학술논문
전자자료 공정이용 안내
우리 대학 도서관에서 구독·제공하는 모든 전자자료(데이터베이스, 전자저널, 전자책 등)는 국내외 저작권법과 출판사와의 라이선스 계약에 따라 엄격하게 보호를 받고 있습니다.
전자자료의 비정상적 이용은 출판사로부터의 경고, 서비스 차단, 손해배상 청구 등 학교 전체에 심각한 불이익을 초래할 수 있으므로, 아래의 공정이용 지침을 반드시 준수해 주시기 바랍니다.
공정이용 지침
- 전자자료는 개인의 학습·교육·연구 목적의 비영리적 사용에 한하여 이용할 수 있습니다.
- 합리적인 수준의 다운로드 및 출력만 허용됩니다. (일반적으로 동일 PC에서 동일 출판사의 논문을 1일 30건 이하 다운로드할 것을 권장하며, 출판사별 기준에 따라 다를 수 있습니다.)
- 출판사에서 제공한 논문의 URL을 수업 관련 웹사이트에 게재할 수 있으나, 출판사 원문 파일 자체를 복제·배포해서는 안 됩니다.
- 본인의 ID/PW를 타인에게 제공하지 말고, 도용되지 않도록 철저히 관리해 주시기 바랍니다.
불공정 이용 사례
- 전자적·기계적 수단(다운로딩 프로그램, 웹 크롤러, 로봇, 매크로, RPA 등)을 이용한 대량 다운로드
- 동일 컴퓨터 또는 동일 IP에서 단시간 내 다수의 원문을 집중적으로 다운로드하거나, 전권(whole issue) 다운로드
- 저장·출력한 자료를 타인에게 배포하거나 개인 블로그·웹하드 등에 업로드
- 상업적·영리적 목적으로 자료를 전송·복제·활용
- ID/PW를 타인에게 양도하거나 타인 계정을 도용하여 이용
- EndNote, Mendeley 등 서지관리 프로그램의 Find Full Text 기능을 이용한 대량 다운로드
- 출판사 콘텐츠를 생성형 AI 시스템에서 활용하는 행위(업로드, 개발, 학습, 프로그래밍, 개선 또는 강화 등)
위반 시 제재
- 출판사에 의한 해당 IP 또는 기관 전체 접속 차단
- 출판사 배상 요구 시 위반자 개인이 배상 책임 부담
'학술논문'
에서 검색결과 3,428건 | 목록
1~20
Report
Agarwal, S.; Aguilar, J. A.; Alden, N.; Ali, S.; Allison, P.; Betts, M.; Besson, D.; Bishop, A.; Botner, O.; Bouma, S.; Buitink, S.; Camphyn, R.; Chan, J.; Chiche, S.; Clark, B. A.; Coleman, A.; Couberly, K.; de Kockere, S.; de Vries, K. D.; Deaconu, C.; Giri, P.; Glaser, C.; Glüsenkamp, T.; Gui, H.; Hallgren, A.; Hallmann, S.; Hanson, J. C.; Helbing, K.; Hendricks, B.; Henrichs, J.; Heyer, N.; Hornhuber, C.; Santiago, E. Huesca; Hughes, K.; Jaitly, A.; Karg, T.; Karle, A.; Kelley, J. L.; Kopper, C.; Korntheuer, M.; Kowalski, M.; Kravchenko, I.; Krebs, R.; Kugelmeier, M.; Kullgren, D.; Lahmann, R.; Liu, C. -H.; Liu, Y.; Marsee, M. J.; Mulrey, K.; Muzio, M.; Nelles, A.; Novikov, A.; Nozdrina, A.; Oberla, E.; Oeyen, B.; Punsuebsay, N.; Pyras, L.; Ravn, M.; Rifaie, A.; Ryckbosch, D.; Schlüter, F.; Scholten, O.; Seckel, D.; Seikh, M. F. H.; Selcuk, Z. S.; Stachurska, J.; Stoffels, J.; Toscano, S.; Tosi, D.; Tutt, J.; Broeck, D. J. Van Den; van Eijndhoven, N.; Vieregg, A. G.; Vijai, A.; Washington, D.; Welling, C.; Williams, D. R.; Windischhofer, P.; Wissel, S.; Young, R.; Zink, A.
