학술논문
'학술논문'
에서 검색결과 2,847건 | 목록
1~10
Report
Aprile, E.; Aalbers, J.; Abe, K.; Maouloud, S. Ahmed; Althueser, L.; Andrieu, B.; Angelino, E.; Angevaare, J. R.; Martin, D. Antón; Arneodo, F.; Baudis, L.; Baxter, A. L.; Bazyk, M.; Bellagamba, L.; Biondi, R.; Bismark, A.; Brookes, E. J.; Brown, A.; Bruno, G.; Budnik, R.; Bui, T. K.; Cardoso, J. M. R.; Chavez, A. P. Cimental; Colijn, A. P.; Conrad, J.; Cuenca-García, J. J.; D'Andrea, V.; Garcia, L. C. Daniel; Decowski, M. P.; Di Donato, C.; Di Gangi, P.; Diglio, S.; Eitel, K.; Elykov, A.; Ferella, A. D.; Ferrari, C.; Fischer, H.; Flehmke, T.; Flierman, M.; Fulgione, W.; Fuselli, C.; Gaemers, P.; Gaior, R.; Galloway, M.; Gao, F.; Ghosh, S.; Glade-Beucke, R.; Grandi, L.; Grigat, J.; Guan, H.; Guida, M.; Hammann, R.; Higuera, A.; Hils, C.; Hoetzsch, L.; Hood, N. F.; Iacovacci, M.; Itow, Y.; Jakob, J.; Joerg, F.; Joy, A.; Kaminaga, Y.; Kara, M.; Kavrigin, P.; Kazama, S.; Kobayashi, M.; Kopec, A.; Kuger, F.; Landsman, H.; Lang, R. F.; Levinson, L.; Li, I.; Li, S.; Liang, S.; Lin, Y. T.; Lindemann, S.; Lindner, M.; Liu, K.; Loizeau, J.; Lombardi, F.; Long, J.; Lopes, J. A. M.; Luce, T.; Ma, Y.; Macolino, C.; Mahlstedt, J.; Mancuso, A.; Manenti, L.; Marignetti, F.; Undagoitia, T. Marrodán; Martens, K.; Masbou, J.; Masson, E.; Mastroianni, S.; Melchiorre, A.; Messina, M.; Michael, A.; Miuchi, K.; Molinario, A.; Moriyama, S.; Morå, K.; Mosbacher, Y.; Murra, M.; Müller, J.; Ni, K.; Oberlack, U.; Paetsch, B.; Palacio, J.; Pan, Y.; Pellegrini, Q.; Peres, R.; Peters, C.; Pienaar, J.; Pierre, M.; Plante, G.; Pollmann, T. R.; Principe, L.; Qi, J.; Qin, J.; García, D. Ramírez; Rajado, M.; Shi, J.; Singh, R.; Sanchez, L.; Santos, J. M. F. dos; Sarnoff, I.; Sartorelli, G.; Schreiner, J.; Schulte, D.; Schulte, P.; Eißing, H. Schulze; Schumann, M.; Lavina, L. Scotto; Selvi, M.; Semeria, F.; Shagin, P.; Shi, S.; Silva, M.; Simgen, H.; Takeda, A.; Tan, P. -L.; Terliuk, A.; Thers, D.; Toschi, F.; Trinchero, G.; Tunnell, C.; Tönnies, F.; Valerius, K.; Vecchi, S.; Vetter, S.; Volta, G.; Weinheimer, C.; Weiss, M.; Wenz, D.; Wittweg, C.; Wolf, T.; Wu, V. H. S.; Xing, Y.; Xu, D.; Xu, Z.; Yamashita, M.; Yang, L.; Ye, J.; Yuan, L.; Zavattini, G.; Zhong, M.; Zhu, T.
