학술논문
전자자료 공정이용 안내
우리 대학 도서관에서 구독·제공하는 모든 전자자료(데이터베이스, 전자저널, 전자책 등)는 국내외 저작권법과 출판사와의 라이선스 계약에 따라 엄격하게 보호를 받고 있습니다.
전자자료의 비정상적 이용은 출판사로부터의 경고, 서비스 차단, 손해배상 청구 등 학교 전체에 심각한 불이익을 초래할 수 있으므로, 아래의 공정이용 지침을 반드시 준수해 주시기 바랍니다.
공정이용 지침
- 전자자료는 개인의 학습·교육·연구 목적의 비영리적 사용에 한하여 이용할 수 있습니다.
- 합리적인 수준의 다운로드 및 출력만 허용됩니다. (일반적으로 동일 PC에서 동일 출판사의 논문을 1일 30건 이하 다운로드할 것을 권장하며, 출판사별 기준에 따라 다를 수 있습니다.)
- 출판사에서 제공한 논문의 URL을 수업 관련 웹사이트에 게재할 수 있으나, 출판사 원문 파일 자체를 복제·배포해서는 안 됩니다.
- 본인의 ID/PW를 타인에게 제공하지 말고, 도용되지 않도록 철저히 관리해 주시기 바랍니다.
불공정 이용 사례
- 전자적·기계적 수단(다운로딩 프로그램, 웹 크롤러, 로봇, 매크로, RPA 등)을 이용한 대량 다운로드
- 동일 컴퓨터 또는 동일 IP에서 단시간 내 다수의 원문을 집중적으로 다운로드하거나, 전권(whole issue) 다운로드
- 저장·출력한 자료를 타인에게 배포하거나 개인 블로그·웹하드 등에 업로드
- 상업적·영리적 목적으로 자료를 전송·복제·활용
- ID/PW를 타인에게 양도하거나 타인 계정을 도용하여 이용
- EndNote, Mendeley 등 서지관리 프로그램의 Find Full Text 기능을 이용한 대량 다운로드
- 출판사 콘텐츠를 생성형 AI 시스템에서 활용하는 행위(업로드, 개발, 학습, 프로그래밍, 개선 또는 강화 등)
위반 시 제재
- 출판사에 의한 해당 IP 또는 기관 전체 접속 차단
- 출판사 배상 요구 시 위반자 개인이 배상 책임 부담
'학술논문'
에서 검색결과 64,629건 | 목록
1~20
Conference
Yoshida, S.; Shimada, S.; Matsuzaki, A.; Loo, S. M. L.; Otake, Y.; Nagayama, T.; Ochiai, S.; Tange, T.; Sasaki, K.; Yasui, A.; Yokochi, K.; Takase, H.; Miyashita, M.; Ono, T.; Takahashi, K.; Tanaka, H.; Sasaki, R.; Mitoma, S.; Wakano, T.
2025 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2025 IEEE International. :1-4 Dec, 2025
Conference
Shimada, S.; Otake, Y.; Suzuki, J.; Magori, A.; Kurata, K.; Matsui, T.; Tsuchida, R.; Okazaki, M.; Yokochi, K.; Iwase, T.; Takase, H.; Koga, F.; Ogi, J.; Maeda, H.; Moriyama, K.; Honda, H.; Fujisawa, K.; Miura, T.; Koketsu, H.; Wakano, T.
2025 Symposium on VLSI Technology and Circuits (VLSI Technology and Circuits) VLSI Technology and Circuits (VLSI Technology and Circuits), 2025 Symposium on. :1-3 Jun, 2025
Academic Journal
IEEE Journal of Selected Topics in Applied Earth Observations and Remote Sensing IEEE J. Sel. Top. Appl. Earth Observations Remote Sensing Selected Topics in Applied Earth Observations and Remote Sensing, IEEE Journal of. 18:9701-9707 2025
Conference
Proceedings of the 5th Asia Information Retrieval Symposium on Information Retrieval Technology. :420-431
Academic Journal
Takatsuka, T.; Ogi, J.; Ikeda, Y.; Hizu, K.; Inaoka, Y.; Sakama, S.; Watanabe, I.; Ishikawa, T.; Shimada, S.; Suzuki, J.; Maeda, H.; Toshima, K.; Nonaka, Y.; Yamamura, A.; Ozawa, H.; Koga, F.; Oike, Y.