Report
Abbasi, R.; Ackermann, M.; Adams, J.; Agarwalla, S. K.; Aguilar, J. A.; Ahlers, M.; Alameddine, J. M.; Ali, S.; Amin, N. M.; Andeen, K.; Anton, G.; Argüelles, C.; Ashida, Y.; Athanasiadou, S.; Audehm, J.; Axani, S. N.; Babu, R.; Bai, X.; V., A. Balagopal; Baricevic, M.; Barwick, S. W.; Basu, V.; Bay, R.; Tjus, J. Becker; Behrens, P.; Beise, J.; Bellenghi, C.; Benkel, B.; BenZvi, S.; Berley, D.; Bernardini, E.; Besson, D. Z.; Bishop, A.; Blaufuss, E.; Bloom, L.; Blot, S.; Bohmer, M.; Bontempo, F.; Motzkin, J. Y. Book; Borowka, J.; Meneguolo, C. Boscolo; Böser, S.; Botner, O.; Böttcher, J.; Bouma, S.; Braun, J.; Brinson, B.; Brisson-Tsavoussis, Z.; Burley, R. T.; Bustamante, M.; Butterfield, D.; Campana, M. A.; Carloni, K.; Cataldo, M.; Chattopadhyay, S.; Chau, N.; Chen, Z.; Chirkin, D.; Choi, S.; Clark, B. A.; Clark, R.; Coleman, A.; Coleman, P.; Collin, G. H.; Borja, D. A. Coloma; Conrad, J. M.; Corley, R.; Cowen, D. F.; Deaconu, C.; De Clercq, C.; De Kockere, S.; DeLaunay, J. J.; Delgado, D.; Delmeulle, T.; Deng, S.; Desai, A.; Desiati, P.; de Vries, K. D.; de Wasseige, G.; Díaz-Vélez, J. C.; DiKerby, S.; Dittmer, M.; Do, G.; Domi, A.; Draper, L.; Dueser, L.; Dujmovic, H.; Durnford, D.; Dutta, K.; DuVernois, M. A.; Egby, T.; Ehrhardt, T.; Eidenschink, L.; Eimer, A.; Eller, P.; Ellinger, E.; Elsässer, D.; Engel, R.; Erpenbeck, H.; Esmail, W.; Eulig, S.; Evans, J.; Evans, J. J.; Evenson, P. A.; Fan, K. L.; Fang, K.; Farrag, K.; Fazely, A. R.; Fedynitch, A.; Feigl, N.; Finley, C.; Fischer, L.; Flaggs, B.; Fox, D.; Franckowiak, A.; Fujii, T.; Fukami, S.; Fürst, P.; Gallagher, J.; Ganster, E.; Garcia, A.; Garg, G.; Genton, E.; Gerhardt, L.; Ghadimi, A.; Giri, P.; Glaser, C.; Glüsenkamp, T.; Goswami, S.; Granados, A.; Grant, D.; Gray, S. J.; Griffin, S.; Griswold, S.; Guevel, D.; Günther, C.; Gutjahr, P.; Ha, C.; Haack, C.; Hallgren, A.; Hallmann, S.; Halve, L.; Halzen, F.; Hamacher, L.; Minh, M. Ha; Handt, M.; Hanson, K.; Hardin, J.; Harnisch, A. A.; Hatch, P.; Haungs, A.; Häußler, J.; Heinen, D.; Helbing, K.; Hellrung, J.; Hendricks, B.; Henke, B.; Hennig, L.; Henningsen, F.; Henrichs, J.; Heuermann, L.; Heyer, N.; Hickford, S.; Hidvegi, A.; Hill, C.; Hill, G. C.; Hoffman, K. D.; Hoffmann, B.; Hooper, D.; Hori, S.; Hoshina, K.; Hostert, M.; Hou, W.; Huber, T.; Huege, T.; Santiago, E. Huesca; Hultqvist, K.; Hussain, R.; Hymon, K.; Ishihara, A.; Ishii, T.; Iwakiri, W.; Jacquart, M.; Jain, S.; Jaitly, A.; Janik, O.; Jansson, M.; Jeong, M.; Jin, M.; Kalekin, O.; Kamp, N.; Kang, D.; Kang, W.; Kang, X.; Kappes, A.; Kardum, L.; Karg, T.; Karl, M.; Karle, A.; Katil, A.; Katori, T.; Katz, U.; Kauer, M.; Kelley, J. L.; Khanal, M.; Zathul, A. Khatee; Kheirandish, A.; Kiryluk, J.; Kleifges, M.; Klein, C.; Klein, S. R.; Kobayashi, T.; Kobayashi, Y.; Kochocki, A.; Kolanoski, H.; Kontrimas, T.; Köpke, L.; Kopper, C.; Koskinen, D. J.; Koundal, P.; Kowalski, M.; Kozynets, T.; Kravchenko, I.; Krieger, N.; Krishnamoorthi, J.; Krishnan, T.; Krupczak, E.; Kumar, A.; Kun, E.; Kurahashi, N.; Lad, N.; Arnaud, L. Lallement; Larson, M. J.; Lauber, F.; DeHolton, K. Leonard; Leszczyńska, A.; Liao, J.; Liu, M.; Liubarska, M.; Lohan, M.; LoSecco, J.; Love, C.; Lu, L.; Lucarelli, F.; Lyu, Y.; Madsen, J.; Magnus, E.; Mahn, K. B. M.; Makino, Y.; Manao, E.; Mancina, S.; Mandalia, S.; Sainte, W. Marie; Mariş, I. C.; Marka, S.; Marka, Z.; Marsee, M.; Marten, L.; Martinez-Soler, I.; Maruyama, R.; Mayhew, F.; McNally, F.; Mead, J. V.; Meagher, K.; Mechbal, S.; Medina, A.; Meier, M.; Merckx, Y.; Merten, L.; Meyers, Z.; Mikhailova, M.; Millsop, A.; Mitchell, J.; Montaruli, T.; Moore, R. W.; Morii, Y.; Morse, R.; Mosbrugger, A.; Moulai, M.; Mousadi, D.; Mukherjee, T.; Muzio, M.; Naab, R.; Nakos, M.; Narayan, A.; Naumann, U.; Necker, J.; Nelles, A.; Neste, L.; Neumann, M.; Niederhausen, H.; Nisa, M. U.; Noda, K.; Noell, A.; Novikov, A.; Oberla, E.; Pollmann, A. Obertacke; O'Dell, V.; Olivas, A.; Orsoe, R.; Osborn, J.; O'Sullivan, E.; Palusova, V.; Papp, L.; Parenti, A.; Park, N.; Paudel, E. N.; Paul, L.; Heros, C. Pérez