Report
XENON Collaboration; Aprile, E.; Aalbers, J.; Abe, K.; Maouloud, S. Ahmed; Althueser, L.; Andrieu, B.; Angelino, E.; Angevaare, J. R.; Antochi, V. C.; Martin, D. Antón; Arneodo, F.; Balata, M.; Baudis, L.; Baxter, A. L.; Bazyk, M.; Bellagamba, L.; Biondi, R.; Bismark, A.; Brookes, E. J.; Brown, A.; Bruenner, S.; Bruno, G.; Budnik, R.; Bui, T. K.; Cai, C.; Cardoso, J. M. R.; Cassese, F.; Chiarini, A.; Cichon, D.; Chavez, A. P. Cimental; Colijn, A. P.; Conrad, J.; Corrieri, R.; Cuenca-García, J. J.; Cussonneau, J. P.; Dadoun, O.; D'Andrea, V.; Decowski, M. P.; De Fazio, B.; Di Gangi, P.; Diglio, S.; Disdier, J. M.; Douillet, D.; Eitel, K.; Elykov, A.; Farrell, S.; Ferella, A. D.; Ferrari, C.; Fischer, H.; Flierman, M.; Form, S.; Front, D.; Fulgione, W.; Fuselli, C.; Gaemers, P.; Gaior, R.; Rosso, A. Gallo; Galloway, M.; Gao, F.; Gardner, R.; Garroum, N.; Glade-Beucke, R.; Grandi, L.; Grigat, J.; Guan, H.; Guerzoni, M.; Guida, M.; Hammann, R.; Higuera, A.; Hils, C.; Hoetzsch, L.; Hood, N. F.; Howlett, J.; Huhmann, C.; Iacovacci, M.; Iaquaniello, G.; Iven, L.; Itow, Y.; Jakob, J.; Joerg, F.; Joy, A.; Kara, M.; Kavrigin, P.; Kazama, S.; Kobayashi, M.; Koltman, G.; Kopec, A.; Kuger, F.; Landsman, H.; Lang, R. F.; Levinson, L.; Li, I.; Li, S.; Liang, S.; Lindemann, S.; Lindner, M.; Liu, K.; Loizeau, J.; Lombardi, F.; Long, J.; Lopes, J. A. M.; Ma, Y.; Macolino, C.; Mahlstedt, J.; Mancuso, A.; Manenti, L.; Marignetti, F.; Undagoitia, T. Marrodán; Martella, P.; Martens, K.; Masbou, J.; Masson, D.; Masson, E.; Mastroianni, S.; Mele, E.; Messina, M.; Michinelli, R.; Miuchi, K.; Molinario, A.; Moriyama, S.; Morå, K.; Mosbacher, Y.; Murra, M.; Müller, J.; Ni, K.; Nisi, S.; Oberlack, U.; Orlandi, D.; Othegraven, R.; Paetsch, B.; Palacio, J.; Parlati, S.; Paschos, P.; Pellegrini, Q.; Peres, R.; Peters, C.; Pienaar, J.; Pierre, M.; Plante, G.; Pollmann, T. R.; Qi, J.; Qin, J.; García, D. Ramírez; Rynge, M.; Shi, J.; Singh, R.; Sanchez, L.; Santos, J. M. F. dos; Sarnoff, I.; Sartorelli, G.; Schreiner, J.; Schulte, D.; Schulte, P.; Eißing, H. Schulze; Schumann, M.; Lavina, L. Scotto; Selvi, M.; Semeria, F.; Shagin, P.; Shi, S.; Shockley, E.; Silva, M.; Simgen, H.; Stephen, J.; Stern, M.; Stillwell, B. K.; Takeda, A.; Tan, P. -L.; Tatananni, D.; Terliuk, A.; Thers, D.; Toschi, F.; Trinchero, G.; Tunnell, C.; Tönnies, F.; Valerius, K.; Volta, G.; Weinheimer, C.; Weiss, M.; Wenz, D.; Westermann, J.; Wittweg, C.; Wolf, T.; Wu, V. H. S.; Xing, Y.; Xu, D.; Xu, Z.; Yamashita, M.; Yang, L.; Ye, J.; Yuan, L.; Zavattini, G.; Zhong, M.; Zhu, T.
Academic Journal
IEEE Sensors Letters IEEE Sens. Lett. Sensors Letters, IEEE. 7(9):1-4 Sep, 2023
Academic Journal
Allers, M.; Ahrens, A.; Hitzemann, M.; Bock, H.; Wolf, T.; Radunz, J.; Meyer, F.; Wilsenack, F.; Zimmermann, S.; Ficks, A.
