학술논문
'학술논문'
에서 검색결과 288,413건 | 목록
1~10
Academic Journal
IEEE Transactions on Applied Superconductivity IEEE Trans. Appl. Supercond. Applied Superconductivity, IEEE Transactions on. 32(6):1-6 Sep, 2022
Report
Abdulameer, N. J.; Acharya, U.; Adare, A.; Aidala, C.; Ajitanand, N. N.; Akiba, Y.; Akimoto, R.; Al-Ta'ani, H.; Alexander, J.; Alfred, M.; Angerami, A.; Aoki, K.; Apadula, N.; Aramaki, Y.; Asano, H.; Aschenauer, E. C.; Atomssa, E. T.; Awes, T. C.; Azmoun, B.; Babintsev, V.; Bai, M.; Bannier, B.; Barish, K. N.; Bassalleck, B.; Bathe, S.; Baublis, V.; Baumgart, S.; Bazilevsky, A.; Belmont, R.; Berdnikov, A.; Berdnikov, Y.; Bichon, L.; Blankenship, B.; Blau, D. S.; Bok, J. S.; Borisov, V.; Boyle, K.; Brooks, M. L.; Buesching, H.; Bumazhnov, V.; Butsyk, S.; Campbell, S.; Roman, V. Canoa; Castera, P.; Chen, C. -H.; Chiu, M.; Chi, C. Y.; Choi, I. J.; Choi, J. B.; Choi, S.; Choudhury, R. K.; Christiansen, P.; Chujo, T.; Chvala, O.; Cianciolo, V.; Citron, Z.; Cole, B. A.; Connors, M.; Corliss, R.; Morales, Y. Corrales; Csanád, M.; Csörgő, T.; D'Orazio, L.; Dairaku, S.; Datta, A.; Daugherity, M. S.; David, G.; Dean, C. T.; Denisov, A.; Deshpande, A.; Desmond, E. J.; Dharmawardane, K. V.; Dietzsch, O.; Ding, L.; Dion, A.; Donadelli, M.; Doomra, V.; Drapier, O.; Drees, A.; Drees, K. A.; Durham, J. M.; Durum, A.; Edwards, S.; Efremenko, Y. V.; Engelmore, T.; Enokizono, A.; Esha, R.; Eyser, K. O.; Fadem, B.; Fan, W.; Fields, D. E.; Finger, Jr., M.; Finger, M.; Firak, D.; Fitzgerald, D.; Fleuret, F.; Fokin, S. L.; Frantz, J. E.; Franz, A.; Frawley, A. D.; Fukao, Y.; Fusayasu, T.; Gainey, K.; Gal, C.; Garishvili, A.; Garishvili, I.; Giles, M.; Glenn, A.; Gong, X.; Gonin, M.; Goto, Y.; de Cassagnac, R. Granier; Grau, N.; Greene, S. V.; Perdekamp, M. Grosse; Gunji, T.; Guo, L.; Gustafsson, H. -Å.; Hachiya, T.; Haggerty, J. S.; Hahn, K. I.; Hamagaki, H.; Hanks, J.; Harvey, M.; Hasegawa, S.; Hashimoto, K.; Haslum, E.; Hayano, R.; Hemmick, T. K.; Hester, T.; He, X.; Hill, J. C.; Hodges, A.; Hollis, R. S.; Homma, K.; Hong, B.; Horaguchi, T.; Hori, Y.; Huang, J.; Ichihara, T.; Iinuma, H.; Ikeda, Y.; Imrek, J.; Inaba, M.; Iordanova, A.; Isenhower, D.; Issah, M.; Ivanishchev, D.; Jacak, B. V.; Javani, M.; Jiang, X.; Ji, Z.; Johnson, B. M.; Joo, K. S.; Jouan, D.; Jumper, D. S.; Kamin, J.; Kaneti, S.; Kang, B. H.; Kang, J. H.; Kang, J. S.; Kapustinsky, J.; Karatsu, K.; Kasai, M.; Kawall, D.; Kazantsev, A. V.; Kempel, T.; Khachatryan, V.; Khanzadeev, A.; Khatiwada, A.; Kijima, K. M.; Kim, B. I.; Kim, C.; Kim, D. J.; Kim, E. -J.; Kim, H. J.; Kim, K. -B.; Kim, T.; Kim, Y. -J.; Kim, Y. K.; Kincses, D.; Kingan, A.; Kinney, E.; Kiss, Á.; Kistenev, E.; Klatsky, J.; Kleinjan, D.; Kline, P.; Komatsu, Y.; Komkov, B.; Koster, J.; Kotchetkov, D.; Kotov, D.; Kovacs, L.; Krizek, F.; Král, A.; Kunde, G. J.; Kurgyis, B.; Kurita, K.; Kurosawa, M.; Kwon, Y.; Kyle, G. S.; Lai, Y. S.; Lajoie, J. G.; Larionova, D.; Lebedev, A.; Lee, B.; Lee, D. M.; Lee, J.; Lee, K. B.; Lee, K. S.; Lee, S. H.; Lee, S. R.; Leitch, M. J.; Leite, M. A. L.; Leitgab, M.; Lewis, B.; Lewis, N. A.; Lim, S. H.; Levy, L. A. Linden; Liu, M. X.; Li, X.; Loomis, D. A.; Love, B.; Lökös, S.; Maguire, C. F.; Majoros, T.; Makdisi, Y. I.; Makek, M.; Manion, A.; Manko, V. I.; Mannel, E.; Masumoto, S.; McCumber, M.; McGaughey, P. L.; McGlinchey, D.; McKinney, C.; Mendoza, M.; Meredith, B.; Miake, Y.; Mibe, T.; Mignerey, A. C.; Milov, A.; Mishra, D. K.; Mitchell, J. T.; Mitrankova, M.; Mitrankov, Iu.; Miyachi, Y.; Miyasaka, S.; Mohanty, A. K.; Mohapatra, S.; Mondal, M. M.; Moon, H. J.; Moon, T.; Morrison, D. P.; Motschwiller, S.; Moukhanova, T. V.; Muhammad, A.; Mulilo, B.; Murakami, T.; Murata, J.; Mwai, A.; Nagae, T.; Nagamiya, S.; Nagle, J. L.; Nagy, M. I.; Nakagawa, I.; Nakamiya, Y.; Nakamura, K. R.; Nakamura, T.; Nakano, K.; Nattrass, C.; Nederlof, A.; Nelson, S.; Nihashi, M.; Nouicer, R.; Novák, T.; Novitzky, N.; Nukazuka, G.; Nyanin, A. S.; O'Brien, E.; Ogilvie, C. A.; Oh, J.; Okada, K.; Orosz, M.; Osborn, J. D.; Oskarsson, A.; Ouchida, M.; Ozawa, K.; Pak, R.; Pantuev, V.; Papavassiliou, V.; Park, B. H.; Park, I. H.; Park, J. S.; Park, S.; Park, S. K.; Patel, L.; Patel, M.; Pate, S. F.; Pei, H.; Peng, J. -C.; Peng, W.; Pereira, H.; Perepelitsa, D. V.; Peressounko, D. Yu.; PerezLara, C. E.; Petti, R.; Pinkenburg, C.; Pisani, R. P.; Potekhin, M.; Proissl, M.; Pun, A.; Purschke, M. L.; Qu, H.; Radzevich, P. V.; Rak, J.; Ramasubramanian, N.; Ravinovich, I.; Read, K. F.; Reynolds, D.; Riabov, V.; Riabov, Y.; Richardson, E.; Richford, D.; Roach, D.; Roche, G.; Rolnick, S. D.; Rosati, M.; Runchey, J.; Sahlmueller, B.; Saito, N.; Sakaguchi, T.; Sako, H.; Samsonov, V.; Sano, M.; Sarsour, M.; Sato, S.; Sawada, S.; Sedgwick, K.; Seidl, R.; Sen, A.; Seto, R.; Sharma, D.; Shein, I.; Shi, Z.; Shibata, M.; Shibata, T. -A.; Shigaki, K.; Shimomura, M.; Shoji, K.; Shukla, P.; Sickles, A.; Silva, C. L.; Silvermyr, D.; Sim, K. S.; Singh, B. K.; Singh, C. P.; Singh, V.; Slunečka, M.; Smith, K. L.; Soltz, R. A.; Sondheim, W. E.; Sorensen, S. P.; Sourikova, I. V.; Stankus, P. W.; Stenlund, E.; Stepanov, M.; Ster, A.; Stoll, S. P.; Sugitate, T.; Sukhanov, A.; Sun, J.; Sun, Z.; Sziklai, J.; Takagui, E. M.; Takahama, R.; Takahara, A.; Taketani, A.; Tanaka, Y.; Taneja, S.; Tanida, K.; Tannenbaum, M. J.; Tarafdar, S.; Taranenko, A.; Tennant, E.; Themann, H.; Todoroki, T.; Tomášek, L.; Tomášek, M.; Torii, H.; Towell, R. S.; Tserruya, I.; Tsuchimoto, Y.; Tsuji, T.; Ueda, Y.; Ujvari, B.; Vale, C.; van Hecke, H. W.; Vargyas, M.; Vazquez-Zambrano, E.; Veicht, A.; Vértesi, R.; Velkovska, J.; Virius, M.; Vossen, A.; Vrba, V.; Vznuzdaev, E.; Wang, X. R.; Wang, Z.; Watanabe, D.; Watanabe, K.; Watanabe, Y.; Watanabe, Y. S.; Wei, F.; Wei, R.; White, S. N.; Winter, D.; Wolin, S.; Wong, C. P.; Woody, C. L.; Wysocki, M.; Xia, B.; Yamaguchi, Y. L.; Yang, R.; Yanovich, A.; Ying, J.; Yokkaichi, S.; Younus, I.; You, Z.; Yushmanov, I. E.; Zajc, W. A.; Zelenski, A.; Zou, L.
Phys. Rev. C 107, 024914 (2023)
Conference
2024 IEEE/SICE International Symposium on System Integration (SII) System Integration (SII), 2024 IEEE/SICE International Symposium on. :753-758 Jan, 2024
Report
Mori, M.; Abe, K.; Hayato, Y.; Hiraide, K.; Hosokawa, K.; Ieki, K.; Ikeda, M.; Kameda, J.; Kanemura, Y.; Kaneshima, R.; Kashiwagi, Y.; Kataoka, Y.; Miki, S.; Mine, S.; Miura, M.; Moriyama, S.; Nakano, Y.; Nakahata, M.; Nakayama, S.; Noguchi, Y.; Okamoto, K.; Sato, K.; Sekiya, H.; Shiba, H.; Shimizu, K.; Shiozawa, M.; Sonoda, Y.; Suzuki, Y.; Takeda, A.; Takemoto, Y.; Takenaka, A.; Tanaka, H.; Watanabe, S.; Yano, T.; Han, S.; Kajita, T.; Okumura, K.; Tashiro, T.; Tomiya, T.; Wang, X.; Yoshida, S.; Megias, G. D.; Fernandez, P.; Labarga, L.; Ospina, N.; Zaldivar, B.; Pointon, B. W.; Kearns, E.; Raaf, J. L.; Wan, L.; Wester, T.; Bian, J.; Griskevich, N. J.; Locke, S.; Smy, M. B.; Sobel, H. W.; Takhistov, V.; Yankelevich, A.; Hill, J.; Jang, M. C.; Lee, S. H.; Moon, D. H.; Park, R. G.; Bodur, B.; Scholberg, K.; Walter, C. W.; Beauchene, A.; Drapier, O.; Giampaolo, A.; Mueller, Th. A.; Santos, A. D.; Paganini, P.; Quilain, B.; Rogly, R.; Ishizuka, T.; Nakamura, T.; Jang, J. S.; Learned, J. G.; Choi, K.; Iovine, N.; Cao, S.; Anthony, L. H. V.; Martin, D.; Scott, M.; Sztuc, A. A.; Uchida, Y.; Berardi, V.; Catanesi, M. G.; Radicioni, E.; Calabria, N. F.; Langella, A.; Machado, L. N.; De