학술논문
전자자료 공정이용 안내
우리 대학 도서관에서 구독·제공하는 모든 전자자료(데이터베이스, 전자저널, 전자책 등)는 국내외 저작권법과 출판사와의 라이선스 계약에 따라 엄격하게 보호를 받고 있습니다.
전자자료의 비정상적 이용은 출판사로부터의 경고, 서비스 차단, 손해배상 청구 등 학교 전체에 심각한 불이익을 초래할 수 있으므로, 아래의 공정이용 지침을 반드시 준수해 주시기 바랍니다.
공정이용 지침
- 전자자료는 개인의 학습·교육·연구 목적의 비영리적 사용에 한하여 이용할 수 있습니다.
- 합리적인 수준의 다운로드 및 출력만 허용됩니다. (일반적으로 동일 PC에서 동일 출판사의 논문을 1일 30건 이하 다운로드할 것을 권장하며, 출판사별 기준에 따라 다를 수 있습니다.)
- 출판사에서 제공한 논문의 URL을 수업 관련 웹사이트에 게재할 수 있으나, 출판사 원문 파일 자체를 복제·배포해서는 안 됩니다.
- 본인의 ID/PW를 타인에게 제공하지 말고, 도용되지 않도록 철저히 관리해 주시기 바랍니다.
불공정 이용 사례
- 전자적·기계적 수단(다운로딩 프로그램, 웹 크롤러, 로봇, 매크로, RPA 등)을 이용한 대량 다운로드
- 동일 컴퓨터 또는 동일 IP에서 단시간 내 다수의 원문을 집중적으로 다운로드하거나, 전권(whole issue) 다운로드
- 저장·출력한 자료를 타인에게 배포하거나 개인 블로그·웹하드 등에 업로드
- 상업적·영리적 목적으로 자료를 전송·복제·활용
- ID/PW를 타인에게 양도하거나 타인 계정을 도용하여 이용
- EndNote, Mendeley 등 서지관리 프로그램의 Find Full Text 기능을 이용한 대량 다운로드
- 출판사 콘텐츠를 생성형 AI 시스템에서 활용하는 행위(업로드, 개발, 학습, 프로그래밍, 개선 또는 강화 등)
위반 시 제재
- 출판사에 의한 해당 IP 또는 기관 전체 접속 차단
- 출판사 배상 요구 시 위반자 개인이 배상 책임 부담
'학술논문'
에서 검색결과 23,534건 | 목록
1~20
Academic Journal
Rangelova, E.; Stoop, T.F.; van Ramshorst, T.M.E.; Ali, M.; van Bodegraven, E.A.; Javed, A.A.; Hashimoto, D.; Steyerberg, E.; Banerjee, A.; Jain, A.; Sauvanet, A.; Serrablo, A.; Giani, A.; Giardino, A.; Zerbi, A.; Arshad, A.; Wijma, A.G.; Coratti, A.; Zironda, A.; Socratous, A.; Rojas, A.; Halimi, Asif; Ejaz, A.; Oba, A.; Patel, B.Y.; Björnsson, B.; Reames, B.N.; Tingstedt, B.; Goh, B.K.P.; Payá-Llorente, C.; Del Pozo, C.D.; González-Abós, C.; Medin, C.; van Eijck, C.H.J.; de Ponthaud, C.; Takishita, C.; Schwabl, C.; Månsson, C.; Ricci, C.; Thiels, C.A.; Douchi, D.; Hughes, D.L.; Kilburn, D.; Flanking, D.; Kleive, D.; Silva, D.S.; Edil, B.H.; Pando, E.; Moltzer, E.; Kauffman, E.F.; Warren, E.; Bozkurt, E.; Sparrelid, E.; Thoma, E.; Verkolf, E.; Ausania, F.; Giannone, F.; Hüttner, F.J.; Burdio, F.; Souche, F.R.; Berrevoet, F.; Daams, F.; Motoi, F.; Saliba, G.; Kazemier, G.; Roeyen, G.; Nappo, G.; Butturini, G.; Ferrari, G.; Kito Fusai, G.; Honda, G.; Sergeant, G.; Karteszi, H.; Takami, H.; Suto, H.; Matsumoto, I.; Mora-Oliver, I.; Frigerio, I.; Fabre, J.M.; Chen, J.; Sham, J.G.; Davide, J.; Urdzik, J.; de Martino, J.; Nielsen, K.; Okano, K.; Kamei, K.; Okada, K.; Tanaka, K.; Labori, K.J.; Goodsell, K.E.; Alberici, L.; Webber, L.; Kirkov, L.; de Franco, L.; Miyashita, M.; Maglione, M.; Gramellini, M.; Ramera, M.; Amaral, M.J.; Ramaekers, M.; Truty, M.J.; van Dam, M.A.; Stommel, M.W.J.; Petrikowski, M.; Imamura, M.; Hayashi, M.; D'Hondt, M.; Brunner, M.; Hogg, M.E.; Zhang, C.; Suárez-Muñoz, M.Á.; Luyer, M.D.; Unno, M.; Mizuma, M.; Janot, M.; Sahakyan, M.A.; Jamieson, N.B.; Busch, O.R.; Bilge, O.; Belyaev, O.; Franklin, Oskar, 1985; Sánchez-Velázquez, P.; Pessaux, P.; Holka, P.S.; Ghorbani, P.; Casadei, R.; Sartoris, R.; Schulick, R.D.; Grützmann, R.; Sutcliffe, R.; Mata, R.; Patel, R.B.; Takahashi, R.; Rodriguez Franco, S.; Cabús, S.S.; Hirano, S.; Gaujoux, S.; Festen, S.; Kozono, S.; Maithel, S.K.; Chai, S.M.; Yamaki, S.; van Laarhoven, S.; Mieog, J.S.D.; Murakami, T.; Codjia, T.; Sumiyoshi, T.; Karsten, T.M.; Nakamura, T.; Sugawara, T.; Boggi, U.; Hartman, V.; de Meijer, V.E.; Bartholomä, W.; Kwon, W.; Koh, Y.X.; Cho, Y.; Takeyama, Y.; Inoue, Y.; Nagakawa, Y.; Kawamoto, Y.; Ome, Y.; Soonawalla, Z.; Uemura, K.; Wolfgang, C.L.; Jang, J.Y.; Padbury, R.; Satoi, S.; Messersmith, W.; Wilmink, J.W.; Abu Hilal, M.; Besselink, M.G.; Del Chiaro, M.; European Consortium on Minimally Invasive Pancreatic Surgery (E-MIPS)
Annals of Oncology. 36(5):529-542
Academic Journal
IEEE Microwave Magazine IEEE Microwave Microwave Magazine, IEEE. 26(5):104-127 May, 2025
Academic Journal
Nicolas, Aude; Sherva, Richard; Grenier-Boley, Benjamin; Kim, Yoontae; Kikuchi, Masataka; Timsina, Jigyasha; de Rojas, Itziar; Dalmasso, Maria Carolina; Zhou, Xiaopu; Le Guen, Yann; Arboleda-Bustos, Carlos E.; Camargos Bicalho, Maria Aparecida; Guerchet, Maelenn; van der Lee, Sven; Goss, Monica; Castillo, Atahualpa; Bellenguez, Celine; Kucukali, Fahri; Satizabal, Claudia L.; Fongang, Bernard; Yang, Qiong; Peters, Oliver; Schneider, Anja; Dichgans, Martin; Rujescu, Dan; Scherbaum, Norbert; Deckert, Juergen; Riedel-Heller, Steffi; Hausner, Lucrezia; Molina-Porcel, Laura; Duzel, Emrah; Grimmer, Timo; Wiltfang, Jens; Heilmann-Heimbach, Stefanie; Moebus, Susanne; Tegos, Thomas; Scarmeas, Nikolaos; Dols-Icardo, Oriol; Moreno, Fermin; Perez-Tur, Jordi; Bullido, Maria J.; Pastor, Pau; Sanchez-Valle, Raquel; Alvarez, Victoria; Cao, Han; Ip, Nancy Y.; Fu, Amy K. Y.; Ip, Fanny C. F.; Olivar, Natividad; Muchnik, Carolina; Cuesta, Carolina; Campanelli, Lorenzo; Solis, Patricia; Politis, Daniel