de los; Pernice, T.; Petersen, T. C.; Peterson, J.; Pizzuto, A.; Plum, M.; Pontén, A.; Popovych, Y.; Rodriguez, M. Prado; Pries, B.; Procter-Murphy, R.; Przybylski, G. T.; Pyras, L.; Rack-Helleis, J.; Rad, N.; Rameez, M.; Ravn, M.; Rawlins, K.; Rechav, Z.; Rehman, A.; Resconi, E.; Reusch, S.; Rho, C. D.; Rhode, W.; Riedel, B.; Riegel, M.; Rifaie, A.; Roberts, E. J.; Robertson, S.; Rongen, M.; Rott, C.; Ruhe, T.; Ruohan, L.; Ryckbosch, D.; Safa, I.; Saffer, J.; Salazar-Gallegos, D.; Sampathkumar, P.; Sandrock, A.; Sandstrom, P.; Sanger-Johnson, G.; Santander, M.; Sarkar, S.; Savelberg, J.; Savina, P.; Schaile, P.; Schaufel, M.; Schieler, H.; Schindler, S.; Schlickmann, L.; Schlüter, B.; Schlüter, F.; Schmeisser, N.; Schmidt, T.; Schröder, F. G.; Schumacher, L.; Schwirn, S.; Sclafani, S.; Seckel, D.; Seen, L.; Seikh, M.; Selcuk, Z.; Seunarine, S.; Shaevitz, M. H.; Shah, R.; Shefali, S.; Shimizu, N.; Silva, M.; Skrzypek, B.; Snihur, R.; Soedingrekso, J.; Søgaard, A.; Soldin, D.; Soldin, P.; Sommani, G.; Spannfellner, C.; Spiczak, G. M.; Spiering, C.; Stachurska, J.; Stamatikos, M.; Stanev, T.; Stezelberger, T.; Stoffels, J.; Stürwald, T.; Stuttard, T.; Sullivan, G. W.; Taboada, I.; Taketa, A.; Tamang, T.; Tanaka, H. K. M.; Ter-Antonyan, S.; Terliuk, A.; Thiesmeyer, M.; Thompson, W. G.; Thwaites, J.; Tilav, S.; Tollefson, K.; Torres, J.; Toscano, S.; Tosi, D.; Trettin, A.; Tsunesada, Y.; Twagirayezu, J. P.; Upadhyay, A. K.; Upshaw, K.; Vaidyanathan, A.; Valtonen-Mattila, N.; Valverde, J.; Vandenbroucke, J.; van Eeden, T.; van Eijndhoven, N.; van Rootselaar, L.; van Santen, J.; Carbonell, F. J. Vara; Varsi, F.; Veberic, D.; Veitch-Michaelis, J.; Venugopal, M.; Carrasco, S. Vergara; Verpoest, S.; Vieregg, A.; Vijai, A.; Villarreal, J.; Walck, C.; Wang, A.; Washington, D.; Weaver, C.; Weigel, P.; Weindl, A.; Weldert, J.; Wen, A. Y.; Wendt, C.; Werthebach, J.; Weyrauch, M.; Whitehorn, N.; Wiebusch, C. H.; Williams, D. R.; Wissel, S.; Witthaus, L.; Wolf, M.; Wörner, G.; Wrede, G.; Wren, S.; Xu, X. W.; Yañez, J. P.; Yao, Y.; Yildizci, E.; Yoshida, S.; Young, R.; Yu, F.; Yu, S.; Yuan, T.; Zegarelli, A.; Zhang, S.; Zhang, Z.; Zhelnin, P.; Zierke, S.; Zilberman, P.; Zimmerman, M.; Collaboration, IceCube-Gen2
Report
G Collaboration; Agarwal, S.; Aguilar, J. A.; Alden, N.; Ali, S.; Allison, P.; Betts, M.; Besson, D.; Bishop, A.; Botner, O.; Bouma, S.; Buitink, S.; Camphyn, R.; Chan, J.; Chiche, S.; Clark, B. A.; Coleman, A.; Couberly, K.; de Kockere, S.; de Vries, K. D.; Deaconu, C.; Giri, P.; Glaser, C.; Glüsenkamp, T.; Gui, H.; Hallgren, A.; Hallmann, S.; Hanson, J. C.; Helbing, K.; Hendricks, B.; Henrichs, J.; Heyer, N.; Hornhuber, C.; Santiago, E. Huesca; Hughes, K.; Jaitly, A.; Karg, T.; Karle, A.; Kelley, J. L.; Kimo, J.; Kopper, C.; Korntheuer, M.; Kowalski, M.; Kravchenko, I.; Krebs, R.; Kugelmeier, M.; Lahmann, R.; Liu, C. -H.; Marsee, M. J.; Meyers, Z. S.; Mulrey, K.; Muzio, M.; Nelles, A.; Novikov, A.; Nozdrina, A.; Oberla, E.; Oeyen, B.; Punsuebsay, N.; Pyras, L.; Ravn, M.; Rifaie, A.; Ryckbosch, D.; Schlemper, O.; Schlüter, F.; Scholten, O.; Seckel, D.; Seikh, M. F. H.; Stachurska, J.; Stoffels, J.; Toscano, S.; Tosi, D.; Tutt, J.; Broeck, D. J. Van Den; van Eijndhoven, N.; Vieregg, A. G.; Vijai, A.; Welling, C.; Williams, D. R.; Windischhofer, P.; Wissel, S.; Young, R.; Zink, A.
