학술논문
'학술논문'
에서 검색결과 88건 | 목록
1~10
Academic Journal
Peethala, B.; Mont, F.W.; Molis, S.; Knarr, R.; L'lherron, B.; Labelle, C.; Canaperi, D.; Siddiqui, S.
In Microelectronic Engineering 1 August 2016 161:98-103
Academic Journal
In: BMJ Open . (BMJ Open, 17 October 2023, 13(10))
Academic Journal
Augur, R.; Child, C.; Ahn, J.H.; Tang, T.J.; Clevenger, L.; Kioussis, D.; Masuda, H.; Srivastava, R.; Oda, Y.; Oguma, H.; Quon, R.; Kim, B.; Sheng, H.; Hirooka, S.; Gupta, R.; Thomas, A.; Singh, S.M.; Fang, Q.; Schiwon, R.; Hamieh, B.; Wornyo, E.; Allen, S.; Kaltalioglu, E.; Ribes, G.; Zhang, G.; Fryxell, T.; Ogino, A.; Shimada, E.; Aizawa, H.; Minda, H.; Kim, S.O.; Oki, T.; Fujii, K.; Pallachalil, M.; Takewaki, T.; Hu, C.K.; Sundlof, B.; Permana, D.; Bolom, T.; Engel, B.; Labelle, C.; Sapp, B.; Nogami, T.; Simon, A.; Shobha, H.; Gates, S.; Ryan, E.T.; Bonilla, G.; Daubenspeck, T.; Shaw, T.; Osborne, G.; Grill, A.; Edelstein, D.; Restaino, D.; Molis, S.; Spooner, T.; Ferreira, P.; Biery, G.; Sampson, R.
In Microelectronic Engineering April 2012 92:42-44
Academic Journal
In Thin Solid Films 2008 516(11):3558-3563
Conference
Kamineni, V.; Raymond, M.; Siddiqui, S.; Mont, F.; Tsai, S.; Niu, C.; Labonte, A.; Labelle, C.; Fan, S.; Peethala, B.; Adusumilli, P.; Patlolla, R.; Priyadarshini, D.; Mignot, Y.; Carr, A.; Pancharatnam, S.; Shearer, J.; Surisetty, C.; Arnold, J.; Canaperi, D.; Haran, B.; Jagannathan, H.; Chafik, F.; L'Herron, B.
2016 IEEE International Interconnect Technology Conference / Advanced Metallization Conference (IITC/AMC) Interconnect Technology Conference / Advanced Metallization Conference (IITC/AMC), 2016 IEEE International. :105-107 May, 2016
Academic Journal
Tsui, J.I.; Radick, A.C.; Schramm, Z.A.; Blalock, K.; Klein, J.W.; Merrill, J.O.; Leroux, B.G.; Labelle, C.; Heerema, M.; Samet, J.H.; Kim, T.W.; Saxon, A.J.
In: Drug and Alcohol Dependence . (Drug and Alcohol Dependence, 1 October 2021, 227)
Conference
Loubet, N.; Hook, T.; Montanini, P.; Yeung, C.-W.; Kanakasabapathy, S.; Guillom, M.; Yamashita, T.; Zhang, J.; Miao, X.; Wang, J.; Young, A.; Chao, R.; Kang, M.; Liu, Z.; Fan, S.; Hamieh, B.; Sieg, S.; Mignot, Y.; Xu, W.; Seo, S.-C.; Yoo, J.; Mochizuki, S.; Sankarapandian, M.; Kwon, O.; Carr, A.; Greene, A.; Park, Y.; Frougier, J.; Galatage, R.; Bao, R.; Shearer, J.; Conti, R.; Song, H.; Lee, D.; Kong, D.; Xu, Y.; Arceo, A.; Bi, Z.; Xu, P.; Muthinti, R.; Li, J.; Wong, R.; Brown, D.; Oldiges, P.; Robison, R.; Arnold, J.; Felix, N.; Skordas, S.; Gaudiello, J.; Standaert, T.; Jagannathan, H.; Corliss, D.; Na, M.-H.; Knorr, A.; Wu, T.; Gupta, D.; Lian, S.; Divakaruni, R.; Gow, T.; Labelle, C.; Lee, S.; Paruchuri, V.; Bu, H.; Khare, M.
2017 Symposium on VLSI Technology VLSI Technology, 2017 Symposium on. :T230-T231 Jun, 2017
Conference
Lee, C. H.; Mochizuki, S.; Southwick, R. G.; Li, J.; Miao, X.; Bao, R.; Ando, T.; Galatage, R.; Siddiqui, S.; Labelle, C.; Knorr, A.; Stathis, J. H.; Guo, D.; Narayanan, V.; Haran, B.; Jagannathan, H.
2017 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2017 IEEE International. :37.2.1-37.2.4 Dec, 2017
Conference
Xie, R.; Montanini, P.; Akarvardar, K.; Tripathi, N.; Haran, B.; Johnson, S.; Hook, T.; Hamieh, B.; Corliss, D.; Wang, J.; Miao, X.; Sporre, J.; Fronheiser, J.; Loubet, N.; Sung, M.; Sieg, S.; Mochizuki, S.; Prindle, C.; Seo, S.; Greene, A.; Shearer, J.; Labonte, A.; Fan, S.; Liebmann, L.; Chao, R.; Arceo, A.; Chung, K.; Cheon, K.; Adusumilli, P.; Amanapu, H.P.; Bi, Z.; Cha, J.; Chen, H.-C.; Conti, R.; Galatage, R.; Gluschenkov, O.; Kamineni, V.; Kim, K.; Lee, C.; Lie, F.; Liu, Z.; Mehta, S.; Miller, E.; Niimi, H.; Niu, C.; Park, C.; Park, D.; Raymond, M.; Sahu, B.; Sankarapandian, M.; Siddiqui, S.; Southwick, R.; Sun, L.; Surisetty, C.; Tsai, S.; Whang, S.; Xu, P.; Xu, Y.; Yeh, C.; Zeitzoff, P.; Zhang, J.; Li, J.; Demarest, J.; Arnold, J.; Canaperi, D.; Dunn, D.; Felix, N.; Gupta, D.; Jagannathan, H.; Kanakasabapathy, S.; Kleemeier, W.; Labelle, C.; Mottura, M.; Oldiges, P.; Skordas, S.; Standaert, T.; Yamashita, T.; Colburn, M.; Na, M.; Paruchuri, V.; Lian, S.; Divakaruni, R.; Gow, T.; Lee, S.; Knorr, A.; Bu, H.; Khare, M.
2016 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2016 IEEE International. :2.7.1-2.7.4 Dec, 2016
Academic Journal
Bisaillon, R.; Moison, C.; Thiollier, C.; Krosl, J.; Bordeleau, M.-E.; Lehnertz, B.; Lavallée, V.-P.; MacRae, T.; Mayotte, N.; Labelle, C.; Boucher, G.; Spinella, J.-F.; Boivin, I.; Marinier, A.; Lemieux, S.; Hébert, J.; Sauvageau, G.; D’Angelo, G.; Lavallée, S.
In: Leukemia . (Leukemia, 1 January 2020, 34(1):63-74)
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[AR] Labelle, C.
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어