Gustavo; Kochen, Silvia; Brusco, Luis Ignacio; Boada, Merce; Garcia-Gonzalez, Pablo; Puerta, Raquel; Mir, Pablo; Real, Luis M.; Pinol-Ripoll, Gerard; Garcia-Alberca, Jose Maria; Royo, Jose Luis; Rodriguez-Rodriguez, Eloy; Soininen, Hilkka; Heikkinen, Sami; de Mendonca, Alexandre; Mehrabian, Shima; Traykov, Latchezar; Hort, Jakub; Vyhnalek, Martin; Rasmussen, Katrine Laura; Thomassen, Jesper Qvist; Pijnenburg, Yolande A. L.; Holstege, Henne; van Swieten, John C.; Seelaar, Harro; Claassen, Jurgen A. H. R.; Jansen, Willemijn J.; Ramakers, Inez; Verhey, Frans; van der Lugt, Aad; Scheltens, Philip; Ortega-Rojas, Jenny; Concha Mera, Ana Gabriela; Mahecha, Maria F.; Pardo, Rodrigo; Arboleda, Gonzalo; Bahrami, Shahram; Fominykh, Vera; Selbaek, Geir; Graff, Caroline; Papenberg, Goran; Giedraitis, Vilmantas; Boland, Anne; Deleuze, Jean-Francois; de Marco, Luiz Armando; de Moraes, Edgar Nunes; de Mattos Viana, Bernardo; Tulio Gualberto Cintra, Marco; Juarez-Cedillo, Teresa; Griswold, Anthony J.; Forund, Tatiana; Haines, Jonathan; Farrer, Lindsay; Destefano, Anita; Wijsman, Ellen; Mayeux, Richard; Pericak-Vance, Margaret; Kunkle, Brian; Goate, Alison; Schellenberg, Gerard D.; Vardarajan, Badri; Wang, Li-San; Leung, Yuk Yee; Dalgard, Clifton L.; Nicolas, Gael; Wallon, David; Dufouil, Carole; Pasquier, Florence; Hanon, Olivier; Debette, Stephanie; Gruenblatt, Edna; Popp, Julius; Angel, Barbara; Gloger, Sergio; Chacon, Maria Victoria; Aranguiz, Rafael; Orellana, Paulina; Slachevsky, Andrea; Gonzalez-Billault, Christian; Albala, Cecilia; Fuentes, Patricio; Sachdev, Perminder; Mather, Karen A.; Hauger, Richard L.; Merritt, Victoria; Panizzon, Matthew; Zhang, Rui; Gaziano, J. Michael; Ghidoni, Roberta; Galimberti, Daniela; Arosio, Beatrice; Mecocci, Patrizia; Solfrizzi, Vincenzo; Parnetti, Lucilla; Squassina, Alessio; Tremolizzo, Lucio; Borroni, Barbara; Nacmias, Benedetta; Caffarra, Paolo; Seripa, Davide; Rainero, Innocenzo; Daniele, Antonio; Piras, Fabrizio; Leonard, Hampton L.; Yokoyama, Jenifer S.; Nalls, Mike A.; Miyashita, Akinori; Hara, Norikazu; Ozaki, Kouichi; Niida, Shumpei; Williams, Julie; Masullo, Carlo; Amouyel, Philippe; Preux, Pierre-Marie; Mbelesso, Pascal; Bandzouzi, Bebene; Saykin, Andy; Jessen, Frank; Kehoe, Patrick G.; Van Duijn, Cornelia; Ben Salem, Nesrine; Frikke-Schmidt, Ruth; Cherni, Lotfi; Greicius, Michael D.; Tsolaki, Magda; Sanchez-Juan, Pascual; Romano Silva, Marco Aurelio; Porter, Tenielle; Laws, Simon M.; Sleegers, Kristel; Ingelsson, Martin; Dartigues, Jean-Francois; Seshadri, Sudha; Rossi, Giacomina; Morelli, Laura; Hiltunen, Mikko; Sims, Rebecca; van der Flier, Wiesje; Andreassen, Ole A.; Arboleda, Humberto; Cruchaga, Carlos; Escott-Price, Valentina; Ruiz, Agustin; Lee, Kun Ho; Ikeuchi, Takeshi; Ramirez, Alfredo; Gim, Jungsoo; Logue, Mark; Lambert, Jean-Charles
Nature Genetics. 57(7)
Report
Mitthumsiri, W.; Ruffolo, D.; Munakata, K.; Kozai, M.; Hayashi, Y.; Kato, C.; Muangha, P.; Sáiz, A.; Evenson, P.; Mangeard, P. -S.; Clem, J.; Seunarine, S.; Nuntiyakul, W.; Miyashita, N.; Kataoka, R.; Kadokura, A.; Miyake, S.; Iwai, K.; Menjo, H.; Echer, E.; Lago, A. Dal; Rockenbach, M.; Schuch, N. J.; Bageston, J. V.; Braga, C. R.; Jassar, H. K. Al; Sharma, M. M.; Burahmah, N.; Zaman, F.; Duldig, M. L.; Sabbah, I.; Kuwabara, T.
Report
BaBar, The; Collaborations, Belle; Adachi, I.; Adye, T.; Ahmed, H.; Ahn, J. K.; Aihara, H.; Akar, S.; Alam, M. S.; Albert, J.; Anulli, F.; Arnaud, N.; Asner, D. M.; Aston, D.; Atmacan, H.; Aushev, T.; Ayad, R.; Babu, V.; Badhrees, I.; Bakich, A. M.; Banerjee, Sw.; Bansal, V.; Barlow, R. J.; Batignani, G.; Beaulieu, A.; Behera, P.; Bellis, M.; Ben-Haim, E.; Bernard, D.; Bernlochner, F. U.; Bettarini, S.; Bettoni, D.; Bevan, A. J.; Bhardwaj, V.; Bhuyan, B.; Bianchi, F.; Biasini, M.; Biswal, J.; Blinov, V. E.; Bomben, M.; Bondar, A.; Bonneaud, G. R.; Bozek, A.; Bozzi, C.; Bračko, M.; Browder, T. E.; Brown, D. N.; Bünger, C.; Burchat, P. R.; Buzykaev, A. R.; Calabrese, R.; Calcaterra, A.; Calderini, G.; Di Carlo, S.; Carpinelli, M.; Cartaro, C.; Casarosa, G.; Cenci, R.; Chao, D. S.; Chauveau, J.; Cheaib, R.; Chen, A.; Chen, C.; Cheng, C. H.