Report
Agarwal, S.; Aguilar, J. A.; Alden, N.; Ali, S.; Allison, P.; Betts, M.; Besson, D.; Bishop, A.; Botner, O.; Bouma, S.; Buitink, S.; Camphyn, R.; Chiche, S.; Clark, B. A.; Coleman, A.; Couberly, K.; de Kockere, S.; de Vries, K. D.; Deaconu, C.; Giri, P.; Glaser, C.; Glusenkamp, T.; Hallgren, A.; Hallmann, S.; Hanson, J. C.; Hendricks, B.; Henrichs, J.; Heyer, N.; Hornhuber, C.; Santiago, E. Huesca; Hughes, K.; Karg, T.; Karle, A.; Kelley, J. L.; Korntheuer, M.; Kowalski, M.; Kravchenko, I.; Krebs, R.; Lahmann, R.; Liu, C. H.; Marsee, M. J.; McLennan, C.; Mikhailova, M.; Mulrey, K.; Muzio, M.; Nelles, A.; Novikov, A.; Nozdrina, A.; Oberla, E.; Oeyen, B.; Punsuebsay, N.; Pyras, L.; Ravn, M.; Ryckbosch, D.; Schluter, F.; Scholten, O.; Seckel, D.; Seikh, M. F. H.; Stachurska, J.; Stoffels, J.; Toscano, S.; Tosi, D.; Tutt, J.; Broeck, D. J. Van Den; van Eijndhoven, N.; Vieregg, A. G.; Vijai, A.; Welling, C.; Williams, D. R.; Windischhofer, P.; Wissel, S.; Young, R.; Zink, A.
Academic Journal
Martin Stoffel; Stephanie Zintel; Laura I. Schmidt; Andreas B. Neubauer; Monika Sieverding; Beate Ditzen
Scientific Reports, Vol 16, Iss 1, Pp 1-13 (2026)
Academic Journal
Weather and Climate Dynamics, Vol 6, Pp 1743-1768 (2025)
Academic Journal
Agarwal, S.; Aguilar, J. A.; Alden, N.; Ali, S.; Allison, P.; Betts, M.; Besson, D.; Bishop, A.; Botner, Olga; Bouma, S.; Buitink, S.; Camphyn, R.; Chan, J.; Chiche, S.; Clark, B. A.; Coleman, Alan; Couberly, K.; de Kockere, S.; De Vries, K. D.; Deaconu, C.; Giri, P.; Glaser, Christian; Glüsenkamp, Thorsten; Gui, H.; Hallgren, Allan, 1951; Hallmann, S.; Hanson, J. C.; Helbing, K.; Hendricks, B.; Henrichs, J.; Heyer, Nils; Hornhuber, C.; Santiago, E. Huesca; Hughes, K.; Jaitly, A.; Karg, T.; Karle, A.; Kelley, J. L.; Kimo, J.; Kopper, C.; Korntheuer, M.; Kowalski, M.; Kravchenko, I.; Krebs, R.; Kugelmeier, M.; Lahmann, R.; Liu, C. H.; Marsee, M. J.; Meyers, Z. S.; Mulrey, K.; Muzio, M.; Nelles, A.; Novikov, A.; Nozdrina, A.; Oberla, E.; Oeyen, B.; Punsuebsay, N.; Pyras, L.; Ravn, Martin; Rifaie, A.; Ryckbosch, D.; Schlemper, O.; Schluter, F.; Scholten, O.; Seckel, D.; Seikh, M. F. H.; Stachurska, J.; Stoffels, J.; Toscano, S.; Tosi, D.; Tutt, J.; Van Den Broeck, D. J.; van Eijndhoven, N.; Vieregg, A. G.; Vijai, A.; Welling, C.; Williams, D. R.; Windischhofer, P.; Wissel, S.; Young, R.; Zink, A.
