학술논문
Low-energy calibration of XENON1T with an internal 37 Ar source
Document Type
Article
Author
Aprile, E.; Howlett, J.; Morå, K.; Murra, M.; Plante, G.; Shi, S.; Xu, D.; Xu, Z.; Ye, J.; Zerbo, S.; Zhu, T.; Abe, K.; Bui, T.K.; Kato, N.; Martens, K.; Moriyama, S.; Takeda, A.; Yamashita, M.; Agostini, F.; Bellagamba, L.; Di Gangi, P.; Mancuso, A.; Sartorelli, G.; Selvi, M.; Semeria, F.; Zavattini, G.; Ahmed Maouloud, S.; Andrieu, B.; Gaior, R.; Masson, E.; Lavina, L.S.; Alfonsi, M.; Hils, C.; Lombardi, F.; Oberlack, U.; Shagin, P.; Wenz, D.; Althueser, L.; Jakob, J.; Schulte, D.; Schulte, P.; Schulze Eißing, H.; Weinheimer, C.; Angelino, E.; Fulgione, W.; Molinario, A.; Trinchero, G.; Angevaare, J.R.; Bruenner, S.; Colijn, A.P.; Decowski, M.P.; Di Pede, S.; Gaemers, P.; Antochi, V.C.; Conrad, J.; Gallo Rosso, A.; Joy, A.; Mahlstedt, J.; Tan, P.-L.; Antón Martin, D.; Grandi, L.; Long, J.; Pienaar, J.; Yuan, L.; Arneodo, F.; Manenti, L.; Sarnoff, I.; Baudis, L.; Bismark, A.; Capelli, C.; Cuenca-García, J.J.; Galloway, M.; Peres, R.; Ramírez García, D.; Sanchez-Lucas, P.; Volta, G.; Wittweg, C.; Baxter, A.L.; Lang, R.F.; Li, S.; Qin, J.; Biondi, R.; D’Andrea, V.; Ferella, A.D.; Ferrari, C.; Macolino, C.; Messina, M.; Brown, A.; Elykov, A.; Fischer, H.; Glade-Beucke, R.; Grigat, J.; Kuger, F.; Lindemann, S.; Masson, D.; Müller, J.; Rocchetti, A.; Schumann, M.; Toschi, F.; Tönnies, F.; Bruno, G.; Cussonneau, J.P.; Diglio, S.; Loizeau, J.; Masbou, J.; Pierre, M.; Thers, D.; Budnik, R.; Kavrigin, P.; Koltman, G.; Landsman, H.; Levinson, L.; Mosbacher, Y.; Paetsch, B.; Weiss, M.; Cai, C.; Gao, F.; Liu, K.; Cardoso, J.M.R.; Lopes, J.A.M.; Santos, J.M.F.; Silva, M.; Cichon, D.; Guida, M.; Hammann, R.; Hoetzsch, L.; Joerg, F.; Lindner, M.; Marrodán Undagoitia, T.; Palacio, J.; Pizzella, V.; Rupp, N.; Schreiner, J.; Simgen, H.; Terliuk, A.; Wolf, T.; Eitel, K.; Kara, M.; Reichard, S.; Valerius, K.; Farrell, S.; Higuera, A.; Li, I.; Liang, S.; Peters, C.; Sanchez, L.; Tunnell, C.; Iacovacci, M.; Marignetti, F.; Mastroianni, S.; Itow, Y.; Kazama, S.; Kobayashi, M.; Kopec, A.; Ma, Y.; Ni, K.; Qi, J.; Shockley, E.; Yang, L.; Zhong, M.; Miuchi, K.; Mizukoshi, K.; Geppert, C.; Riemer, J.
Source
In: European Physical Journal C . (European Physical Journal C, June 2023, 83(6))
Subject
Language
English
ISSN
14346052
14346044
14346044