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Cho, K.; Choi, Y.; Choudhury, S.; Chrzaszcz, M.; Cibinetto, G.; Cinabro, D.; Cochran, J.; Coleman, J. P.; Convery, M. R.; Cowan, G.; Cowan, R.; Cremaldi, L.; Cunliffe, S.; Dash, N.; Davier, M.; Davis, C. L.; De Mori, F.; De Nardo, G.; Denig, A. G.; de Sangro, R.; Dey, B.; Di Lodovico, F.; Dittrich, S.; Doležal, Z.; Dorfan, J.; Drásal, Z.; Druzhinin, V. P.; Dunwoodie, W.; Ebert, M.; Echenard, B.; Eidelman, S.; Eigen, G.; Eisner, A. M.; Emery, S.; Epifanov, D.; Ernst, J. A.; Faccini, R.; Fast, J. E.; Feindt, M.; Ferber, T.; Ferrarotto, F.; Ferroni, F.; Field, R. C.; Filippi, A.; Finocchiaro, G.; Fioravanti, E.; Flood, K. T.; Forti, F.; Fritsch, M.; Fulsom, B. G.; Gabathuler, E.; Gamba, D.; Garg, R.; Garmash, A.; Gary, J. W.; Garzia, I.; Gaur, V.; Gaz, A.; Gelb, M.; Gershon, T. J.; Gioi, L. Li; Giorgi, M. A.; Giri, A.; Godang, R.; Goldenzweig, P.; Golob, B.; Golubev, V. B.; Gorodeisky, R.; Gradl, W.; Graham, M. T.; Grauges, E.; Griessinger, K.; Gritsan, A. V.; Grünberg, O.; Guan, Y.; Guido, E.; Guttman, N.; Haba, J.; Hafner, A.; Hara, T.; Harrison, P. F.; Hast, C.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hearty, C.; Heck, M.; Hedges, M. T.; Heß, M.; Hirose, S.; Hitlin, D. G.; Honscheid, K.; Hou, W. -S.; Hsu, C. -L.; Huard, Z.; Van Hulse, C.; Hutchcroft, D. E.; Inami, K.; Inguglia, G.; Innes, W. R.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, M.; Iwasaki, Y.; Izen, J. M.; Jacobs, W. W.; Jawahery, A.; Jessop, C. P.; Jia, S.; Jin, Y.; Joo, K. K.; Julius, T.; Kaliyar, A. B.; Kang, K. H.; Karyan, G.; Kass, R.; Kichimi, H.; Kim, D. Y.; Kim, J. B.; Kim, K. T.; Kim, S. H.; Kim, J.; Kim, P.; King, G. J.; Kinoshita, K.; Koch, H.; Kodyš, P.; Kolomensky, Yu. G.; Korpar, S.; Kotchetkov, D.; Kowalewski, R.; Kravchenko, E. A.; Križan, P.; Kroeger, R.; Krokovny, P.; Kuhr, T.; Kulasiri, R.; Kumita, T.; Kuzmin, A.; Kwon, Y. -J.; Lacker, H. M.; Lafferty, G. D.; Lanceri, L.; Lange, J. S.; Lange, D. J.; Lankford, A. J.; Latham, T. E.; Leddig, T.; Diberder, F. Le; Lee, I. S.; Lee, S. C.; Lees, J. P.; Leith, D. W. G. S.; Li, L. K.; Li, Y. B.; Li, Y.; Libby, J.; Liventsev, D.; Lockman, W. S.; Long, O.; LoSecco, J. M.; Lou, X. C.; Lubej, M.; Lueck, T.; Luitz, S.; Luo, T.; Luppi, E.; Lusiani, A.; Lutz, A. M.; MacFarlane, D. B.; MacNaughton, J.; Mallik, U.; Manoni, E.; Marchiori, G.; Margoni, M.; Martellotti, S.; Martinez-Vidal, F.; Masuda, M.; Matsuda, T.; Mattison, T. S.; Matvienko, D.; McKenna, J. A.; Meadows, B. T.; Merola, M.; Miyabayashi, K.; Miyashita, T. S.; Miyata, H.; Mizuk, R.; Mohanty, G. B.; Moon, H. K.; Mori, T.; Muller, D. R.; Müller, T.; Mussa, R.; Nakano, E.; Nakao, M.; Nanut, T.; Nath, K. J.; Nayak, M.; Neal, H.; Neri, N.; Nisar, N. K.; Nishida, S.; Nugent, I. M.; Oberhof, B.; Ocariz, J.; Ogawa, S.; Ongmongkolkul, P.; Ono, H.; Onuchin, A. P.; Onuki, Y.; Oyanguren, A.; Pakhlov, P.; Pakhlova, G.; Pal, B.; Palano, A.; Palombo, F.; Vazquez, W. Panduro; Paoloni, E.; Pardi, S.; Park, H.; Passaggio, S.; Patrignani, C.; Patteri, P.; Paul, S.; Pavelkin, I.; Payne, D. J.; Pedlar, T. K.; Peimer, D. R.; Peruzzi, I. M.; Pestotnik, R.; Piccolo, M.; Piilonen, L. E.; Pilloni, A.; Piredda, G.; Poireau, V.; Popov, V.; Porter, F. C.; Posocco, M.; Prell, S.; Prepost, R.; Puccio, E. M. T.; Purohit, M. V.; Pushpawela, B. G.; Rama, M.; Randle-Conde, A.; Ratcliff, B. N.; Raven, G.; Resmi, P. K.; Ritchie, J. L.; Ritter, M.; Rizzo, G.; Roberts, D. A.; Robertson, S. H.; Röhrken, M.; Roney, J. M.; Roodman, A.; Rossi, A.; Rotondo, M.; Rozanska, M.; Russo, G.; Sacco, R.; Said, S. Al; Sakai, Y.; Salehi, M.; Sandilya, S.; Santelj, L.; Santoro, V.; Sanuki, T.; Savinov, V.; Schneider, O.; Schnell, G.; Schroeder, T.; Schubert, K. R.; Schwanda, C.; Schwartz, A. J.; Schwitters, R. F.; Sciacca, C.; Seddon, R. M.; Seino, Y.; Sekula, S. J.; Senyo, K.; Seon, O.; Serednyakov, S. I.; Sevior, M. E.; Shebalin, V.; Shen, C. P.; Shibata, T. -A.; Shimizu, N.; Shiu, J. -G.; Simi, G.; Simon, F.; Simonetto, F.; Skovpen, Yu. I.; Smith, J. G.; Smith, A. J. S.; So, R. Y.; Sobie, R. J.; Soffer, A.; Sokoloff, M. D.; Solodov, E. P.; Solovieva, E.; Spanier, S. M.; Starič, M.; Stroili, R.; Sullivan, M. K.; Sumisawa, K.; Sumiyoshi, T.; Summers, D. J.; Sun, L.; Takizawa, M.; Tamponi, U.; Tanida, K.; Taras, P.; Tasneem, N.; Tenchini, F.; Tisserand, V.; Todyshevx, K. Yu.; Touramanis, C.; Uchida, M.; Uglov, T.; Unno, Y.; Uno, S.; Vahsen, S. E.; Varner, G.; Vasseur, G.; Va'vra, J.; Červenkov, D.; Verderi, M.; Vitale, L.; Vorobyev, V.; Voß, C.; Wagner, S. R.; Waheed, E.; Waldi, R.; Walsh, J. J.; Wang, B.; Wang, C. H.; Wang, M. -Z.; Wang, P.; Watanabe, Y.; Wilson, F. F.; Wilson, J. R.; Wisniewski, W. J.; Won, E.; Wormser, G.; Wright, D. M.; Wu, S. L.; Ye, H.; Yuan, C. Z.; Yusa, Y.; Zakharov, S.; Zallo, A.; Zani, L.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V.; Zhukova, V.; Zhulanov, V.; Zupanc, A.