Journal of Instrumentation. 20(11)
Academic Journal
Agarwal, S.; Aguilar, J. A.; Alden, N.; Ali, S.; Allison, P.; Betts, M.; Besson, D.; Bishop, A.; Botner, Olga; Bouma, S.; Buitink, S.; Camphyn, R.; Cataldo, M.; Chiche, S.; Clark, B. A.; Coleman, Alan; Couberly, K.; de Kockere, S.; de Vries, K. D.; Deaconu, C.; Glaser, Christian; Gluesenkamp, T.; Hallgren, Allan, 1951; Hallmann, S.; Hanson, J. C.; Hendricks, B.; Henrichs, J.; Heyer, N.; Hornhuber, C.; Hughes, K.; Karg, T.; Karle, A.; Kelley, J. L.; Kerr, C.; Klein, C.; Korntheuer, M.; Kowalski, M.; Kravchenko, I.; Krebs, R.; Lahmann, R.; Latif, U.; Laub, P.; Liu, C. -H; Marsee, M. J.; Meyers, Z. S.; Mikhailova, M.; Mulrey, K.; Muzio, M.; Nelles, A.; Novikov, A.; Nozdrina, A.; Oberla, E.; Oeyen, B.; Polfrey, S.; Punsuebsay, N.; Pyras, L.; Ravn, M.; Reichert, M.; Rix, J.; Ryckbosch, D.; Schlueter, F.; Scholten, O.; Seckel, D.; Seikh, M. F. H.; Smith, D.; Stoffels, J.; Terveer, K.; Toscano, S.; Tosi, D.; Tutt, J.; van den Broeck, D. J.; van Eijndhoven, N.; Vieregg, A. G.; Vijai, A.; Welling, C.; Williams, D. R.; Windischhofer, P.; Veale, J.; Wissel, S.; Young, R.; Zink, A.
Journal of Instrumentation. 20(4)
Academic Journal
Agarwal, S.; Aguilar, J. A.; Ali, S.; Allison, P.; Betts, M.; Besson, D.; Bishop, A.; Botner, Olga; Bouma, S.; Buitink, S.; Cataldo, M.; Clark, B. A.; Coleman, Alan; Couberly, K.; de Kockere, S.; de Vries, K. D.; Deaconu, C.; Duvernois, M. A.; Glaser, Christian; Glüsenkamp, Thorsten; Hallgren, Allan, 1951; Hallmann, S.; Hanson, J. C.; Hendricks, B.; Henrichs, J.; Heyer, Nils; Hornhuber, C.; Hughes, K.; Karg, T.; Karle, A.; Kelley, J. L.; Korntheuer, M.; Kowalski, M.; Kravchenko, I.; Krebs, R.; Lahmann, R.; Latif, U.; Laub, P.; Liu, C. -h.; Marsee, M. J.; Meyers, Z. S.; Mikhailova, M.; Monstein, C.; Mulrey, K.; Muzio, M.; Nelles, A.; Novikov, A.; Nozdrina, A.; Oberla, E.; Oeyen, B.; Punsuebsay, N.; Pyras, L.; Ravn, Martin; Ryckbosch, D.; Schlüter, F.; Scholten, O.; Seckel, D.; Seikh, M. F. H.; Stoffels, J.; Terveer, K.; Toscano, S.; Tosi, D.; van den Broeck, D. J.; van Eijndhoven, N.; Vieregg, A. G.; Vijai, A.; Welling, C.; Williams, D. R.; Windischhofer, P.; Wissel, S.; Young, R.; Zink, A.
Astroparticle physics. 164
Academic Journal
Finn Krause; Michael Stoffel; Franziska I. Winterhagen; Jörg Ellinger; Glen Kristiansen; Manuel Ritter; Marieta Toma
BMC Cancer, Vol 25, Iss 1, Pp 1-15 (2025)
Report
Agarwal, S.; Aguilar, J. A.; Alden, N.; Ali, S.; Allison, P.; Betts, M.; Besson, D.; Bishop, A.; Botner, O.; Bouma, S.; Buitink, S.; Camphyn, R.; Cataldo, M.; Chiche, S.; Clark, B. A.; Coleman, A.; Couberly, K.; de Kockere, S.; de Vries, K. D.; Deaconu, C.; Glaser, C.; Glüsenkamp, T.; Hallgren, A.; Hallmann, S.; Hanson, J. C.; Hendricks, B.; Henrichs, J.; Heyer, N.; Hornhuber, C.; Hughes, K.; Karg, T.; Karle, A.; Kelley, J. L.; Kerr, C.; Klein, C.; Korntheuer, M.; Kowalski, M.; Kravchenko, I.; Krebs, R.; Lahmann, R.; Latif, U.; Laub, P.; Liu, C. -H.; Marsee, M. J.; Meyers, Z. S.; Mikhailova, M.; Mulrey, K.; Muzio, M.; Nelles, A.; Novikov, A.; Nozdrina, A.; Oberla, E.; Oeyen, B.; Polfrey, S.; Punsuebsay, N.; Pyras, L.; Ravn, M.; Reichert, M.; Rix, J.; Ryckbosch, D.; Schlüter, F.; Scholten, O.; Seckel, D.; Seikh, M. F. H.; Smith, D.; Stoffels, J.; Terveer, K.; Toscano, S.; Tosi, D.; Tutt, J.; Broeck, D. J. Van Den; van Eijndhoven, N.; Vieregg, A. G.; Vijai, A.; Welling, C.; Williams, D. R.; Windischhofer, P.; Veale, J.; Wissel, S.; Young, R.; Zink, A.
