학술논문

	o		ㅋ	ㄱ	ㅅ	ㅈ	ㅌ	ㄷ	촉	ㄴ	ㅎ	ㅂ	ㅃ	ㅁ	야		ㄹ	와
ㅏ	あ a	ぁ	か ka	が ga	さ sa	ざ za	た ta	だ da		な na	は ha	ば ba	ぱ pa	ま ma	や ya	ゃ lya	ら ra	わ wa	ゎ lwa	ん n
l	い i	ぃ	き ki	ぎ gi	し si	じ zi	ち ti	ぢ di		に ni	ひ hi	び bi	ぴ pi	み mi			り ri
ㅜ	う u	ぅ	く ku	ぐ gu	す su	ず zu	つ tu	づ du	っ	ぬ nu	ふ hu	ぶ bu	ぷ pu	む mu	ゆ yu	ゅ lyu	る ru
ㅔ	え e	ぇ	け ke	げ ge	せ se	ぜ ze	て te	で de		ね ne	へ he	べ be	ぺ pe	め me			れ re
ㅗ	お o	ぉ	こ ko	ご go	そ so	ぞ zo	と to	ど do		の no	ほ ho	ぼ bo	ぽ po	も mo	よ yo	ょ lyo	ろ ro	を wo

	o		ㅋ	ㄱ	ㅅ	ㅈ	ㅌ	ㄷ	촉	ㄴ	ㅎ	ㅂ	ㅃ	ㅁ	야		ㄹ	와
ㅏ	ア a	ァ	カ ka	ガ ga	サ sa	ザ za	タ ta	ダ da		ナ na	ハ ha	バ ba	パ pa	マ ma	ヤ ya	ャ lya	ラ ra	ワ wa	ヮ lwa		ン n
l	イ i	ィ	キ ki	ギ gi	シ si	ジ zi	チ ti	ヂ di		ニ ni	ヒ hi	ビ bi	ピ pi	ミ mi			リ ri
ㅜ	ウ u	ゥ	ク ku	グ gu	ス su	ズ zu	ツ tu	ヅ du	ッ	ヌ nu	フ hu	ブ bu	プ pu	ム mu	ユ yu	ュ lyu	ル ru			ヴ vu
ㅔ	エ e	ェ	ケ ke	ゲ ge	セ se	ゼ ze	テ te	デ de		ネ ne	ヘ he	ベ be	ぺ pe	メ me			レ re
ㅗ	オ o	ォ	コ ko	ゴ go	ソ so	ゾ zo	ト to	ド do		ノ no	ホ ho	ボ bo	ポ po	モ mo	ヨ yo	ョ lyo	ロ ro	ヲ wo		ーー

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Tanaka, T.; Kawai, K.; Yamada, S.; Einaga, Y.; Tanzawa, T.; Ichikawa, T.; Tamada, S.; Manabe, T.; Kishimoto, J.; Oikawa, Y.; Takashima, Y.; Kuge, H.; Morooka, M.; Helm, M.; Ghodsi, R.; Park, J.-K.; Pan, F.; Ghalam, A.; Guo, J.; Yu, E.; Mohammadzadeh, A.; Kang, J.; Tsai, J.; Lee, E.; Vu, L.; Liu, Y.; Choi, H.; Cheon, K.; Song, D.; Shin, D.; Yun, J.H.; Piccardi, M.; Chan, K.-F.; Luthra, Y.; Srinivasan, D.; Deshmukh, S.; Kavalipurapu, K.; Nguyen, D.; Ramprasad, S.; Luo, M.; Tang, Q.; Lee, H.; Patel, V.; Pekny, T.; Yip, A.; Vali, T.; Sirizotti, E.; Gallo, G.; Incarnati, M.; MacErola, A.; Pilolli, L.; De Santis, L.; Rossini, M.; Moschiano, V.; Santin, G.; Tronca, B.; Prabhu, N.; Sule, P.; Bemalkhedkar, T.; Upadhyayula, K.; Jaramillo, C.

In: Digest of Technical Papers - IEEE International Solid-State Circuits Conference, 2016 IEEE International Solid-State Circuits Conference, ISSCC 2016. (Digest of Technical Papers - IEEE International Solid-State Circuits Conference, 23 February 2016, 59:142-144)

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