Phys. Rev. Lett. 121, 261801 (2018)
Report
BaBar, The; Collaborations, Belle; Adachi, I.; Adye, T.; Ahmed, H.; Ahn, J. K.; Aihara, H.; Akar, S.; Alam, M. S.; Albert, J.; Anulli, F.; Arnaud, N.; Asner, D. M.; Aston, D.; Atmacan, H.; Aushev, T.; Ayad, R.; Badhrees, I.; Bakich, A. M.; Banerjee, Sw.; Bansal, V.; Barlow, R. J.; Batignani, G.; Beaulieu, A.; Behera, P.; Bellis, M.; Ben-Haim, E.; Bernard, D.; Bernlochner, F. U.; Bettarini, S.; Bettoni, D.; Bevan, A. J.; Bhardwaj, V.; Bhuyan, B.; Bianchi, F.; Biasini, M.; Biswal, J.; Blinov, V. E.; Bomben, M.; Bondar, A.; Bonneaud, G. R.; Bozek, A.; Bozzi, C.; Bračko, M.; Browder, T. E.; Brown, D. N.; Bünger, C.; Burchat, P. R.; Buzykaev, A. R.; Calabrese, R.; Calcaterra, A.; Calderini, G.; Di Carlo, S.; Carpinelli, M.; Cartaro, C.; Casarosa, G.; Cenci, R.; Chao, D. S.; Chauveau, J.; Cheaib, R.; Chen, A.; Chen, C.; Cheng, C. H.; Cheon, B. G.; Chilikin, K.; Cho, K.; Choi, Y.; Choudhury, S.; Chrzaszcz, M.; Cibinetto, G.; Cinabro, D.; Cochran, J.; Coleman, J. P.; Convery, M. R.; Cowan, G.; Cowan, R.; Cremaldi, L.; Cunliffe, S.; Dash, N.; Davier, M.; Davis, C. L.; De Mori, F.; De Nardo, G.; Denig, A. G.; de Sangro, R.; Dey, B.; Di Lodovico, F.; Dittrich, S.; Doležal, Z.; Dorfan, J.; Drásal, Z.; Druzhinin, V. P.; Dunwoodie, W.; Ebert, M.; Echenard, B.; Eidelman, S.; Eigen, G.; Eisner, A. M.; Emery, S.; Epifanov, D.; Ernst, J. A.; Faccini, R.; Fast, J. E.; Feindt, M.; Ferrarotto, F.; Ferroni, F.; Field, R. C.; Filippi, A.; Finocchiaro, G.; Fioravanti, E.; Flood, K. T.; Forti, F.; Fritsch, M.; Fulsom, B. G.; Gabathuler, E.; Gamba, D.; Garg, R.; Garmash, A.; Gary, J. W.; Garzia, I.; Gaur, V.; Gaz, A.; Gelb, M.; Gershon, T. J.; Gioi, L. Li; Giorgi, M. A.; Giri, A.; Godang, R.; Goldenzweig, P.; Golob, B.; Golubev, V. B.; Gorodeisky, R.; Gradl, W.; Graham, M. T.; Grauges, E.; Griessinger, K.; Gritsan, A. V.; Grünberg, O.; Guido, E.; Guttman, N.; Hafner, A.; Hara, T.; Harrison, P. F.; Hast, C.; Hayasaka, K.; Hearty, C.; Heck, M.; Hedges, M. T.; Heß, M.; Hirose, S.; Hitlin, D. G.; Honscheid, K.; Hou, W. -S.; Huard, Z.; Van Hulse, C.; Hutchcroft, D. E.; Inami, K.; Inguglia, G.; Innes, W. R.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, M.; Iwasaki, Y.; Izen, J. M.; Jacobs, W. W.; Jawahery, A.; Jessop, C. P.; Jia, S.; Jin, Y.; Joo, K. K.; Julius, T.; Kaliyar, A. B.; Kang, K. H.; Karyan, G.; Kass, R.; Kichimi, H.; Kim, D. Y.; Kim, J. B.; Kim, K. T.; Kim, S. H.; Kim, J.; Kim, P.; King, G. J.; Kinoshita, K.; Koch, H.; Kodyš, P.; Kolomensky, Yu. G.; Korpar, S.; Kotchetkov, D.; Kowalewski, R.; Kravchenko, E. A.; Križan, P.; Kroeger, R.; Krokovny, P.; Kuhr, T.; Kulasiri, R.; Kuzmin, A.; Kwon, Y. -J.; Lacker, H. M.; Lafferty, G. D.; Lanceri, L.; Lange, J. S.; Lange, D. J.; Lankford, A. J.; Latham, T. E.; Leddig, T.; Diberder, F. Le; Lee, I. S.; Lee, S. C.; Lees, J. P.; Leith, D. W. G. S.; Li, L. K.; Li, Y. B.; Li, Y.; Libby, J.; Liventsev, D.; Lockman, W. S.; Long, O.; LoSecco, J. M.; Lou, X. C.; Lubej, M.; Lueck, T.; Luitz, S.; Luo, T.; Luppi, E.; Lusiani, A.; Lutz, A. M.; MacFarlane, D. B.; MacNaughton, J.; Mallik, U.; Manoni, E.; Marchiori, G.; Margoni, M.; Martellotti, S.; Martinez-Vidal, F.; Masuda, M.; Matsuda, T.; Mattison, T. S.; Matvienko, D.; McKenna, J. A.; Meadows, B. T.; Merola, M.; Miyabayashi, K.; Miyashita, T. S.; Miyata, H.; Mizuk, R.; Mohanty, G. B.; Mori, T.; Muller, D. R.; Müller, T.; Mussa, R.; Nakano, E.; Nakao, M.; Nanut, T.; Nath, K. J.; Nayak, M.; Neal, H.; Neri, N.; Nisar, N. K.; Nishida, S.; Nugent, I. M.; Oberhof, B.; Ocariz, J.; Ogawa, S.; Ongmongkolkul, P.; Ono, H.; Onuchin, A. P.; Oyanguren, A.; Pakhlov, P.; Pakhlova, G.; Pal, B.; Palano, A.; Palombo, F.; Vazquez, W. Panduro; Paoloni, E.; Pardi, S.; Park, H.; Passaggio, S.; Patrignani, C.; Patteri, P.; Paul, S.; Pavelkin, I.; Payne, D. J.; Pedlar, T. K.; Peimer, D. R.; Peruzzi, I. M.; Piccolo, M.; Piilonen, L. E.; Pilloni, A.; Piredda, G.; Poireau, V.; Porter, F. C.; Posocco, M.; Prell, S.; Prepost, R.; Puccio, E. M. T.; Purohit, M. V.; Pushpawela, B. G.; Rama, M.; Randle-Conde, A.; Ratcliff, B. N.; Raven, G.; Resmi, P. K.; Ritchie, J. L.; Ritter, M.; Rizzo, G.; Roberts, D. A.; Robertson, S. H.; Röhrken, M.; Roney, J. M.; Roodman, A.; Rossi, A.; Rotondo, M.; Rozanska, M.; Russo, G.; Sacco, R.; Said, S. Al; Sakai, Y.; Sandilya, S.; Santelj, L.; Santoro, V.; Sanuki, T.; Savinov, V.; Schneider, O.; Schnell, G.; Schroeder, T.; Schubert, K. R.; Schwanda, C.; Schwartz, A. J.; Schwitters, R. F.; Sciacca, C.; Seddon, R. M.; Seino, Y.; Sekula, S. J.; Senyo, K.; Seon, O.; Serednyakov, S. I.; Sevior, M. E.; Shebalin, V.; Shibata, T. -A.; Shimizu, N.; Shiu, J. -G.; Simi, G.; Simon, F.; Simonetto, F.; Skovpen, Yu. I.; Smith, J. G.; Smith, A. J. S.; So, R. Y.; Sobie, R. J.; Soffer, A.; Sokoloff, M. D.; Solodov, E. P.; Solovieva, E.; Spanier, S. M.; Starič, M.; Stroili, R.; Sullivan, M. K.; Sumisawa, K.; Sumiyoshi, T.; Summers, D. J.; Sun, L.; Takizawa, M.; Tamponi, U.; Tanida, K.; Taras, P.; Tasneem, N.; Tenchini, F.; Tisserand, V.; Todyshevx, K. Yu.; Touramanis, C.; Uchida, M.; Uglov, T.; Unno, Y.; Uno, S.; Vahsen, S. E.; Varner, G.; Vasseur, G.; Va'vra, J.; Červenkov, D.; Verderi, M.; Vitale, L.; Vorobyev, V.; Voß, C.; Wagner, S. R.; Waheed, E.; Waldi, R.; Walsh, J. J.; Wang, B.; Wang, C. H.; Wang, M. -Z.; Wang, P.; Wilson, F. F.; Wilson, J. R.; Wisniewski, W. J.; Won, E.; Wormser, G.; Wright, D. M.; Wu, S. L.; Yuan, C. Z.; Yusa, Y.; Zakharov, S.; Zallo, A.; Zani, L.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V.; Zhukova, V.; Zhulanov, V.; Zupanc, A.
