학술논문
전자자료 공정이용 안내
우리 대학 도서관에서 구독·제공하는 모든 전자자료(데이터베이스, 전자저널, 전자책 등)는 국내외 저작권법과 출판사와의 라이선스 계약에 따라 엄격하게 보호를 받고 있습니다.
전자자료의 비정상적 이용은 출판사로부터의 경고, 서비스 차단, 손해배상 청구 등 학교 전체에 심각한 불이익을 초래할 수 있으므로, 아래의 공정이용 지침을 반드시 준수해 주시기 바랍니다.
공정이용 지침
- 전자자료는 개인의 학습·교육·연구 목적의 비영리적 사용에 한하여 이용할 수 있습니다.
- 합리적인 수준의 다운로드 및 출력만 허용됩니다. (일반적으로 동일 PC에서 동일 출판사의 논문을 1일 30건 이하 다운로드할 것을 권장하며, 출판사별 기준에 따라 다를 수 있습니다.)
- 출판사에서 제공한 논문의 URL을 수업 관련 웹사이트에 게재할 수 있으나, 출판사 원문 파일 자체를 복제·배포해서는 안 됩니다.
- 본인의 ID/PW를 타인에게 제공하지 말고, 도용되지 않도록 철저히 관리해 주시기 바랍니다.
불공정 이용 사례
- 전자적·기계적 수단(다운로딩 프로그램, 웹 크롤러, 로봇, 매크로, RPA 등)을 이용한 대량 다운로드
- 동일 컴퓨터 또는 동일 IP에서 단시간 내 다수의 원문을 집중적으로 다운로드하거나, 전권(whole issue) 다운로드
- 저장·출력한 자료를 타인에게 배포하거나 개인 블로그·웹하드 등에 업로드
- 상업적·영리적 목적으로 자료를 전송·복제·활용
- ID/PW를 타인에게 양도하거나 타인 계정을 도용하여 이용
- EndNote, Mendeley 등 서지관리 프로그램의 Find Full Text 기능을 이용한 대량 다운로드
- 출판사 콘텐츠를 생성형 AI 시스템에서 활용하는 행위(업로드, 개발, 학습, 프로그래밍, 개선 또는 강화 등)
위반 시 제재
- 출판사에 의한 해당 IP 또는 기관 전체 접속 차단
- 출판사 배상 요구 시 위반자 개인이 배상 책임 부담
'학술논문'
에서 검색결과 2,096건 | 목록
1~20
Academic Journal
IEEE Transactions on Green Communications and Networking IEEE Trans. Green Commun. Netw. Green Communications and Networking, IEEE Transactions on. 9(4):1602-1615 Dec, 2025
Academic Journal
Nakamura, Fumi; Ishiyama, Ken; Suzuki, Ritsuro; Maruyama, Hiroyuki; Onishi, Yasushi; Usuki, Kensuke; Koh, Hideo; Takenaka, Katsuto; Saiki, Ryunosuke; Ogawa, Seishi; Matsumoto, Kana; Takahashi, Takuto; Hosomichi, Kazuyoshi; Zaimoku, Yoshitaka; Yoshimura, Kenichi; Matsumura, Itaru; Akashi, Koichi; Nakao, Shinji
Report
Kamiokande collaboration; Han, S.; Abe, K.; Abe, S.; Asaoka, Y.; Bronner, C.; Harada, M.; Hayato, Y.; Hiraide, K.; Hosokawa, K.; Ieki, K.; Ikeda, M.; Kameda, J.; Kanemura, Y.; Kaneshima, R.; Kashiwagi, Y.; Kataoka, Y.; Miki, S.; Mine, S.; Miura, M.; Moriyama, S.; Nakahata, M.; Nakayama, S.; Noguchi, Y.; Pronost, G.; Sato, K.; Okamoto, K.; Sekiya, H.; Shiba, H.; Shimizu, K.; Shinoda, R.; Shiozawa, M.; Sonoda, Y.; Suzuki, Y.; Takeda, A.; Takemoto, Y.; Takenaka, A.; Tanaka, H.; Yano, T.; Kajita, T.; Okumura, K.; Nishijima, R.; Tashiro, T.; Tomiya, T.; Wang, X.; Yoshida, S.; Fernandez, P.; Labarga, L.; Ospina, N.; Samudio, D.; Zaldivar, B.; Pointon, B. W.; Yanagisawa, C.; Kearns, E.; Raaf, J. L.; Wan, L.; Wester, T.; Bian, J.; Cortez, B.; Griskevich, N. J.; Smy, M. B.; Sobel, H. W.; Takhistov, V.; Yankelevich, A.; Hill, J.; Jang, M. C.; Lee, S. H.; Moon, D. H.; Park, R. G.; Yang, B. S.; Bodur, B.; Scholberg, K.; Walter, C. W.; Beauchêne, A.; Drapier, O.; Giampaolo, A.; Ershova, A.; Mueller, Th. A.; Santos, A. D.; Paganini, P.; Quach, C.; Rogly, R.; Nakamura, T.; Jang, J. S.; Machado, L. N.; Soler, F. P.; Learned, J. G.; Choi, K.; Iovine, N.; Cao, S.; Anthony, L. H. V.; Martin, D.; Prouse, N. W.; Scott, M.; Uchida, Y.; Sztuc, A. A.; Berardi, V.; Calabria, N. F.; Catanesi, M. G.; Radicioni, E.; Langella, A.; De Rosa, G.; Collazuol, G.; Feltre, M.; Iacob, F.; Mattiazzi, M.; Ludovici, L.; Gonin, M.; Périssé, L.; Quilain, 23 B.; Fujisawa, C.; Horiuchi, S.; Kawabata, A.; Kobayashi, M.; Liu, Y. M.; Maekawa, Y.; Nishimura, Y.; Okazaki, R.; Akutsu, R.; Friend, M.; Hasegawa, T.; Ishida, T.; Kobayashi, T.; Jakkapu, M.; Matsubara, T.; Nakadaira, T.; Nakamura, K.; Oyama, Y.; Yrey, A. Portocarrero; Sakashita, K.; Sekiguchi, T.; Tsukamoto, T.; Bhuiyan, N.; Burton, G. T.; Di