Rosa, G.; Collazuol, G.; Iacob, F.; Lamoureux, M.; Mattiazzi, M.; Ludovici, L.; Gonin, M.; Perisse, L.; Pronost, G.; Fujisawa, C.; Maekawa, Y.; Nishimura, Y.; Okazaki, R.; Akutsu, R.; Friend, M.; Hasegawa, T.; Ishida, T.; Kobayashi, T.; Jakkapu, M.; Matsubara, T.; Nakadaira, T.; Nakamura, K.; Oyama, Y.; Sakashita, K.; Sekiguchi, T.; Tsukamoto, T.; Bhuiyan, N.; Burton, G. T.; Edwards, R.; Di Lodovico, F.; Gao, J.; Goldsack, A.; Katori, T.; Migenda, J.; Ramsden, R. M.; Xie, Z.; Zsoldos, S.; Kotsar, Y.; Ozaki, H.; Suzuki, A. T.; Takagi, Y.; Takeuchi, Y.; Zhong, H.; Bronner, C.; Feng, J.; Hu, J. R.; Hu, Z.; Kawaune, M.; Kikawa, T.; LiCheng, F.; Nakaya, T.; Wendell, R. A.; Yasutome, K.; Jenkins, S. J.; McCauley, N.; Mehta, P.; Tarant, A.; Fukuda, Y.; Itow, Y.; Menjo, H.; Ninomiya, K.; Yoshioka, Y.; Lagoda, J.; Lakshmi, S. M.; Mandal, M.; Mijakowski, P.; Prabhu, Y. S.; Zalipska, J.; Jia, M.; Jiang, J.; Jung, C. K.; Shi, W.; Wilking, M. J.; Yanagisawa, C.; Harada, M.; Hino, Y.; Ishino, H.; Kitagawa, H.; Koshio, Y.; Nakanishi, F.; Sakai, S.; Tada, T.; Tano, T.; Barr, G.; Barrow, D.; Cook, L.; Samani, S.; Wark, D.; Holin, A.; Nova, F.; Jung, S.; Yang, B. S.; Yang, J. Y.; Yoo, J.; Fannon, J. E. P.; Kneale, L.; Malek, M.; McElwee, J. M.; Thiesse, M. D.; Thompson, L. F.; Wilson, S.; Okazawa, H.; Kim, S. B.; Kwon, E.; Seo, J. W.; Yu, I.; Ichikawa, A. K.; Nakamura, K. D.; Tairafune, S.; Nishijima, K.; Eguchi, A.; Nakagiri, K.; Nakajima, Y.; Shima, S.; Taniuchi, N.; Watanabe, E.; Yokoyama, M.; de Perio, P.; Fujita, S.; Martens, K.; Tsui, K. M.; Vagins, M. R.; Valls, C. J.; Xia, J.; Kuze, M.; Izumiyama, S.; Ishitsuka, M.; Ito, H.; Kinoshita, T.; Matsumoto, R.; Ommura, Y.; Shigeta, N.; Shinoki, M.; Suganuma, T.; Yamauchi, K.; Yoshida, T.; Martin, J. F.; Tanaka, H. A.; Towstego, T.; Gaur, R.; Gousy-Leblanc, V.; Hartz, M.; Konaka, A.; Li, X.; Prouse, N. W.; Chen, S.; Xu, B. D.; Zhang, B.; Posiadala-Zezula, M.; Boyd, S. B.; Hadley, D.; Nicholson, M.; Flaherty, M. O'; Richards, B.; Ali, A.; Jamieson, B.; Amanai, S.; Marti, Ll.; Minamino, A.; Pintaudi, G.; Sano, S.; Suzuki, S.; Wada, K.