Phys. Rev. D 98, 112012 (2018)
Report
Munakata, K.; Hayashi, Y.; Kozai, M.; Kato, C.; Miyashita, N.; Kataoka, R.; Kadokura, A.; Miyake, S.; Iwai, K.; Echer, E.; Lago, A. Dal; Rockenbach, M.; Schuch, N. J.; Bageston, J. V.; Braga, C. R.; Jassar, H. K. Al; Sharma, M. M.; Duldig, M. L.; Humble, J. E.; Sabbah, I.; Evenson, P.; Kuwabara, T.; Kóta, J.
Conference
Arnaud, F.; Thean, A.; Eller, M.; Lipinski, M.; Teh, Y.W.; Ostermayr, M.; Kang, K.; Kim, N.S.; Ohuchi, K.; Han, J-P.; Nair, D.R.; Lian, J.; Uchimura, S.; Kohler, S.; Miyaki, S.; Ferreira, P.; Park, J-H.; Hamaguchi, M.; Miyashita, K.; Augur, R.; Zhang, Q.; Strahrenberg, K.; ElGhouli, S.; Bonnouvrier, J.; Matsuoka, F.; Lindsay, R.; Sudijono, J.; Johnson, F.S.; Ku, J.H.; Sekine, M.; Steegen, A.; Sampson, R.
2009 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2009 IEEE International. :1-4 Dec, 2009
Conference
Hasegawa, S.; Kitamura, Y.; Takahata, K.; Okamoto, H.; Hirai, T.; Miyashita, K.; Ishida, T.; Aizawa, H.; Aota, S.; Azuma, A.; Fukushima, T.; Harakawa, H.; Hasegawa, E.; Inohara, M.; Inumiya, S.; Ishizuka, T.; Iwamoto, T.; Kariya, N.; Kojima, K.; Komukai, T.; Matsunaga, N.; Mimotogi, S.; Muramatsu, S.; Nagatomo, K.; Nagahara, S.; Nakahara, Y.; Nakajima, K.; Nakatsuka, K.; Nishigoori, M.; Nomachi, A.; Ogawa, R.; Okada, N.; Okamoto, S.; Okano, K.; Oki, T.; Onoda, H.; Sasaki, T.; Satake, M.; Suzuki, T.; Suzuki, Y.; Tagami, M.; Takeda, K.; Tanaka, M.; Taniguchi, K.; Tominaga, M.; Tsutsui, G.; Utsumi, K.; Watanabe, S.; Watanabe, T.; Yoshimizu, Y.; Kitano, T.; Naruse, H.; Goto, Y.; Nakayama, T.; Nakamura, N.; Matsuoka, F.
2008 IEEE International Electron Devices Meeting Electron Devices Meeting, 2008. IEDM 2008. IEEE International. :1-3 Dec, 2008
Editorial & Opinion
The European Physical Journal B. 58(1):51-53
Conference
2023 35th International Conference on Microelectronic Test Structure (ICMTS) Microelectronic Test Structure (ICMTS), 2023 35th International Conference on. :1-4 Mar, 2023
Report
BaBar Collaboration; Lees, J. P.; Poireau, V.; Tisserand, V.; Grauges, E.; Palano, A.; Eigen, G.; Brown, D. N.; Kolomensky, Yu. G.; Fritsch, M.; Koch, H.; Cheaib, R.; Hearty, C.; Mattison, T. S.; McKenna, J. A.; So, R. Y.; Blinov, V. E.; Buzykaev, A. R.; Druzhinin, V. P.; Kozyrev, E. A.; Kravchenko, E. A.; Serednyakov, S. I.; Skovpen, Yu. I.; Solodov, E. P.; Todyshev, K. Yu.; Lankford, A. J.; Gary, J. W.; Long, O.; Eisner, A. M.; Lockman, W. S.; Vazquez, W. Panduro; Chao, D. S.; Cheng, C. H.; Echenard, B.; Flood, K. T.; Hitlin, D. G.; Li, Y.; Middleton, S.; Miyashita, T. S.; Ongmongkolkul, P.; Oyang, J.; Porter, F. C.; Röhrken, M.; Meadows, B. T.; Sokoloff, M. D.; Smith, J. G.; Wagner, S. R.; Bernard, D.; Verderi, M.; Bettoni, D.; Bozzi, C.; Calabrese, R.; Cibinetto, G.; Fioravanti, E.; Garzia, I.; Luppi, E.; Santoro, V.; Calcaterra, A.; de Sangro, R.; Finocchiaro, G.; Martellotti, S.; Patteri, P.; Peruzzi, I. M.; Piccolo, M.; Rotondo, M.; Zallo, A.; Passaggio, S.; Shuve, B. J.; Lacker, H. M.; Bhuyan, B.; Mallik, U.; Chen, C.; Cochran, J.; Prell, S.; Gritsan, A. V.; Arnaud, N.; Davier, M.; Diberder, F. Le; Lutz, A. M.; Wormser, G.; Lange, D. J.; Wright, D. M.; Coleman, J. P.; Hutchcroft, D. E.; Payne, D. J.; Touramanis, C.; Bevan, A. J.; Cowan, G.; Banerjee, Sw.; Davis, C. L.; Denig, A. G.; Gradl, W.; Griessinger, K.; Hafner, A.; Schubert, K. R.; Lafferty, G. D.; Cenci, R.; Jawahery, A.; Roberts, D. A.; Cowan, R.; Robertson, S. H.; Seddon, R. M.; Neri, N.; Palombo, F.; Cremaldi, L.; Summers, D. J.; De Nardo, G.; Sciacca, C.; Jessop, C. P.; LoSecco, J. M.; Honscheid, K.; Gaz, A.; Margoni, M.; Simi, G.; Simonetto, F.; Stroili, R.; Akar, S.; Ben-Haim, E.; Bomben, M.; Bonneaud, G. R.; Calderini, G.; Chauveau, J.; Marchiori, G.; Ocariz, J.; Biasini, M.; Manoni, E.; Rossi, A.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Casarosa, G.; Chrzaszcz, M.; Forti, F.; Giorgi, M. A.; Lusiani, A.; Oberhof, B.; Paoloni, E.; Rama, M.; Rizzo, G.; Walsh, J. J.; Zani, L.; Smith, A. J. S.; Anulli, F.; Faccini, R.; Ferrarotto, F.; Pilloni, A.; Bünger, C.; Dittrich, S.; Grünberg, O.; Leddig, T.; Voß, C.; Waldi, R.; Adye, T.; Wilson, F. F.; Emery, S.; Vasseur, G.; Aston, D.; Cartaro, C.; Convery, M. R.; Dunwoodie, W.; Ebert, M.; Field, R. C.; Fulsom, B. G.; Graham, M. T.; Hast, C.; Kim, P.; Luitz, S.; MacFarlane, D. B.; Muller, D. R.; Neal, H.; Ratcliff, B. N.; Roodman, A.; Sullivan, M. K.; Va'vra, J.; Wisniewski, W. J.; Purohit, M. V.; Wilson, J. R.; Ahmed, H.; Tasneem, N.; Bellis, M.; Burchat, P. R.; Puccio, E. M. T.; Ernst, J. A.; Gorodeisky, R.; Guttman, N.; Peimer, D. R.; Soffer, A.; Spanier, S. M.; Ritchie, J. L.; Izen, J. M.; Lou, X. C.; Bianchi, F.; De Mori, F.; Filippi, A.; Lanceri, L.; Vitale, L.; Martinez-Vidal, F.; Oyanguren, A.; Albert, J.; Beaulieu, A.; Bernlochner, F. U.; King, G. J.; Kowalewski, R.; Lueck, T.; Miller, C.; Nugent, I. M.; Roney, J. M.; Sobie, R. J.; Gershon, T. J.; Harrison, P. F.; Latham, T. E.; Wu, S. L.