Lodovico, F.; Gao, J.; Goldsack, A.; Katori, T.; Migenda, J.; Ramsden, R. M.; Xie, Z.; Zsoldos, S.; Sone, T.; Suzuki, A. T.; Takagi, Y.; Takeuchi, Y.; Wada, S.; Zhong, H.; Feng, J.; Feng, L.; Hikida, J.; Hu, J. R.; Hu, Z.; Kawaue, M.; Kikawa, T.; Mori, M.; Nakaya, T.; Ngoc, T. V.; Wendell, R. A.; Yasutome, K.; Jenkins, S. J.; McCauley, N.; Tarrant, A.; Mehta, P.; Fanì, M.; Wilking, M. J.; Fukuda, Y.; Itow, Y.; Menjo, H.; Yoshioka, Y.; Ninomiya, K.; Lagoda, J.; Lakshmi, S. M.; Mandal, M.; Mijakowski, P.; Prabhu, Y. S.; Zalipska, J.; Jia, M.; Jiang, J.; Jung, C. K.; Shi, W.; Hamaguchi, K.; Hino, Y.; Ishino, H.; Koshio, Y.; Nakanishi, F.; Sakai, S.; Tada, T.; Tano, T.; Ishizuka, T.; Barr, G.; Barrow, D.; Cook, L.; Samani, S.; Wark, D.; Holin, A.; Nova, F.; Jung, S.; Yang, J. Y.; Yoo, J.; Fannon, J. E. P.; Kneale, L.; Malek, M.; McElwee, J. M.; Peacock, T.; Stowell, P.; Thiesse, M. D.; Thompson, L. F.; Wilson, S. T.; Okazawa, H.; Kim, S. B.; Kwon, E.; Lee, M. W.; Seo, J. W.; Yu, I.; Ichikawa, A. K.; Nakamura, K. D.; Tairafune, S.; Nishijima, K.; Eguchi, A.; Goto, S.; Kodama, S.; Mizuno, Y.; Muro, T.; Nakagiri, K.; Nakajima, Y.; Shima, S.; Taniuchi, N.; Watanabe, E.; Yokoyama, M.; de Perio, P.; Fujita, S.; Jesús-Valls, C.; Martens, K.; Marti, Ll.; Tsui, K. M.; Vagins, M. R.; Xia, J.; Kuze, M.; Izumiyama, S.; Matsumoto, R.; Terada, K.; Asaka, R.; Ishitsuka, M.; Ito, H.; Ommura, Y.; Shigeta, N.; Shinoki, M.; Sugo, M.; Wako, M.; Yamauchi, K.; Yoshida, T.; Nakano, Y.; Cormier, F.; Gaur, R.; Gousy-Leblanc, V.; Hartz, M.; Konaka, A.; Li, X.; Smithers, B. R.; Chen, S.; Wu, Y.; Xu, B. D.; Zhang, A. Q.; Zhang, B.; Girgus, M.; Govindaraj, P.; Posiadala-Zezula, M.; Boyd, S. B.; Edwards, R.; Hadley, D.; Nicholson, M.; O'Flaherty, M.; Richards, B.; Ali, A.; Jamieson, B.; Amanai, S.; Hamaguchi, D.; Minamino, A.; Sasaki, Y.; Shibayama, R.; Shimamura, R.; Suzuki, S.
Report
Kamiokande Collaboration; Miki, S.; Abe, K.; Abe, S.; Asaoka, Y.; Bronner, C.; Harada, M.; Hayato, Y.; Hiraide, K.; Hosokawa, K.; Ieki, K.; Ikeda, M.; Kameda, J.; Kanemura, Y.; Kaneshima, R.; Kashiwagi, Y.; Kataoka, Y.; Mine, S.; Miura, M.; Moriyama, S.; Nakahata, M.; Nakayama, S.; Noguchi, Y.; Okamoto, K.; Pronost, G.; Sato, K.; Sekiya, H.; Shiba, H.; Shimizu, K.; Shiozawa, M.; Sonoda, Y.; Suzuki, Y.; Takeda, A.; Takemoto, Y.; Takenaka, A.; Tanaka, H.; Watanabe, S.; Yano, T.; Kajita, T.; Okumura, K.; Tashiro, T.; Tomiya, T.; Wang, X.; Yoshida, S.; Megias, G. D.; Fernandez, P.; Labarga, L.; Ospina, N.; Zaldivar, B.; Pointon, B. W.; Yanagisawa, C.; Kearns, E.; Raaf, J. L.; Wan, L.; Wester, T.; Bian, J.; Cortez, B.; Griskevich, N. J.; Locke, S.; Smy, M. B.; Sobel, H. W.; Takhistov, V.; Yankelevich, A.; Hill, J.; Jang, M. C.; Lee, S. H.; Moon, D. H.; Park, R. G.; Yang, B. S.; Bodur, B.; Scholberg, K.; Walter, C. W.; Beauchêne, A.; Drapier, O.; Ershova, A.; Giampaolo, A.; Mueller, Th. A.; Santos, A. D.; Paganini, P.; Quach, C.; Quilain, B.; Rogly, R.; Nakamura, T.; Jang, J. S.; Litchfield, R. P.; Machado, L. N.; Soler, F. J. P.; Learned, J. G.; Choi, K.; Iovine, N.; Cao, S.; Anthony, L. H. V.; Martin, D.; Prouse, N. W.; Scott, M.; Sztuc, A. A.; Uchida, Y.; Berardi, V.; Calabria, N. F.; Catanesi, M. G.; Radicioni, E.; Langella, A.; De Rosa, G.; Collazuol, G.; Feltre, M.; Iacob, F.; Lamoureux, M.; Mattiazzi, M.; Ludovici, L.; Gonin, M.; Périssé, L.; Fujisawa, C.; Horiuchi, S.; Kobayashi, M.; Liu, Y. M.; Maekawa, Y.; Nishimura, Y.; Okazaki, R.; Akutsu, R.; Friend, M.; Hasegawa, T.; Ishida, T.; Kobayashi, T.; Jakkapu, M.; Matsubara, T.; Nakadaira, T.; Nakamura, K.; Oyama, Y.; Yrey, A. Portocarrero; Sakashita, K.; Sekiguchi, T.; Tsukamoto, T.; Bhuiyan, N.; Burton, G. T.; Di