Academic Journal
F. Stoffel; M. Papp; M. Gil-Garcia; A. M. Küffner; A. I. Benítez-Mateos; R. P. B. Jacquat; N. Galvanetto; L. Faltova; P. Arosio
Nature Communications, Vol 16, Iss 1, Pp 1-11 (2025)
Report
Santiago, E. Huesca; de Vries, K. D.; Allison, P.; Beatty, J.; Besson, D.; Connolly, A.; Cummings, A.; Deaconu, C.; De Kockere, S.; Frikken, D.; Hast, C.; Kuo, C. -Y.; Kyriacou, A.; Latif, U. A.; Loudon, I.; Lukic, V.; McLennan, C.; Mulrey, K.; Nam, J.; Nivedita, K.; Nozdrina, A.; Oberla, E.; Prohira, S.; Ralston, J. P.; Seikh, M. F. H.; Stanley, R. S.; Stoffels, J.; Toscano, S.; Broeck, D. Van den; van Eijndhoven, N.; Wissel, S.
Phys. Rev. D 109 (2024) 083012
Report
IceCube-Gen2; Abbasi, R.; Ackermann, M.; Adams, J.; Agarwalla, S. K.; Aguilar, J. A.; Ahlers, M.; Alameddine, J. M.; Amin, N. M.; Andeen, K.; Anton, G.; Argüelles, C.; Ashida, Y.; Athanasiadou, S.; Audehm, J.; Axani, S. N.; Bai, X.; V., A. Balagopal; Baricevic, M.; Barwick, S. W.; Basu, V.; Bay, R.; Tjus, J. Becker; Beise, J.; Bellenghi, C.; Benning, C.; BenZvi, S.; Berley, D.; Bernardini, E.; Besson, D. Z.; Bishop, A.; Blaufuss, E.; Blot, S.; Bohmer, M.; Bontempo, F.; Book, J. Y.; Borowka, J.; Meneguolo, C. Boscolo; Böser, S.; Botner, O.; Böttcher, J.; Bouma, S.; Bourbeau, E.; Braun, J.; Brinson, B.; Brostean-Kaiser, J.; Burley, R. T.; Busse, R. S.; Butterfield, D.; Campana, M. A.; Carloni, K.; Carnie-Bronca, E. G.; Cataldo, M.; Chattopadhyay, S.; Chau, N.; Chen, C.; Chen, Z.; Chirkin, D.; Choi, S.; Clark, B. A.; Clark, R.; Classen, L.; Coleman, A.; Collin, G. H.; Conrad, J. M.; Cowen, D. F.; Dasgupta, B.; Dave, P.; Deaconu, C.; De Clercq, C.; De Kockere, S.; DeLaunay, J. J.; Delgado, D.; Deng, S.; Deoskar, K.; Desai, A.; Desiati, P.; de Vries, K. D.; de Wasseige, G.; DeYoung, T.; Diaz, A.; Díaz-Vélez, J. C.; Dittmer, M.; Domi, A.; Dujmovic, H.; DuVernois, M. A.; Ehrhardt, T.; Eller, P.; Ellinger, E.; Mentawi, S. El; Elsässer, D.; Engel, R.; Erpenbeck, H.; Evans, J.; Evans, J. J.; Evenson, P. A.; Fan, K. L.; Fang, K.; Farrag, K.; Fazely, A. R.; Fedynitch, A.; Feigl, N.; Fiedlschuster, S.; Finley, C.; Fischer, L.; Flaggs, B.; Fox, D.; Franckowiak, A.; Fritz, A.; Fujii, T.; Fürst, P.; Gallagher, J.; Ganster, E.; Garcia, A.; Gerhardt, L.; Gernhaeuser, R.; Ghadimi, A.; Giri, P.; Glaser, C.; Glauch, T.; Glüsenkamp, T.; Goehlke, N.; Goswami, S.; Grant, D.; Gray, S. J.; Gries, O.; Griffin, S.; Griswold, S.; Guevel, D.; Günther, C.; Gutjahr, P.; Haack, C.; Azim, T. Haji; Hallgren, A.; Halliday, R.; Hallmann, S.; Halve, L.; Halzen, F.; Hamdaoui, H.; Minh, M. Ha; Hanson, K.; Hardin, J.; Harnisch, A. A.; Hatch, P.; Haugen, J.; Haungs, A.; Heinen, D.; Helbing, K.; Hellrung, J.; Hendricks, B.; Henningsen, F.; Henrichs, J.; Heuermann, L.; Heyer, N.; Hickford, S.; Hidvegi, A.; Hignight, J.; Hill, C.; Hill, G. C.; Hoffman, K. D.; Hoffmann, B.; Holzapfel, K.; Hori, S.; Hoshina, K.; Hou, W.; Huber, T.; Huege, T.; Hughes, K.; Hultqvist, K.; Hünnefeld, M.; Hussain, R.; Hymon, K.; In, S.; Ishihara, A.; Jacquart, M.; Janik, O.; Jansson, M.; Japaridze, G. S.; Jeong, M.; Jin, M.; Jones, B. J. P.; Kalekin, O.; Kang, D.; Kang, W.; Kang, X.; Kappes, A.; Kappesser, D.; Kardum, L.; Karg, T.; Karl, M.; Karle, A.; Katori, T.; Katz, U.; Kauer, M.; Kelley, J. L.; Zathul, A. Khatee; Kheirandish, A.; Kiryluk, J.; Klein, S. R.; Kobayashi, T.; Kochocki, A.; Kolanoski, H.; Kontrimas, T.; Köpke, L.; Kopper, C.; Koskinen, D. J