학술논문
Projected WIMP sensitivity of the XENONnT dark matter experiment
Document Type
Article
Author
Aprile, E.; Gao, F.; Howlett, J.; Kobayashi, M.; Lin, Q.; Morå, K.; Plante, G.; Xu, Z.; Zhang, Y.; Zhu, T.; Aalbers, J.; Antochi, V.C.; Barge, D.; Bauermeister, B.; Conrad, J.; Mahlstedt, J.; Pelssers, B.; Agostini, F.; Bellagamba, L.; Di Gangi, P.; Mancuso, A.; Sartorelli, G.; Selvi, M.; Semeria, F.; Zavattini, G.; Alfonsi, M.; Hils, C.; Oberlack, U.; Scheibelhut, M.; Wenz, D.; Althueser, L.; Murra, M.; Schulte, D.; Vargas, M.; Weinheimer, C.; Wittweg, C.; Amaro, F.D.; Cardoso, J.M.R.; Lombardi, F.; Lopes, J.A.M.; Dos Santos, J.M.F.; Silva, M.; Angelino, E.; Fulgione, W.; Trinchero, G.; Angevaare, J.R.; Bruenner, S.; Colijn, A.P.; Decowski, M.P.; Gaemers, P.; Arneodo, F.; Benabderrahmane, M.L.; Bruno, G.; Di Giovanni, A.; Manenti, L.; Baudis, L.; Brown, A.; Capelli, C.; Galloway, M.; Manfredini, A.; Peres, R.; Reichard, S.; Volta, G.; Berger, T.; Brown, E.; Odgers, K.; Budnik, R.; Koltman, G.; Landsman, H.; Levinson, L.; Mosbacher, Y.; Qiu, H.; Weiss, M.; Cichon, D.; Eurin, G.; Hasterok, C.; Hoetzsch, L.; Joerg, F.; Lindner, M.; Undagoitia, T.M.; Palacio, J.; Pizzella, V.; Rupp, N.; Schreiner, J.; Simgen, H.; Cimmino, B.; Di Stefano, R.; Iacovacci, M.; Marignetti, F.; Mastroianni, S.; Clark, M.; Depoian, A.; Kopec, A.; Lang, R.F.; Qin, J.; Coderre, D.; Elykov, A.; Lindemann, S.; Masson, D.; García, D.R.; Rocchetti, A.; Šarčević, N.; Schumann, M.; Toschi, F.; Cussonneau, J.P.; Diglio, S.; Masbou, J.; Therreau, C.; Thers, D.; Ferella, A.D.; Messina, M.; Molinario, A.; Naganoma, J.; Gaior, R.; Fune, E.L.; Lavina, L.S.; Zopounidis, J.P.; Grandi, L.; Long, J.; Pienaar, J.; Shockley, E.; Hiraide, K.; Kato, N.; Martens, K.; Moriyama, S.; Takeda, A.; Yamashita, M.; Itow, Y.; Kazama, S.; MacOlino, C.; Miuchi, K.; Mizukoshi, K.; Ni, K.; Wei, Y.; Ye, J.; Shagin, P.; Tunnell, C.; Valerius, K.; Wang, H.
Source
In: Journal of Cosmology and Astroparticle Physics . (Journal of Cosmology and Astroparticle Physics, November 2020, 2020(11))
Subject
Language
English
ISSN
14757516