1-11.3.4 2001
Academic Journal
Ryan, D.A.; Patterson, O.D.; Conklin, D.; Liang, J.; Biery, G.; Ogino, A.; Dirahoui, B.; Baum, Z.; Monkowski, M.D.; Lei, S.-C.C.
In: Journal of Micro/ Nanolithography, MEMS, and MOEMS . (Journal of Micro/ Nanolithography, MEMS, and MOEMS, 1 April 2015, 14(2))
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[AR] Biery, G.
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어