학술논문
'학술논문'
에서 검색결과 1,546건 | 목록
1~10
Conference
Liu, L.; Santermans, S.; Barge, D.; Delport, J.; Chaudhuri, A. Ray; Willems, K.; Ha, S.; Severi, S.; Van Dorpe, P.; Martens, K.
2023 International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2023 International. :1-4 Dec, 2023
Academic Journal
In Microelectronic Engineering 5 August 2017 180:56-64
Academic Journal
Glowacki, F.; Le Royer, C.; Morand, Y.; Pédini, J.-M.; Denneulin, T.; Cooper, D.; Barnes, J.-P.; Nguyen, P.; Rouchon, D.; Hartmann, J.-M.; Gourhant, O.; Baylac, E.; Campidelli, Y.; Barge, D.; Bonnin, O.; Schwarzenbach, W.
In Solid State Electronics July 2014 97:82-87
Academic Journal
Skrifvars, M.B.; Luethi, N.; Bailey, M.; Nichol, A.; Trapani, T.; Cooper, D.J.; French, C.; McArthur, C.; Arabi, Y.M.; Bendel, S.; Bellomo, R.; Newby, C.M.A.L.; Van Haren, F.; Spiller, S.; Nourse, M.; Brown, J.R.; Henderson, S.; Mehrtens, J.; Silverman, D.; Hutchinson, R.; Richards, B.; Tallott, M.; Field, J.; Skrifvars, M.; Vartiala, H.; Eliasson, M.; Koivikko, M.; Harrigan, P.; Hardie, M.; Tolfree, A.; Haddad, S.; Kishi, M.A.; Deeb, A.; Harbi, S.A.; Al-Swaidan, L.; Moammar, T.A.; Lingling, J.; Caliwag, S.; Richi, H.; Jandan, A.A.; Bendel, S.; Rahikainen, S.; Tam, V.; Robinson, J.; Tam, V.; Micallef, S.; Cole, L.; Weisbrodt, L.; Gresham, R.; Nikas, M.; Richie, A.; Strickland, R.; Rivett, J.; Kloeden, S.; O’Connor, S.; Cooper, D.; McAllister, R.; Barge, D.; Presneill, J.; Finfer, S.; Yarad, E.; Bird, S.; O’Connor, A.; Hammond, N.; Bass, F.; Boardman, M.; Waterson, S.; Gattas, D.; Buhr, H.; Nair, P.; Reynolds, C.; Tantau, R.; Board, J.; Vallance, S.; McCracken, P.; Young, M.; Gordon, G.; Reeves, S.; Brennan, S.; Young, P.; Hunt, A.; Beehre, N.; Smellie, H.; Nayyar, V.; Whitehead, C.; Kong, J.; Bonovas, G.; Whitehead, C.; Kong, J.; Bonovas, G.
In: Intensive Care Medicine . (Intensive Care Medicine, July 2023, 49(7):831-839)
Academic Journal
Soussou, A.; Leroux, C.; Rideau, D.; Toffoli, A.; Romano, G.; Saxod, O.; Bidal, G.; Barge, D.; Pellissier-Tanon, D.; Abbate, F.; Tavernier, C.; Reimbold, G.; Ghibaudo, G.
