학술논문 – 부산대학교 도서관

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A robust 45 nm gate-length CMOSFET for 90 nm Hi-speed technology

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Article

Author

Lim, K.Y.; Chan, V.; Rengarajan, R.; Lee, H.K.; Rovedo, N.; Lim, E.H.; Yang, S.; Jamin, F.; Nguyen, P.; Lin, W.; Lai, C.W.; Teh, Y.W.; Lee, J.; Kim, L.; Luo, Z.; Ng, H.; Sudijono, J.; Wann, C.; Yang, I.

Source

In Solid State Electronics 2006 50(4):579-586

Subject

Language

ISSN

0038-1101

Online Access

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