학술논문
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1~10
Academic Journal
A. Redaelli; A. Gandolfo; G. Samanni; E. Gomiero; E. Petroni; L. Scotti; A. Lippiello; P. Mattavelli; J. Jasse; D. Codegoni; A. Serafini; R. Ranica; C. Boccaccio; J. Sandrini; R. Berthelon; J.-C. Grenier; O. Weber; D. Turgis; A. Valery; S. Del Medico; V. Caubet; J.-P. Reynard; D. Dutartre; L. Favennec; A. Conte; F. Disegni; M. De Tomasi; A. Ventre; M. Baldo; D. Ielmini; A. Maurelli; P. Ferreira; F. Arnaud; F. Piazza; P. Cappelletti; R. Annunziata; R. Gonella
IEEE Journal of the Electron Devices Society, Vol 10, Pp 563-568 (2022)
Academic Journal
Redaelli, A.; Gandolfo, A.; Samanni, G.; Gomiero, E.; Petroni, E.; Scotti, L.; Lippiello, A.; Mattavelli, P.; Jasse, J.; Annunziata, R.; Codegoni, D.; Serafini, A.; Ranica, R.; Boccaccio, C.; Sandrini, J.; Berthelon, R.; Grenier, J.-C.; Weber, O.; Turgis, D.; Valery, A.; Del Medico, S.; Caubet, V.; Reynard, J.-P.; Dutartre, D.; Favennec, L.; Ferreira, P.; Arnaud, F.; Piazza, F.; Gonella, R.; Conte, A.; Disegni, F.; De Tomasi, M.; Maurelli, A.; Ventre, A.; Baldo, M.; Ielmini, D.; Cappelletti, P.
In: IEEE Journal of the Electron Devices Society . (IEEE Journal of the Electron Devices Society, 2022, 10:563-568)
Academic Journal
Boumchedda, R.; Turgis, D.; Makosiej, A.; Noel, J.-P.; Giraud, B.; Christmann, J.-F.; Miro-Panades, I.; Ciampolini, L.; Royer, P.; Mounet, C.; Beigne, E.
In: IEEE Solid-State Circuits Letters . (IEEE Solid-State Circuits Letters, September 2018, 1(9):186-189)
Academic Journal
Grover, A.; Parthasarathy, C.R.; Daud, M.; Kumar, P.; Azmi, S.; Visweswaran, G.S.; Turgis, D.; Flatresse, P.; Giraud, B.; Noel, J.-P.; Miro-Panades, I.; Moritz, G.; Beigne, E.
In: IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers . (IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers, September 2017, 64(9):2438-2447)
Academic Journal
In: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems . (IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, August 2017, 25(8):2296-2306)
Academic Journal
In: Solid-State Electronics . (Solid-State Electronics, April 2015, 106:1-11)
Conference
Ranica, R.; Berthelon, R.; Sandrini, J.; Querre, M.; Le-Friec, Y.; Poulet, J.; Caubet, V.; Favennec, L.; Boccaccio, C.; Ghezzi, G.; Gallon, C.; Grenier, J.C.; Dumont, B.; Weber, O.; Villaret, A.; Beneyton, R.; Cherault, N.; Ristoiu, D.; Del Medico, S.; Kermarrec, O.; Reynard, J.P.; Chouteau, S.; Sassoulas, P.O.; Clement, L.; Valery, A.; Turgis, D.; Lippiello, A.; Scotti, L.; Arnaud, F.; Piazza, F.; Ferreira, P.; Gonella, R.; Ciantar, E.; Gandolfo, A.; Samanni, G.; Gomiero, E.; Jasse, J.; Mattavelli, P.; Petroni, E.; Disegni, F.; Ventre, A.; Ornaghi, D.; De Tomasi, M.; Maurelli, A.; Redaelli, A.; Annunziata, R.; Cappelletti, P.; Boivin, P.; Conte, A.; Souhaite, A.; Desvoivres, L.
In: Technical Digest - International Electron Devices Meeting, IEDM , 2021 IEEE International Electron Devices Meeting, IEDM 2021. (Technical Digest - International Electron Devices Meeting, IEDM, 2021, 2021-December:28.1.1-28.1.4)
Conference
Redaelli, A.; Gandolfo, A.; Samanni, G.; Gomiero, E.; Petroni, E.; Scotti, L.; Lippiello, A.; Mattavelli, P.; Jasse, J.; Codegoni, D.; Serafini, A.; Ranica, R.; Boccaccio, C.; Sandrini, J.; Berthelon, R.; Grenier, J.C.; Weber, O.; Turgis, D.; Valery, A.; Del Medico, S.; Caubet, V.; Reynard, J.P.; Dutartre, D.; Favennec, L.; Conte, A.; Disegni, F.; De Tomasi, M.; Ventre, A.; Baldo, M.; Ielmini, D.; Maurelli, A.; Ferreira, P.; Arnaud, F.; Piazza, F.; Cappelletti, P.; Annunziata, R.; Gonella, R.
In: European Solid-State Device Research Conference , ESSDERC 2021 - IEEE 51st European Solid-State Device Research Conference, Proceedings. (European Solid-State Device Research Conference, 2021, 2021-September:231-234)
Conference
Weber, O.; Pigot, C.; Berthelon, R.; Richard, E.; Grenier, J.C.; Ranica, R.; Chouteau, S.; Beneyton, R.; Duclaux, B.; Beylier, C.; Pelissier, D.; Gallon, C.; Toulouse, C.; Jenny, C.; Croisy, M.; Borowiak, C.; Haendler, S.; Ogier, J.L.; Batail, E.; Gilibert, F.; Turgis, D.; Piazza, F.; Ferreira, P.; Arnaud, F.; Gandolfo, A.; Mattavelli, P.; Jasse, J.; Samanni, G.; Gomiero, E.; Disegni, F.; Redaelli, A.; Annunziata, R.; Cappelletti, P.; Boivin, P.; Conte, A.
In: Digest of Technical Papers - Symposium on VLSI Technology , 2021 Symposium on VLSI Technology, VLSI Technology 2021. (Digest of Technical Papers - Symposium on VLSI Technology, 2021, 2021-June)
High density embedded PCM cell in 28nm FDSOI technology for automotive micro-controller applications
Conference
Arnaud, F.; Ferreira, P.; Piazza, F.; Reynard, J.P.; Berthelon, R.; Weber, O.; Villaret, A.; Dumont, B.; Grenier, J.C.; Ranica, R.; Gallon, C.; Boccaccio, C.; Souhaite, A.; Ristoiu, D.; Favennec, L.; Caubet, V.; Delmedico, S.; Cherault, N.; Beneyton, R.; Chouteau, S.; Sassoulas, P.O.; Clement, L.; Turgis, D.; Ogier, J.L.; Federspiel, X.; Kermarrec, O.; Ciantar, E.; Gandolfo, A.; Zuliani, P.; Mattavelli, P.; Gomiero, E.; Samanni, G.; Jasse, J.; Disegni, F.; Annunziata, R.; Maurelli, A.; Cappelletti, P.; Boivin, P.; Molgg, M.; Viscuso, A.; Jahan, C.; Desvoivres, L.
In: Technical Digest - International Electron Devices Meeting, IEDM , 2020 IEEE International Electron Devices Meeting, IEDM 2020. (Technical Digest - International Electron Devices Meeting, IEDM, 12 December 2020, 2020-December:24.2.1-24.2.4)
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