Lodovico, F.; Gao, J.; Goldsack, A.; Katori, T.; Migenda, J.; Ramsden, R. M.; Xie, Z.; Zsoldos, S.; Kotsar, Y.; Ozaki, H.; Suzuki, A. T.; Takagi, Y.; Takeuchi, Y.; Zhong, H.; Feng, J.; Feng, L.; Han, S.; Hu, J. R.; Hu, Z.; Kawaue, M.; Kikawa, T.; Mori, M.; Nakaya, T.; Ngoc, T. V.; Wendell, R. A.; Yasutome, K.; Jenkins, S. J.; McCauley, N.; Mehta, P.; Tarrant, A.; Wilking, M. J.; Fukuda, Y.; Itow, Y.; Menjo, H.; Ninomiya, K.; Yoshioka, Y.; Lagoda, J.; Mandal, M.; Mijakowski, P.; Prabhu, Y. S.; Zalipska, J.; Jia, M.; Jiang, J.; Jung, C. K.; Shi, W.; Hino, Y.; Ishino, H.; Kitagawa, H.; Koshio, Y.; Nakanishi, F.; Sakai, S.; Tada, T.; Tano, T.; Ishizuka, T.; Barr, G.; Barrow, D.; Cook, L.; Samani, S.; Wark, D.; Holin, A.; Nova, F.; Jung, S.; Yang, J. Y.; Yoo, J.; Fannon, J. E. P.; Kneale, L.; Malek, M.; McElwee, J. M.; Peacock, T.; Stowell, P.; Thiesse, M. D.; Thompson, L. F.; Wilson, S. T.; Okazawa, H.; Lakshmi, S. M.; Kim, S. B.; Kwon, E.; Lee, M. W.; Seo, J. W.; Yu, I.; Ichikawa, A. K.; Nakamura, K. D.; Tairafune, S.; Nishijima, K.; Eguchi, A.; Goto, S.; Mizuno, Y.; Muro, T.; Nakagiri, K.; Nakajima, Y.; Shima, S.; Taniuchi, N.; Watanabe, E.; Yokoyama, M.; de Perio, P.; Fujita, S.; Jesús-Valls, C.; Martens, K.; Marti, Ll.; Tsui, K. M.; Vagins, M. R.; Xia, J.; Kuze, M.; Izumiyama, S.; Matsumoto, R.; Terada, K.; Asaka, R.; Ishitsuka, M.; Ito, H.; Kinoshita, T.; Ommura, Y.; Shigeta, N.; Shinoki, M.; Suganuma, T.; Yamauchi, K.; Yoshida, T.; Martin, J. F.; Tanaka, H. A.; Towstego, T.; Nakano, Y.; Cormier, F.; Gaur, R.; Gousy-Leblanc, V.; Hartz, M.; Konaka, A.; Li, X.; Smithers, B. R.; Chen, S.; Wu, Y.; Xu, B. D.; Zhang, A. Q.; Zhang, B.; Girgus, M.; Govindaraj, P.; Posiadala-Zezula, M.; Boyd, S. B.; Edwards, R.; Hadley, D.; Nicholson, M.; O'Flaherty, M.; Richards, B.; Ali, A.; Jamieson, B.; Amanai, S.; Minamino, A.; Pintaudi, G.; Sano, S.; Shibayama, R.; Shimamura, R.; Suzuki, S.; Wada, K.
Report
Collaboration, Super-Kamiokande; Taniuchi, N.; Abe, K.; Abe, S.; Asaoka, Y.; Bronner, C.; Harada, M.; Hayato, Y.; Hiraide, K.; Hosokawa, K.; Ieki, K.; Ikeda, M.; Kameda, J.; Kanemura, Y.; Kaneshima, R.; Kashiwagi, Y.; Kataoka, Y.; Miki, S.; Mine, S.; Miura, M.; Moriyama, S.; Nakahata, M.; Nakayama, S.; Noguchi, Y.; Pronost, G.; Okamoto, K.; Sato, K.; Sekiya, H.; Shiba, H.; Shimizu, K.; Shiozawa, M.; Sonoda, Y.; Suzuki, Y.; Takeda, A.; Takemoto, Y.; Takenaka, A.; Tanaka, H.; Watanabe, S.; Yano, T.; Kajita, T.; Okumura, K.; Tashiro, T.; Tomiya, T.; Wang, X.; Yoshida, S.; Megias, G. D.; Fernandez, P.; Labarga, L.; Ospina, N.; Zaldivar, B.; Pointon, B. W.; Kearns, E.; Mirabito, J.; Raaf, J. L.; Wan, L.; Wester, T.; Bian, J.; Griskevich, N. J.; Kropp, W. R.; Locke, S.; Smy, M. B.; Sobel, H. W.; Takhistov, V.; Yankelevich, A.; Hill, J.; Jang, M. C.; Kim, J. Y.; Lee, S. H.; Lim, I. T.; Moon, D. H.; Park, R. G.; Yang, B. S.; Bodur, B.; Scholberg, K.; Walter, C. W.; Beauchêne, A.; Bernard, L.; Coffani, A.; Drapier, O.; Hedri, S. El; Giampaolo, A.; Mueller, Th. A.; Santos, A. D.; Paganini, P.; Rogly, R.; Nakamura, T.; Jang, J. S.; Machado, L. N.; Learned, J. G.; Choi, K.; Iovine, N.; Cao, S.; Anthony, L. H. V.; Martin, D.; Prouse, N. W.; Scott, M.; Sztuc, A. A.; Uchida, Y.; Berardi, V.; Calabria, N. F.; Catanesi, M. G.; Radicioni, E.; Langella, A.; De Rosa, G.; Collazuol, G.; Feltre, M.; Iacob, F.; Lamoureux, M.; Mattiazzi, M.; Ludovici, L.; Gonin, M.; Périssé, L.; Quilain, B.; Fujisawa, C.; Horiuchi, S.; Kobayashi, M.; Liu, Y. M.; Maekawa, Y.; Nishimura, Y.; Okazaki, R.; Akutsu, R.; Friend, M.; Hasegawa, T.; Ishida, T.; Kobayashi, T.; Jakkapu, M.; Matsubara, T.; Nakadaira, T.; Nakamura, K.; Oyama, Y.; Yrey, A. Portocarrero; Sakashita, K.; Sekiguchi, T.; Tsukamoto, T.; Bhuiyan, N.; Boschi, T.; Burton, G. T.; Di