학술논문
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Blanc-Coquand, S.; Hinschberger, B.; Rouchouze, E.; Sicurani, E.; Castagna, M.; Weschler, M.; Dworkin, L.; Renard, D.; Panyasak, A.
In: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering , Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XVIII. (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 2004, 5375(PART 2):819-826)
Academic Journal
Blanc-Coquand, S.; Hinschberger, B.; Rouchouze, E.; Sicurani, E.; Teshima, J.; Castagna, M.; Weschler, M.; Dworkin, L.; Renard, D.
In: MICRO . (MICRO, June 2004, 22(5):77-86)
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[AR] Blanc-Coquand, S.
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