Report
The BABAR Collaboration; Lees, J. P.; Poireau, V.; Tisserand, V.; Tico, J. Garra; Grauges, E.; Martinelli, M.; Milanes, D. A.; Palano, A.; Pappagallo, M.; Eigen, G.; Stugu, B.; Sun, L.; Brown, D. N.; Kerth, L. T.; Kolomensky, Yu. G.; Lynch, G.; Koch, H.; Schroeder, T.; Asgeirsson, D. J.; Hearty, C.; Mattison, T. S.; McKenna, J. A.; Khan, A.; Blinov, V. E.; Buzykaev, A. R.; Druzhinin, V. P.; Golubev, V. B.; Kravchenko, E. A.; Onuchin, A. P.; Serednyakov, S. I.; Skovpen, Yu. I.; Solodov, E. P.; Todyshev, K. Yu.; Yushkov, A. N.; Bondioli, M.; Kirkby, D.; Lankford, A. J.; Mandelkern, M.; Stoker, D. P.; Atmacan, H.; Gary, J. W.; Liu, F.; Long, O.; Vitug, G. M.; Campagnari, C.; Hong, T. M.; Kovalskyi, D.; Richman, J. D.; West, C. A.; Eisner, A. M.; Kroseberg, J.; Lockman, W. S.; Martinez, A. J.; Schalk, T.; Schumm, B. A.; Seiden, A.; Cheng, C. H.; Doll, D. A.; Echenard, B.; Flood, K. T.; Hitlin, D. G.; Ongmongkolkul, P.; Porter, F. C.; Rakitin, A. Y.; Andreassen, R.; Dubrovin, M. S.; Huard, Z.; Meadows, B. T.; Sokoloff, M. D.; Bloom, P. C.; Ford, W. T.; Gaz, A.; Nagel, M.; Nauenberg, U.; Smith, J. G.; Wagner, S. R.; Ayad, R.; Toki, W. H.; Spaan, B.; Kobel, M. J.; Schubert, K. R.; Schwierz, R.; Bernard, D.; Verderi, M.; Clark, P. J.; Playfer, S.; Bettoni, D.; Bozzi, C.; Calabrese, R.; Cibinetto, G.; Fioravanti, E.; Garzia, I.; Luppi, E.; Munerato, M.; Negrini, M.; Piemontese, L.; Baldini-Ferroli, R.; Calcaterra, A.; de Sangro, R.; Finocchiaro, G.; Nicolaci, M.; Patteri, P.; Peruzzi, I. M.; Piccolo, M.; Rama, M.; Zallo, A.; Contri, R.; Guido, E.; Vetere, M. Lo; Monge, M. R.; Passaggio, S.; Patrignani, C.; Robutti, E.; Bhuyan, B.; Prasad, V.; Lee, C. L.; Morii, M.; Edwards, A. J.; Adametz, A.; Marks, J.; Uwer, U.; Bernlochner, F. U.; Ebert, M.; Lacker, H. M.; Lueck, T.; Dauncey, P. D.; Tibbetts, M.; Behera, P. K.; Mallik, U.; Chen, C.; Cochran, J.; Meyer, W. T.; Prell, S.; Rosenberg, E. I.; Rubin, A. E.; Gritsan, A. V.; Guo, Z. J.; Arnaud, N.; Davier, M.; Grosdidier, G.; Diberder, F. Le; Lutz, A. M.; Malaescu, B.; Roudeau, P.; Schune, M. H.; Stocchi, A.; Wormser, G.; Lange, D. J.; Wright, D. M.; Bingham, I.; Chavez, C. A.; Coleman, J. P.; Fry, J. R.; Gabathuler, E.; Hutchcroft, D. E.; Payne, D. J.; Touramanis, C.; Bevan, A. J.; Di Lodovico, F.; Sacco, R.; Sigamani, M.; Cowan, G.; Paramesvaran, S.; Davis, C. L.; Denig, A. G.; Fritsch, M.; Gradl, W.; Hafner, A.; Prencipe, E.; Alwyn, K. E.; Bailey, D.; Barlow, R. J.; Jackson, G.; Lafferty, G. D.; Cenci, R.; Hamilton, B.; Jawahery, A.; Roberts, D. A.; Simi, G.; Dallapiccola, C.; Cowan, R.; Dujmic, D.; Sciolla, G.; Lindemann, D.; Patel, P. M.; Robertson, S. H.; Schram, M.; Biassoni, P.; Lazzaro, A.; Lombardo, V.; Neri, N.; Palombo, F.; Stracka, S.; Cremaldi, L.; Godang, R.; Kroeger, R.; Sonnek, P.; Summers, D. J.; Nguyen, X.; Taras, P.; De Nardo, G.; Monorchio, D.; Onorato, G.; Sciacca, C.; Raven, G.; Snoek, H. L.; Jessop, C. P.; Knoepfel, K. J.; LoSecco, J. M.; Wang, W. F.; Honscheid, K.; Kass, R.; Brau, J.; Frey, R.; Sinev, N. B.; Strom, D.; Torrence, E.; Feltresi, E.; Gagliardi, N.; Margoni, M.; Morandin, M.; Posocco, M.; Rotondo, M.; Simonetto, F.; Stroili, R.; Ben-Haim, E.; Bomben, M.; Bonneaud, G. R.; Briand, H.; Calderini, G.; Chauveau, J.; Hamon, O.; Leruste, Ph.; Marchiori, G.; Ocariz, J.; Sitt, S.; Biasini, M.; Manoni, E.; Pacetti, S.; Rossi, A.; Angelini, C.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Carpinelli, M.; Casarosa, G.; Cervelli, A.; Forti, F.; Giorgi, M. A.; Lusiani, A.; Oberhof, B.; Paoloni, E.; Perez, A.; Rizzo, G.; Walsh, J. J.; Pegna, D. Lopes; Lu, C.; Olsen, J.; Smith, A. J. S.; Telnov, A. V.; Anulli, F.; Cavoto, G.; Faccini, R.; Ferrarotto, F.; Ferroni, F.; Gaspero, M.; Gioi, L. Li; Mazzoni, M. A.; Piredda, G.; Bünger, C.; Grünberg, O.; Hartmann, T.; Leddig, T.; Schröder, H.; Waldi, R.; Adye, T.; Olaiya, E. O.; Wilson, F. F.; Emery, S.; de Monchenault, G. Hamel; Vasseur, G.; Yèche, Ch.; Aston, D.; Bard, D. J.; Bartoldus, R.; Cartaro, C.; Convery, M. R.; Dorfan, J.; Dubois-Felsmann, G. P.; Dunwoodie, W.; Field, R. C.; Sevilla, M. Franco; Fulsom, B. G.; Gabareen, A. M.; Graham, M. T.; Grenier, P.; Hast, C.; Innes, W. R.; Kelsey, M. H.; Kim, H.; Kim, P.; Kocian, M. L.; Leith, D. W. G. S.; Lewis, P.; Li, S.; Lindquist, B.; Luitz, S.; Luth, V.; Lynch, H. L.; MacFarlane, D. B.; Muller, D. R.; Neal, H.; Nelson, S.; Ofte, I.; Perl, M.; Pulliam, T.; Ratcliff, B. N.; Roodman, A.; Salnikov, A. A.; Santoro, V.; Schindler, R. H.; Snyder, A.; Su, D.; Sullivan, M. K.; Va'vra, J.; Wagner, A. P.; Weaver, M.; Wisniewski, W. J.; Wittgen, M.; Wright, D. H.; Wulsin, H. W.; Yarritu, A. K.; Young, C. C.; Ziegler, V.; Park, W.; Purohit, M. V.; White, R. M.; Wilson, J. R.; Randle-Conde, A.; Sekula, S. J.; Bellis, M.; Benitez, J. F.; Burchat, P. R.; Miyashita, T. S.; Alam, M. S.; Ernst, J. A.; Gorodeisky, R.; Guttman, N.; Peimer, D. R.; Soffer, A.; Lund, P.; Spanier, S. M.; Eckmann, R.; Ritchie, J. L.; Ruland, A. M.; Schilling, C. J.; Schwitters, R. F.; Wray, B. C.; Izen, J. M.; Lou, X. C.; Bianchi, F.; Gamba, D.; Lanceri, L.; Vitale, L.; Martinez-Vidal, F.; Oyanguren, A.; Ahmed, H.; Albert, J.; Banerjee, Sw.; Choi, H. H. F.; King, G. J.; Kowalewski, R.; Lewczuk, M. J.; Lindsay, C.; Nugent, I. M.; Roney, J. M.; Sobie, R. J.; Gershon, T. J.; Harrison, P. F.; Latham, T. E.; Puccio, E. M. T.; Band, H. R.; Dasu, S.; Pan, Y.; Prepost, R.; Vuosalo, C. O.; Wu, S. L.