IEEE Sensors Journal IEEE Sensors J. Sensors Journal, IEEE. 23(15):16562-16570 Aug, 2023
Report
Aprile, E.; Abe, K.; Maouloud, S. Ahmed; Althueser, L.; Andrieu, B.; Angelino, E.; Angevaare, J. R.; Antochi, V. C.; Martin, D. Antón; Arneodo, F.; Baudis, L.; Baxter, A. L.; Bazyk, M.; Bellagamba, L.; Biondi, R.; Bismark, A.; Brookes, E. J.; Brown, A.; Bruenner, S.; Bruno, G.; Budnik, R.; Bui, T. K.; Cai, C.; Cardoso, J. M. R.; Cichon, D.; Chávez, A. P. Cimental; Colijn, A. P.; Conrad, J.; Cuenca-García, J. J.; Cussonneau, J. P.; DÁndrea, V.; Decowski, M. P.; Di Gangi, P.; Diglio, S.; Eitel, K.; Elykov, A.; Farrell, S.; Ferella, A. D.; Ferrari, C.; Fischer, H.; Flierman, M.; Fulgione, W.; Fuselli, C.; Gaemers, P.; Gaior, R.; Rosso, A. Gallo; Galloway, M.; Gao, F.; Glade-Beucke, R.; Grandi, L.; Grigat, J.; Guan, H.; Guida, M.; Hammann, R.; Higuera, A.; Hils, C.; Hoetzsch, L.; Hood, N. F.; Howlett, J.; Iacovacci, M.; Itow, Y.; Jakob, J.; Joerg, F.; Joy, A.; Kara, M.; Kavrigin, P.; Kazama, S.; Kobayashi, M.; Koltman, G.; Kopec, A.; Kuger, F.; Landsman, H.; Lang, R. F.; Levinson, L.; Li, I.; Li, S.; Liang, S.; Lindemann, S.; Lindner, M.; Liu, K.; Loizeau, J.; Lombardi, F.; Long, J.; Lopes, J. A. M.; Ma, Y.; Macolino, C.; Mahlstedt, J.; Mancuso, A.; Manenti, L.; Marignetti, F.; Undagoitia, T. Marrodán; Martens, K.; Masbou, J.; Masson, D.; Masson, E.; Mastroianni, S.; Messina, M.; Miuchi, K.; Molinario, A.; Moriyama, S.; Morå, K.; Mosbacher, Y.; Murra, M.; Müller, J.; Ni, K.; Oberlack, U.; Paetsch, B.; Palacio, J.; Pellegrini, Q.; Peres, R.; Peters, C.; Pienaar, J.; Pierre, M.; Plante, G.; Pollmann, T. R.; Qi, J.; Qin, J.; García, D. Ramírez; Šarčević, N.; Shi, J.; Singh, R.; Sanchez, L.; Santos, J. M. F. dos; Sarnoff, I.; Sartorelli, G.; Schreiner, J.; Schulte, D.; Schulte, P.; Eißing, H. Schulze; Schumann, M.; Lavina, L. Scotto; Selvi, M.; Semeria, F.; Shagin, P.; Shi, S.; Shockley, E.; Silva, M.; Simgen, H.; Takeda, A.; Tan, P. -L.; Terliuk, A.; Thers, D.; Toschi, F.; Trinchero, G.; Tunnell, C.; Tönnies, F.; Valerius, K.; Volta, G.; Weinheimer, C.; Weiss, M.; Wenz, D.; Wittweg, C.; Wolf, T.; Wu, V. H. S.; Xing, Y.; Xu, D.; Xu, Z.; Yamashita, M.; Yang, L.; Ye, J.; Yuan, L.; Zavattini, G.; Zhong, M.; Zhu, T.
Eur. Phys. J. C 84, 138 (2024)
Academic Journal
Khanna, A.; Boorjian, S.A.; Frank, I.; Shah, P.; Sharma, V.; Thompson, R.H.; Tollefson, M.; Antolin, A.; Bar, O.; Ben-Ayoun, D.; Zohar, M.; Wolf, T.; Asselmann, D.