Lodovico, F.; Gao, J.; Goldsack, A.; Katori, T.; Migenda, J.; Ramsden, R. M.; Taani, M.; Xie, Z.; Zsoldos, S.; Kotsar, Y.; Ozaki, H.; Suzuki, A. T.; Takagi, Y.; Takeuchi, Y.; Yamamoto, S.; Zhong, H.; Feng, J.; Feng, L.; Han, S.; Hu, J. R.; Hu, Z.; Kawaue, M.; Kikawa, T.; Mori, M.; Nakaya, T.; Wendell, R. A.; Yasutome, K.; Jenkins, S. J.; McCauley, N.; Mehta, P.; Tarrant, A.; Wilking, M. J.; Fukuda, Y.; Itow, Y.; Menjo, H.; Ninomiya, K.; Yoshioka, Y.; Lagoda, J.; Mandal, M.; Mijakowski, P.; Prabhu, Y. S.; Zalipska, J.; Jia, M.; Jiang, J.; Jung, C. K.; Shi, W.; Yanagisawa, C.; Hino, Y.; Ishino, H.; Ito, S.; Kitagawa, H.; Koshio, Y.; Ma, W.; Nakanishi, F.; Sakai, S.; Tada, T.; Tano, T.; Ishizuka, T.; Barr, G.; Barrow, D.; Cook, L.; Samani, S.; Wark, D.; Holin, A.; Nova, F.; Jung, S.; Yang, J. Y.; Yoo, J.; Fannon, J. E. P.; Kneale, L.; Malek, M.; McElwee, J. M.; Stone, O.; Stowell, P.; Thiesse, M. D.; Thompson, L. F.; Wilson, S. T.; Okazawa, H.; Lakshmi, S. M.; Kim, S. B.; Kwon, E.; Lee, M. W.; Seo, J. W.; Yu, I.; Ichikawa, A. K.; Nakamura, K. D.; Tairafune, S.; Nishijima, K.; Koshiba, M.; Eguchi, A.; Goto, S.; Iwamoto, K.; Mizuno, Y.; Muro, T.; Nakagiri, K.; Nakajima, Y.; Shima, S.; Watanabe, E.; Yokoyama, M.; de Perio, P.; Fujita, S.; Jesús-Valls, C.; Martens, K.; Marti, Ll.; Tsui, K. M.; Vagins, M. R.; Xia, J.; Izumiyama, S.; Kuze, M.; Matsumoto, R.; Terada, K.; Asaka, R.; Inomoto, M.; Ishitsuka, M.; Ito, H.; Kinoshita, T.; Ommura, Y.; Shigeta, N.; Shinoki, M.; Suganuma, T.; Yamauchi, K.; Yoshida, T.; Nakano, Y.; Martin, J. F.; Tanaka, H. A.; Towstego, T.; Gaur, R.; Gousy-Leblanc, V.; Hartz, M.; Konaka, A.; Li, X.; Chen, S.; Wu, Y.; Xu, B. D.; Zhang, A. Q.; Zhang, B.; Posiadala-Zezula, M.; Boyd, S. B.; Edwards, R.; Hadley, D.; Nicholson, M.; O'Flaherty, M.; Richards, B.; Ali, A.; Jamieson, B.; Amanai, S.; Minamino, A.; Pintaudi, G.; Sano, S.; Sasaki, R.; Shibayama, R.; Shimamura, R.; Suzuki, S.; Wada, K.
Academic Journal
IEEE Transactions on Network Science and Engineering IEEE Trans. Netw. Sci. Eng. Network Science and Engineering, IEEE Transactions on. 11(2):2124-2137 Apr, 2024
Report
Mori, M.; Abe, K.; Hayato, Y.; Hiraide, K.; Hosokawa, K.; Ieki, K.; Ikeda, M.; Kameda, J.; Kanemura, Y.; Kaneshima, R.; Kashiwagi, Y.; Kataoka, Y.; Miki, S.; Mine, S.; Miura, M.; Moriyama, S.; Nakano, Y.; Nakahata, M.; Nakayama, S.; Noguchi, Y.; Okamoto, K.; Sato, K.; Sekiya, H.; Shiba, H.; Shimizu, K.; Shiozawa, M.; Sonoda, Y.; Suzuki, Y.; Takeda, A.; Takemoto, Y.; Takenaka, A.; Tanaka, H.; Watanabe, S.; Yano, T.; Han, S.; Kajita, T.; Okumura, K.; Tashiro, T.; Tomiya, T.; Wang, X.; Yoshida, S.; Megias, G. D.; Fernandez, P.; Labarga, L.; Ospina, N.; Zaldivar, B.; Pointon, B. W.; Kearns, E.; Raaf, J. L.; Wan, L.; Wester, T.; Bian, J.; Griskevich, N. J.; Locke, S.; Smy, M. B.; Sobel, H. W.; Takhistov, V.; Yankelevich, A.; Hill, J.; Jang, M. C.; Lee, S. H.; Moon, D. H.; Park, R. G.; Bodur, B.; Scholberg, K.; Walter, C. W.; Beauchene, A.; Drapier, O.; Giampaolo, A.; Mueller, Th. A.; Santos, A. D.; Paganini, P.; Quilain, B.; Rogly, R.; Ishizuka, T.; Nakamura, T.; Jang, J. S.; Learned, J. G.; Choi, K.; Iovine, N.; Cao, S.; Anthony, L. H. V.; Martin, D.; Scott, M.; Sztuc, A. A.; Uchida, Y.; Berardi, V.; Catanesi, M. G.; Radicioni, E.; Calabria, N. F.; Langella, A.; Machado, L. N.; De Rosa, G.; Collazuol, G.; Iacob, F.; Lamoureux, M.; Mattiazzi, M.; Ludovici, L.; Gonin, M.; Perisse, L.; Pronost, G.; Fujisawa, C.; Maekawa, Y.; Nishimura, Y.; Okazaki, R.; Akutsu, R.; Friend, M.; Hasegawa, T.; Ishida, T.; Kobayashi, T.; Jakkapu, M.; Matsubara, T.; Nakadaira, T.; Nakamura, K.; Oyama, Y.; Sakashita, K.; Sekiguchi, T.; Tsukamoto, T.; Bhuiyan, N.; Burton, G. T.; Edwards, R.; Di