Report
BaBar Collaboration; Lees, J. P.; Poireau, V.; Tisserand, V.; Tico, J. Garra; Grauges, E.; Palano, A.; Eigen, G.; Stugu, B.; Brown, D. N.; Kerth, L. T.; Kolomensky, Yu. G.; Lynch, G.; Koch, H.; Schroeder, T.; Asgeirsson, D. J.; Hearty, C.; Mattison, T. S.; McKenna, J. A.; So, R. Y.; Khan, A.; Blinov, V. E.; Buzykaev, A. R.; Druzhinin, V. P.; Golubev, V. B.; Kravchenko, E. A.; Onuchin, A. P.; Serednyakov, S. I.; Skovpen, Yu. I.; Solodov, E. P.; Todyshev, K. Yu.; Yushkov, A. N.; Bondioli, M.; Kirkby, D.; Lankford, A. J.; Mandelkern, M.; Atmacan, H.; Gary, J. W.; Liu, F.; Long, O.; Vitug, G. M.; Campagnari, C.; Hong, T. M.; Kovalskyi, D.; Richman, J. D.; West, C. A.; Eisner, A. M.; Kroseberg, J.; Lockman, W. S.; Martinez, A. J.; Schumm, B. A.; Seiden, A.; Chao, D. S.; Cheng, C. H.; Echenard, B.; Flood, K. T.; Hitlin, D. G.; Ongmongkolkul, P.; Porter, F. C.; Rakitin, A. Y.; Andreassen, R.; Huard, Z.; Meadows, B. T.; Sokoloff, M. D.; Sun, L.; Bloom, P. C.; Ford, W. T.; Gaz, A.; Nauenberg, U.; Smith, J. G.; Wagner, S. R.; Ayad, R.; Toki, W. H.; Spaan, B.; Schubert, K. R.; Schwierz, R.; Bernard, D.; Verderi, M.; Clark, P. J.; Playfer, S.; Bettoni, D.; Bozzi, C.; Calabrese, R.; Cibinetto, G.; Fioravanti, E.; Garzia, I.; Luppi, E.; Piemontese, L.; Santoro, V.; Baldini-Ferroli, R.; Calcaterra, A.; de Sangro, R.; Finocchiaro, G.; Patteri, P.; Piccolo, M.; Rama, M.; Zallo, A.; Contri, R.; Guido, E.; Vetere, M. Lo; Monge, M. R.; Passaggio, S.; Patrignani, C.; Robutti, E.; Bhuyan, B.; Prasad, V.; Lee, C. L.; Morii, M.; Edwards, A. J.; Adametz, A.; Uwer, U.; Lacker, H. M.; Lueck, T.; Dauncey, P. D.; Mallik, U.; Chen, C.; Cochran, J.; Meyer, W. T.; Prell, S.; Rubin, A. E.; Gritsan, A. V.; Guo, Z. J.; Arnaud, N.; Davier, M.; Derkach, D.; Grosdidier, G.; Diberder, F. Le; Lutz, A. M.; Malaescu, B.; Roudeau, P.; Schune, M. H.; Stocchi, A.; Wormser, G.; Lange, D. J.; Wright, D. M.; Chavez, C. A.; Coleman, J. P.; Fry, J. R.; Gabathuler, E.; Hutchcroft, D. E.; Payne, D. J.; Touramanis, C.; Bevan, A. J.; Di Lodovico, F.; Sacco, R.; Sigamani, M.; Cowan, G.; Davis, C. L.; Denig, A. G.; Fritsch, M.; Gradl, W.; Griessinger, K.; Hafner, A.; Prencipe, E.; Barlow, R. J.; Jackson, G.; Lafferty, G. D.; Behn, E.; Cenci, R.; Hamilton, B.; Jawahery, A.; Roberts, D. A.; Dallapiccola, C.; Cowan, R.; Dujmic, D.; Sciolla, G.; Cheaib, R.; Lindemann, D.; Patel, P. M.; Robertson, S. H.; Biassoni, P.; Neri, N.; Palombo, F.; Stracka, S.; Cremaldi, L.; Godang, R.; Kroeger, R.; Sonnek, P.; Summers, D. J.; Nguyen, X.; Simard, M.; Taras, P.; De Nardo, G.; Monorchio, D.; Onorato, G.; Sciacca, C.; Martinelli, M.; Raven, G.; Jessop, C. P.; LoSecco, J. M.; Wang, W. F.; Honscheid, K.; Kass, R.; Brau, J.; Frey, R.; Sinev, N. B.; Strom, D.; Torrence, E.; Feltresi, E.; Gagliardi, N.; Margoni, M.; Morandin, M.; Posocco, M.; Rotondo, M.; Simi, G.; Simonetto, F.; Stroili, R.; Akar, S.; Ben-Haim, E.; Bomben, M.; Bonneaud, G. R.; Briand, H.; Calderini, G.; Chauveau, J.; Hamon, O.; Leruste, Ph.; Marchiori, G.; Ocariz, J.; Sitt, S.; Biasini, M.; Manoni, E.; Pacetti, S.; Rossi, A.; Angelini, C.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Carpinelli, M.; Casarosa, G.; Cervelli, A.; Forti, F.; Giorgi, M. A.; Lusiani, A.; Oberhof, B.; Paoloni, E.; Perez, A.; Rizzo, G.; Walsh, J. J.; Pegna, D. Lopes; Olsen, J.; Smith, A. J. S.; Telnov, A. V.; Anulli, F.; Faccini, R.; Ferrarotto, F.; Ferroni, F.; Gaspero, M.; Gioi, L. Li; Mazzoni, M. A.; Piredda, G.; Bunger, C.; Grunberg, O.; Hartmann, T.; Leddig, T.; Voss, C.; Waldi, R.; Adye, T.; Olaiya, E. O.; Wilson, F. F.; Emery, S.; de Monchenault, G. Hamel; Vasseur, G.; Yeche, Ch.; Aston, D.; Bard, D. J.; Bartoldus, R.; Benitez, J. F.; Cartaro, C.; Convery, M. R.; Dorfan, J.; Dubois-Felsmann, G. P.; Dunwoodie, W.; Ebert, M.; Field, R. C.; Sevilla, M. Franco; Fulsom, B. G.; Gabareen, A. M.; Graham, M. T.; Grenier, P.; Hast, C.; Innes, W. R.; Kelsey, M. H.; Kim, P.; Kocian, M. L.; Leith, D. W. G. S.; Lewis, P.; Lindquist, B.; Luitz, S.; Luth, V.; Lynch, H. L.; MacFarlane, D. B.; Muller, D. R.; Neal, H.; Nelson, S.; Perl, M.; Pulliam, T.; Ratcliff, B. N.; Roodman, A.; Salnikov, A. A.; Schindler, R. H.; Snyder, A.; Su, D.; Sullivan, M. K.; Va'vra, J.; Wagner, A. P.; Wisniewski, W. J.; Wittgen, M.; Wright, D. H.; Wulsin, H. W.; Young, C. C.; Ziegler, V.; Park, W.; Purohit, M. V.; White, R. M.; Wilson, J. R.; Randle-Conde, A.; Sekula, S. J.; Bellis, M.; Burchat, P. R.; Miyashita, T. S.; Puccio, E. M. T.; Alam, M. S.; Ernst, J. A.; Gorodeisky, R.; Guttman, N.; Peimer, D. R.; Soffer, A.; Lund, P.; Spanier, S. M.; Ritchie, J. L.; Ruland, A. M.; Schwitters, R. F.; Wray, B. C.; Izen, J. M.; Lou, X. C.; Bianchi, F.; Gamba, D.; Zambito, S.; Lanceri, L.; Vitale, L.; Martinez-Vidal, F.; Oyanguren, A.; Villanueva-Perez, P.; Ahmed, H.; Albert, J.; Banerjee, Sw.; Bernlochner, F. U.; Choi, H. H. F.; King, G. J.; Kowalewski, R.; Lewczuk, M. J.; Nugent, I. M.; Roney, J. M.; Sobie, R. J.; Tasneem, N.; Gershon, T. J.; Harrison, P. F.; Latham, T. E.; Band, H. R.; Dasu, S.; Pan, Y.; Prepost, R.; Wu, S. L.