IEEE Journal of Solid-State Circuits IEEE J. Solid-State Circuits Solid-State Circuits, IEEE Journal of. 59(4):1137-1145 Apr, 2024
Academic Journal
Journal of Chemical Engineering of Japan, Vol 58, Iss 1 (2025)
Report
Appl. Phys. Lett. 127, 113102 (2025)
Academic Journal
Hiroki Mizutani; Shunsuke Fukui; Kazuki Oosuka; Kohei Ikeda; Mayu Kobayashi; Yasuaki Shimada; Yuuichi Nakazawa; Yuuki Nishiura; Daisuke Suga; Isao Moritani; Yutaka Yamanaka; Hidekazu Inoue; Hayato Nakagawa; Kaoru Dohi; Hiroyuki Kaiju; Kei Takaba; Hideo Wada; Katsuya Shiraki
Scientific Reports, Vol 15, Iss 1, Pp 1-12 (2025)
Academic Journal
Emi Sato; Yuji Nakamura; Masanori Fujimoto; Issei S. Shimada; Toshihiko Iwaki; Daisuke Ieda; Yutaka Negishi; Ayako Hattori; Yoichi Kato; Shinji Saitoh
Scientific Reports, Vol 16, Iss 1, Pp 1-10 (2026)
Academic Journal
IEEE Access Access, IEEE. 11:95825-95839 2023
Academic Journal
IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence IEEE Trans. Pattern Anal. Mach. Intell. Pattern Analysis and Machine Intelligence, IEEE Transactions on. 44(12):8962-8974 Dec, 2022
Academic Journal
Yaita S; Katsuki NE; Hirata R; Nakatani E; Tokushima M; Oishi T; Nishi T; Ezoe M; Shimada H; Saito C; Amari K; Kurogi K; Oda Y; Ono M; Yoshimura M; Shikino K; Yamashita S; Tokushima Y; Aihara H; Tago M
Clinical Interventions in Aging, Vol 20, Iss Issue 1, Pp 2119-2132 (2025)
Academic Journal
XLZD Collaboration; J. Aalbers; K. Abe; M. Adrover; S. Ahmed Maouloud; D. S. Akerib; A. K. Al Musalhi; F. Alder; L. Althueser; D. W. P. Amaral; C. S. Amarasinghe; A. Ames; B. Andrieu; N. Angelides; E. Angelino; B. Antunovic; E. Aprile; H. M. Araújo; J. E. Armstrong; M. Arthurs; M. Babicz; A. Baker; M. Balzer; J. Bang; E. Barberio; J. W. Bargemann; E. Barillier; A. Basharina-Freshville; L. Baudis; D. Bauer; M. Bazyk; K. Beattie; N. Beaupere; N. F. Bell; L. Bellagamba; T. Benson; A. Bhatti; T. P. Biesiadzinski; R. Biondi; Y. Biondi; H. J. Birch; E. Bishop; A. Bismark; C. Boehm; K. Boese; A. Bolotnikov; P. Brás; R. Braun; A. Breskin; C. A. J. Brew; S. Brommer; A. Brown; G. Bruni; R. Budnik; S. Burdin; C. Cai; C. Capelli; G. Carini; M. C. Carmona-Benitez; M. Carter; A. Chauvin; A. Chawla; H. Chen; J. J. Cherwinka; Y. T. Chin; N. I. Chott; A. P. Cimental Chavez; K. Clark; A. P. Colijn; D. J. Colling; J. Conrad; M. V. Converse; L. J. Cooper; R. Coronel; D. Costanzo; A. Cottle; G. Cox; J. J. Cuenca-García; D. Curran; D. Cussans; V. D’Andrea; L. C. Daniel Garcia; I. Darlington; S. Dave; A. David; G. J. Davies; M. P. Decowski; A. Deisting; J. Delgaudio; S. Dey; C. Di Donato; L. Di Felice; P. Di Gangi; S. Diglio; C. Ding; J. E. Y. Dobson; M. Doerenkamp; G. Drexlin; E. Druszkiewicz; C. L. Dunbar; K. Eitel; A. Elykov; R. Engel; S. R. Eriksen; S. Fayer; N. M. Fearon; A. D. Ferella; C. Ferrari; N. Fieldhouse; H. Fischer; H. Flaecher; T. Flehmke; M. Flierman; E. D. Fraser; T. M. A. Fruth; K. Fujikawa; W. Fulgione; C. Fuselli; P. Gaemers; R. Gaior; R. J. Gaitskell; N. Gallice; M. Galloway; F. Gao; N. Garroum; A. Geffre; J. Genovesi; C. Ghag; S. Ghosh; R. Giacomobono; R. Gibbons; F. Girard; R. Glade-Beucke; F. Glück; S. Gokhale; L. Grandi; J. Green; J. Grigat; M. G. D. van