Lodovico, F.; Gao, J.; Goldsack, A.; Katori, T.; Migenda, J.; Ramsden, R. M.; Xie, Z.; Zsoldos, S.; Kotsar, Y.; Ozaki, H.; Suzuki, A. T.; Takagi, Y.; Takeuchi, Y.; Zhong, H.; Bronner, C.; Feng, J.; Hu, J. R.; Hu, Z.; Kawaune, M.; Kikawa, T.; LiCheng, F.; Nakaya, T.; Wendell, R. A.; Yasutome, K.; Jenkins, S. J.; McCauley, N.; Mehta, P.; Tarant, A.; Fukuda, Y.; Itow, Y.; Menjo, H.; Ninomiya, K.; Yoshioka, Y.; Lagoda, J.; Lakshmi, S. M.; Mandal, M.; Mijakowski, P.; Prabhu, Y. S.; Zalipska, J.; Jia, M.; Jiang, J.; Jung, C. K.; Shi, W.; Wilking, M. J.; Yanagisawa, C.; Harada, M.; Hino, Y.; Ishino, H.; Kitagawa, H.; Koshio, Y.; Nakanishi, F.; Sakai, S.; Tada, T.; Tano, T.; Barr, G.; Barrow, D.; Cook, L.; Samani, S.; Wark, D.; Holin, A.; Nova, F.; Jung, S.; Yang, B. S.; Yang, J. Y.; Yoo, J.; Fannon, J. E. P.; Kneale, L.; Malek, M.; McElwee, J. M.; Thiesse, M. D.; Thompson, L. F.; Wilson, S.; Okazawa, H.; Kim, S. B.; Kwon, E.; Seo, J. W.; Yu, I.; Ichikawa, A. K.; Nakamura, K. D.; Tairafune, S.; Nishijima, K.; Eguchi, A.; Nakagiri, K.; Nakajima, Y.; Shima, S.; Taniuchi, N.; Watanabe, E.; Yokoyama, M.; de Perio, P.; Fujita, S.; Martens, K.; Tsui, K. M.; Vagins, M. R.; Valls, C. J.; Xia, J.; Kuze, M.; Izumiyama, S.; Ishitsuka, M.; Ito, H.; Kinoshita, T.; Matsumoto, R.; Ommura, Y.; Shigeta, N.; Shinoki, M.; Suganuma, T.; Yamauchi, K.; Yoshida, T.; Martin, J. F.; Tanaka, H. A.; Towstego, T.; Gaur, R.; Gousy-Leblanc, V.; Hartz, M.; Konaka, A.; Li, X.; Prouse, N. W.; Chen, S.; Xu, B. D.; Zhang, B.; Posiadala-Zezula, M.; Boyd, S. B.; Hadley, D.; Nicholson, M.; Flaherty, M. O'; Richards, B.; Ali, A.; Jamieson, B.; Amanai, S.; Marti, Ll.; Minamino, A.; Pintaudi, G.; Sano, S.; Suzuki, S.; Wada, K.
Conference
Matsunaga, K.; Ishikura, K.; Takenaka, I.; Contrata, W.; Wakejima, A.; Ota, K.; Kanamori, M.; Kuzuhara, M.
International Electron Devices Meeting 2000. Technical Digest. IEDM (Cat. No.00CH37138) Electron devices meeting Electron Devices Meeting, 2000. IEDM '00. Technical Digest. International. :393-396 2000
Report
Kitagawa, H.; Tada, T.; Abe, K.; Bronner, C.; Hayato, Y.; Hiraide, K.; Hosokawa, K.; Ieki, K.; Ikeda, M.; Kameda, J.; Kanemura, Y.; Kaneshima, R.; Kashiwagi, Y.; Kataoka, Y.; Miki, S.; Mine, S.; Miura, M.; Moriyama, S.; Nakano, Y.; Nakahata, M.; Nakayama, S.; Noguchi, Y.; Okamoto, K.; Sato, K.; Sekiya, H.; Shiba, H.; Shimizu, K.; Shiozawa, M.; Sonoda, Y.; Suzuki, Y.; Takeda, A.; Takemoto, Y.; Takenaka, A.; Tanaka, H.; Watanabe, S.; Yano, T.; Han, S.; Kajita, T.; Okumura, K.; Tashiro, T.; Tomiya, T.; Wang, X.; Yoshida, S.; Megias, G. D.; Fernandez, P.; Labarga, L.; Ospina, N.; Zaldivar, B.; Pointon, B. W.; Kearns, E.; Raaf, J. L.; Wan, L.; Wester, T.; Bian, J.; Griskevich, N. J.; Locke, S.; Smy, M. B.; Sobel, H. W.; Takhistov, V.; Yankelevich, A.; Hill, J.; Jang, M. C.; Lee, S. H.; Moon, D. H.; Park, R. G.; Bodur, B.; Scholberg, K.; Walter, C. W.; Beauchêne, A.; Drapier, O.; Giampaolo, A.; Mueller, Th. A.; Santos, A. D.; Paganini, P.; Quilain, B.; Rogly, R.; Nakamura, T.; Jang, J. S.; Machado, L. N.; Learned, J. G.; Choi, K.; Iovine, N.; Cao, S.; Anthony, L. H. V.; Martin, D.; Prouse, N. W.; Scott, M.; Sztuc, A. A.; Uchida, Y.; Berardi, V.; Calabria, N. F.; Catanesi, M. G.; Radicioni, E.; Langella, A.; De Rosa, G.; Collazuol, G.; Iacob, F.; Lamoureux, M.; Mattiazzi, M.; Ludovici, L.; Gonin, M.; Périssé, L.; Pronost, G.; Fujisawa, C.; Maekawa, Y.; Nishimura, Y.; Okazaki, R.; Akutsu, R.; Friend, M.; Hasegawa, T.; Ishida, T.; Kobayashi, T.; Jakkapu, M.; Matsubara, T.; Nakadaira, T.; Nakamura, K.; Oyama, Y.; Sakashita, K.; Sekiguchi, T.; Tsukamoto, T.; Bhuiyan, N.; Burton, G. T.; Di