학술논문
'학술논문'
에서 검색결과 128건 | 목록
20~30
Academic Journal
In: Journal of Applied Physics . (Journal of Applied Physics, 31 March 2020, 127(12))
Conference
Proceedings of the IEEE 1999 International Interconnect Technology Conference (Cat. No.99EX247) Interconnect technology Interconnect Technology, 1999. IEEE International Conference. :86-88 1999
Conference
Gambino, J.; Clevenger, L.; Costrini, G.; Schnabel, F.; Ravikumar, R.; Dobuzinsky, D.; Iggulden, R.; Dziobkowski, C.; Wildman, H.; Benedict, J.; Bruley, J.; Domenicucci, A.
Proceedings of the IEEE 1999 International Interconnect Technology Conference (Cat. No.99EX247) Interconnect technology Interconnect Technology, 1999. IEEE International Conference. :206-208 1999
Academic Journal
In: Current Opinion in Ophthalmology . (Current Opinion in Ophthalmology, 1 May 2023, 34(3):195-202)
Conference
2008 International Interconnect Technology Conference Interconnect Technology Conference, 2008. IITC 2008. International. :191-192 Jun, 2008
Conference
Luo, Z.; Rovedo, N.; Ong, S.; Phoong, B.; Eller, M.; Utomo, H.; Ryou, C.; Wang, H.; Stierstorfer, R.; Clevenger, L.; Kim, S.; Toomey, J.; Sciacca, D.; Li, J.; Wille, W.; Zhao, L.; Teo, L.; Dyer, T.; Fang, S.; Yan, J.; Kwon, O.; Park, D.; Holt, J.; Han, J.; Chan, V.; Yuan, J.; Kebede, T.; Lee, H.; Lee, S.; Vayshenker, A.; Yang, Z.; Tian, C.; Ng, H.; Shang, H.; Hierlemann, M.; Ku, J.; Sudijono, J.; Ieong, M.
2007 IEEE Symposium on VLSI Technology VLSI Technology, 2007 IEEE Symposium on. :16-17 Jun, 2007
Conference
In: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering , DTCO and Computational Patterning II. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2023, 12495)
Conference
Sankaran, S.; Arai, S.; Augur, R.; Beck, M.; Biery, G.; Bolom, T.; Bonilla, G.; Bravo, O.; Chanda, K.; Chae, M.; Chen, F.; Clevenger, L.; Cohen, S.; Cowley, A.; Davis, P.; Demarest, J.; Doyle, J.; Dimitrakopoulos, C.; Economikos, L.; Edelstein, D.; Farooq, M.; Filippi, R.; Fitzsimmons, J.; Fuller, N.; Gates, S. M.; Greco, S. E.; Grill, A.; Grunow, S.; Hannon, R.; Ida, K.; Jung, D.; Kaltalioglu, E.; Kelling, M.; Ko, T.; Kumar, K.; Labelle, C.; Landis, H.; Lane, M.W.; Landers, W.; Lee, M.; Li, W.; Liniger, E.; Liu, X.; Lloyd, J. R.; Liu, W.; Lustig, N.; Malone, K.; Marokkey, S.; Matusiewicz, G.; McLaughlin, P. S.; McLaughlin, P. V.; Mehta, S.; Melville, I.; Miyata, K.; Moon, B.; Nitta, S.; Nguyen, D.; Nicholson, L.; Nielsen, D.; Ong, P.; Patel, K.; Patel, V.; Park, W.; Pellerin, J.; Ponoth, S.; Petrarca, K.; Rath, D.; Restaino, D.; Rhee, S.; Ryan, E.T.; Shoba, H.; Simon, A.; Simonyi, E.; Shaw, T.M.; Spooner, T.; Standaert, T.; Sucharitaves, J.; Tian, C.; Wendt, H.; Werking, J.; Widodo, J.; Wiggins, L.; Wisnieff, R.; Ivers, T.
2006 International Electron Devices Meeting Electron Devices Meeting, 2006. IEDM '06. International. :1-4 Dec, 2006
Conference
Lin, C-H.; Greene, B.; Narasimha, S.; Cai, J.; Bryant, A.; Radens, C.; Narayanan, V.; Linder, B.; Ho, H.; Aiyar, A.; Alptekin, E.; An, J-J.; Aquilino, M.; Bao, R.; Basker, V.; Breil, N.; Brodsky, M.; Chang, W.; Clevenger, L.; Chidambarrao, D.; Christiansen, C.; Conklin, D.; DeWan, C.; Dong, H.; Economikos, L.; Engel, B.; Fang, S.; Ferrer, D.; Friedman, A.; Gabor, A.; Guarin, F.; Guan, X.; Hasanuzzaman, M.; Hong, J.; Hoyos, D.; Jagannathan, B.; Jain, S.; Jeng, S-J.; Johnson, J.; Kannan, B.; Ke, Y.; Khan, B.; Kim, B.; Koswatta, S.; Kumar, A.; Kwon, T.; Kwon, U.; Lanzerotti, L.; Lee, H-K; Lee, W-H.; Levesque, A.; Li, W.; Li, Z.; Liu, W.; Mahajan, S.; McStay, K.; Nayfeh, H.; Nicoll, W.; Northrop, G.; Ogino, A.; Pei, C.; Polvino, S.; Ramachandran, R.; Ren, Z.; Robison, R.; Saraf, I.; Sardesai, V.; Saudari, S.; Schepis, D.; Sheraw, C.; Siddiqui, S.; Song, L.; Stein, K.; Tran, C.; Utomo, H.; Vega, R.; Wang, G.; Wang, H.; Wang, W.; Wang, X.; Wehelle-Gamage, D.; Woodard, E.; Xu, Y.; Yang, Y.; Zhan, N.; Zhao, K.; Zhu, C.; Boyd, K.; Engbrecht, E.; Henson, K.; Kaste, E.; Krishnan, S.; Maciejewski, E.; Shang, H.; Zamdmer, N.; Divakaruni, R.; Rice, J.; Stiffler, S.; Agnello, P.
2014 IEEE International Electron Devices Meeting Electron Devices Meeting (IEDM), 2014 IEEE International. :3.8.1-3.8.3 Dec, 2014
Conference
Goldberg, C.; Park, S.H.; Kim, B.Y.; Law, S.B.; Hamieh, B.; Jung, J.; Kim, B.H.; Rhee, S.H.; Oh, M.; Mobley, M.; Laffosse, E.; Kim, A.; Thomas, A.; Malinge, P.; Fryxell, T.; Lim, K.J.; Park, I.S.; Bahierathan, B.; Wu, F.; Erenturk, B.; Jeon, W.C.; Choi, H.C.; Park, Y.J.; Kim, H.; Chen, T.Q.; Thibaut, S.; Niu, C.; Zhang, J.; Filippi, R.; Kaltalioglu, E.; Achanta, R.; Wang, P.-C.; Yang, H.; Geronimi, J.P.; Pagette, F.; Chauhan, V.; Ogino, A.; Srivastava, R.; Koshy, R.; Baumann, F.; Simon, A.; Nag, J.; Cheng, T.; Fitzsimmons, J.; Tseng, W.; Lin, Y.; Sun, Z.; Bolom, T.; Ko, T.-M.; Clevenger, L.; Kim, J; Sudijono, J.; Sampson, R.
2013 Symposium on VLSI Technology VLSI Technology (VLSIT), 2013 Symposium on. :T202-T203 Jun, 2013
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[AR] Clevenger, L.
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어