학술논문
전자자료 공정이용 안내
우리 대학 도서관에서 구독·제공하는 모든 전자자료(데이터베이스, 전자저널, 전자책 등)는 국내외 저작권법과 출판사와의 라이선스 계약에 따라 엄격하게 보호를 받고 있습니다.
전자자료의 비정상적 이용은 출판사로부터의 경고, 서비스 차단, 손해배상 청구 등 학교 전체에 심각한 불이익을 초래할 수 있으므로, 아래의 공정이용 지침을 반드시 준수해 주시기 바랍니다.
공정이용 지침
- 전자자료는 개인의 학습·교육·연구 목적의 비영리적 사용에 한하여 이용할 수 있습니다.
- 합리적인 수준의 다운로드 및 출력만 허용됩니다. (일반적으로 동일 PC에서 동일 출판사의 논문을 1일 30건 이하 다운로드할 것을 권장하며, 출판사별 기준에 따라 다를 수 있습니다.)
- 출판사에서 제공한 논문의 URL을 수업 관련 웹사이트에 게재할 수 있으나, 출판사 원문 파일 자체를 복제·배포해서는 안 됩니다.
- 본인의 ID/PW를 타인에게 제공하지 말고, 도용되지 않도록 철저히 관리해 주시기 바랍니다.
불공정 이용 사례
- 전자적·기계적 수단(다운로딩 프로그램, 웹 크롤러, 로봇, 매크로, RPA 등)을 이용한 대량 다운로드
- 동일 컴퓨터 또는 동일 IP에서 단시간 내 다수의 원문을 집중적으로 다운로드하거나, 전권(whole issue) 다운로드
- 저장·출력한 자료를 타인에게 배포하거나 개인 블로그·웹하드 등에 업로드
- 상업적·영리적 목적으로 자료를 전송·복제·활용
- ID/PW를 타인에게 양도하거나 타인 계정을 도용하여 이용
- EndNote, Mendeley 등 서지관리 프로그램의 Find Full Text 기능을 이용한 대량 다운로드
- 출판사 콘텐츠를 생성형 AI 시스템에서 활용하는 행위(업로드, 개발, 학습, 프로그래밍, 개선 또는 강화 등)
위반 시 제재
- 출판사에 의한 해당 IP 또는 기관 전체 접속 차단
- 출판사 배상 요구 시 위반자 개인이 배상 책임 부담
'학술논문'
에서 검색결과 5,454건 | 목록
1~20
Conference
Jenihhin, M.; Raik, J.; Jutman, A.; Cherezova, N.; Ubar, R.; Miclea, L.; Enyedi, S.; Stefan, I.; Stan, O.; Corches, C.; Peng, Z.; Eles, P.; Drechsler, R.; Eggersglus, S.; Fey, G.; Glowatz, A.; Tille, D.; Gielen, G.; Coyette, A.; Dobbelaere, W.; Vanhooren, R.; Chuang, P.-Y.; Marinissen, E. J.; Di Natale, G.; Barragan, M.; Maistri, P.; Mir, S.; Vatajelu, E.-I.; Bernardi, P.; Di Carlo, S.; Prinetto, P.; Reorda, M. Sonza; Violante, M.; Stratigopoulos, H.-G.; Michael, M. K.; Neophytou, S.; Hadjitheophanous, S.; Christou, K.; Skitsas, M.; Bosio, A.; Deveautour, B.; Girard, P.; Traiola, M.; Virazel, A.; Dos Santos, F. Fernandes; Kritikakou, A.; Casagranda, G.; Vallero, M.; Vella, F.; Rech, P.; Bolzani Poehls, L. M.; Krstic, M.; Andjelkovic, M.; Vargas, F.; Tshagharyan, G.; Harutyunyan, G.; Vardanian, V.; Shoukourian, S.; Zorian, Y.; Dworak, J.; Nepal, K.; Manikas, T.; Taouil, M.; Fieback, M.; Gebregiorgis, A.; Bishnoi, R.; Hamdioui, S.; Chatterjee, A.; Saha, A.; Komarraju, S.; Ma, K.; Amarnath, C.; Tahoori, M.; Mayahinia, M.; Rajabalipanah, M.; Basharkhah, K.; Nosrati, N.; Jahanpeima, Z.; Navabi, Z.; Wunderlich, H.-J.; Hellebrand, S.
