학술논문
전자자료 공정이용 안내
우리 대학 도서관에서 구독·제공하는 모든 전자자료(데이터베이스, 전자저널, 전자책 등)는 국내외 저작권법과 출판사와의 라이선스 계약에 따라 엄격하게 보호를 받고 있습니다.
전자자료의 비정상적 이용은 출판사로부터의 경고, 서비스 차단, 손해배상 청구 등 학교 전체에 심각한 불이익을 초래할 수 있으므로, 아래의 공정이용 지침을 반드시 준수해 주시기 바랍니다.
공정이용 지침
- 전자자료는 개인의 학습·교육·연구 목적의 비영리적 사용에 한하여 이용할 수 있습니다.
- 합리적인 수준의 다운로드 및 출력만 허용됩니다. (일반적으로 동일 PC에서 동일 출판사의 논문을 1일 30건 이하 다운로드할 것을 권장하며, 출판사별 기준에 따라 다를 수 있습니다.)
- 출판사에서 제공한 논문의 URL을 수업 관련 웹사이트에 게재할 수 있으나, 출판사 원문 파일 자체를 복제·배포해서는 안 됩니다.
- 본인의 ID/PW를 타인에게 제공하지 말고, 도용되지 않도록 철저히 관리해 주시기 바랍니다.
불공정 이용 사례
- 전자적·기계적 수단(다운로딩 프로그램, 웹 크롤러, 로봇, 매크로, RPA 등)을 이용한 대량 다운로드
- 동일 컴퓨터 또는 동일 IP에서 단시간 내 다수의 원문을 집중적으로 다운로드하거나, 전권(whole issue) 다운로드
- 저장·출력한 자료를 타인에게 배포하거나 개인 블로그·웹하드 등에 업로드
- 상업적·영리적 목적으로 자료를 전송·복제·활용
- ID/PW를 타인에게 양도하거나 타인 계정을 도용하여 이용
- EndNote, Mendeley 등 서지관리 프로그램의 Find Full Text 기능을 이용한 대량 다운로드
- 출판사 콘텐츠를 생성형 AI 시스템에서 활용하는 행위(업로드, 개발, 학습, 프로그래밍, 개선 또는 강화 등)
위반 시 제재
- 출판사에 의한 해당 IP 또는 기관 전체 접속 차단
- 출판사 배상 요구 시 위반자 개인이 배상 책임 부담
'학술논문'
에서 검색결과 2,998건 | 목록
1~20
Academic Journal
Coudert, A.; Denis, L.; Chavignon, A.; Bodard, S.; Naveau, M.; Sistiaga, P.P.; Saulnier, R.; Orset, C.; Vivien, D.; Chappard, C.; Couture, O.
IEEE Transactions on Ultrasonics, Ferroelectrics, and Frequency Control IEEE Trans. Ultrason., Ferroelect., Freq. Contr. Ultrasonics, Ferroelectrics, and Frequency Control, IEEE Transactions on. 71(12: Breaking the Resolution Barrier in Ultrasound):1666-1676 Dec, 2024
Conference
Chan, Victor; Ok, I.; Choi, S.; Gordon, T.; Arnold, N.; Saraf, I.; McDermott, S.; Brew, K.; Philip, T.; Utomo, H.; Tseng, W.-T.; Silvestre, C.; Li, N.; Li, J.; Demarest, J.; Han, J.-P.; Gasasira, A.; Pujari, R.; Saulnier, N.; Teehan, S.; Ahsan, Ishtiaq
2023 34th Annual SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference (ASMC) SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference (ASMC), 2023 34th Annual. :1-4 May, 2023
Academic Journal
Chan, V.; Gasasira, A.; Pujari, R.; Tseng, W.; Gordon, T.; Southwick, R.; Ok, I.; Choi, S.; Silvestre, C.; Utomo, H.; Brew, K.; Philip, T.; Burr, G.W.; Saulnier, N.; Teehan, S.; Ahsan, I.
IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing IEEE Trans. Semicond. Manufact. Semiconductor Manufacturing, IEEE Transactions on. 36(3):327-331 Aug, 2023
Academic Journal
Conference
Chan, Victor; Gasasira, A.; Pujari, R.; Southwick, R.; Ok, I.; Choi, S.; Silvestre, C.; Burr, G. W.; Saulnier, N.; Teehan, S.; Ahsan, I.
2022 33rd Annual SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference (ASMC) SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference (ASMC), 2022 33rd Annual. :1-4 May, 2022
Academic Journal
Joseph R. Stevens; Clemence Girardet; Mingqi Zhou; Farah Gamie; Geetika Aggarwal; Ryan P. McMillan; Matthew W. Hulver; Laurent O. Martinez; Marcel van der Brug; Bruno Vellas; Andrew D. Nguyen; Marcus M. Seldin; Andrew A. Butler; MAPT Study Group; Principal investigator; Coordination; Sophie Guyonnet; Project leader; Isabelle Carrié; CRA; Lauréane Brigitte; Investigators; Catherine Faisant; Françoise Lala; Julien Delrieu; Hélène Villars; Psychologists; Emeline Combrouze; Carole Badufle; Audrey Zueras; Methodology, statistical analysis and data management; Sandrine Andrieu; Christelle Cantet; Christophe Morin; Multidomain group; Gabor Abellan Van Kan; Charlotte Dupuy; Yves Rolland; Céline Caillaud; Pierre-Jean Ousset; Co-Investigators in associated centres; Jean-François Dartigues; Isabelle Marcet; Fleur Delva; Alexandra Foubert; Sandrine Cerda; Marie-Noëlle Cuffi; Corinne Costes; Olivier Rouaud; Patrick Manckoundia; Valérie Quipourt; Sophie Marilier; Evelyne Franon; Lawrence Bories; Marie-Laure Pader; Marie-France Basset; Bruno Lapoujade; Valérie Faure; Michael Li Yung Tong; Christine Malick-Loiseau; Evelyne Cazaban-Campistron; Françoise Desclaux; Colette Blatge; Thierry Dantoine; Cécile Laubarie-Mouret; Isabelle Saulnier; Jean-Pierre Clément; Marie-Agnès Picat; Laurence Bernard-Bourzeix; Stéphanie Willebois; Iléana Désormais; Noëlle Cardinaud; Marc Bonnefoy; Pierre Livet; Pascale Rebaudet; Claire Gédéon; Catherine Burdet; Flavien Terracol; Alain Pesce; Stéphanie Roth; Sylvie Chaillou; Sandrine Louchart; Kristel Sudres; Nicolas Lebrun; Nadège Barro-Belaygues; Jacques Touchon; Karim Bennys; Audrey Gabelle; Aurélia Romano; Lynda Touati; Cécilia Marelli; Cécile Pays; Philippe Robert; Franck Le Duff; Claire Gervais; Sébastien Gonfrier; Yannick Gasnier; Serge Bordes; Danièle Begorre; Christian Carpuat; Khaled Khales; Jean-François Lefebvre; Samira Misbah El Idrissi; Pierre Skolil; Jean-Pierre Salles; MRI group; Carole Dufouil; Stéphane Lehéricy; Marie Chupin; Jean-François Mangin; Ali Bouhayia; Michèle Allard; Frédéric Ricolfi; Dominique Dubois; Marie Paule Bonceour Martel; François Cotton; Alain Bonafé; Stéphane Chanalet; Françoise Hugon; Fabrice Bonneville; Christophe Cognard; François Chollet; PET scans group; Pierre Payoux; Thierry Voisin; Sophie Peiffer; Anne Hitzel; Michel Zanca; Jacques Monteil; Jacques Darcourt; Medico-economics group; Laurent Molinier; Hélène Derumeaux; Nadège Costa; Biological sample collection; Bertrand Perret; Claire Vinel; Sylvie Caspar-Bauguil; Safety management; Pascale Olivier-Abbal; IHU Open Science Group; Nicola Coley
Molecular Metabolism, Vol 99, Iss , Pp 102196- (2025)
Academic Journal
Kim, Y.; Seo, S.; Consiglio, S.; Jamison, P.; Higuchi, H.; Rasch, M.; Wu, E.Y.; Kong, D.; Saraf, I.; Catano, C.; Muralidhar, R.; Nguyen, S.; DeVries, S.; Van der Straten, O.; Sankarapandian, M.; Pujari, R.N.; Gasasira, A.; Mcdermott, S.M.; Miyazoe, H.; Koty, D.; Yang, Q.; Yan, H.; Clark, R.; Tapily, K.; Engelmann, S.; Robison, R.R.; Wajda, C.; Mosden, A.; Tsunomura, T.; Soave, R.; Saulnier, N.; Haensch, W.; Leusink, G.; Biolsi, P.; Narayanan, V.; Ando, T.
