학술논문
'학술논문'
에서 검색결과 26건 | 목록
1~10
Conference
Shaw, T.M.; Liu, X-H; Misra, E.; Questad, D.; Bonilla, G.; Wassick, T.; Lamorey, M.; Shobha, H.; Osborne, G.; Kioussis, D.; Wright, J.; Bisson, R.; Paquin, I.; Bouchard, S.S.; Tetreault, S.; Stone, D.; Muzzy, C.; Sundlof, B.; Daubenspeck, T.
2015 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW) Integrated Reliability Workshop (IIRW), 2015 IEEE International. :115-118 Oct, 2015
Conference
Edelstein, D.; Rathore, H.; Davis, C.; Clevenger, L.; Cowley, A.; Nogami, T.; Agarwala, B.; Arai, S.; Carbone, A.; Chanda, K.; Chen, F.; Cohen, S.; Cote, W.; Cullinan, M.; Dalton, T.; Das, S.; Davis, P.; Demarest, J.; Dunn, D.; Dziobkowski, C.; Filippi, R.; Fitzsimmons, J.; Flaitz, P.; Gates, S.; Gill, J.; Grill, A.; Hawken, D.; Ida, K.; Klaus, D.; Klymko, N.; Lane, M.; Lane, S.; Lee, J.; Landers, W.; Li, W.-K.; Lin, Y.-H.; Liniger, E.; Liu, X.-H.; Madan, A.; Malhotra, S.; Martin, J.; Molis, S.; Muzzy, C.; Nguyen, D.; Nguyen, S.; Ono, M.; Parks, C.; Questad, D.; Restaino, D.; Sakamoto, A.; Shaw, T.; Shimooka, Y.; Simon, A.; Simonyi, E.; Swift, A.; Van Kleeck, T.; Vogt, S.; Wang, Y.-Y.; Wille, W.; Wright, J.; Yang, C.-C.; Yoon, M.; Ivers, T.
2004 IEEE International Reliability Physics Symposium. Proceedings Reliability physics Reliability Physics Symposium Proceedings, 2004. 42nd Annual. 2004 IEEE International. :316-319 2004
Conference
Shaw, T. M.; Liu, X-H; Misra, E.; Questad, D.; Bonilla, G.; Wassick, T.; Shobha, H.; Smith, K.; Osborne, G.; Kioussis, D.; Wright, J.; Bisson, R.; Paquin, I.; Lamorey, M.; Bouchard, S. S.; Tetreault, S.; Stone, D.; Muzzy, C.; Sundlof, B.; Daubenspeck, T.
2016 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) Reliability Physics Symposium (IRPS), 2016 IEEE International. :6B-4-1-6B-4-6 Apr, 2016
Conference
McGahay, V.; Bonilla, G.; Chen, F.; Christiansen, C.; Cohen, S.; Cullinan-Scholl, M.; Demarest, J.; Dunn, D.; Engel, B.; Fitzsimmons, J.; Gill, J.; Grunow, S.; Herbst, B.; Hichri, H.; Ida, K.; Klymko, N.; Kiene, M.; Labelle, C.; Lee, T.; Liniger, E.; Liu, X.H.; Madan, A.; Malone, K.; Martin, J.; McLaughlin, P.V.; Minami, M.; Molis, S.; Muzzy, C.; Nguyen, S.; Patel, J.C.; Restaino, D.; Sakamoto, A.; Shaw, T.M.; Shimooka, Y.; Shobha, H.; Simonyi, E.; Widodo, J.; Grill, A.; Hannon, R.; Lane, M.; Nye, H.; Spooner, T.; Wisnieff, R.; Ivers, T.
2006 International Interconnect Technology Conference Interconnect Technology Conference, 2006 International. :9-11 2006
Conference
Iijima, T.; Lin, Q.; Chen, S.; Labelle, C.; Fuller, N.; Ponoth, S.; Cohen, S.; Lloyd, J.; Dunn, D.; Muzzy, C.; Gill, J.; Nitta, S.; McGahay, V.; Tyberg, C.; Spooner, T.; Nye, H.
2006 International Interconnect Technology Conference Interconnect Technology Conference, 2006 International. :21-23 2006
Conference
Landers, W.; Edelstein, D.; Clevenger, L.; Das, C.; Yang, C.-C.; Aoki, T.; Beaulieu, F.; Casey, J.; Cowley, A.; Cullinan, M.; Daubenspeck, T.; Davis, C.; Demarest, J.; Duchesne, E.; Guerin, L.; Hawken, D.; Ivers, T.; Lane, M.; Liu, X.; Lombardi, T.; McCarthy, C.; Muzzy, C.; Nadeau-Filteau, J.; Questad, D.; Sauter, W.; Shaw, T.; Wright, J.