2025 IEEE European Test Symposium (ETS) European Test Symposium (ETS), 2025 IEEE. :1-48 May, 2025
Academic Journal
Gianluca Di Natale; Claudio Belotti; Marco Barucci; Marco Ridolfi; Silvia Viciani; Francesco D’Amato; Samuele Del Bianco; Bianca Maria Dinelli; Luca Palchetti
Remote Sensing, Vol 17, Iss 14, p 2458 (2025)
Conference
Avci, Recep; Wickens, Joseph D.; Sangi, Mehrdad; Athavale, Omkar N.; Di Natale, Madeleine R.; Furness, John B.; Du, Peng; Cheng, Leo K.
2022 44th Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine & Biology Society (EMBC) Engineering in Medicine & Biology Society (EMBC), 2022 44th Annual International Conference of the IEEE. :4954-4957 Jul, 2022
Academic Journal
Myat Noe Han; Madeleine R. Di Natale; Enie Lei; John B. Furness; David I. Finkelstein; Marlene M. Hao; Shanti Diwakarla; Rachel M. McQuade
Acta Neuropathologica Communications, Vol 13, Iss 1, Pp 1-18 (2025)
Academic Journal
Palchetti, L.; Brindley, H.; Bantges, R.; Buehler, S. A.; Camy-Peyret, C.; Carli, B.; Cortesi, U.; Del Bianco, S.; Di Natale, G.; Dinelli, B. M.; Feldman, D.; Huang, X. L.; C.-Labonnote, L.; Libois, Q.; Maestri, T.; Mlynczak, M. G.; Murray, J. E.; Oetjen, H.; Ridolfi, M.; Riese, M.; Russell, J.; Saunders, R.; Serio, C.
Bulletin of the American Meteorological Society, 2020 Dec 01. 101(12), E2030-E2046.
Academic Journal
IEEE Design & Test IEEE Des. Test Design & Test, IEEE. 36(3):95-116 Jun, 2019
Academic Journal
Lalita Oparija-Rogenmozere; Madeleine R Di Natale; Billie Hunne; Ada Koo; Mitchell Ringuet; Therese E Fazio Coles; Linda J Fothergill; Rachel McQuade; John B Furness
PLoS ONE, Vol 20, Iss 9, p e0332295 (2025)
Academic Journal
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems IEEE Trans. Comput.-Aided Des. Integr. Circuits Syst. Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, IEEE Transactions on. 38(3):538-550 Mar, 2019
Academic Journal
Dutertre, J.; Beroulle, V.; Candelier, P.; De Castro, S.; Faber, L.; Flottes, M.; Gendrier, P.; Hely, D.; Leveugle, R.; Maistri, P.; Di Natale, G.; Papadimitriou, A.; Rouzeyre, B.
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability IEEE Trans. Device Mater. Relib. Device and Materials Reliability, IEEE Transactions on. 19(1):6-15 Mar, 2019
Conference
2016 IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (ISVLSI) VLSI (ISVLSI), 2016 IEEE Computer Society Annual Symposium on. :254-259 Jul, 2016
Conference
2016 IEEE 22nd International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS) On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), 2016 IEEE 22nd International Symposium on. :66-71 Jul, 2016
Conference
2016 1st IEEE International Verification and Security Workshop (IVSW) Verification and Security Workshop (IVSW), IEEE International. :1-6 Jul, 2016
Conference
2015 IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI VLSI (ISVLSI), 2015 IEEE Computer Society Annual Symposium on. :362-367 Jul, 2015
Conference
2015 IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI VLSI (ISVLSI), 2015 IEEE Computer Society Annual Symposium on. :603-608 Jul, 2015
Conference
Leveugle, R.; Maistri, P.; Vanhauwaert, P.; Lu, F.; Di Natale, G.; Flottes, M.-L.; Rouzeyre, B.; Papadimitriou, A.; Hely, D.; Beroulle, V.; Hubert, G.; De Castro, S.; Dutertre, J.-M.; Sarafianos, A.; Boher, N.; Lisart, M.; Damiens, J.; Candelier, P.; Tavernier, C.
2014 22nd International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC) Very Large Scale Integration (VLSI-SoC), 2014 22nd International Conference on. :1-6 Oct, 2014
Conference
2014 IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI VLSI (ISVLSI), 2014 IEEE Computer Society Annual Symposium on. :386-391 Jul, 2014
Conference
2013 23rd International Workshop on Power and Timing Modeling, Optimization and Simulation (PATMOS) Power and Timing Modeling, Optimization and Simulation (PATMOS), 2013 23rd International Workshop on. :157-163 Sep, 2013
Conference
2013 IEEE International Symposium on Hardware-Oriented Security and Trust (HOST) Hardware-Oriented Security and Trust (HOST), 2013 IEEE International Symposium on. :51-54 Jun, 2013
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[검색어] di Natale, B
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어