학술논문
'학술논문'
에서 검색결과 7,462건 | 목록
1~10
Conference
Nikiema, Pegdwende Romaric; Palumbo, Alessandro; Aasma, Allan; Cassano, Luca; Kritikakou, Angeliki; Kulmala, Ari; Lukkarila, Jari; Ottavi, Marco; Psiakis, Rafail; Traiola, Marcello
2023 IEEE 29th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS) On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), 2023 IEEE 29th International Symposium on. :1-7 Jul, 2023
Conference
Cassano, Luca; Mascio, Stefano Di; Palumbo, Alessandro; Menicucci, Alessandra; Furano, Gianluca; Bianchi, Giuseppe; Ottavi, Marco
2022 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT) Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), 2022 IEEE International Symposium on. :1-6 Oct, 2022
Report
Paraschos, G. F.; Kim, J. -Y.; Wielgus, M.; Röder, J.; Krichbaum, T. P.; Ros, E.; Agudo, I.; Myserlis, I.; Moscibrodzka, M.; Traianou, E.; Zensus, J. A.; Blackburn, L.; Chan, C. -K.; Issaoun, S.; Janssen, M.; Johnson, M. D.; Fish, V. L.; Akiyama, K.; Alberdi, A.; Alef, W.; Algaba, J. C.; Anantua, R.; Asada, K.; Azulay, R.; Bach, U.; Baczko, A. -K.; Ball, D.; Baloković, M.; Barrett, J.; Bauböck, M.; Benson, B. A.; Bintley, D.; Blundell, R.; Bouman, K. L.; Bower, G. C.; Boyce, H.; Bremer, M.; Brinkerink, C. D.; Brissenden, R.; Britzen, S.; Broderick, A. E.; Broguiere, D.; Bronzwaer, T.; Bustamante, S.; Byun, D. -Y.; Carlstrom, J. E.; Ceccobello, C.; Chael, A.; Chang, D. O.; Chatterjee, K.; Chatterjee, S.; Chen, M. T.; Chen, Y.; Cheng, X.; Cho, I.; Christian, P.; Conroy, N. S.; Conway, J. E.; Cordes, J. M.; Crawford, T. M.; Crew, G. B.; Cruz-Osorio, A.; Cui, Y.; Dahale, R.; Davelaar, J.; De Laurentis, M.; Deane, R.; Dempsey, J.; Desvignes, G.; Dexter, J.; Dhruv, V.; Doeleman, S. S.; Dougal, S.; Dzib, S. A.; Eatough, R. P.; Emami, R.; Falcke, H.; Farah, J.; Fomalont, E.; Ford, H. A.; Foschi, M.; Fraga-Encinas, R.; Freeman, W. T.; Friberg, P.; Fromm, C. M.; Fuentes, A.; Galison, P.; Gammie, C. F.; García, R.; Gentaz, O.; Georgiev, B.; Goddi, C.; Gold, R.; Gómez-Ruiz, A. I.; Gómez, J. L.; Gu, M.; Gurwell, M.; Hada, K.; Haggard, D.; Haworth, K.; Hecht, M. H.; Hesper, R.; Heumann, D.; Ho, L. C.; Ho, P.; Honma, M.; Huang, C. L.; Huang, L.; Hughes, D. H.; Ikeda, S.; Impellizzeri, C. M. V.; Inoue, M.; James, D. J.; Jannuzi, B. T.; Jeter, B.; Jaing, W.; Jiménez-Rosales, A.; Jorstad, S.; Joshi, A. V.; Jung, T.; Karami, M.; Karuppusamy, R.; Kawashima, T.; Keating, G. K.; Kettenis, M.; Kim, D. -J.; Kim, J.; Kino, M.; Koay, J. Y.; Kocherlakota, P.; Kofuji, Y.; Koch, P. M.; Koyama, S.; Kramer, C.; Kramer, J. A.; Kramer, M.; Kuo, C. -Y.; La Bella, N.; Lauer, T. R.; Lee, D.; Lee, S. -S.; Leung, P. K.; Levis, A.; Li, Z.; Lico, R.; Lindahl, G.; Lindqvist, M.; Lisakov, M.; Liu, J.; Liu, K.; Liuzzo, E.; Lo, W. -P.; Lobanov, A. P.; Loinard, L.; Lonsdale, C. J.; Lowitz, A. E.; Lu, R. -S.; MacDonald, N. R.; Mao, J.; Marchili, N.; Markoff, S.; Marrone, D. P.; Marscher, A. P.; Martí-Vidal, I.; Matsushita, S.; Matthews, L. D.; Medeiros, L.; Menten, K. M.; Michalik, D.; Mizuno, I.; Mizuno, Y.; Moran, J. M.; Moriyama, K.; Mulaudzi, W.; Müller, C.; Müller, H.; Mus, A.; Musoke, G.; Nadolski, A.; Nagai, H.; Nagar, N. M.; Nakamura, M.; Narayanan, G.; Natarajan, I.; Nathanail, A.; Fuentes, S. Navarro; Neilsen, J.; Neri, R.; Ni, C.; Noutsos, A.; Nowak, M. A.; Oh, J.; Okino, H.; Olivares, H.; Ortiz-León, G. N.; Oyama, T.; Özel, F.; Palumbo, D. C. M.; Park, J.; Parsons, H.; Patel, N.; Pen, U. -L.; Piétu, V.; Plambeck, R.; PopStefanija, A.; Porth, O.; Pötzl, F. M.; Prather, B.; Preciado-López, J. A.; Psaltis, D.; Pu, H. -Y.; Ramakrishnan, V.; Rao, R.; Rawlings, M. G.; Raymond, A. W.; Rezzolla, L.; Ricarte, A.; Ripperda, B.; Roelofs, F.; Rogers, A.; Romero-Cañizales, C.; Roshanineshat, A.; Rottmann, H.; Roy, A. L.; Ruiz, I.; Ruszczyk, C.; Rygl, K. L. J.; Sánchez, S.; Sánchez-Argüelles, D.; Sánchez-Portal, M.; Sasada, M.; Satapathy, K.; Savolainen, T.; Schloerb, F. P.; Schonfeld, J.; Schuster, K.; Shao, L.; Shen, Z.; Small, D.; Sohn, B. W.; SooHoo, J.; Salas, L. D. Sosapanta; Souccar, K.; Sun, H.; Tazaki, F.; Tetarenko, A. J.; Tiede, P.; Tilanus, R. P. J.; Titus, M.; Torne, P.; Toscano, T.; Trent, T.; Trippe, S.; Turk, M.; van Bemmel, I.; van Langevelde, H. J.; van Rossum, D. R.; Vos, J.; Wagner, J.; Ward-Thompson, D.; Wardle, J.; Washington, J. E.; Weintroub, J.; Wharton, R.; Wiik, K.; Witzel, G.; Wondrak, M. F.; Wong, G. N.; Wu, Q.; Yadlapalli, N.; Yamaguchi, P.; Yfantis, A.; Yoon, D.; Young, A.; Young, K.; Younsi, Z.; Yu, W.; Yuan, F.; Yuan, Y. -F.; Zhang, S.; Zhao, G. Y.; Zhao, S. -S.
Issue: A&A Volume 682, February 2024; Article number: L3; Number of pages: 15
Conference
2023 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT) Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), 2023 IEEE International Symposium on. :1-6 Oct, 2023
Report
Ayzenberg, Dimitry; Blackburn, Lindy; Brito, Richard; Britzen, Silke; Broderick, Avery E.; Carballo-Rubio, Raúl; Cardoso, Vitor; Chael, Andrew; Chatterjee, Koushik; Chen, Yifan; Cunha, Pedro V. P.; Davoudiasl, Hooman; Denton, Peter B.; Doeleman, Sheperd S.; Eichhorn, Astrid; Eubanks, Marshall; Fang, Yun; Foschi, Arianna; Fromm, Christian M.; Galison, Peter; Ghosh, Sushant G.; Gold, Roman; Gurvits, Leonid I.; Hadar, Shahar; Held, Aaron; Houston, Janice; Hu, Yichao; Johnson, Michael D.; Kocherlakota, Prashant; Natarajan, Priyamvada; Olivares, Héctor; Palumbo, Daniel; Pesce, Dominic W.; Rajendran, Surjeet; Roy, Rittick; Saurabh; Shao, Lijing; Tahura, Shammi; Tamar, Aditya; Tiede, Paul; Vincent, Frédéric H.; Visinelli, Luca; Wang, Zhiren; Wielgus, Maciek; Xue, Xiao; Yakut, Kadri; Yang, Huan; Younsi, Ziri
Conference
2017 Argentine Conference of Micro-Nanoelectronics, Technology and Applications (CAMTA) Micro-Nanoelectronics, Technology and Applications (CAMTA), 2017 Argentine Conference of. :21-25 Jul, 2017
Academic Journal
IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs IEEE Trans. Circuits Syst. II Circuits and Systems II: Express Briefs, IEEE Transactions on. 67(3):560-564 Mar, 2020
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[검색어] Palumbo, V.
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어