In Microelectronic Engineering September 2013 109:282-285
Report
Aprile, E.; Aalbers, J.; Agostini, F.; Alfonsi, M.; Althueser, L.; Amaro, F. D.; Antochi, V. C.; Angelino, E.; Angevaare, J. R.; Arneodo, F.; Barge, D.; Baudis, L.; Bauermeister, B.; Bellagamba, L.; Benabderrahmane, M. L.; Berger, T.; Breur, P. A.; Brown, A.; Brown, E.; Bruenner, S.; Bruno, G.; Budnik, R.; Capelli, C.; Cardoso, J. M. R.; Cichon, D.; Cimmino, B.; Clark, M.; Coderre, D.; Colijn, A. P.; Conrad, J.; Cussonneau, J. P.; Decowski, M. P.; Depoian, A.; Di Gangi, P.; Di Giovanni, A.; Di Stefano, R.; Diglio, S.; Elykov, A.; Eurin, G.; Ferella, A. D.; Fulgione, W.; Gaemers, P.; Gaior, R.; Rosso, A. Gallo; Galloway, M.; Gao, F.; Grandi, L.; Garbini, M.; Hasterok, C.; Hils, C.; Hiraide, K.; Hoetzsch, L.; Hogenbirk, E.; Howlett, J.; Iacovacci, M.; Itow, Y.; Joerg, F.; Kato, N.; Kazama, S.; Kobayashi, M.; Koltman, G.; Kopec, A.; Landsman, H.; Lang, R. F.; Levinson, L.; Lin, Q.; Lindemann, S.; Lindner, M.; Lombardi, F.; Lopes, J. A. M.; Fune, E. López; Macolino, C.; Mahlstedt, J.; Manenti, L.; Manfredini, A.; Marignetti, F.; Undagoitia, T. Marrodán; Martens, K.; Masbou, J.; Masson, D.; Mastroianni, S.; Messina, M.; Miuchi, K.; Molinario, A.; Morå, K.; Moriyama, S.; Mosbacher, Y.; Murra, M.; Naganoma, J.; Ni, K.; Oberlack, U.; Odgers, K.; Palacio, J.; Pelssers, B.; Peres, R.; Pienaar, J.; Pizzella, V.; Plante, G.; Qin, J.; Qiu, H.; García, D. Ramírez; Reichard, S.; Rocchetti, A.; Rupp, N.; Santos, J. M. F. dos; Sartorelli, G.; Šarčević, N.; Scheibelhut, M.; Schindler, S.; Schreiner, J.; Schulte, D.; Schumann, M.; Lavina, L. Scotto; Selvi, M.; Semeria, F.; Shagin, P.; Shockley, E.; Silva, M.; Simgen, H.; Takeda, A.; Therreau, C.; Thers, D.; Toschi, F.; Trinchero, G.; Tunnell, C.; Vargas, M.; Volta, G.; Wack, O.; Wang, H.; Wei, Y.; Weinheimer, C.; Weiss, M.; Wenz, D.; Westermann, J.; Wittweg, C.; Wulf, J.; Xu, Z.; Yamashita, M.; Ye, J.; Zavattini, G.; Zhang, Y.; Zhu, T.; Zopounidis, J. P.
Eur. Phys. J. C 81, 337 (2021)
Report
The XENON collaboration; Aprile, E.; Aalbers, J.; Agostini, F.; Alfonsi, M.; Althueser, L.; Amaro, F. D.; Antochi, V. C.; Angelino, E.; Angevaare, J. R.; Arneodo, F.; Barge, D.; Baudis, L.; Bauermeister, B.; Bellagamba, L.; Benabderrahmane, M. L.; Berger, T.; Brown, A.; Brown, E.; Bruenner, S.; Bruno, G.; Budnik, R.; Capelli, C.; Cardoso, J. M. R.; Cichon, D.; Cimmino, B.; Clark, M.; Coderre, D.; Colijn, A. P.; Conrad, J.; Cussonneau, J. P.; Decowski, M. P.; Depoian, A.; Di Gangi, P.; Di Giovanni, A.; Di