학술논문
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1~20
Conference
Difrenza, R.; Rochereau, K.; Devoivre, T.; Tavel, B.; Duriez, B.; Roy, D.; Jullian, S.; Dezzani, A.; Boulestin, R.; Stolk, P.; Arnaud, F.
Proceedings of the 2005 International Conference on Microelectronic Test Structures, 2005. ICMTS 2005. Microelectronic Test Structures Microelectronic Test Structures, 2005. ICMTS 2005. Proceedings of the 2005 International Conference on. :137-142 2005
Conference
Tavel, B.; Duriez, B.; Gwoziecki, R.; Basso, M.T.; Julien, C.; Ortolland, C.; Laplanche, Y.; Fox, R.; Saboure, E.; Detcheverry, C.; Boeuf, F.; Morin, P.; Barge, D.; Bidaud, M.; Bienacel, J.; Garnier, P.; Cooper, K.; Chapon, J.D.; Trouille, Y.; Belledent, J.; Broekaart, M.; Gouraud, P.; Denais, M.; Huard, V.; Rochereau, K.; Difrenza, R.; Planes, N.; Marin, M.; Boret, S.; Gloria, D.; Vanbergue, S.; Abramowitz, P.; Vishnubhotla, L.; Reber, D.; Stolk, P.; Woo, M.; Arnaud, F.
Proceedings of 35th European Solid-State Device Research Conference, 2005. ESSDERC 2005. Solid-State Device Research Conference Solid-State Device Research Conference, 2005. ESSDERC 2005. Proceedings of 35th European. :423-426 2005
Conference
Duriez, B.; Tavel, B.; Boeuf, R.; Basso, M.T.; Laplanche, Y.; Ortolland, C.; Reber, D.; Wacquant, R.; Morin, P.; Lenoble, D.; Palla, R.; Bidaud, M.; Barge, D.; Dachs, C.; Brut, H.; Roy, D.; Marin, M.; Payet, F.; Cagnat, N.; Difrenza, R.; Rochereau, K.; Denais, M.; Stolk, P.; Woo, M.; Arnaud, F.
IEDM Technical Digest. IEEE International Electron Devices Meeting, 2004. Electron devices meeting Electron Devices Meeting, 2004. IEDM Technical Digest. IEEE International. :847-850 2004
Conference
Proceedings of the 2002 International Conference on Microelectronic Test Structures, 2002. ICMTS 2002. Microelectronic test structures Microelectronic Test Structures, 2002. ICMTS 2002. Proceedings of the 2002 International Conference on. :241-246 2002
Conference
Proceedings of the Bipolar/BiCMOS Circuits and Technology Meeting, 2005. Biopolar/BiCMOS Circuits and Technology Bipolar/BiCMOS Circuits and Technology Meeting, 2005. Proceedings of the. :62-65 2005
Conference
Duriez, B.; Morin, P.; Tavel, B.; Froment, B.; Gouraud, P.; Roy, D.; Rochereau, K.; Difrenza, R.; Margin, A.; Denais, M.; Bidaud, M.; Stolk, P.; Woo, M.; Arnaud, F.
Proceedings of the 30th European Solid-State Circuits Conference (IEEE Cat. No.04EX850) Solid-state device research conference Solid-State Device Research Conference, 2004. ESSDERC 2004. Proceeding of the 34th European. :197-200 2004
Conference
Proceedings of the 2004 International Conference on Microelectronic Test Structures (IEEE Cat. No.04CH37516) Microelectronic test structures Microelectronic Test Structures, 2004. Proceedings. ICMTS '04. The International Conference on. :123-126 2004
Conference
International Conference on Microelectronic Test Structures, 2003. Microelectronic test structures Microelectronic Test Structures, 2003. International Conference on. :244-249 2003
Conference
Croon, J.A.; Tuinhout, H.P.; Difrenza, R.; Knol, J.; Moonen, A.J.; Decoutere, S.; Maes, H.E.; Sansen, W.