In: Journal of Urology . (Journal of Urology, 1 April 2024, 211(4):575-584)
Academic Journal
In: Langmuir . (Langmuir, 5 March 2024, 40(9):4762-4771)
Report
Adrover, M.; Althueser, L.; Andrieu, B.; Angelino, E.; Angevaare, J. R.; Antunovic, B.; Aprile, E.; Babicz, M.; Bajpai, D.; Barberio, E.; Baudis, L.; Bazyk, M.; Bell, N.; Bellagamba, L.; Biondi, R.; Biondi, Y.; Bismark, A.; Boehm, C.; Breskin, A.; Brookes, E. J.; Brown, A.; Bruno, G.; Budnik, R.; Capelli, C.; Cardoso, J. M. R.; Chauvin, A.; Chavez, A. P. Cimental; Colijn, A. P.; Conrad, J.; Cuenca-García, J. J.; D'Andrea, V.; Decowski, M. P.; Deisting, A.; Di Gangi, P.; Diglio, S.; Doerenkamp, M.; Drexlin, G.; Eitel, K.; Elykov, A.; Engel, R.; Farrell, S.; Ferella, A. D.; Ferrari, C.; Fischer, H.; Flierman, M.; Fulgione, W.; Gaemers, P.; Gaior, R.; Galloway, M.; Garroum, N.; Ghosh, S.; Girard, F.; Glade-Beucke, R.; Glück, F.; Grandi, L.; Grigat, J.; Größle, R.; Guan, H.; Guida, M.; Hammann, R.; Hannen, V.; Hansmann-Menzemer, S.; Hargittai, N.; Hasegawa, T.; Hils, C.; Higuera, A.; Hiraoka, K.; Hoetzsch, L.; Iacovacci, M.; Itow, Y.; Jakob, J.; Jörg, F.; Kara, M.; Kavrigin, P.; Kazama, S.; Keller, M.; Kilminster, B.; Kleifges, M.; Kobayashi, M.; Kopec, A.; von Krosigk, B.; Kuger, F.; Landsman, H.; Lang, R. F.; Li, I.; Li, S.; Liang, S.; Lindemann, S.; Lindner, M.; Lombardi, F.; Loizeau, J.; Luce, T.; Ma, Y.; Macolino, C.; Mahlstedt, J.; Mancuso, A.; Undagoitia, T. Marrodán; Lopes, J. A. M.; Marignetti, F.; Martens, K.; Masbou, J.; Mastroianni, S.; Milutinovic, S.; Miuchi, K.; Miyata, R.; Molinario, A.; Monteiro, C. M. B.; Morå, K.; Morteau, E.; Mosbacher, Y.; Müller, J.; Murra, M.; Newstead, J. L.; Ni, K.; Oberlack, U. G.; Ostrovskiy, I.; Paetsch, B.; Pandurovic, M.; Pellegrini, Q.; Peres, R.; Pienaar, J.; Pierre, M.; Piotter, M.; Plante, G.; Pollmann, T. R.; Principe, L.; Qi, J.; Qin, J.; Silva, M. Rajado; García, D. Ramírez; Razeto, A.; Sakamoto, S.; Sanchez, L.; Sanchez-Lucas, P.; Santos, J. M. F. dos; Sartorelli, G.; Scaffidi, A.; Schulte, P.; Schultz-Coulon, H. -C.; Eißing, H. Schulze; Schumann, M.; Lavina, L. Scotto; Selvi, M.; Semeria, F.; Shagin, P.; Sharma, S.; Shen, W.; Silva, M.; Simgen, H.; Singh, R.; Solmaz, M.; Stanley, O.; Steidl, M.; Tan, P. L.; Terliuk, A.; Thers, D.; Thümmler, T.; Tönnies, F.; Toschi, F.; Trinchero, G.; Trotta, R.; Tunnell, C.; Urquijo, P.; Valerius, K.; Vecchi, S.; Vetter, S.; Volta, G.; Vorkapic, D.; Wang, W.; Weerman, K. M.; Weinheimer, C.; Weiss, M.; Wenz, D.; Wittweg, C.; Wolf, J.; Wolf, T.; Wu, V. H. S.; Wurm, M.; Xing, Y.; Yamashita, M.; Ye, J.; Zavattini, G.; Zuber, K.
