학술논문
'학술논문'
에서 검색결과 38건 | 목록
1~10
Conference
Paliwoda, P.; Rabie, M.A.; Restrepo, O.D.; Silva, E.C.; Kaltalioglu, E.; Guarin, F.; Barnett, K.; Johnson, J.; Taylor, W.; Boenke, M.; Min, B.
2020 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) Reliability Physics Symposium (IRPS), 2020 IEEE International. :1-5 Apr, 2020
Academic Journal
Augur, R.; Child, C.; Ahn, J.H.; Tang, T.J.; Clevenger, L.; Kioussis, D.; Masuda, H.; Srivastava, R.; Oda, Y.; Oguma, H.; Quon, R.; Kim, B.; Sheng, H.; Hirooka, S.; Gupta, R.; Thomas, A.; Singh, S.M.; Fang, Q.; Schiwon, R.; Hamieh, B.; Wornyo, E.; Allen, S.; Kaltalioglu, E.; Ribes, G.; Zhang, G.; Fryxell, T.; Ogino, A.; Shimada, E.; Aizawa, H.; Minda, H.; Kim, S.O.; Oki, T.; Fujii, K.; Pallachalil, M.; Takewaki, T.; Hu, C.K.; Sundlof, B.; Permana, D.; Bolom, T.; Engel, B.; Labelle, C.; Sapp, B.; Nogami, T.; Simon, A.; Shobha, H.; Gates, S.; Ryan, E.T.; Bonilla, G.; Daubenspeck, T.; Shaw, T.; Osborne, G.; Grill, A.; Edelstein, D.; Restaino, D.; Molis, S.; Spooner, T.; Ferreira, P.; Biery, G.; Sampson, R.
In Microelectronic Engineering April 2012 92:42-44
Conference
Steegen, A.; Mo, R.; Mann, R.; Sun, M.-C.; Eller, M.; Leake, G.; Vietzke, D.; Tilke, A.; Guarin, F.; Fischer, A.; Pompl, T.; Massey, G.; Vayshenker, A.; Tan, W.L.; Ebert, A.; Lin, W.; Gao, W.; Lian, J.; Kim, J.-P.; Wrschka, P.; Yang, J.-H.; Ajmera, A.; Knoefler, R.; Teh, Y.-W.; Jamin, F.; Park, J.E.; Hooper, K.; Griffin, C.; Nguyen, P.; Klee, V.; Ku, V.; Baiocco, C.; Johnson, G.; Tai, L.; Benedict, J.; Scheer, S.; Zhuang, H.; Ramanchandran, V.; Matusiewicz, G.; Lin, Y.-H.; Siew, Y.K.; Zhang, F.; Leong, L.S.; Liew, S.L.; park, K.C; Lee, K.-W.; Hong, D.H.; Choi, S.-M.; Kaltalioglu, E.; Kim, S.O.; Naujok, M.; Sherony, M.; Cowley, A.; Thomas, A.; Sudijohno, J.; Schiml, T.; Ku, J.-H.; Yang, I.
IEEE InternationalElectron Devices Meeting, 2005. IEDM Technical Digest. International Electron Devices Meeting 2005 Electron Devices Meeting, 2005. IEDM Technical Digest. IEEE International. :64-67 2005
Conference
Luo, Z.; Steegen, A.; Eller, M.; Mann, R.; Baiocco, C.; Nguyen, P.; Kim, L.; Hoinkis, M.; Ku, V.; Klee, V.; Jamin, F.; Wrschka, P.; Shafer, P.; Lin, W.; Fang, S.; Ajmera, A.; Tan, W.; Park, D.; Mo, R.; Lian, J.; Vietzke, D.; Coppock, C.; Vayshenker, A.; Hook, T.; Chan, V.; Kim, K.; Cowley, A.; Kim, S.; Kaltalioglu, E.; Zhang, B.; Marokkey, S.; Lin, Y.; Lee, K.; Zhu, H.; Weybright, M.; Rengarajan, R.; Ku, J.; Schiml, T.; Sudijono, J.; Yang, I.; Wann, C.
IEDM Technical Digest. IEEE International Electron Devices Meeting, 2004. Electron devices meeting Electron Devices Meeting, 2004. IEDM Technical Digest. IEEE International. :661-664 2004
Conference
Agarwala, B.; Armacost, M.; Biesemans, S.; Burrell, L.; Chen, B.; Han, K.; Harmon, D.; Heidenreich, J.; Holloway, K.; Hook, T.B.; Kapur, S.; Kebede, T.; Kiesling, D.; Kim, P.; Matusiewicz, G.; Lukaitis, J.; Nguyen, P.; Prabhakara, N.; Rauch, S.; Rovedo, N.; Saraf, L.; Slinkman, J.; Tang, H.; Wong, R.; Yankee, S.; Allers, K.; Augustin, A.; Brase, G.; Demm, E.; Derby, C.; Friese, G.; Grellner, F.; Kaltalioglu, E.; Hoinkis, M.; Lin, C.; Mahnkopf, R.; Prigge, O.; Schafbauer, T.; Schiml, T.; Schruefer, K.; Srinivasan, S.; Stetter, M.; Unger, G.; Zoeller, R.