der Grinten; R. Größle; H. Guan; M. Guida; P. Gyorgy; J. J. Haiston; C. R. Hall; T. Hall; R. Hammann; V. Hannen; S. Hansmann-Menzemer; N. Hargittai; E. Hartigan-O’Connor; S. J. Haselschwardt; M. Hernandez; S. A. Hertel; A. Higuera; C. Hils; K. Hiraoka; L. Hoetzsch; M. Hoferichter; G. J. Homenides; N. F. Hood; M. Horn; D. Q. Huang; S. Hughes; D. Hunt; M. Iacovacci; Y. Itow; E. Jacquet; J. Jakob; R. S. James; F. Joerg; S. Jones; A. C. Kaboth; F. Kahlert; A. C. Kamaha; Y. Kaminaga; M. Kara; P. Kavrigin; S. Kazama; M. Keller; P. Kemp-Russell; D. Khaitan; P. Kharbanda; B. Kilminster; J. Kim; R. Kirk; M. Kleifges; M. Klute; M. Kobayashi; D. Kodroff; D. Koke; A. Kopec; E. v Korolkova; H. Kraus; S. Kravitz; L. Kreczko; B. von Krosigk; V. A. Kudryavtsev; F. Kuger; N. Kurita; H. Landsman; R. F. Lang; C. Lawes; J. Lee; B. Lehnert; D. S. Leonard; K. T. Lesko; L. Levinson; A. Li; I. Li; S. Li; S. Liang; Z. Liang; J. Lin; Y.-T. Lin; S. Lindemann; S. Linden; M. Lindner; A. Lindote; W. H. Lippincott; K. Liu; J. Loizeau; F. Lombardi; J. A. M. Lopes; M. I. Lopes; W. Lorenzon; M. Loutit; C. Lu; G. M. Lucchetti; T. Luce; S. Luitz; Y. Ma; C. Macolino; J. Mahlstedt; B. Maier; P. A. Majewski; A. Manalaysay; A. Mancuso; L. Manenti; R. L. Mannino; F. Marignetti; T. Marley; T. Marrodán Undagoitia; K. Martens; J. Masbou; E. Masson; S. Mastroianni; C. Maupin; V. Mazza; C. McCabe; M. E. McCarthy; D. N. McKinsey; J. B. McLaughlin; A. Melchiorre; J. Menéndez; M. Messina; E. H. Miller; B. Milosovic; S. Milutinovic; K. Miuchi; R. Miyata; E. Mizrachi; A. Molinario; C. M. B. Monteiro; M. E. Monzani; K. Morå; S. Moriyama; E. Morrison; E. Morteau; Y. Mosbacher; B. J. Mount; J. Müller; M. Murdy; A. St. J. Murphy; M. Murra; A. Naylor; H. N. Nelson; F. Neves; J. L. Newstead; A. Nguyen; K. Ni; J. O’Dell; C. O’Hare; U. Oberlack; M. Obradovic; I. Olcina; K. C. Oliver-Mallory; G. D. Orebi Gann; J. Orpwood; S. Ouahada; K. Oyulmaz; B. Paetsch; K. J. Palladino; J. Palmer; Y. Pan; M. Pandurovic; N. J. Pannifer; S. Paramesvaran; J. Patton; Q. Pellegrini; B. Penning; G. Pereira; R. Peres; E. Perry; T. Pershing; F. Piastra; J. Pienaar; A. Piepke; M. Pierre; G. Plante; T. R. Pollmann; F. Pompa; L. Principe; J. Qi; K. Qiao; Y. Qie; J. Qin; S. Radeka; V. Radeka; M. Rajado; D. Ramírez García; A. Ravindran; A. Razeto; J. Reichenbacher; C. A. Rhyne; A. Richards; G. R. C. Rischbieter; H. S. Riyat; R. Rosero; A. Roy; T. Rushton; D. Rynders; R. Saakyan; L. Sanchez; P. Sanchez-Lucas; D. Santone; J. M. F. dos Santos; G. Sartorelli; A. B. M. R. Sazzad; A. Scaffidi; R. W. Schnee; J. Schreiner; P. Schulte; H. Schulze Eißing; M. Schumann; A. Schwenck; A. Schwenk; L. Scotto Lavina; M. Selvi; F. Semeria; P. Shagin; S. Sharma; S. Shaw; W. Shen; L. Sherman; S. Shi; S. Y. Shi; T. Shimada; T. Shutt; J. J. Silk; C. Silva; H. Simgen; G. Sinev; R. Singh; J. Siniscalco; M. Solmaz; V. N. Solovov; Z. Song; P. Sorensen; J. Soria; O. Stanley; M. Steidl; T. Stenhouse; A. Stevens; K. Stifter; T. J. Sumner; A. Takeda; P.