Proceedings of the IEEE 2004 International Interconnect Technology Conference (IEEE Cat. No.04TH8729) Interconnect technology Interconnect Technology Conference, 2004. Proceedings of the IEEE 2004 International. :108-110 2004
Conference
Edelstein, D.; Davis, C.; Clevenger, L.; Yoon, M.; Cowley, A.; Nogami, T.; Rathore, H.; Agarwala, B.; Arai, S.; Carbone, A.; Chanda, K.; Cohen, S.; Cote, W.; Cullinan, M.; Dalton, T.; Das, S.; Davis, P.; Demarest, J.; Dunn, D.; Dziobkowski, C.; Filippi, R.; Fitzsimmons, J.; Flaitz, P.; Gates, S.; Gill, J.; Grill, A.; Hawken, D.; Ida, K.; Klaus, D.; Klymko, N.; Lane, M.; Lane, S.; Lee, J.; Landers, W.; Li, W.-K.; Lin, Y.-H.; Liniger, E.; Liu, X.-H.; Madan, A.; Malhotra, S.; Martin, J.; Molis, S.; Muzzy, C.; Nguyen, D.; Nguyen, S.; Ono, M.; Parks, C.; Questad, D.; Restaino, D.; Sakamoto, A.; Shaw, T.; Shimooka, Y.; Simon, A.; Simonyi, E.; Tempest, S.; Van Kleeck, T.; Vogt, S.; Wang, Y.-Y.; Wille, W.; Wright, J.; Yang, C.-C.; Ivers, T.
Proceedings of the IEEE 2004 International Interconnect Technology Conference (IEEE Cat. No.04TH8729) Interconnect technology Interconnect Technology Conference, 2004. Proceedings of the IEEE 2004 International. :214-216 2004
Conference
Lee, W.-H.; Waite, A.; Nii, H.; Nayfeh, H.M.; McGahay, V.; Nakayama, H.; Fried, D.; Chen, H.; Black, L.; Bolam, R.; Cheng, J.; Chidambarrao, D.; Christiansen, C.; Cullinan-Scholl, M.; Davies, D.R.; Domenicucci, A.; Fisher, P.; Fitzsimmons, J.; Gill, J.; Gribelyuk, M.; Harmon, D.; Holt, J.; Ida, K.; Kiene, M.; Kluth, J.; Labelle, C.; Madan, A.; Malone, K.; McLaughlin, P.V.; Minami, M.; Mocuta, D.; Murphy, R.; Muzzy, C.; Newport, M.; Panda, S.; Peidous, I.; Sakamoto, A.; Sato, T.; Sudo, G.; VanMeer, H.; Yamashita, T.; Zhu, H.; Agnello, P.; Bronner, G.; Freeman, G.; Huang, S.-F.; Ivers, T.; Luning, S.; Miyamoto, K.; Nye, H.; Pellerin, J.; Rim, K.; Schepis, D.; Spooner, T.; Chen, X.; Khare, M.; Horstmann, M.; Wei, A.; Kammler, T.; Hontschel, J.; Bierstedt, H.; Engelmann, H.-J.; Hellmich, A.; Hempel, K.; Koerner, G.; Neu, A.; Otterbach, R.; Reichel, C.; Trentsch, M.; Press, P.; Frohberg, K.; Schaller, M.; Salz, H.; Hohage, J.; Ruelke, H.; Klais, J.; Raab, M.; Greenlaw, D.; Kepler, N.
IEEE InternationalElectron Devices Meeting, 2005. IEDM Technical Digest. International Electron Devices Meeting 2005 Electron Devices Meeting, 2005. IEDM Technical Digest. IEEE International. :4 pp.-59 2005
Conference
Muzzy, C.; Danovitch, D.; Gagnon, H.; Hannon, R.; Kinser, E.; McLaughlin, P.V.; Mongeau, G.; Quintal, J.-G.; Sylvestre, J.; Turcotte, E.; Wright, J.
2008 58th Electronic Components & Technology Conference; 2008, p1472-1475, 4p
Conference
Shaw, T.M.; Liu, X.-H.; Bonilla, G.; Misra, E.; Questad, D.; Wassick, T.; Kioussis, D.; Sundlof, B.; Lamorey, M.; Osborne, G.; Wright, J.; Stone, D.; Muzzy, C.; Daubenspeck, T.; Shobha, H.; Bisson, R.; Paquin, I.; Bouchard, S.S.; Tetreault, S.
In: IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report , 2015 IEEE International Integrated Reliability Workshop: Final Report, IIRW 2015. (IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report, 18 March 2016, 2016-March:115-118)
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[AR] Muzzy, C.
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어