학술논문
'학술논문'
에서 검색결과 63건 | 목록
1~10
Conference
Sell, B.; An, S.; Armstrong, J.; Bahr, D.; Bains, B.; Bambery, R.; Bang, K.; Basu, D.; Bendapudi, S.; Bergstrom, D.; Bhandavat, R.; Bhowmick, S.; Buehler, M.; Caselli, D.; Cekli, S.; Chaganti, Vrsk.; Chang, Y. J.; Chikkadi, K.; Chu, T.; Crimmins, T.; Darby, G.; Ege, C.; Elfick, P.; Elko-Hansen, T.; Fang, S.; Gaddam, C.; Ghoneim, M.; Gomez, H.; Govindaraju, S.; Guo, Z.; Hafez, W.; Haran, M.; Hattendorf, M.; Hu, S.; Jain, A.; Jaloviar, S.; Jang, M.; Kameswaran, J.; Kapinus, V.; Kennedy, A.; Klopcic, S.; Krishnan, D.; Leib, J.; Lin, Y.-T.; Lindert, N.; Liu, G.; Loh, O.; Luo, Y.; Mani, S.; Mleczko, M.; Mocherla, S.; Packan, P.; Paik, M.; Paliwal, A.; Pandey, R.; Patankar, K.; Pipes, L.; Plekhanov, P.; Prasad, C.; Prince, M.; Ramalingam, G.; Ramaswamy, R.; Riley, J.; Perez, J. R. Sanchez; Sandford, J.; Sathe, A.; Shah, F.; Shim, H.; Subramanian, S.; Tandon, S.; Tanniru, M.; Thakurta, D.; Troeger, T.; Wang, X.; Ward, C.; Welsh, A.; Wickramaratne, S.; Wnuk, J.; Xu, S. Q.; Yashar, P.; Yaung, J.; Yoon, K.; Young, N.
2022 IEEE Symposium on VLSI Technology and Circuits (VLSI Technology and Circuits) VLSI Technology and Circuits (VLSI Technology and Circuits), 2022 IEEE Symposium on. :282-283 Jun, 2022
Conference
Grover, R.; Acosta, T.; AnDyke, C.; Armagan, E.; Auth, C.; Chugh, S.; Downes, K.; Hattendorf, M.; Jack, N.; Joshi, S.; Kasim, R.; Leatherman, G.; Lee, S.-H.; Lin, C.-Y.; Madhavan, A.; Mao, H.; Lowrie, A.; Martin, G.; McPherson, G.; Nayak, P.; Neale, A.; Nminibapiel, D.; Orr, B.; Palmer, J.; Pelto, C.; Poon, S. S.; Post, I.; Pramanik, T.; Rahman, A.; Ramey, S.; Seifert, N.; Sethi, K.; Schmitz, A.; Wu, H.; Yeoh, A.
2020 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) Reliability Physics Symposium (IRPS), 2020 IEEE International. :1-6 Apr, 2020
Conference
Auth, C.; Aliyarukunju, A.; Asoro, M.; Bergstrom, D.; Bhagwat, V.; Birdsall, J.; Bisnik, N.; Buehler, M.; Chikarmane, V.; Ding, G.; Fu, Q.; Gomez, H.; Han, W.; Hanken, D.; Haran, M.; Hattendorf, M.; Heussner, R.; Hiramatsu, H.; Ho, B.; Jaloviar, S.; Jin, I.; Joshi, S.; Kirby, S.; Kosaraju, S.; Kothari, H.; Leatherman, G.; Lee, K.; Leib, J.; Madhavan, A.; Marla, K.; Meyer, H.; Mule, T.; Parker, C.; Parthasarathy, S.; Pelto, C.; Pipes, L.; Post, I.; Prince, M.; Rahman, A.; Rajamani, S.; Saha, A.; Santos, J. Dacuna; Sharma, M.; Sharma, V.; Shin, J.; Sinha, P.; Smith, P.; Sprinkle, M.; Amour, A. St.; Staus, C.; Suri, R.; Towner, D.; Tripathi, A.; Tura, A.; Ward, C.; Yeoh, A.