Academic Journal
IEEE/ASME Transactions on Mechatronics IEEE/ASME Trans. Mechatron. Mechatronics, IEEE/ASME Transactions on. 29(2):960-971 Apr, 2024
Report
Kitagawa, H.; Tada, T.; Abe, K.; Bronner, C.; Hayato, Y.; Hiraide, K.; Hosokawa, K.; Ieki, K.; Ikeda, M.; Kameda, J.; Kanemura, Y.; Kaneshima, R.; Kashiwagi, Y.; Kataoka, Y.; Miki, S.; Mine, S.; Miura, M.; Moriyama, S.; Nakano, Y.; Nakahata, M.; Nakayama, S.; Noguchi, Y.; Okamoto, K.; Sato, K.; Sekiya, H.; Shiba, H.; Shimizu, K.; Shiozawa, M.; Sonoda, Y.; Suzuki, Y.; Takeda, A.; Takemoto, Y.; Takenaka, A.; Tanaka, H.; Watanabe, S.; Yano, T.; Han, S.; Kajita, T.; Okumura, K.; Tashiro, T.; Tomiya, T.; Wang, X.; Yoshida, S.; Megias, G. D.; Fernandez, P.; Labarga, L.; Ospina, N.; Zaldivar, B.; Pointon, B. W.; Kearns, E.; Raaf, J. L.; Wan, L.; Wester, T.; Bian, J.; Griskevich, N. J.; Locke, S.; Smy, M. B.; Sobel, H. W.; Takhistov, V.; Yankelevich, A.; Hill, J.; Jang, M. C.; Lee, S. H.; Moon, D. H.; Park, R. G.; Bodur, B.; Scholberg, K.; Walter, C. W.; Beauchêne, A.; Drapier, O.; Giampaolo, A.; Mueller, Th. A.; Santos, A. D.; Paganini, P.; Quilain, B.; Rogly, R.; Nakamura, T.; Jang, J. S.; Machado, L. N.; Learned, J. G.; Choi, K.; Iovine, N.; Cao, S.; Anthony, L. H. V.; Martin, D.; Prouse, N. W.; Scott, M.; Sztuc, A. A.; Uchida, Y.; Berardi, V.; Calabria, N. F.; Catanesi, M. G.; Radicioni, E.; Langella, A.; De Rosa, G.; Collazuol, G.; Iacob, F.; Lamoureux, M.; Mattiazzi, M.; Ludovici, L.; Gonin, M.; Périssé, L.; Pronost, G.; Fujisawa, C.; Maekawa, Y.; Nishimura, Y.; Okazaki, R.; Akutsu, R.; Friend, M.; Hasegawa, T.; Ishida, T.; Kobayashi, T.; Jakkapu, M.; Matsubara, T.; Nakadaira, T.; Nakamura, K.; Oyama, Y.; Sakashita, K.; Sekiguchi, T.; Tsukamoto, T.; Bhuiyan, N.; Burton, G. T.; Di Lodovico, F.; Gao, J.; Goldsack, A.; Katori, T.; Migenda, J.; Ramsden, R. M.; Xie, Z.; Zsoldos, S.; Kotsar, Y.; Ozaki, H.; Suzuki, A. T.; Takagi, Y.; Takeuchi, Y.; Zhong, H.; Feng, J.; Feng, L.; Hu, J. R.; Hu, Z.; Kawaue, M.; Kikawa, T.; Mori, M.; Nakaya, T.; Wendell, R. A.; Yasutome, K.; Jenkins, S. J.; McCauley, N.; Mehta, P.; Tarant, A.; Wilking, M. J.; Fukuda, Y.; Itow, Y.; Menjo, H.; Ninomiya, K.; Yoshioka, Y.; Lagoda, J.; Mandal, M.; Mijakowski, P.; Prabhu, Y. S.; Zalipska, J.; Jia, M.; Jiang, J.; Jung, C. K.; Shi, W.; Yanagisawa, C.; Harada, M.; Hino, Y.; Ishino, H.; Koshio, Y.; Nakanishi, F.; Sakai, S.; Tano, T.; Ishizuka, T.; Barr, G.; Barrow, D.; Cook, L.; Samani, S.; Wark, D.; Holin, A.; Nova, F.; Jung, S.; Yang, B. S.; Yang, J. Y.; Yoo, J.; Fannon, J. E. P.; Kneale, L.; Malek, M.; McElwee, J. M.; Thiesse, M. D.; Thompson, L. F.; Wilson, S. T.; Okazawa, H.; Lakshmi, S. M.; Kim, S. B.; Kwon, E.; Seo, J. W.; Yu, I.; Ichikawa, A. K.; Nakamura, K. D.; Tairafune, S.; Nishijima, K.; Eguchi, A.; Nakagiri, K.; Nakajima, Y.; Shima, S.; Taniuchi, N.; Watanabe, E.; Yokoyama, M.; de Perio, P.; Fujita, S.; Jesús-Valls, C.; Martens, K.; Tsui, K. M.; Vagins, M. R.; Xia, J.; Izumiyama, S.; Kuze, M.; Matsumoto, R.; Terada, K.; Ishitsuka, M.; Ito, H.; Kinoshita, T.; Ommura, Y.; Shigeta, N.; Shinoki, M.; Suganuma, T.; Yamauchi, K.; Yoshida, T.; Martin, J. F.; Tanaka, H. A.; Towstego, T.; Gaur, R.; Gousy-Leblanc, V.; Hartz, M.; Konaka, A.; Li, X.; Chen, S.; Xu, B. D.; Zhang, B.; Posiadala-Zezula, M.; Boyd, S. B.; Edwards, R.; Hadley, D.; Nicholson, M.; O'Flaherty, M.; Richards, B.; Ali, A.; Jamieson, B.; Amanai, S.; Marti, Ll.; Minamino, A.; Pintaudi, G.; Sano, S.; Suzuki, S.; Wada, K.
