학술논문
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Batude, P.; Brunet, L.; Fenouillet-Beranger, C.; Andrieu, F.; Colinge, J.-P.; Lattard, D.; Vianello, E.; Thuries, S.; Billoint, O.; Vivet, P.; Santos, C.; Mathieu, B.; Sklenard, B.; Lu, C.-M. V.; Micout, J.; Deprat, F.; Mercado, E. Avelar; Ponthenier, F.; Rambal, N.; Samson, M.-P.; Casse, M.; Hentz, S.; Arcamone, J.; Sicard, G.; Hutin, L.; Pasini, L.; Ayres, A.; Rozeau, O.; Berthelon, R.; Nemouchi, F.; Rodriguez, P.; Pin, J.-B.; Larmagnac, D.; Duboust, A.; Ripoche, V.; Barraud, S.; Allouti, N.; Barnola, S.; Vizioz, C.; Hartmann, J.-M.; Kerdiles, S.; Alba, P. Acosta; Beaurepaire, S.; Beugin, V.; Fournel, F.; Besson, P.; Loup, V.; Gassilloud, R.; Martin, F.; Garros, X.; Mazen, F.; Previtali, B.; Euvrard-Colnat, C.; Balan, V.; Comboroure, C.; Zussy, M.; Mazzocchi; Faynot, O.; Vinet, M.
2017 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2017 IEEE International. :3.1.1-3.1.4 Dec, 2017
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[AR] Mercado, E. Avelar
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