Academic Journal
Rück, Andreas; Kim, Won Keun; Abdel-Wahab, Mohamed; Thiele, Holger; Rudolph, Tanja K.; Wolf, Alexander; Wambach, Jan Martin; Backer, Ole De; Sondergaard, Lars; Hengstenberg, Christian; Laine, Mika; Miyashita, Hirokazu; Bjursten, Henrik; Götberg, Matthias; Pellegrini, Costanza; Toggweiler, Stefan; Wykrzykowska, Joanna J.; Soliman, Osama; Saleh, Nawzad; Meduri, Christopher U.
Journal of the American Heart Association. 12(15)
Report
Sakuma, F.; Chiba, J.; En'yo, H.; Fukao, Y.; Funahashi, H.; Hamagaki, H.; Ieiri, M.; Ishino, M.; Kanda, H.; Kitaguchi, M.; Mihara, S.; Miwa, K.; Miyashita, T.; Murakami, T.; Muto, R.; Nakura, T.; Naruki, M.; Ozawa, K.; Sasaki, O.; Sekimoto, M.; Tabaru, T.; Tanaka, K. H.; Togawa, M.; Yamada, S.; Yokkaichi, S.; Yoshimura, Y.
Phys.Rev.Lett.98:152302,2007
Report
BABAR Collaboration; Lees, J. P.; Poireau, V.; Tisserand, V.; Grauges, E.; Palano, A.; Eigen, G.; Brown, D. N.; Kolomensky, Yu. G.; Fritsch, M.; Koch, H.; Cheaib, R.; Hearty, C.; Mattison, T. S.; McKenna, J. A.; So, R. Y.; Blinov, V. E.; Buzykaev, A. R.; Druzhinin, V. P.; Golubev, V. B.; Kozyrev, E. A.; Kravchenko, E. A.; Onuchin, A. P.; Serednyakov, S. I.; Skovpen, Yu. I.; Solodov, E. P.; Todyshev, K. Yu.; Lankford, A. J.; Dey, B.; Gary, J. W.; Long, O.; Eisner, A. M.; Lockman, W. S.; Vazquez, W. Panduro; Chao, D. S.; Cheng, C. H.; Echenard, B.; Flood, K. T.; Hitlin, D. G.; Kim, J.; Li, Y.; Lin, D. X.; Middleton, S.; Miyashita, T. S.; Ongmongkolkul, P.; Oyang, J.; Porter, F. C.; Röhrken, M.; Huard, Z.; Meadows, B. T.; Pushpawela, B. G.; Sokoloff, M. D.; Sun, L.; Smith, J. G.; Wagner, S. R.; Bernard, D.; Verderi, M.; Bettoni, D.; Bozzi, C.; Calabrese, R.; Cibinetto, G.; Fioravanti, E.; Garzia, I.; Luppi, E.; Santoro, V.; Calcaterra, A.; de Sangro, R.; Finocchiaro, G.; Martellotti, S.; Patteri, P.; Peruzzi, I. M.; Piccolo, M.; Rotondo, M.; Zallo, A.; Passaggio, S.; Patrignani, C.; Shuve, B. J.; Lacker, H. M.; Bhuyan, B.; Mallik, U.; Chen, C.; Cochran, J.; Prell, S.; Gritsan, A. V.; Arnaud, N.; Davier, M.; Diberder, F. Le; Lutz, A. M.; Wormser, G.; Lange, D. J.; Wright, D. M.; Coleman, J. P.; Gabathuler, E.; Hutchcroft, D. E.; Payne, D. J.; Touramanis, C.; Bevan, A. J.; Di Lodovico, F.; Sacco, R.; Cowan, G.; Banerjee, Sw.; Davis, C. L.; Denig, A. G.; Gradl, W.; Griessinger, K.; Hafner, A.; Schubert, K. R.; Barlow, R. J.; Lafferty, G. D.; Cenci, R.; Jawahery, A.; Roberts, D. A.; Cowan, R.; Robertson, S. H.; Seddon, R. M.; Neri, N.; Palombo, F.; Cremaldi, L.; Godang, R.; Summers, D. J.; Taras, P.; De Nardo, G.; Sciacca, C.; Raven, G.; Jessop, C. P.; LoSecco, J. M.; Honscheid, K.; Kass, R.; Gaz, A.; Margoni, M.; Posocco, M.; Simi, G.; Simonetto, F.; Stroili, R.; Akar, S.; Ben-Haim, E.; Bomben, M.; Bonneaud, G. R.; Calderini, G.; Chauveau, J.; Marchiori, G.; Ocariz, J.; Biasini, M.; Manoni, E.; Rossi, A.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Carpinelli, M.; Casarosa, G.; Chrzaszcz, M.; Forti, F.; Giorgi, M. A.; Lusiani, A.; Oberhof, B.; Paoloni, E.; Rama, M.; Rizzo, G.; Walsh, J. J.; Zani, L.; Smith, A. J. S.; Anulli, F.; Faccini, R.; Ferrarotto, F.; Ferroni, F.; Pilloni, A.; Piredda, G.; Bünger, C.; Dittrich, S.; Grünberg, O.; Heß, M.; Leddig, T.; Voß, C.; Waldi, R.; Adye, T.; Wilson, F. F.; Emery, S.; Vasseur, G.; Aston, D.; Cartaro, C.; Convery, M. R.; Dorfan, J.; Dunwoodie, W.; Ebert, M.; Field, R. C.; Fulsom, B. G.; Graham, M. T.; Hast, C.; Innes, W. R.; Kim, P.; Leith, D. W. G. S.; Luitz, S.; MacFarlane, D. B.; Muller, D. R.; Neal, H.; Ratcliff, B. N.; Roodman, A.; Sullivan, M. K.; Va'vra, J.; Wisniewski, W. J.; Purohit, M. V.; Wilson, J. R.; Randle-Conde, A.; Sekula, S. J.; Ahmed, H.; Tasneem, N.; Bellis, M.; Burchat, P. R.; Puccio, E. M. T.; Alam, M. S.; Ernst, J. A.; Gorodeisky, R.; Guttman, N.; Peimer, D. R.; Soffer, A.; Spanier, S. M.; Ritchie, J. L.; Schwitters, R. F.; Izen, J. M.; Lou, X. C.; Bianchi, F.; De Mori, F.; Filippi, A.; Gamba, D.; Lanceri, L.; Vitale, L.; Martinez-Vidal, F.; Oyanguren, A.; Albert, J.; Beaulieu, A.; Bernlochner, F. U.; King, G. J.; Kowalewski, R.; Lueck, T.; Miller, C.; Nugent, I. M.; Roney, J. M.; Sobie, R. J.; Gershon, T. J.; Harrison, P. F.; Latham, T. E.; Prepost, R.; Wu, S. L.
PHYS. REV. D 107, 092001 (2023)
Academic Journal
IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing IEEE Trans. Semicond. Manufact. Semiconductor Manufacturing, IEEE Transactions on. 34(3):317-322 Aug, 2021
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[검색어] Miyashita, K.
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어