Lodovico, F.; Gao, J.; Goldsack, A.; Katori, T.; Migenda, J.; Ramsden, R. M.; Xie, Z.; Zsoldos, S.; Kotsar, Y.; Ozaki, H.; Suzuki, A. T.; Takagi, Y.; Takeuchi, Y.; Zhong, H.; Feng, J.; Feng, L.; Hu, J. R.; Hu, Z.; Kawaue, M.; Kikawa, T.; Mori, M.; Nakaya, T.; Wendell, R. A.; Yasutome, K.; Jenkins, S. J.; McCauley, N.; Mehta, P.; Tarant, A.; Wilking, M. J.; Fukuda, Y.; Itow, Y.; Menjo, H.; Ninomiya, K.; Yoshioka, Y.; Lagoda, J.; Mandal, M.; Mijakowski, P.; Prabhu, Y. S.; Zalipska, J.; Jia, M.; Jiang, J.; Jung, C. K.; Shi, W.; Yanagisawa, C.; Harada, M.; Hino, Y.; Ishino, H.; Koshio, Y.; Nakanishi, F.; Sakai, S.; Tano, T.; Ishizuka, T.; Barr, G.; Barrow, D.; Cook, L.; Samani, S.; Wark, D.; Holin, A.; Nova, F.; Jung, S.; Yang, B. S.; Yang, J. Y.; Yoo, J.; Fannon, J. E. P.; Kneale, L.; Malek, M.; McElwee, J. M.; Thiesse, M. D.; Thompson, L. F.; Wilson, S. T.; Okazawa, H.; Lakshmi, S. M.; Kim, S. B.; Kwon, E.; Seo, J. W.; Yu, I.; Ichikawa, A. K.; Nakamura, K. D.; Tairafune, S.; Nishijima, K.; Eguchi, A.; Nakagiri, K.; Nakajima, Y.; Shima, S.; Taniuchi, N.; Watanabe, E.; Yokoyama, M.; de Perio, P.; Fujita, S.; Jesús-Valls, C.; Martens, K.; Tsui, K. M.; Vagins, M. R.; Xia, J.; Izumiyama, S.; Kuze, M.; Matsumoto, R.; Terada, K.; Ishitsuka, M.; Ito, H.; Kinoshita, T.; Ommura, Y.; Shigeta, N.; Shinoki, M.; Suganuma, T.; Yamauchi, K.; Yoshida, T.; Martin, J. F.; Tanaka, H. A.; Towstego, T.; Gaur, R.; Gousy-Leblanc, V.; Hartz, M.; Konaka, A.; Li, X.; Chen, S.; Xu, B. D.; Zhang, B.; Posiadala-Zezula, M.; Boyd, S. B.; Edwards, R.; Hadley, D.; Nicholson, M.; O'Flaherty, M.; Richards, B.; Ali, A.; Jamieson, B.; Amanai, S.; Marti, Ll.; Minamino, A.; Pintaudi, G.; Sano, S.; Suzuki, S.; Wada, K.
Phys. Rev. D 110, 082008 (2024)
Academic Journal
Takenaka, I.; Ishikura, K.; Takahashi, H.; Hasegawa, K.; Ueda, T.; Kurihara, T.; Asano, K.; Iwata, N.
IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques IEEE Trans. Microwave Theory Techn. Microwave Theory and Techniques, IEEE Transactions on. 54(12):4513-4521 Dec, 2006
Conference
2004 IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest (IEEE Cat. No.04CH37535) Microwave symposium digest Microwave Symposium Digest, 2004 IEEE MTT-S International. 2:525-528 Vol.2 2004
Report
Collaboration, Super-Kamiokande; Abe, K.; Bronner, C.; Hayato, Y.; Hiraide, K.; Hosokawa, K.; Ieki, K.; Ikeda, M.; Imaizumi, S.; Iyogi, K.; Kameda, J.; Kanemura, Y.; Kaneshima, R.; Kashiwagi, Y.; Kataoka, Y.; Kato, Y.; Kishimoto, Y.; Miki, S.; Mine, S.; Miura, M.; Mochizuki, T.; Moriyama, S.; Nagao, Y.; Nakahata, M.; Nakano, Y.; Nakayama, S.; Noguchi, Y.; Okada, T.; Okamoto, K.; Orii, A.; Sato, K.; Sekiya, H.; Shiba, H.; Shimizu, K.; Shiozawa, M.; Sonoda, Y.; Suzuki, Y.; Takeda, A.; Takemoto, Y.; Takenaka, A.; Tanaka, H.; Watanabe, S.; Yano, T.; Han, S.; Kajita, T.; Okumura, K.; Tashiro, T.; Tomiya, T.; Wang, R.; Wang, X.; Yoshida, S.; Bravo-Berguno, D.; Fernandez, P.; Labarga, L.; Ospina, N.; Zaldivar, B.; Pointon, B. W.; Blaszczyk, F. d. M.; Kachulis, C.; Kearns, E.; Raaf, J. L.; Stone, J. L.; Wan, L.; Wester, T.; Bian, J.; Griskevich, N. J.; Kropp, W. R.; Locke, S.; Smy, M. B.; Sobel, H. W.; Takhistov, V.; Weatherly, P.; Yankelevich, A.; Ganezer, K. S.; Hill, J.; Jang, M. C.; Kim, J. Y.; Lee, S.; Lim, I. T.; Moon, D. H.; Park, R. G.; Bodur, B.; Scholberg, K.; Walter, C. W.; Beauchene, A.; Bernard, L.; Coffani, A.; Drapier, O.; Hedri, S. El; Giampaolo, A.; Imber, J.; Mueller, Th. A.; Paganini, P.; Rogly, R.; Quilain, B.; Santos, A.; Nakamura, T.; Jang, J. S.; Machado, L. N.; Learned, J. G.; Matsuno, S.; Iovine, N.; Choi, K.; Cao, S.; Anthony, L. H. V.; Litchfield, R. P.; Prouse, N.; Marin, D.; Scott, M.; Sztuc, A. A.; Uchida, Y.; Berardi, V.; Catanesi, M. G.; Intonti, R. A.; Radicioni, E.; Calabria, N. F.; De