Stefano, R.; Diglio, S.; Elykov, A.; Eurin, G.; Ferella, A. D.; Fulgione, W.; Gaemers, P.; Gaior, R.; Galloway, M.; Gao, F.; Grandi, L.; Hasterok, C.; Hils, C.; Hiraide, K.; Hoetzsch, L.; Howlett, J.; Iacovacci, M.; Itow, Y.; Joerg, F.; Kato, N.; Kazama, S.; Kobayashi, M.; Koltman, G.; Kopec, A.; Landsman, H.; Lang, R. F.; Levinson, L.; Lin, Q.; Lindemann, S.; Lindner, M.; Lombardi, F.; Long, J.; Lopes, J. A. M.; Fune, E. López; Macolino, C.; Mahlstedt, J.; Mancuso, A.; Manenti, L.; Manfredini, A.; Marignetti, F.; Undagoitia, T. Marrodán; Martens, K.; Masbou, J.; Masson, D.; Mastroianni, S.; Messina, M.; Miuchi, K.; Mizukoshi, K.; Molinario, A.; Morå, K.; Moriyama, S.; Mosbacher, Y.; Murra, M.; Naganoma, J.; Ni, K.; Oberlack, U.; Odgers, K.; Palacio, J.; Pelssers, B.; Peres, R.; Pienaar, J.; Pizzella, V.; Plante, G.; Qin, J.; Qiu, H.; García, D. Ramírez; Reichard, S.; Rocchetti, A.; Rupp, N.; Santos, J. M. F. dos; Sartorelli, G.; Šarčević, N.; Scheibelhut, M.; Schreiner, J.; Schulte, D.; Schumann, M.; Lavina, L. Scotto; Selvi, M.; Semeria, F.; Shagin, P.; Shockley, E.; Silva, M.; Simgen, H.; Takeda, A.; Therreau, C.; Thers, D.; Toschi, F.; Trinchero, G.; Tunnell, C.; Valerius, K.; Vargas, M.; Volta, G.; Wang, H.; Wei, Y.; Weinheimer, C.; Weiss, M.; Wenz, D.; Wittweg, C.; Xu, Z.; Yamashita, M.; Ye, J.; Zavattini, G.; Zhang, Y.; Zhu, T.; Zopounidis, J. P.
JCAP11(2020)031
Report
Aprile, E.; Aalbers, J.; Agostini, F.; Alfonsi, M.; Althueser, L.; Amaro, F. D.; Antochi, V. C.; Angelino, E.; Angevaare, J. R.; Arneodo, F.; Barge, D.; Baudis, L.; Bauermeister, B.; Bellagamba, L.; Benabderrahmane, M. L.; Berger, T.; Brown, A.; Brown, E.; Bruenner, S.; Bruno, G.; Budnik, R.; Capelli, C.; Cardoso, J. M. R.; Cichon, D.; Cimmino, B.; Clark, M.; Coderre, D.; Colijn, A. P.; Conrad, J.; Cussonneau, J. P.; Decowski, M. P.; Depoian, A.; Di Gangi, P.; Di Giovanni, A.; Di Stefano, R.; Diglio, S.; Elykov, A.; Eurin, G.; Ferella, A. D.; Fulgione, W.; Gaemers, P.; Gaior, R.; Galloway, M.; Gao, F.; Grandi, L.; Hasterok, C.; Hils, C.; Hiraide, K.; Hoetzsch, L.; Howlett, J.; Iacovacci, M.; Itow, Y.; Joerg, F.; Kato, N.; Kazama, S.; Kobayashi, M.; Koltman, G.; Kopec, A.; Landsman, H.; Lang, R. F.; Levinson, L.; Lin, Q.; Lindemann, S.; Lindner, M.; Lombardi, F.; Long, J.; Lopes, J. A. M.; Fune, E. López; Macolino, C.; Mahlstedt, J.; Mancuso, A.; Manenti, L.; Manfredini, A.; Marignetti, F.; Undagoitia, T. Marrodán; Martens, K.; Masbou, J.; Masson, D.; Mastroianni, S.; Messina, M.; Miuchi, K.; Mizukoshi, K.; Molinario, A.; Morå, K.; Moriyama, S.; Mosbacher, Y.; Murra, M.; Naganoma, J.; Ni, K.; Oberlack, U.; Odgers, K.; Palacio, J.; Pelssers, B.; Peres, R.; Pienaar, J.; Pizzella, V.; Plante, G.; Qin, J.; Qiu, H.; García, D. Ramírez; Reichard, S.; Rocchetti, A.; Rupp, N.; Santos, J. M. F. dos; Sartorelli, G.; Šarčević, N.; Scheibelhut, M.; Schreiner, J.; Schulte, D.; Schumann, M.; Lavina, L. Scotto; Selvi, M.; Semeria, F.; Shagin, P.; Shockley, E.; Silva, M.; Simgen, H.; Takeda, A.; Therreau, C.; Thers, D.; Toschi, F.; Trinchero, G.; Tunnell, C.; Vargas, M.; Volta, G.; Wang, H.; Wei, Y.; Weinheimer, C.; Weiss, M.; Wenz, D.; Wittweg, C.; Xu, Z.; Yamashita, M.; Ye, J.; Zavattini, G.; Zhang, Y.; Zhu, T.; Zopounidis, J. P.; Mougeot, X.