-L. Tan; D. J. Taylor; W. C. Taylor; D. Thers; T. Thümmler; D. R. Tiedt; F. Tönnies; Z. Tong; F. Toschi; D. R. Tovey; J. Tranter; M. Trask; G. Trinchero; M. Tripathi; D. R. Tronstad; R. Trotta; C. D. Tunnell; P. Urquijo; A. Usón; M. Utoyama; A. C. Vaitkus; O. Valentino; K. Valerius; S. Vecchi; V. Velan; S. Vetter; L. de Viveiros; G. Volta; D. Vorkapic; A. Wang; J. J. Wang; Y. Wang; D. Waters; K. M. Weerman; C. Weinheimer; M. Weiss; D. Wenz; T. J. Whitis; K. Wild; M. Williams; M. Wilson; S. T. Wilson; C. Wittweg; J. Wolf; F. L. H. Wolfs; S. Woodford; D. Woodward; M. Worcester; C. J. Wright; V. H. S. Wu; S. Wüstling; M. Wurm; Q. Xia; Y. Xing; D. Xu; J. Xu; Y. Xu; Z. Xu; M. Yamashita; L. Yang; J. Ye; M. Yeh; B. Yu; G. Zavattini; W. Zha; M. Zhong; K. Zuber
European Physical Journal C: Particles and Fields, Vol 85, Iss 10, Pp 1-31 (2025)
Conference
Takatsuka, T.; Ogi, J.; Ikeda, Y.; Hizu, K.; Inaoka, Y.; Sakama, S.; Watanabe, I.; Ishikawa, T.; Shimada, S.; Suzuki, J.; Maeda, H.; Toshima, K.; Nonaka, Y.; Yamamura, A.; Ozawa, H.; Koga, F.; Oike, Y.
2023 IEEE Symposium on VLSI Technology and Circuits (VLSI Technology and Circuits) VLSI Technology and Circuits (VLSI Technology and Circuits), 2023 IEEE Symposium on. :1-2 Jun, 2023
Conference
Fujisaki, Y.; Tsugawa, H.; Sakai, K.; Kumagai, H.; Nakamura, R.; Ogita, T.; Endo, S.; Iwase, T.; Takase, H.; Yokochi, K.; Yoshida, S.; Shimada, S.; Otake, Y.; Wakano, T.; Hiyama, H.; Hagiwara, K.; Arakawal, M.; Matsumotol, S.; Maeda, H.; Sugihara, K.; Takabayashi, K.; Ono, M.; Ishibashi, K.; Yamamoto, K.
2023 IEEE Symposium on VLSI Technology and Circuits (VLSI Technology and Circuits) VLSI Technology and Circuits (VLSI Technology and Circuits), 2023 IEEE Symposium on. :1-2 Jun, 2023
Academic Journal
IEEE Sensors Journal IEEE Sensors J. Sensors Journal, IEEE. 22(6):4989-5000 Mar, 2022
Academic Journal
Ivan Zimmermann; Carlos Alberto da Silva Magliano; Leandro Jonata de Carvalho Oliveira; Marcia Gisele Santos da Costa; Tomás Reinert; Carlos Henrique dos Anjos; Daniela D. Rosa; Julio A.P. Araújo; Andrea K. Shimada; Daniele Assad-Suzuki; Marcelle G. Cesca; Max S. Mano; Gustavo Póvoa dos Santos; Sergio Cordeiro de Oliveira; Virginia Areal; Steve Millen
JCO Global Oncology, Iss 12 (2026)
Academic Journal
Stephanie A Robinson; Popy Shell; Linda Am; Courtney L Bilodeau; Howard S Gordon; Constance R Uphold; Varsha G Vimalananda; Sarah L Cutrona; Timothy P Hogan; Bridget Smith; Stephanie L Shimada
JMIR Formative Research, Vol 10, p e83144 (2026)
Academic Journal
Kazuhiro HIKIMA; Ikuyo KUSABA; Masaki SHIMADA; Yuhei HORISAWA; Shunsuke KAWAGUCHI; Minoru KUZUHARA; Hiroyuki MUTO; Atsunori MATSUDA
Electrochemistry, Vol 93, Iss 6, Pp 063013-063013 (2025)
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[검색어] Shimada, S.
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어