2017 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2017 IEEE International. :29.1.1-29.1.4 Dec, 2017
Conference
2000 IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest (Cat. No.00CH37017) Microwave symposium Microwave Symposium Digest. 2000 IEEE MTT-S International. 2:1209-1212 vol.2 2000
Conference
Heins, M.S.; Juneja, T.; Fendrich, J.A.; Mu, J.; Scott, D.; Yang, Q.; Hattendorf, M.; Stillman, G.E.; Feng, M.
1999 IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest (Cat. No.99CH36282) Microwave symposium Microwave Symposium Digest, 1999 IEEE MTT-S International. 1:239-242 vol.1 1999
Conference
Pae, S.; Ghani, T.; Hattendorf, M.; Hicks, J.; Jopling, J.; Maiz, J.; Mistry, K.; O'Donnell, J.; Prasad, C.; Wiedemer, J.; Xu, J.
2009 IEEE International Reliability Physics Symposium Reliability Physics Symposium, 2009 IEEE International. :499-504 Apr, 2009
Conference
Packan, P.; Cea, S.; Deshpande, H.; Ghani, T.; Giles, M.; Golonzka, O.; Hattendorf, M.; Kotlyar, R.; Kuhn, K.; Murthy, A.; Ranade, P.; Shifren, L.; Weber, C.; Zawadzki, K.
2008 IEEE International Electron Devices Meeting Electron Devices Meeting, 2008. IEDM 2008. IEEE International. :1-4 Dec, 2008
Conference
Auth, C.; Cappellani, A.; Chun, J.-S.; Dalis, A.; Davis, A.; Ghani, T.; Glass, G.; Glassman, T.; Harper, M.; Hattendorf, M.; Hentges, P.; Jaloviar, S.; Joshi, S.; Klaus, J.; Kuhn, K.; Lavric, D.; Lu, M.; Mariappan, H.; Mistry, K.; Norris, B.; Rahhal-orabi, N.; Ranade, P.; Sandford, J.; Shifren, L.; Souw, V.; Tone, K.; Tambwe, F.; Thompson, A.; Towner, D.; Troeger, T.; Vandervoorn, P.; Wallace, C.; Wiedemer, J.; Wiegand, C.
2008 Symposium on VLSI Technology VLSI Technology, 2008 Symposium on. :128-129 Jun, 2008
Conference
Pae, S.; Agostinelli, M.; Brazier, M.; Chau, R.; Dewey, G.; Ghani, T.; Hattendorf, M.; Hicks, J.; Kavalieros, J.; Kuhn, K.; Kuhn, M.; Maiz, J.; Metz, M.; Mistry, K.; Prasad, C.; Ramey, S.; Roskowski, A.; Sandford, J.; Thomas, C.; Thomas, J.; Wiegand, C.; Wiedemer, J.
2008 IEEE International Reliability Physics Symposium Reliability Physics Symposium, 2008. IRPS 2008. IEEE International. :352-357 Apr, 2008
Conference
Prasad, C.; Agostinelli, M.; Auth, C.; Brazier, M.; Chau, R.; Dewey, G.; Ghani, T.; Hattendorf, M.; Hicks, J.; Jopling, J.; Kavalieros, J.; Kotlyar, R.; Kuhn, M.; Kuhn, K.; Maiz, J.; McIntyre, B.; Metz, M.; Mistry, K.; Pae, S.; Rachmady, W.; Ramey, S.; Roskowski, A.; Sandford, J.; Thomas, C.; Wiegand, C.; Wiedemer, J.
2008 IEEE International Reliability Physics Symposium Reliability Physics Symposium, 2008. IRPS 2008. IEEE International. :667-668 Apr, 2008
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[AR] Hattendorf, M.
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어