Phys. Rev. D 102, 072004 (2020)
Academic Journal
Aprile, E.; Aalbers, J.; Agostini, F.; Alfonsi, M.; Althueser, L.; Amaro, F. D.; Antochi, V. C.; Angelino, E.; Angevaare, J. R.; Arneodo, F.; Barge, D.; Baudis, L.; Bauermeister, B.; Bellagamba, L.; Benabderrahmane, M. L.; Berger, T.; Breur, P. A.; Brown, A.; Brown, E.; Bruenner, S.
Report
Aprile, E.; Aalbers, J.; Agostini, F.; Alfonsi, M.; Althueser, L.; Amaro, F. D.; Antochi, V. C.; Angelino, E.; Angevaare, J.; Arneodo, F.; Barge, D.; Baudis, L.; Bauermeister, B.; Bellagamba, L.; Benabderrahmane, M. L.; Berger, T.; Breur, P. A.; Brown, A.; Brown, E.; Bruenner, S.; Bruno, G.; Budnik, R.; Capelli, C.; Cardoso, J. M. R.; Cichon, D.; Cimmino, B.; Clark, M.; Coderre, D.; Colijn, A. P.; Conrad, J.; Cussonneau, J. P.; Decowski, M. P.; Di Stefano, A. Depoian P. Di Gangi A. Di Giovanni R.; Diglio, S.; Elykov, A.; Eurin, G.; Ferella, A. D.; Fulgione, W.; Gaemers, P.; Gaior, R.; Rosso, A. Gallo; Galloway, M.; Gao, F.; Garbini, M.; Grandi, L.; Hasterok, C.; Hils, C.; Hiraide, K.; Hoetzsch, L.; Hogenbirk, E.; Howlett, J.; Iacovacci, M.; Itow, Y.; Joerg, F.; Kato, N.; Kazama, S.; Kobayashi, M.; Koltman, G.; Kopec, A.; Landsman, H.; Lang, R. F.; Levinson, L.; Lin, Q.; Lindemann, S.; Lindner, M.; Lombardi, F.; Lopes, J. A. M.; Fune, E. López; Macolino, C.; Mahlstedt, J.; Manenti, L.; Manfredini, A.; Marignetti, F.; Undagoitia, T. Marrodán; Martens, K.; Masbou, J.; Masson, D.; Mastroianni, S.; Messina, M.; Miuchi, K.; Molinario, A.; Morå, K.; Moriyama, S.; Mosbacher, Y.; Murra, M.; Naganoma, J.; Ni, K.; Oberlack, U.; Odgers, K.; Palacio, J.; Pelssers, B.; Peres, R.; Pienaar, J.; Pizzella, V.; Qin, G. Plante J.; Qiu, H.; García, D. Ramírez; Reichard, S.; Rocchetti, A.; Rupp, N.; Santos, J. M. F. dos; Sartorelli, G.; Šarčević, N.; Scheibelhut, M.; Schindler, S.; Schreiner, J.; Schulte, D.; Schumann, M.; Lavina, L. Scotto; Selvi, M.; Semeria, F.; Shagin, P.; Shockley, E.; Silva, M.; Simgen, H.; Takeda, A.; Therreau, C.; Thers, D.; Toschi, F.; Trinchero, G.; Tunnell, C.; Vargas, M.; Volta, G.; Wack, O.; Wang, H.; Wei, Y.; Weinheimer, C.; Xu, M. Weiss; Wenz, D.; Wittweg, C.; Wulf, J.; Xu, Z.; Yamashita, M.; Ye, J.; Zavattini, G.; Zhang, Y.; Zhu, T.; Zopounidis, J. P.
Eur. Phys. J. C 80, 785 (2020)
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[AR] Barge, D.
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어