학술논문
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2024 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE) Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2024. :1-6 Mar, 2024
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2023 28th Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC) Design Automation Conference (ASP-DAC), 2023 28th Asia and South Pacific. :442-448 Jan, 2023
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2022 24th European Conference on Power Electronics and Applications (EPE'22 ECCE Europe) Power Electronics and Applications (EPE'22 ECCE Europe), 2022 24th European Conference on. :1-9 Sep, 2022
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2022 IEEE International Test Conference (ITC) ITC Test Conference (ITC), 2022 IEEE International. :573-577 Sep, 2022
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2021 IEEE 30th Asian Test Symposium (ATS) ATS Asian Test Symposium (ATS), 2021 IEEE 30th. :25-30 Nov, 2021
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2021 IEEE International Test Conference (ITC) ITC Test Conference (ITC), 2021 IEEE International. :133-142 Oct, 2021
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Shintani, Michihiro; Mian, Riaz-Ul-Haque; Inoue, Michiko; Nakamura, Tomoki; Kajiyama, Masuo; Eiki, Makoto
2021 IEEE International Test Conference (ITC) ITC Test Conference (ITC), 2021 IEEE International. :103-112 Oct, 2021
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2020 IEEE 29th Asian Test Symposium (ATS) Asian Test Symposium (ATS), 2020 IEEE 29th. :1-6 Nov, 2020
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2019 IEEE International Test Conference in Asia (ITC-Asia) ITC-ASIA Test Conference in Asia (ITC-Asia), 2019 IEEE International. :103-108 Sep, 2019
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2019 32nd IEEE International System-on-Chip Conference (SOCC) System-on-Chip Conference (SOCC), 2019 32nd IEEE International. :412-417 Sep, 2019
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2018 IEEE International Test Conference (ITC) International Test Conference (ITC), 2018 IEEE. :1-8 Oct, 2018
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2018 IEEE International Test Conference (ITC) International Test Conference (ITC), 2018 IEEE. :1-10 Oct, 2018
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2018 IEEE 27th Asian Test Symposium (ATS) ATS Asian Test Symposium (ATS), 2018 IEEE 27th. :167-172 Oct, 2018
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2018 IEEE Asia Pacific Conference on Circuits and Systems (APCCAS) Circuits and Systems (APCCAS), 2018 IEEE Asia Pacific Conference on. :239-242 Oct, 2018
Academic Journal
Moto Yaga; Kana Hasegawa; Shunya Ikeda; Miwa Matsubara; Takashi Hiroshima; Toru Kimura; Yuya Shirai; Wibowo Tansri; Hirofumi Uehara; Mana Tachikawa; Yuzuru Okairi; Masayuki Sone; Hiromi Mori; Yosuke Kogue; Hiroki Akamine; Daisuke Okuzaki; Kotaro Kawagishi; Satoshi Kawanaka; Hiroyuki Yamato; Yukiyasu Takeuchi; Eiji Okura; Ryu Kanzaki; Jiro Okami; Itsuko Nakamichi; Shigeru Nakane; Aki Kobayashi; Takashi Iwazawa; Toshiteru Tokunaga; Hideoki Yokouchi; Yukihiro Yano; Junji Uchida; Masahide Mori; Kiyoshi Komuta; Tetsuro Tachi; Hideki Kuroda; Noriyuki Kijima; Haruhiko Kishima; Michiko Ichii; Shinji Futami; Yujiro Naito; Takayuki Shiroyama; Kotaro Miyake; Shohei Koyama; Haruhiko Hirata; Yoshito Takeda; Soichiro Funaki; Yasushi Shintani; Atsushi Kumanogoh; Naoki Hosen
Scientific Reports, Vol 14, Iss 1, Pp 1-12 (2024)
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2017 IEEE 26th Asian Test Symposium (ATS) ATS Asian Test Symposium (ATS), 2017 IEEE 26th. :52-57 Nov, 2017
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