Conference
2024 IEEE/SICE International Symposium on System Integration (SII) System Integration (SII), 2024 IEEE/SICE International Symposium on. :863-868 Jan, 2024
Report
Abe, K.; Bronner, C.; Hayato, Y.; Hiraide, K.; Hosokawa, K.; Ieki, K.; Ikeda, M.; Kameda, J.; Kanemura, Y.; Kaneshima, R.; Kashiwagi, Y.; Kataoka, Y.; Miki, S.; Mine, S.; Miura, M.; Moriyama, S.; Nakano, Y.; Nakahata, M.; Nakayama, S.; Noguchi, Y.; Sato, K.; Sekiya, H.; Shiba, H.; Shimizu, K.; Shiozawa, M.; Sonoda, Y.; Suzuki, Y.; Takeda, A.; Takemoto, Y.; Tanaka, H.; Yano, T.; Han, S.; Kajita, T.; Okumura, K.; Tashiro, T.; Tomiya, T.; Wang, X.; Yoshida, S.; Fernandez, P.; Labarga, L.; Ospina, N.; Zaldivar, B.; Pointon, B. W.; Kearns, E.; Raaf, J. L.; Wan, L.; Wester, T.; Bian, J.; Griskevich, N. J.; Smy, M. B.; Sobel, H. W.; Takhistov, V.; Yankelevich, A.; Hill, J.; Jang, M. C.; Lee, S. H.; Moon, D. H.; Park, R. G.; Bodur, B.; Scholberg, K.; Walter, C. W.; Beauchene, A.; Drapier, O.; Giampaolo, A.; Mueller, Th. A.; Santos, A. D.; Paganini, P.; Quilain, B.; Rogly, R.; Nakamura, T.; Jang, J. S.; Machado, L. N.; Learned, J. G.; Choi, K.; Iovine, N.; Cao, S.; Anthony, L. H. V.; Martin, D.; Prouse, N. W.; Scott, M.; Uchida, Y.; Berardi, V.; Calabria, N. F.; Catanesi, M. G.; Radicioni, E.; Langella, A.; De Rosa, G.; Collazuol, G.; Iacob, F.; Mattiazzi, M.; Ludovici, L.; Gonin, M.; Perisse, L.; Pronost, G.; Fujisawa, C.; Maekawa, Y.; Nishimura, Y.; Okazaki, R.; Akutsu, R.; Friend, M.; Hasegawa, T.; Ishida, T.; Kobayashi, T.; Jakkapu, M.; Matsubara, T.; Nakadaira, T.; Nakamura, K.; Oyama, Y.; Sakashita, K.; Sekiguchi, T.; Tsukamoto, T.; Bhuiyan, N.; Burton, G. T.; Di Lodovico, F.; Gao, J.; Goldsack, A.; Katori, T.; Migenda, J.; Ramsden, R. M.; Xie, Z.; Zsoldos, S.; Suzuki, A. T.; Takagi, Y.; Takeuchi, Y.; Zhong, H.; Feng, J.; Feng, L.; Hu, J. R.; Hu, Z.; Kawaue, M.; Kikawa, T.; Mori, M.; Nakaya, T.; Wendell, R. A.; Yasutome, K.; Jenkins, S. J.; McCauley, N.; Mehta, P.; Tarant, A.; Fukuda, Y.; Itow, Y.; Menjo, H.; Ninomiya, K.; Yoshioka, Y.; Lagoda, J.; Mandal, M.; Mijakowski, P.; Prabhu, Y. S.; Zalipska, J.; Jia, M.; Jiang, J.; Shi, W.; Yanagisawa, C.; Harada, M.; Hino, Y.; Ishino, H.; Koshio, Y.; Nakanishi, F.; Sakai, S.; Tada, T.; Tano, T.; Ishizuka, T.; Barr, G.; Barrow, D.; Cook, L.; Samani, S.; Wark, D.; Holin, A.; Nova, F.; Jung, S.; Yang, B. S.; Yang, J. Y.; Yoo, J.; Fannon, J. E. P.; Kneale, L.; Malek, M.; McElwee, J. M.; Thiesse, M. D.; Thompson, L. F.; Wilson, S. T.; Okazawa, H.; Lakshmi, S. M.; Kim, S. B.; Kwon, E.; Seo, J. W.; Yu, I.; Ichikawa, A. K.; Tairafune, S.; Nishijima, K.; Eguchi, A.; Nakagiri, K.; Nakajima, Y.; Shima, S.; Taniuchi, N.; Watanabe, E.; Yokoyama, M.; de Perio, P.; Fujita, S.; Jesus-Valls, C.; Martens, K.; Tsui, K. M.; Vagins, M. R.; Xia, J.; Izumiyama, S.; Kuze, M.; Matsumoto, R.; Terada, K.; Ishitsuka, M.; Ito, H.; Ommura, Y.; Shigeta, N.; Shinoki, M.; Yamauchi, K.; Yoshida, T.; Gaur, R.; Gousy-Leblanc, V.; Hartz, M.; Konaka, A.; Li, X.; Chen, S.; Xu, B. D.; Zhang, B.; Posiadala-Zezula, M.; Boyd, S. B.; Edwards, R.; Hadley, D.; Nicholson, M.; O'Flaherty, M.; Richards, B.; Ali, A.; Jamieson, B.; Amanai, S.; Marti, Ll.; Minamino, A.; Suzuki, S.; Scovell, P. R.; Meehan, E.; Bandac, I.; Pena-Garay, C.; Perez, J.; Gileva, O.; Lee, E. K.; Leonard, D. S.; Sakakieda, Y.; Sakaguchi, A.; Sueki, K.; Takaku, Y.; Yamasaki, S.
Academic Journal
IEEE Transactions on Visualization and Computer Graphics IEEE Trans. Visual. Comput. Graphics Visualization and Computer Graphics, IEEE Transactions on. 30(5):2390-2399 May, 2024
Report
Kashiwagi, Y.; Abe, K.; Bronner, C.; Hayato, Y.; Hiraide, K.; Hosokawa, K.; Ieki, K.; Ikeda, M.; Kameda, J.; Kanemura, Y.; Kaneshima, R.; Kataoka, Y.; Miki, S.; Mine, S.; Miura, M.; Moriyama, S.; Nakano, Y.; Nakahata, M.; Nakayama, S.; Noguchi, Y.; Sato, K.; Sekiya, H.; Shiba, H.; Shimizu, K.; Shiozawa, M.; Sonoda, Y.; Suzuki, Y.; Takeda, A.; Takemoto, Y.; Tanaka, H.; Yano, T.; Han, S.; Kajita, T.; Okumura, K.; Tashiro, T.; Tomiya, T.; Wang, X.; Yoshida, S.; Fernandez, P.; Labarga, L.; Ospina, N.; Zaldivar, B.; Pointn, B. W.; Kearns, E.; Raaf, J. L.; Wan, L.; Wester, T.; Bian, J.; Griskevich, N. J.; Locke, S.; Smy, M. B.; Sobel, H. W.; Takhistov, V.; Yankelevich, A.; Hill, J.; Jang, M. C.; Lee, S. H.; Moon, D. H.; Park, R. G.; Bodur, B.; Scholberg, K.; Walter, C. W.; Beauchêne, A.; Drapier, O.; Giampaolo, A.; Mueller, Th. A.; Santos, A. D.; Paganini, P.; Quilain, B.; Rogly, R.; Nakamura, T.; Jang, J. S.; Machado, L. N.; Learned, J. G.; Choi, K.; Iovine, N.; Cao, S.; Anthony, L. H. V.; Martin, D.; Prouse, N. W.; Scott, M.; Sztuc, A. A.; Uchida, Y.; Berardi, V.; Catanesi, M. G.; Radicioni, E.; Calabria, N. F.; Langella, A.; De