Rosa, G.; Langella, A.; Collazuol, G.; Iacob, F.; Lamoureux, M.; Mattiazzi, M.; Ludovici, L.; Gonin, M.; Perisse, L.; Pronost, G.; Fujisawa, C.; Maekawa, Y.; Nishimura, Y.; Okazaki, R.; Friend, M.; Hasegawa, T.; Ishida, T.; Jakkapu, M.; Kobayashi, T.; Matsubara, T.; Nakadaira, T.; Nakamura, K.; Oyama, Y.; Sakashita, K.; Sekiguchi, T.; Tsukamoto, T.; Boschi, T.; Bhuiyan, N.; Burton, G. T.; Gao, J.; Goldsack, A.; Katori, T.; Di Lodovico, F.; Migenda, J.; Sedgwick, S. Molina; Ramsden, R. M.; Taani, M.; Xie, Z.; Zsoldos, S.; Abe, KE.; Hasegawa, M.; Isobe, Y.; Kotsar, Y.; Miyabe, H.; Ozaki, H.; Shiozawa, T.; Sugimoto, T.; Suzuki, A. T.; Takagi, Y.; Takeuchi, Y.; Yamamoto, S.; Zhong, H.; Ashida, Y.; Feng, J.; Feng, L.; Hayashino, T.; Hirota, S.; Hu, J. R.; Hu, Z.; Jiang, M.; Kawaue, M.; Kikawa, T.; Mori, M.; Nakamura, KE.; Nakaya, T.; Wendell, R. A.; Yasutome, K.; Jenkins, S. J.; McCauley, N.; Mehta, P.; Pritchard, A.; Tarrant, A.; Wilking, M. J.; Fukuda, Y.; Itow, Y.; Menjo, H.; Murase, M.; Ninomiya, K.; Niwa, T.; Tsukada, M.; Yoshioka, Y.; Frankiewicz, K.; Lagoda, J.; Mandal, M.; Mijakowski, P.; Prabhu, Y. S.; Zalipska, J.; Jiang, J.; Jia, M.; Jung, C. K.; Palomino, J. L.; Santucci, G.; Shi, W.; Vilela, C.; Yanagisawa, C.; Fukuda, D.; Hagiwara, K.; Harada, M.; Hino, Y.; Horai, T.; Ishino, H.; Ito, S.; Kitagawa, H.; Koshio, Y.; Ma, W.; Nakanishi, F.; Piplani, N.; Sakai, S.; Sakuda, M.; Tada, T.; Tano, T.; Xu, C.; Yamaguchi, R.; Ishizuka, T.; Kuno, Y.; Barr, G.; Barrow, D.; Cook, L.; Samani, S.; Simpson, C.; Wark, D.; Holin, A. M.; Nova, F.; Jung, S.; Yang, B.; Yang, J. Y.; Yoo, J.; Fannon, J. E. P.; Kneale, L.; Malek, M.; McElwee, J. M.; Stone, O.; Thiesse, M. D.; Thompson, L. F.; Wilson, S. T.; Okazawa, H.; Lakshmi, S. M.; Choi, Y.; Kim, S. B.; Kwon, E.; Seo, J. W.; Yu, I.; Ichikawa, A. K.; Tairahune, S.; Nishijima, K.; Eguchi, A.; Iwamoto, K.; Nakagiri, K.; Nakajima, Y.; Ogawa, N.; Shima, S.; Watanabe, E.; Yokoyama, M.; Calland, R. G.; Fujita, S.; Jesus-Valls, C.; Junjie, X.; Ming, T. K.; de Perio, P.; Martens, K.; Murdoch, M.; Vagins, M. R.; Izumiyama, S.; Kuze, M.; Matsumoto, R.; Okajima, Y.; Tanaka, M.; Yoshida, T.; Inomoto, M.; Ishitsuka, M.; Ito, H.; Kinoshita, T.; Ohta, K.; Ommura, Y.; Shinoki, M.; Shigeta, N.; Suganuma, T.; Yamaguchi, K.; Martin, J. F.; Nantais, C. M.; Tanaka, H. A.; Towstego, T.; Gaur, R.; Gousy-Leblanc, V.; Hartz, M.; Konaka, A.; Li, X.; Chen, S.; Xu, B. D.; Zhang, B.; Berkman, S.; Posiadala-Zezula, M.; Boyd, S. B.; Edwards, R.; Hadley, D.; Nicholson, M.; O'Flaherty, M.; Richards, B.; Ali, A.; Jamieson, B.; Walker, J.; Amanai, S.; Marti, Ll.; Minamino, A.; Pintaudi, G.; Sano, S.; Sasaki, R.; Suzuki, S.; Wada, K.
Phys. Rev. D 109, 092001 (2024)
Conference
Takenaka, I.; Ishikura, K.; Takahashi, K.; Kishi, K.; Ogasawara, Y.; Hasegawa, K.; Takahashi, H.; Emori, F.; Iwata, N.
2001 IEEE MTT-S International Microwave Sympsoium Digest (Cat. No.01CH37157) Microwave symposium Microwave Symposium Digest, 2001 IEEE MTT-S International. 2:645-648 vol.2 2001
Conference
Takenaka, I.; Ishikura, K.; Takahashi, H.; Hasegawa, K.; Ueda, T.; Kurihara, T.; Asano, K.; Iwata, N.
2006 IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest Microwave Symposium Digest, 2006. IEEE MTT-S International. :1344-1347 Jun, 2006
Conference
Sakura, N.; Matsunaga, K.; Ishikura, K.; Takenaka, I.; Asano, K.; Iwata, N.; Kanamori, M.; Kuzuhara, M.