Proceedings of the 2002 International Conference on Microelectronic Test Structures, 2002. ICMTS 2002. Microelectronic test structures Microelectronic Test Structures, 2002. ICMTS 2002. Proceedings of the 2002 International Conference on. :235-240 2002
Conference
ICMTS 2001. Proceedings of the 2001 International Conference on Microelectronic Test Structures (Cat. No.01CH37153) Microelectronic test structures Microelectronic Test Structures, 2001. ICMTS 2001. Proceedings of the 2001 International Conference on. :7-10 2001
Conference
31st European Solid-State Device Research Conference Solid-State Device Research Conference, 2001. Proceeding of the 31st European. :299-302 2001
Conference
30th European Solid-State Device Research Conference Solid-State Device Research Conference, 2000. Proceeding of the 30th European. :584-587 2000
Conference
Arnaud, F.; Duriez, B.; Tavel, B.; Pain, L.; Todeschini, J.; Jurdit, M.; Laplanche, Y.; Boeuf, F.; Salvetti, F.; Lenoble, D.; Reynard, J.P.; Wacquant, F.; Morin, P.; Emonet, N.; Barge, D.; Bidaud, M.; Ceccarelli, D.; Vannier, P.; Loquet, Y.; Leninger, H.; Judong, F.; Perrot, C.; Guilmeau, I.; Palla, R.; Beverina, A.; DeJonghe, V.; Broekaart, M.; Vachellerie, V.; Bianchi, R.A.; Borot, B.; Devoivre, T.; Bicais, N.; Roy, D.; Denais, M.; Rochereau, K.; Difrenza, R.; Planes, N.; Brut, H.; Vishnobulta, L.; Reber, D.; Stolk, P.; Woo, M.
Digest of Technical Papers. 2004 Symposium on VLSI Technology, 2004. VLSI technology VLSI Technology, 2004. Digest of Technical Papers. 2004 Symposium on. :10-11 2004
Conference
Tavel, B.; Bidaud, M.; Emonet, N.; Barge, D.; Planes, N.; Brut, H.; Roy, D.; Vildeuil, J.C.; Difrenza, R.; Rochereau, K.; Denais, M.; Huard, V.; Llinares, P.; Bruyere, S.; Parthasarthy, C.; Revil, N.; Pantel, R.; Guyader, F.; Vishnubotla, L.; Barla, K.; Arnaud, F.; Stolk, P.; Woo, M.
IEEE International Electron Devices Meeting 2003 Electron devices IEDM'03 Electron Devices Meeting, 2003. IEDM '03 Technical Digest. IEEE International. :27.6.1-27.6.4 2003
Academic Journal
Tavel, B. ; Duriez, B. ; Gwoziecki, R. ; Basso, M.T. ; Julien, C. ; Ortolland, C. ; Laplanche, Y. ; Fox, R. ; Sabouret, E. ; Detcheverry, C. ; Boeuf, F. ; Morin, P. ; Barge, D. ; Bidaud, M. ; Biénacel, J. ; Garnier, P. ; Cooper, K. ; Chapon, J.D. ; Trouiller, Y. ; Belledent, J. ; Broekaart, M. ; Gouraud, P. ; Denais, M. ; Huard, V. ; Rochereau, K. ; Difrenza, R. ; Planes, N. ; Marin, M. ; Boret, S. ; Gloria, D. ; Vanbergue, S. ; Abramowitz, P. ; Vishnubhotla, L. ; Reber, D. ; Stolk, P. ; Woo, M. ; Arnaud, F.
In Solid State Electronics 2006 50(4):573-578
Conference
In: IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures . (IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures, 2004, :123-126)
Conference
Duriez, B.; Tavel, B.; Ortolland, C.; Bidaud, M.; Barge, D.; Dachs, C.; Rochereau, K.; Stolk, P.; Boeuf, F.; Basso, M.T.; Laplanche, Y.; Wacquant, F.; Morin, P.; Lenoble, D.; Palla, R.; Brut, H.; Roy, D.; Marin, M.; Payet, F.; Cagnat, N.; Difrenza, R.; Denais, M.; Arnaud, F.; Reber, D.; Woo, M.
In: Technical Digest - International Electron Devices Meeting, IEDM , Technical Digest - IEEE International Electron Devices Meeting, 2004 IEDM (50th Annual Meeting). (Technical Digest - International Electron Devices Meeting, IEDM, 2004, :847-850)
Academic Journal
Solid State Electronics. April, 2006, Vol. 50 Issue 4, p573, 6 p.
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