학술논문
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1~20
Academic Journal
In Solid State Electronics September 2019 159:77-82
Academic Journal
Pereira, A.S.N. ; de Streel, G. ; Planes, N. ; Haond, M. ; Giacomini, R. ; Flandre, D. ; Kilchytska, V.
In Solid State Electronics February 2017 128:67-71
Academic Journal
In Microelectronic Engineering 15 June 2016 159:9-16
Academic Journal
In Solid State Electronics April 2016 118:4-11
Academic Journal
Kazemi Esfeh, B. ; Kilchytska, V. ; Barral, V. ; Planes, N. ; Haond, M. ; Flandre, D. ; Raskin, J.-P.
In Solid State Electronics March 2016 117:130-137
Academic Journal
In Solid State Electronics January 2016 115 Part B:219-224
Academic Journal
Makovejev, S. ; Kazemi Esfeh, B. ; Barral, V. ; Planes, N. ; Haond, M. ; Flandre, D. ; Raskin, J.-P. ; Kilchytska, V.
In Solid State Electronics June 2015 108:47-52
Conference
Cacho, F.; Cathelin, P.; Hai, J.; Bouvot, S.; Nowakowski, J.; Martinez, M.; Debroucke, R.; Jean, S.; Paulin, R.; Antonijevic, J.; Federspiel, X.; Planes, N.; Papotto, G.; Parisi, A.; Finocchiaro, A.; Cavarra, A.; Castorina, A.; Nocera, C.; Palmisano, G.
2024 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2024 IEEE. :4B.3-1-4B.3-6 Apr, 2024
Academic Journal
Fenouillet-Beranger, C. ; Perreau, P. ; Benoist, T. ; Richier, C. ; Haendler, S. ; Pradelle, J. ; Bustos, J. ; Brun, P. ; Tosti, L. ; Weber, O. ; Andrieu, F. ; Orlando, B. ; Pellissier-Tanon, D. ; Abbate, F. ; Richard, C. ; Beneyton, R. ; Gregoire, M. ; Ducote, J. ; Gouraud, P. ; Margain, A. ; Borowiak, C. ; Bianchini, R. ; Planes, N. ; Gourvest, E. ; Bourdelle, K.K. ; Nguyen, B.Y. ; Poiroux, T. ; Skotnicki, T. ; Faynot, O. ; Boeuf, F.
In Solid State Electronics October 2013 88:15-20
Conference
2019 IEEE SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference (S3S) SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference (S3S), 2019 IEEE. :1-3 Oct, 2019
Academic Journal
Nyssens, L.; Halder, A.; Esfeh, B.K.; Planes, N.; Haond, M.; Flandre, D.; Raskin, J.; Kilchytska, V.
IEEE Journal of the Electron Devices Society IEEE J. Electron Devices Soc. Electron Devices Society, IEEE Journal of the. 8:789-796 2020
Academic Journal
IEEE Journal of the Electron Devices Society IEEE J. Electron Devices Soc. Electron Devices Society, IEEE Journal of the. 8:646-654 2020
Conference
2017 47th European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC) Solid-State Device Research Conference (ESSDERC), 2017 47th European. :148-151 Sep, 2017
Conference
Kilchytska, V.; Kazemi Esfeh, B.; Gimeno, C.; Parvais, B.; Planes, N.; Haond, M.; Raskin, J.-P.; Flandre, D.
2017 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EUROSOI-ULIS) Ultimate Integration on Silicon (EUROSOI-ULIS), 2017 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on. :128-131 Apr, 2017
Conference
2018 IEEE SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference (S3S) SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference (S3S), 2018 IEEE. :1-3 Oct, 2018
Conference
2018 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EUROSOI-ULIS) Ultimate Integration on Silicon (EUROSOI-ULIS), 2018 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on. :1-3 Mar, 2018
Academic Journal
IEEE Journal of the Electron Devices Society IEEE J. Electron Devices Soc. Electron Devices Society, IEEE Journal of the. 7:810-816 2019
Conference
Cavalcante, C.; Fenouillet-Beranger, C.; Batude, P.; Garros, X.; Federspiel, X.; Lacord, J.; Kerdiles, S.; Royet, A. S.; Acosta-Alba, P.; Rozeau, O.; Barral, V.; Arnaud, F.; Planes, N.; Sassoulas, P. O.; Ghegin, E.; Beneyton, R.; Gregoire, M.; Weber, O.; Guerin, C.; Arnaud, L.; Moreau, S.; Kies, R.; Romano, G.; Rambal, N.; Magalhaes, A.; Ghibaudo, G.; Colinge, J. P.; Vinet, M.; Andrieu, F.
2020 IEEE Symposium on VLSI Technology VLSI Technology, 2020 IEEE Symposium on. :1-2 Jun, 2020
Academic Journal
Tavel, B. ; Duriez, B. ; Gwoziecki, R. ; Basso, M.T. ; Julien, C. ; Ortolland, C. ; Laplanche, Y. ; Fox, R. ; Sabouret, E. ; Detcheverry, C. ; Boeuf, F. ; Morin, P. ; Barge, D. ; Bidaud, M. ; Biénacel, J. ; Garnier, P. ; Cooper, K. ; Chapon, J.D. ; Trouiller, Y. ; Belledent, J. ; Broekaart, M. ; Gouraud, P. ; Denais, M. ; Huard, V. ; Rochereau, K. ; Difrenza, R. ; Planes, N. ; Marin, M. ; Boret, S. ; Gloria, D. ; Vanbergue, S. ; Abramowitz, P. ; Vishnubhotla, L. ; Reber, D. ; Stolk, P. ; Woo, M. ; Arnaud, F.
In Solid State Electronics 2006 50(4):573-578
Conference
2017 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EUROSOI-ULIS) Ultimate Integration on Silicon (EUROSOI-ULIS), 2017 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on. :228-230 Apr, 2017
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