.; Koundal, P.; Kovacevich, M.; Kowalski, M.; Kozynets, T.; Krauss, C. B.; Kravchenko, I.; Krishnamoorthi, J.; Krupczak, E.; Kumar, A.; Kun, E.; Kurahashi, N.; Lad, N.; Gualda, C. Lagunas; Larson, M. J.; Latseva, S.; Lauber, F.; Lazar, J. P.; Lee, J. W.; DeHolton, K. Leonard; Leszczyńska, A.; Lincetto, M.; Liu, Q. R.; Liubarska, M.; Lohan, M.; Lohfink, E.; LoSecco, J.; Love, C.; Mariscal, C. J. Lozano; Lu, L.; Lucarelli, F.; Lyu, Y.; Madsen, J.; Mahn, K. B. M.; Makino, Y.; Mancina, S.; Mandalia, S.; Sainte, W. Marie; Mariş, I. C.; Marka, S.; Marka, Z.; Marsee, M.; Martinez-Soler, I.; Maruyama, R.; Mayhew, F.; McElroy, T.; McNally, F.; Mead, J. V.; Meagher, K.; Mechbal, S.; Medina, A.; Meier, M.; Merckx, Y.; Merten, L.; Meyers, Z.; Micallef, J.; Mikhailova, M.; Mitchell, J.; Montaruli, T.; Moore, R. W.; Morii, Y.; Morse, R.; Moulai, M.; Mukherjee, T.; Naab, R.; Nagai, R.; Nakos, M.; Narayan, A.; Naumann, U.; Necker, J.; Negi, A.; Nelles, A.; Neumann, M.; Niederhausen, H.; Nisa, M. U.; Noell, A.; Novikov, A.; Nowicki, S. C.; Nozdrina, A.; Oberla, E.; Pollmann, A. Obertacke; O'Dell, V.; Oehler, M.; Oeyen, B.; Olivas, A.; Ørsøe, R.; Osborn, J.; O'Sullivan, E.; Papp, L.; Park, N.; Parker, G. K.; Paudel, E. N.; Paul, L.; Heros, C. Pérez de los; Petersen, T. C.; Peterson, J.; Philippen, S.; Pieper, S.; Pinfold, J. L.; Pizzuto, A.; Plaisier, I.; Plum, M.; Pontén, A.; Popovych, Y.; Rodriguez, M. Prado; Pries, B.; Procter-Murphy, R.; Przybylski, G. T.; Pyras, L.; Rack-Helleis, J.; Rameez, M.; Rawlins, K.; Rechav, Z.; Rehman, A.; Reichherzer, P.; Renzi, G.; Resconi, E.; Reusch, S.; Rhode, W.; Riedel, B.; Riegel, M.; Rifaie, A.; Roberts, E. J.; Robertson, S.; Rodan, S.; Roellinghoff, G.; Rongen, M.; Rott, C.; Ruhe, T.; Ryckbosch, D.; Safa, I.; Saffer, J.; Salazar-Gallegos, D.; Sampathkumar, P.; Herrera, S. E. Sanchez; Sandrock, A.; Sandstrom, P.; Santander, M.; Sarkar, S.; Savelberg, J.; Savina, P.; Schaufel, M.; Schieler, H.; Schindler, S.; Schlickmann, L.; Schlüter, B.; Schlüter, F.; Schmeisser, N.; Schmidt, T.; Schneider, J.; Schröder, F. G.; Schumacher, L.; Schwefer, G.; Sclafani, S.; Seckel, D.; Seikh, M.; Seunarine, S.; Shaevitz, M. H.; Shah, R.; Sharma, A.; Shefali, S.; Shimizu, N.; Silva, M.; Skrzypek, B.; Smith, D.; Smithers, B.; Snihur, R.; Soedingrekso, J.; Søgaard, A.; Soldin, D.; Soldin, P.; Sommani, G.; Southall, D.; Spannfellner, C.; Spiczak, G. M.; Spiering, C.; Stamatikos, M.; Stanev, T.; Stezelberger, T.; Stoffels, J.; Stürwald, T.; Stuttard, T.; Sullivan, G. W.; Taboada, I.; Taketa, A.; Tanaka, H. K. M.; Ter-Antonyan, S.; Thiesmeyer, M.; Thompson, W. G.; Thwaites, J.; Tilav, S.; Tollefson, K.; Tönnis, C.; Torres, J.; Toscano, S.; Tosi, D.; Trettin, A.; Tsunesada, Y.; Tung, C. F.; Turcotte, R.; Twagirayezu, J. P.; Ty, B.; Elorrieta, M. A. Unland; Upadhyay, A. K.; Upshaw, K.; Valtonen-Mattila, N.; Vandenbroucke, J.; van Eijndhoven, N.; Vannerom, D.; van Santen, J.; Vara, J.; Veberic, D.; Veitch-Michaelis, J.; Venugopal, M.; Verpoest, S.; Vieregg, A.; Vijai, A.; Walck, C.; Weaver, C.; Weigel, P.; Weindl, A.; Weldert, J.; Welling, C.; Wendt, C.; Werthebach, J.; Weyrauch, M.; Whitehorn, N.; Wiebusch, C. H.; Willey, N.; Williams, D. R.; Wissel, S.; Witthaus, L.; Wolf, A.; Wolf, M.; Wörner, G.; Wrede, G.; Wren, S.; Xu, X. W.; Yanez, J. P.; Yildizci, E.; Yoshida, S.; Young, R.; Yu, F.; Yu, S.; Yuan, T.; Zhang, Z.; Zhelnin, P.; Zierke, S.; Zimmerman, M.