29th European Solid-State Device Research Conference Solid-State Device Research Conference, 1999. Proceeding of the 29th European. 1:632-635 1999
Conference
Goldberg, C.; Park, S.H.; Kim, B.Y.; Law, S.B.; Hamieh, B.; Jung, J.; Kim, B.H.; Rhee, S.H.; Oh, M.; Mobley, M.; Laffosse, E.; Kim, A.; Thomas, A.; Malinge, P.; Fryxell, T.; Lim, K.J.; Park, I.S.; Bahierathan, B.; Wu, F.; Erenturk, B.; Jeon, W.C.; Choi, H.C.; Park, Y.J.; Kim, H.; Chen, T.Q.; Thibaut, S.; Niu, C.; Zhang, J.; Filippi, R.; Kaltalioglu, E.; Achanta, R.; Wang, P.-C.; Yang, H.; Geronimi, J.P.; Pagette, F.; Chauhan, V.; Ogino, A.; Srivastava, R.; Koshy, R.; Baumann, F.; Simon, A.; Nag, J.; Cheng, T.; Fitzsimmons, J.; Tseng, W.; Lin, Y.; Sun, Z.; Bolom, T.; Ko, T.-M.; Clevenger, L.; Kim, J; Sudijono, J.; Sampson, R.
2013 Symposium on VLSI Technology VLSI Technology (VLSIT), 2013 Symposium on. :T202-T203 Jun, 2013
Conference
Goldblatt, R.D.; Agarwala, B.; Anand, M.B.; Barth, E.P.; Biery, G.A.; Chen, Z.G.; Cohen, S.; Connolly, J.B.; Cowley, A.; Dalton, T.; Das, S.K.; Davis, C.R.; Deutsch, A.; DeWan, C.; Edelstein, D.C.; Emmi, P.A.; Faltermeier, C.G.; Fitzsimmons, J.A.; Hedrick, J.; Heidenreich, J.E.; Hu, C.K.; Hummel, J.P.; Jones, P.; Kaltalioglu, E.; Kastenmeier, B.E.; Krishnan, M.; Landers, W.F.; Liniger, E.; Liu, J.; Lustig, N.E.; Malhotra, S.; Manger, D.K.; McGahay, V.; Mih, R.; Nye, H.A.; Purushothaman, S.; Rathore, H.A.; Seo, S.C.; Shaw, T.M.; Simon, A.H.; Spooner, T.A.; Stetter, M.; Wachnik, R.A.; Ryan, J.G.
Proceedings of the IEEE 2000 International Interconnect Technology Conference (Cat. No.00EX407) Interconnect technology Interconnect Technology Conference, 2000. Proceedings of the IEEE 2000 International. :261-263 2000
Conference
Fischer, A.H.; Aubel, O.; Gill, J.; Lee, T.C.; Li, B.; Christiansen, C.; Chen, F.; Angyal, M.; Bolom, T.; Kaltalioglu, E.
2007 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings. 45th Annual Reliability physics symposium, 2007. proceedings. 45th annual. ieee international. :511-515 Apr, 2007
Conference
Sankaran, S.; Arai, S.; Augur, R.; Beck, M.; Biery, G.; Bolom, T.; Bonilla, G.; Bravo, O.; Chanda, K.; Chae, M.; Chen, F.; Clevenger, L.; Cohen, S.; Cowley, A.; Davis, P.; Demarest, J.; Doyle, J.; Dimitrakopoulos, C.; Economikos, L.; Edelstein, D.; Farooq, M.; Filippi, R.; Fitzsimmons, J.; Fuller, N.; Gates, S. M.; Greco, S. E.; Grill, A.; Grunow, S.; Hannon, R.; Ida, K.; Jung, D.; Kaltalioglu, E.; Kelling, M.; Ko, T.; Kumar, K.; Labelle, C.; Landis, H.; Lane, M.W.; Landers, W.; Lee, M.; Li, W.; Liniger, E.; Liu, X.; Lloyd, J. R.; Liu, W.; Lustig, N.; Malone, K.; Marokkey, S.; Matusiewicz, G.; McLaughlin, P. S.; McLaughlin, P. V.; Mehta, S.; Melville, I.; Miyata, K.; Moon, B.; Nitta, S.; Nguyen, D.; Nicholson, L.; Nielsen, D.; Ong, P.; Patel, K.; Patel, V.; Park, W.; Pellerin, J.; Ponoth, S.; Petrarca, K.; Rath, D.; Restaino, D.; Rhee, S.; Ryan, E.T.; Shoba, H.; Simon, A.; Simonyi, E.; Shaw, T.M.; Spooner, T.; Standaert, T.; Sucharitaves, J.; Tian, C.; Wendt, H.; Werking, J.; Widodo, J.; Wiggins, L.; Wisnieff, R.; Ivers, T.
2006 International Electron Devices Meeting Electron Devices Meeting, 2006. IEDM '06. International. :1-4 Dec, 2006
Conference
Chen, F.; Ungar, F.; Fischer, A.H.; Gill, J.; Chinthakindi, A.; Goebel, T.; Shinosky, M.; Coolbaugh, D.; Ramachandran, V.; Siew, Y.K.; Kaltalioglu, E.; Kim, S.O.; Park, K.
2006 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings Reliability Physics Symposium Proceedings, 2006. 44th Annual., IEEE International. :490-495 Mar, 2006
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[AR] Kaltalioglu, E.
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어