학술논문
'학술논문'
에서 검색결과 56건 | 목록
1~10
Academic Journal
Augur, R.; Child, C.; Ahn, J.H.; Tang, T.J.; Clevenger, L.; Kioussis, D.; Masuda, H.; Srivastava, R.; Oda, Y.; Oguma, H.; Quon, R.; Kim, B.; Sheng, H.; Hirooka, S.; Gupta, R.; Thomas, A.; Singh, S.M.; Fang, Q.; Schiwon, R.; Hamieh, B.; Wornyo, E.; Allen, S.; Kaltalioglu, E.; Ribes, G.; Zhang, G.; Fryxell, T.; Ogino, A.; Shimada, E.; Aizawa, H.; Minda, H.; Kim, S.O.; Oki, T.; Fujii, K.; Pallachalil, M.; Takewaki, T.; Hu, C.K.; Sundlof, B.; Permana, D.; Bolom, T.; Engel, B.; Labelle, C.; Sapp, B.; Nogami, T.; Simon, A.; Shobha, H.; Gates, S.; Ryan, E.T.; Bonilla, G.; Daubenspeck, T.; Shaw, T.; Osborne, G.; Grill, A.; Edelstein, D.; Restaino, D.; Molis, S.; Spooner, T.; Ferreira, P.; Biery, G.; Sampson, R.
In Microelectronic Engineering April 2012 92:42-44
Conference
Nogami, T.; He, M.; Zhang, X.; Tanwar, K.; Patlolla, R.; Kelly, J.; Rath, D.; Krishnan, M.; Lin, X.; Straten, O.; Shobha, H.; Li, J.; Madan, A.; Flaitz, P.; Parks, C.; Hu, C-K.; Penny, C.; Simon, A.; Bolom, T.; Maniscalco, J.; Canaperi, D.; Spooner, T.; Edelstein, D.
2013 IEEE International Interconnect Technology Conference - IITC Interconnect Technology Conference (IITC), 2013 IEEE International. :1-3 Jun, 2013
Conference
Chen, F.; Chanda, K.; Gill, J.; Angyal, M.; Demarest, J.; Sullivan, T.; Kontra, R.; Shinosky, M.; Li, J.; Economikos, L.; Hoinkis, M.; Lane, S.; McHerron, D.; Inohara, M.; Boettcher, S.; Dunn, D.; Fukasawa, M.; Zhang, B.C.; Ida, K.; Ema, T.; Lembach, G.; Kumar, K.; Lin, Y.; Maynard, H.; Urata, K.; Bolom, T.; Inoue, K.; Smith, J.; Ishikawa, Y.; Naujok, M.; Ong, P.; Sakamoto, A.; Hunt, D.; Aitken, J.
2005 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2005. Proceedings. 43rd Annual. Reliability physics Reliability Physics Symposium, 2005. Proceedings. 43rd Annual. 2005 IEEE International. :501-507 2005
Conference
Nogami, T.; Maniscalco, J.; Madan, A.; Flaitz, P.; DeHaven, P.; Parks, C.; Tai, L.; Lawrence, B. St.; Davis, R.; Murphy, R.; Shaw, T.; Cohen, S.; Hu, C-K.; Cabral, C.; Chiang, S.; Kelly, J.; Zaitz, M.; Schmatz, J.; Choi, S.; Tsumura, K.; Penny, C.; Chen, H-C.; Canaperi, D.; Vo, T.; Ito, F.; Straten, O.; Simon, A.; Rhee, S-H.; Kim, B-Y.; Bolom, T.; Ryan, V.; Ma, P.; Ren, J.; Aubuchon, J.; Fine, J.; Kozlowski, P.; Spooner, T.; Edelstein, D.
2010 IEEE International Interconnect Technology Conference Interconnect Technology Conference (IITC), 2010 International. :1-3 Jun, 2010
Academic Journal
Veprek, S. ; Niederhofer, A.; Moto, K.; Bolom, T.; Männling, H.-D.; Nesladek, P.; Dollinger, G.; Bergmaier, A.