Academic Journal
IEEE Transactions on Components, Packaging and Manufacturing Technology IEEE Trans. Compon., Packag. Manufact. Technol. Components, Packaging and Manufacturing Technology, IEEE Transactions on. 8(10):1747-1755 Oct, 2018
Report
Aguilar, J. A.; Allison, P.; Besson, D.; Bishop, A.; Botner, O.; Bouma, S.; Buitink, S.; Castiglioni, W.; Cataldo, M.; Clark, B. A.; Coleman, A.; Couberly, K.; Curtis-Ginsberg, Z.; Dasgupta, P.; de Kockere, S.; de Vries, K. D.; Deaconu, C.; DuVernois, M. A.; Eimer, A.; Glaser, C.; Hallgren, A.; Hallmann, S.; Hanson, J. C.; Hendricks, B.; Henrichs, J.; Heyer, N.; Hornhuber, C.; Hughes, K.; Karg, T.; Karle, A.; Kelley, J. L.; Korntheuer, M.; Kowalski, M.; Kravchenko, I.; Krebs, R.; Lahmann, R.; Lehmann, P.; Latif, U.; Laub, P.; Liu, C. H.; Mammo, J.; Marsee, M. J.; Meyers, Z. S.; Michaels, K.; Mulrey, K.; Muzio, M.; Nelles, A.; Novikov, A.; Nozdrina, A.; Oberla, E.; Oeyen, B.; Plaisier, I.; Punsuebsay, N.; Pyras, L.; Ryckbosch, D.; Schlüter, F.; Scholten, O.; Seckel, D.; Seikh, M. F. H.; Smith, D.; Stoffels, J.; Southall, D.; Terveer, K.; Toscano, S.; Tosi, D.; Broeck, D. J. Van Den; van Eijndhoven, N.; Vieregg, A. G.; Vischer, J. Z.; Welling, C.; Williams, D. R.; Wissel, S.; Young, R.; Zink, A.
Academic Journal
Michelle R. Stoffel; Amrom E. Obstfeld; Brian R. Jackson; Vahid Azimi; Samuel I. McCash; Simone Arvisais-Anhalt; Lisa-Jean Clifford; Ronald Jackups
Journal of Pathology Informatics, Vol 18, Iss , Pp 100452- (2025)
Report
Aguilar, J. A.; Allison, P.; Besson, D.; Bishop, A.; Botner, O.; Bouma, S.; Buitink, S.; Cataldo, M.; Clark, B. A.; Couberly, K.; Curtis-Ginsberg, Z.; Dasgupta, P.; de Kockere, S.; de Vries, K. D.; Deaconu, C.; DuVernois, M. A.; Eimer, A.; Glaser, C.; Hallgren, A.; Hallmann, S.; Hanson, J. C.; Hendricks, B.; Henrichs, J.; Heyer, N.; Hornhuber, C.; Hughes, K.; Karg, T.; Karle, A.; Kelley, J. L.; Korntheuer, M.; Kowalski11, M.; Kravchenko, I.; Krebs, R.; Lahmann, R.; Latif, U.; Mammo, J.; Marsee, M. J.; Meyers, Z. S.; Michaels, K.; Mulrey, K.; Muzio, M.; Nelles, A.; Novikov, A.; Nozdrina, A.; Oberla, E.; Oeyen, B.; Plaisier, I.; Punsuebsay, N.; Pyras, L.; Ryckbosch, D.; Scholten, O.; Seckel, D.; Seikh, M. F. H.; Smith, D.; Stoffels, J.; Southall, D.; Terveer, K.; Toscano, S.; Tosi, D.; Broeck, D. J. Van Den; van Eijndhoven, N.; Vieregg, A. G.; Vischer, J. Z.; Welling, C.; Williams, D. R.; Wissel, S.; Young, R.; Zink, A.
Academic Journal
Borga, M.; Meneghini, M.; Rossetto, I.; Stoffels, S.; Posthuma, N.; Van Hove, M.; Marcon, D.; Decoutere, S.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.
IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 64(9):3616-3621 Sep, 2017
Academic Journal
IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 63(6):2321-2327 Jun, 2016
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[검색어] Stoffels, I.
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어