Report
XENON Collaboration; Aprile, E.; Abe, K.; Maouloud, S. Ahmed; Althueser, L.; Andrieu, B.; Angelino, E.; Angevaare, J. R.; Antochi, V. C.; Martin, D. Antoń; Arneodo, F.; Baudis, L.; Baxter, A. L.; Bazyk, M.; Bellagamba, L.; Biondi, R.; Bismark, A.; Brookes, E. J.; Brown, A.; Bruenner, S.; Bruno, G.; Budnik, R.; Bui, T. K.; Cai, C.; Cardoso, J. M. R.; Chavez, A. P. Cimental; Colijn, A. P.; Conrad, J.; Cuenca-García, J. J.; D'Andrea, V.; Decowski, M. P.; Di Gangi, P.; Diglio, S.; Eitel, K.; Elykov, A.; Farrell, S.; Ferella, A. D.; Ferrari, C.; Fischer, H.; Flierman, M.; Fulgione, W.; Fuselli, C.; Gaemers, P.; Gaior, R.; Rosso, A. Gallo; Galloway, M.; Gao, F.; Glade-Beucke, R.; Grandi, L.; Grigat, J.; Guan, H.; Guida, M.; Hammann, R.; Higuera, A.; Hils, C.; Hoetzsch, L.; Hood, N. F.; Howlett, J.; Iacovacci, M.; Itow, Y.; Jakob, J.; Joerg, F.; Joy, A.; Kara, M.; Kavrigin, P.; Kazama, S.; Kobayashi, M.; Koltman, G.; Kopec, A.; Kuger, F.; Landsman, H.; Lang, R. F.; Carlos, D. G. Layos; Levinson, L.; Li, I.; Li, S.; Liang, S.; Lindemann, S.; Lindner, M; Liu, K.; Loizeau, J.; Lombardi, F.; Long, J.; Lopes, J. A. M.; Ma, Y.; Macolino, C.; Mahlstedt, J.; Mancuso, A.; Manenti, L.; Marignetti, F.; Undagoitia, T. Marrodán; Martens, K.; Masbou, J.; Masson, D.; Masson, E.; Mastroianni, S.; Messina, M.; Miuchi, K.; Molinario, A.; Moriyama, S.; Morå, K.; Mosbacher, Y.; Murra, M.; Müller, J.; Ni, K.; Oberlack, U.; Paetsch, B.; Palacio, J.; Pellegrini, Q.; Peres, R.; Peters, C; Pienaar, J.; Pierre, M.; Plante, G.; Pollmann, T. R.; Qi, J.; Qin, J.; García, D. Ramírez; Shi, J.; Singh, R.; Sanchez, L.; Santos, J. M. F. dos; Sarnoff, I.; Sartorelli, G.; Schreiner, J.; Schulte, D.; Schulte, P.; Eißing, H. Schulze; Schumann, M.; Lavina, L. Scotto; Selvi, M.; Semeria, F.; Shagin, P.; Shi, S.; Shockley, E.; Silva, M.; Simgen, H.; Takeda, A.; Tan, P. -L.; Terliuk, A.; Thers, D.; Toschi, F.; Trinchero, G.; Tunnell, C.; Tönnies, F.; Valerius, K.; Volta, G.; Weinheimer, C.; Weiss, M.; Wenz, D.; Wittweg, C.; Wolf, T.; Wu, V. H. S.; Xing, Y.; Xu, D.; Xu, Z.; Yamashita, M.; Yang, L.; Ye, J.; Yuan, L.; Zavattini, G.; Zhong, M.; Zhu, T.
Academic Journal
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement IEEE Trans. Instrum. Meas. Instrumentation and Measurement, IEEE Transactions on. 72:1-9 2023
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[AR] Wolf, T.
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어