2000 IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest (Cat. No.00CH37017) Microwave symposium Microwave Symposium Digest. 2000 IEEE MTT-S International. 3:1715-1718 vol.3 2000
Report
Harada, M.; Abe, K.; Bronner, C.; Hayato, Y.; Hiraide, K.; Hosokawa, K.; Ieki, K.; Ikeda, M.; Kameda, J.; Kanemura, Y.; Kaneshima, R.; Kashiwagi, Y.; Kataoka, Y.; Miki, S.; Mine, S.; Miura, M.; Moriyama, S.; Nakano, Y.; Nakahata, M.; Nakayama, S.; Noguchi, Y.; Okamoto, K.; Sato, K.; Sekiya, H.; Shiba, H.; Shimizu, K.; Shiozawa, M.; Sonoda, Y.; Suzuki, Y.; Takeda, A.; Takemoto, Y.; Takenaka, A.; Tanaka, H.; Watanabe, S.; Yano, T.; Han, S.; Kajita, T.; Okumura, K.; Tashiro, T.; Tomiya, T.; Wang, X.; Yoshida, S.; Megias, G. D.; Fernandez, P.; Labarga, L.; Ospina, N.; Zaldivar, B.; Pointon, B. W.; Kearns, E.; Raaf, J. L.; Wan, L.; Wester, T.; Bian, J.; Griskevich, N. J.; Locke, S.; Smy, M. B.; Sobel, H. W.; Takhistov, V.; Yankelevich, A.; Hill, J.; Lee, S. H.; Moon, D. H.; Park, R. G.; Bodur, B.; Scholberg, K.; Walter, C. W.; Beauchene, A.; Drapier, O.; Giampaolo, A.; Mueller, Th. A.; Santos, A. D.; Paganini, P.; Quilain, B.; Ishizuka, T.; Nakamura, T.; Jang, J. S.; Learned, J. G.; Choi, K.; Iovine, N.; Cao, S.; Anthony, L. H. V.; Martin, D.; Scott, M.; Sztuc, A. A.; Uchida, Y.; Berardi, V.; Catanesi, M. G.; Radicioni, E.; Calabria, N. F.; Langella, A.; Machado, L. N.; De Rosa, G.; Collazuol, G.; Iacob, F.; Lamoureux, M.; Mattiazzi, M.; Ludovici, L.; Gonin, M.; Pronost, G.; Fujisawa, C.; Maekawa, Y.; Nishimura, Y.; Okazaki, R.; Akutsu, R.; Friend, M.; Hasegawa, T.; Ishida, T.; Kobayashi, T.; Jakkapu, M.; Matsubara, T.; Nakadaira, T.; Nakamura, K.; Oyama, Y.; Sakashita, K.; Sekiguchi, T.; Tsukamoto, T.; Bhuiyan, N.; Burton, G. T.; Di Lodovico, F.; Gao, J.; Goldsack, A.; Katori, T.; Migenda, J.; Xie, Z.; Zsoldos, S.; Kotsar, Y.; Ozaki, H.; Suzuki, A. T.; Takagi, Y.; Takeuchi, Y.; Feng, J.; Feng, L.; Hu, J. R.; Hu, Z.; Kikawa, T.; Mori, M.; Nakaya, T.; Wendell, R. A.; Yasutome, K.; Jenkins, S. J.; McCauley, N.; Mehta, P.; Tarrant, A.; Fukuda, Y.; Itow, Y.; Menjo, H.; Ninomiya, K.; Lagoda, J.; Lakshmi, S. M.; Mandal, M.; Mijakowski, P.; Prabhu, Y. S.; Zalipska, J.; Jia, M.; Jiang, J.; Jung, C. K.; Wilking, M. J.; Yanagisawa, C.; Hino, Y.; Ishino, H.; Kitagawa, H.; Koshio, Y.; Nakanishi, F.; Sakai, S.; Tada, T.; Tano, T.; Barr, G.; Barrow, D.; Cook, L.; Samani, S.; Wark, D.; Holin, A.; Nova, F.; Yang, B. S.; Yang, J. Y.; Yoo, J.; Fannon, J. E. P.; Kneale, L.; Malek, M.; McElwee, J. M.; Thiesse, M. D.; Thompson, L. F.; Wilson, S. T.; Okazawa, H.; Kim, S. B.; Kwon, E.; Seo, J. W.; Yu, I.; Ichikawa, A. K.; Nakamura, K. D.; Tairafune, S.; Nishijima, K.; Nakagiri, K.; Nakajima, Y.; Shima, S.; Taniuchi, N.; Watanabe, E.; Yokoyama, M.; de Perio, P.; Martens, K.; Tsui, K. M.; Vagins, M. R.; Xia, J.; Kuze, M.; Izumiyama, S.; Matsumoto, R.; Ishitsuka, M.; Ito, H.; Kinoshita, T.; Ommura, Y.; Shigeta, N.; Shinoki, M.; Suganuma, T.; Yamauchi, K.; Martin, J. F.; Tanaka, H. A.; Towstego, T.; Gaur, R.; Gousy-Leblanc, V.; Hartz, M.; Konaka, A.; Li, X.; Prouse, N. W.; Chen, S.; Xu, B. D.; Zhang, B.; Posiadala-Zezula, M.; Boyd, S. B.; Edwards, R.; Hadley, D.; Nicholson, M.; Flaherty, M. O; Richards, B.; Ali, A.; Jamieson, B.; Marti, Ll.; Minamino, A.; Pintaudi, G.; Sano, S.; Suzuki, S.; Wada, K.
Conference
1998 IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest (Cat. No.98CH36192) Microwave symposium Microwave Symposium Digest, 1998 IEEE MTT-S International. 2:715-718 vol.2 1998
Conference
Takenaka, I.; Takahashi, H.; Asano, K.; Ishikura, K.; Morikawa, J.; Sato, K.; Takano, I.; Hasegawa, K.; Tokunaga, K.; Emori, F.; Kuzuhara, M.
GaAs IC Symposium. IEEE Gallium Arsenide Integrated Circuit Symposium. 20th Annual. Technical Digest 1998 (Cat. No.98CH36260) GaAs IC Gallium Arsenide Integrated Circuit (GaAs IC) Symposium, 1998. Technical Digest 1998., 20th Annual. :81-85 1998
Conference
Takenaka, I.; Takahashi, H.; Asano, K.; Morikawa, J.; Ishikura, K.; Kanamori, M.; Kuzuhara, M.; Tsutsui, H.
1997 IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest Microwave symposium Microwave Symposium Digest, 1997., IEEE MTT-S International. 3:1417-1420 vol.3 1997
Academic Journal
Kim, Jieun; Qi, Yubo; Kumar, Abinash; Tang, Yun-Long; Xu, Michael; Takenaka, Hiroyuki; Zhu, Menglin; Tian, Zishen; Ramesh, Ramamoorthy; LeBeau, James M.; Rappe, Andrew M.; Martin, Lane W.
Nature Nanotechnology. :1-9
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[검색어] W. Takenaka
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어