Rosa, G.; Collazuol, G.; Iacob, F.; Mattiazzi, M.; Ludovici, L.; Gonin, M.; Périssé, L.; Pronost, G.; Fujisawa, C.; Maekawa, Y.; Nishimura, Y.; Okazaki, R.; Akutsu, R.; Friend, M.; Hasegawa, T.; Ishida, T.; Kobayashi, T.; Jakkapu, M.; Matsubara, T.; Nakadaira, T.; Nakamura, K.; Oyama, Y.; Sakashita, K.; Sekiguchi, T.; Tsukamoto, T.; Bhuiyan, N.; Burton, G. T.; Di Lodovico, F.; Gao, J.; Goldsack, A.; Katori, T.; Migenda, J.; Ramsden, R. M.; Xie, Z.; Zsoldos, S.; Suzuki, A. T.; Takagi, Y.; Takeuchi, Y.; Zhong, H.; Feng, J.; Feng, L.; Hu, J. R.; Hu, Z.; Kawaue, M.; Kikawa, T.; Mori, M.; Nakaya, T.; Wendell, R. A.; Yasutome, K.; Jenkins, S. J.; McCauley, N.; Mehta, P.; Tarrant, A.; Fukuda, Y.; Itow, Y.; Menjo, H.; Ninomiya, K.; Yoshioka, Y.; Lagoda, J.; Lakshmi, S. M.; Mandal, M.; Mijakowski, P.; Prabhu, Y. S.; Zalipska, J.; Jia, M.; Jiang, J.; Jung, C. K.; Shi, W.; Wilking, M. J.; Yanagisawa, C.; Harada, M.; Hino, Y.; Ishino, H.; Koshio, Y.; Nakanishi, F.; Sakai, S.; Tada, T.; Tano, T.; Ishizuka, T.; Barr, G.; Barrow, D.; Cook, L.; Samani, S.; Wark, D.; Holin, A.; Nova, F.; Jung, S.; Yang, B. S.; Yang, J. Y.; Yoo, J.; Fannon, J. E. P.; Kneale, L.; Malek, M.; McElwee, J. M.; Thiesse, M. D.; Thompson, L. F.; Wilson, S. T.; Okazawa, H.; Kim, S. B.; Kwon, E.; Seo, J. W.; Yu, I.; Ichikawa, A. K.; Nakamura, K. D.; Tairafune, S.; Nishijima, K.; Eguchi, A.; Nakagiri, K.; Nakajima, Y.; Shima, S.; Taniuchi, N.; Watanabe, E.; Yokoyama, M.; de Perio, P.; Fujita, S.; Jesús-Valls, C.; Martens, K.; Tsui, K. M.; Vagins, M. R.; Xia, J.; Kuze, M.; Izumiyama, S.; Matsumoto, R.; Ishitsuka, M.; Ito, H.; Ommura, Y.; Shigeta, N.; Shinoki, M.; Yamauchi, K.; Yoshida, T.; Gaur, R.; Gousy-Leblanc, V.; Hartz, M.; Konaka, A.; Li, X.; Chen, S.; Xu, B. D.; Zhang, B.; Posiadala-Zezula, M.; Boyd, S. B.; Edwards, R.; Hadley, D.; Nicholson, M.; O'Flaherty, M.; Richards, B.; Ali, A.; Jamieson, B.; Amanai, S.; Marti, Ll.; Minamino, A.; Suzuki, S.
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[검색어] Nakamura, T.
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어