In Surface & Coatings Technology 2000 133:152-159
Conference
Goldberg, C.; Park, S.H.; Kim, B.Y.; Law, S.B.; Hamieh, B.; Jung, J.; Kim, B.H.; Rhee, S.H.; Oh, M.; Mobley, M.; Laffosse, E.; Kim, A.; Thomas, A.; Malinge, P.; Fryxell, T.; Lim, K.J.; Park, I.S.; Bahierathan, B.; Wu, F.; Erenturk, B.; Jeon, W.C.; Choi, H.C.; Park, Y.J.; Kim, H.; Chen, T.Q.; Thibaut, S.; Niu, C.; Zhang, J.; Filippi, R.; Kaltalioglu, E.; Achanta, R.; Wang, P.-C.; Yang, H.; Geronimi, J.P.; Pagette, F.; Chauhan, V.; Ogino, A.; Srivastava, R.; Koshy, R.; Baumann, F.; Simon, A.; Nag, J.; Cheng, T.; Fitzsimmons, J.; Tseng, W.; Lin, Y.; Sun, Z.; Bolom, T.; Ko, T.-M.; Clevenger, L.; Kim, J; Sudijono, J.; Sampson, R.
2013 Symposium on VLSI Technology VLSI Technology (VLSIT), 2013 Symposium on. :T202-T203 Jun, 2013
Conference
Fischer, A.H.; Aubel, O.; Gill, J.; Lee, T.C.; Li, B.; Christiansen, C.; Chen, F.; Angyal, M.; Bolom, T.; Kaltalioglu, E.
2007 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings. 45th Annual Reliability physics symposium, 2007. proceedings. 45th annual. ieee international. :511-515 Apr, 2007
Conference
Sankaran, S.; Arai, S.; Augur, R.; Beck, M.; Biery, G.; Bolom, T.; Bonilla, G.; Bravo, O.; Chanda, K.; Chae, M.; Chen, F.; Clevenger, L.; Cohen, S.; Cowley, A.; Davis, P.; Demarest, J.; Doyle, J.; Dimitrakopoulos, C.; Economikos, L.; Edelstein, D.; Farooq, M.; Filippi, R.; Fitzsimmons, J.; Fuller, N.; Gates, S. M.; Greco, S. E.; Grill, A.; Grunow, S.; Hannon, R.; Ida, K.; Jung, D.; Kaltalioglu, E.; Kelling, M.; Ko, T.; Kumar, K.; Labelle, C.; Landis, H.; Lane, M.W.; Landers, W.; Lee, M.; Li, W.; Liniger, E.; Liu, X.; Lloyd, J. R.; Liu, W.; Lustig, N.; Malone, K.; Marokkey, S.; Matusiewicz, G.; McLaughlin, P. S.; McLaughlin, P. V.; Mehta, S.; Melville, I.; Miyata, K.; Moon, B.; Nitta, S.; Nguyen, D.; Nicholson, L.; Nielsen, D.; Ong, P.; Patel, K.; Patel, V.; Park, W.; Pellerin, J.; Ponoth, S.; Petrarca, K.; Rath, D.; Restaino, D.; Rhee, S.; Ryan, E.T.; Shoba, H.; Simon, A.; Simonyi, E.; Shaw, T.M.; Spooner, T.; Standaert, T.; Sucharitaves, J.; Tian, C.; Wendt, H.; Werking, J.; Widodo, J.; Wiggins, L.; Wisnieff, R.; Ivers, T.
2006 International Electron Devices Meeting Electron Devices Meeting, 2006. IEDM '06. International. :1-4 Dec, 2006
Conference
Simon, A.H.; Bolom, T.; Niu, C.; Baumann, F. H.; Hu, C.-K.; Parks, C.; Nag, J.; Kim, H.; Lee, J.Y.; Yang, C.-C.; Nguyen, S.; Shobha, H.K.; Nogami, T.; Guggilla, S.; Ren, J.; Sabens, D.; AuBuchon, J.F.
2013 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) Reliability Physics Symposium (IRPS), 2013 IEEE International. :3F.4.1-3F.4.6 Apr, 2013
Conference
Nogami, T.; Penny, C.; Madan, A.; Parks, C.; Li, J.; Flaitz, P.; Uedono, A.; Chiang, S.; He, M.; Simon, A.; Bolom, T.; Ryan, T.; Ito, F.; Christiansen, C.; Tai, L.; Hu, C-K.; Kim, H.; Zhang, X.; Tanwar, K.; Choi, S.; Baumann, F.; Davis, R.; Kelly, J.; Murphy, R.; Molis, S.; Rowland, J.; Dehaven, P.; Canaperi, D.; Spooner, T.; Edelstein, D.
2012 International Electron Devices Meeting Electron Devices Meeting (IEDM), 2012 IEEE International. :33.7.1-33.7.4 Dec, 2012
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[AR] Bolom, T.
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어