학술논문
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1~20
Academic Journal
IEEE Transactions on Nuclear Science IEEE Trans. Nucl. Sci. Nuclear Science, IEEE Transactions on. 72(8):2395-2402 Aug, 2025
Conference
Mohamad, B.; Royer, C. Le; Rigaud-Minet, F.; Piotrowicz, C.; Paes Pinto Rocha, P. Fernandes; Leurquin, C.; Vandendaele, W.; Escoffier, R.; Buckley, J.; Becu, S.; Biscarrat, J.; Gwoziecki, R.
2023 7th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM) Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM), 2023 7th IEEE. :1-3 Mar, 2023
Academic Journal
IEEE Sensors Journal IEEE Sensors J. Sensors Journal, IEEE. 23(8):8162-8168 Apr, 2023
Conference
Le Royer, C.; Mohamad, B.; Biscarrat, J.; Vauche, L.; Escoffier, R.; Buckley, J.; Becu, S.; Riat, R.; Gillot, C.; Charles, M.; Ruel, S.; Pimenta-Barros, P.; Posseme, N.; Besson, P.; Boudaa, F.; Vannuffel, C.; Vandendaele, W.; Viey, A.G.; Krakovinsky, A.; Jaud, M.-A.; Modica, R.; Iucolano, F.; Tiec, R. Le; Levi, S.; Orsatelli, M.; Gwoziecki, R.; Sousa, V.
2022 IEEE 34th International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD) Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD), 2022 IEEE 34th International Symposium on. :49-52 May, 2022
Academic Journal
Kumar, M.; Xu, L.; Labau, T.; Biscarrat, J.; Torrengo, S.; Charles, M.; Lecouvey, C.; Olivier, A.; Zgheib, J.; Escoffier, R.; Buckley, J.
In: Crystals . (Crystals, January 2025, 15(1))
Academic Journal
In Microelectronics Reliability 2009 49(9):1341-1345
Conference
Leurquin, C.; Vandendaele, W.; Viey, A.G; Gwoziecki, R.; Escoffier, R.; Salot, R.; Despesse, G.; Iucolano, F.; Modica, R.; Constant, A.
2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) Reliability Physics Symposium (IRPS), 2022 IEEE International. :10B.3-1-10B.3-6 Mar, 2022
Academic Journal
Villeneuve, P. ; Turon, F. ; Caro, Y. ; Escoffier, R. ; Baréa, B. ; Barouh, B. ; Lago, R. ; Piombo, G. ; Pina, M.
In Enzyme and Microbial Technology 2005 37(1):150-155
Academic Journal
Fernandes Paes Pinto Rocha, P.; Vauche, L.; Pimenta-Barros, P.; Ruel, S.; Escoffier, R.; Buckley, J.
In: Energies . (Energies, April 2023, 16(7))
Academic Journal
Droupy, S.; Bouvet, S.; Bernard De Courville, S.; Escoffier, R.; Martin, L.; Boukaram, M.; Martin, N.; Bongrand, B.; Chkair, S.; Poinas, G.; Lechevallier, E.
European Urology Open Science. 67:S48-S48
Report
Matthews, L. D.; Crew, G. B.; Doeleman, S. S.; Lacasse, R.; Saez, A.; Alef, W.; Akiyama, K.; Amestica, R.; Anderson, J. M.; Barkats, D. A.; Baudry, A.; Brogiere, D.; Escoffier, R.; Fish, V. L.; Greenberg, J.; Hecht, M. H.; Hiriart, R.; Hirota, A.; Honma, M.; Ho, P. T. P.; Impellizzeri, C. M. V.; Inoue, M.; Kohno, Y.; Lopez, B.; Marti-Vidal, I.; Messias, H.; Meyer-Zhao, Z.; Mora-Klein, M.; Nagar, N. M.; Nishioka, H.; Oyama, T.; Pankratius, V.; Perez, J.; Phillips, N.; Pradel, N.; Rottmann, H.; Roy, A. L.; Ruszczyk, C. A.; Shillue, B.; Suzuki, S.; Treacy, R.
Conference
Vandendaele, W.; Garros, X.; Lorin, T.; Morvan, E.; Torres, A.; Escoffier, R.; Jaud, M A; Plissonnier, M.; Gaillard, F.
2018 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) Reliability Physics Symposium (IRPS), 2018 IEEE International. :4B.2-1-4B.2-6 Mar, 2018
Academic Journal
Escoffier, R.; Mohamad, B.; Buckley, J.; Gwoziecki, R.; Biscarrat, J.; Sousa, V.; Orsatelli, M.; Marcault, E.; Ranc, J.; Modica, R.; Iucolano, F.
In: Energies . (Energies, February-1 2022, 15(3))
Conference
Proceedings of the Third European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems Radiation and its effects on components and systems Radiation and its Effects on Components and Systems, 1995. RADECS 95., Third European Conference on. :45-49 1995
Conference
Escoffier, R.; Torres, A.; Fayolle-Lecocq, M.; Buj-Dufournet, C.; Morvan, E.; Charles, M.; Poisson, M. A.
2012 IEEE International SOI Conference (SOI) SOI Conference (SOI), 2012 IEEE International. :1-2 Oct, 2012
Academic Journal
Brisset, C.; Ferlet-Cavrois, V.; Flament, O.; Musseau, O.; Leray, J.L.; Pelloie, J.L.; Escoffier, R.; Michez, A.; Cirba, C.; Bordure, G.
IEEE Transactions on Nuclear Science IEEE Trans. Nucl. Sci. Nuclear Science, IEEE Transactions on. 43(6):2651-2658 Dec, 1996
Conference
Di Cioccio, L.; Morvan, E.; Charles, M.; Perichon, P.; Torres, A.; Ayel, F.; Bergogne, D.; Baines, Y.; Fayolle, M.; Escoffier, R.; Vandendaele, W.; Barranger, D.; Garnier, G.; Mendizabal, L.; Thollin, B.; Plissonnier, M.
2015 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2015 IEEE International. :16.5.1-16.5.4 Dec, 2015
Academic Journal
In: Journal of Computational Electronics . (Journal of Computational Electronics, 1 September 2018, 17(3):1220-1228)
Academic Journal
In: Microelectronic Engineering . (Microelectronic Engineering, 25 June 2017, 178:158-163)
Academic Journal
Charles, M.; Baines, Y.; Bos, S.; Escoffier, R.; Garnier, G.; Kanyandekwe, J.; Lebreton, J.; Vandendaele, W.
In: Journal of Crystal Growth . (Journal of Crystal Growth, 15 April 2017, 464:164-167)
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