IEEE Electron Device Letters IEEE Electron Device Lett. Electron Device Letters, IEEE. 42(5):759-762 May, 2021
Book
Thomas, Steve; Farsaci, Liz; O’donoghue, Catherine; Almirall-Sanchez, Arianna; Gilson, Lucy; Topp, Stephanie M.; Ager, Alastair; Rosella, Laura C.; Unruh, Lynn; Chiou, Shu Ti; Catussi Paschoalotto, Marco Antonio; Baigrie, Brian; Barry, Sarah; Burke, Sara; Doshi, Riya D.; Economou, Charalampos; Enright, Paddy; Eriksen, Astrid; Fernandez, Michelle; Guha, Moytrayee; Kihlström, Laura; Repullo, José R.; Saulnier, Dell D.; Sarker, Malabika; van Ginneken, Ewout; Vrangbæk, Karsten; Williams, Gemma A.
Handbook of Health System Resilience. :465-473
Academic Journal
Academic Journal
Khaddam-Aljameh, R.; Stanisavljevic, M.; Fornt Mas, J.; Karunaratne, G.; Brandli, M.; Liu, F.; Singh, A.; Muller, S.M.; Egger, U.; Petropoulos, A.; Antonakopoulos, T.; Brew, K.; Choi, S.; Ok, I.; Lie, F.L.; Saulnier, N.; Chan, V.; Ahsan, I.; Narayanan, V.; Nandakumar, S.R.; Le Gallo, M.; Francese, P.A.; Sebastian, A.; Eleftheriou, E.
IEEE Journal of Solid-State Circuits IEEE J. Solid-State Circuits Solid-State Circuits, IEEE Journal of. 57(4):1027-1038 Apr, 2022
Academic Journal
Narayanan, P.; Ambrogio, S.; Okazaki, A.; Hosokawa, K.; Tsai, H.; Nomura, A.; Yasuda, T.; Mackin, C.; Lewis, S.C.; Friz, A.; Ishii, M.; Kohda, Y.; Mori, H.; Spoon, K.; Khaddam-Aljameh, R.; Saulnier, N.; Bergendahl, M.; Demarest, J.; Brew, K.W.; Chan, V.; Choi, S.; Ok, I.; Ahsan, I.; Lie, F.L.; Haensch, W.; Narayanan, V.; Burr, G.W.
IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 68(12):6629-6636 Dec, 2021
Academic Journal
Cariou, Bertrand; Hadjadj, Samy; Wargny, Matthieu; Pichelin, Matthieu; Al-Salameh, Abdallah; Allix, Ingrid; Amadou, Coralie; Arnault, Gwénaëlle; Baudoux, Florence; Bauduceau, Bernard; Borot, Sophie; Bourgeon-Ghittori, Muriel; Bourron, Olivier; Boutoille, David; Cazenave-Roblot, France; Chaumeil, Claude; Cosson, Emmanuel; Coudol, Sandrine; Darmon, Patrice; Disse, Emmanuel; Ducet-Boiffard, Amélie; Gaborit, Bénédicte; Joubert, Michael; Kerlan, Véronique; Laviolle, Bruno; Marchand, Lucien; Meyer, Laurent; Potier, Louis; Prevost, Gaëtan; Riveline, Jean-Pierre; Robert, René; Saulnier, Pierre-Jean; Sultan, Ariane; Thébaut, Jean-François; Thivolet, Charles; Tramunt, Blandine; Vatier, Camille; Roussel, Ronan; Gautier, Jean-François; Gourdy, Pierre
Diabetologia: Clinical, Translational and Experimental Diabetes and Metabolism. :1-4
Conference
Gong, N.; Rasch, M.J.; Seo, S.-C.; Gasasira, A.; Solomon, P.; Bragaglia, V.; Consiglio, S.; Higuchi, H.; Park, C.; Brew, K.; Jamison, P.; Catano, C.; Saraf, I.; Athena, F.F.; Silvestre, C.; Liu, X.; Khan, B.; Jain, N.; Mcdermott, S.; Johnson, R.; Estrada-Raygoza, I.; Li, J.; Gokmen, T.; Li, N.; Pujari, R.; Carta, F.; Miyazoe, H.; Frank, M.M.; Koty, D.; Yang, Q.; Clark, R.; Tapily, K.; Wajda, C.; Mosden, A.; Shearer, J.; Metz, A.; Teehan, S.; Saulnier, N.; Offrein, B. J.; Tsunomura, T.; Leusink, G.; Narayanan, V.; Ando, T.
2022 International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2022 International. :33.7.1-33.7.4 Dec, 2022
Academic Journal
Jumamurat R. Bayjanov; Cenna Doornbos; Ozan Ozisik; Woosub Shin; Núria Queralt-Rosinach; Daphne Wijnbergen; Jean-Sébastien Saulnier-Blache; Joost P. Schanstra; Bénédicte Buffin-Meyer; Julie Klein; José M. Fernández; Rajaram Kaliyaperumal; Anaïs Baudot; Peter A. C. ’t Hoen; Friederike Ehrhart
Scientific Reports, Vol 14, Iss 1, Pp 1-12 (2024)
Conference
Khaddam-Aljameh, R.; Stanisavljevic, M.; Fornt Mas, J.; Karunaratne, G.; Braendli, M.; Liu, F.; Singh, A.; Muller, S. M.; Egger, U.; Petropoulos, A.; Antonakopoulos, T.; Brew, K.; Choi, S.; Ok, I.; Lie, F. L.; Saulnier, N.; Chan, V.; Ahsan, I.; Narayanan, V.; Nandakumar, S. R.; Le Gallo, M.; Francese, P. A.; Sebastian, A.; Eleftheriou, E.
2021 Symposium on VLSI Circuits VLSI Circuits, 2021 Symposium on. :1-2 Jun, 2021
Academic Journal
Pilla, Rachel M.; Mette, Elizabeth M.; Williamson, Craig E.; Adamovich, Boris V.; Adrian, Rita; Anneville, Orlane; Balseiro, Esteban; Ban, Syuhei; Chandra, Sudeep; Colom-Montero, William; Devlin, Shawn P.; Dix, Margaret A.; Dokulil, Martin T.; Feldsine, Natalie A.; Feuchtmayr, Heidrun; Fogarty, Natalie K.; Gaiser, Evelyn E.; Girdner, Scott F.; Gonzalez, Maria J.; Hambright, K. David; Hamilton, David P.; Havens, Karl; Hessen, Dag O.; Hetzenauer, Harald; Higgins, Scott N.; Huttula, Timo H.; Huuskonen, Hannu; Isles, Peter D. F.; Joehnk, Klaus D.; Keller, Wendel Bill; Klug, Jen; Knoll, Lesley B.; Korhonen, Johanna; Korovchinsky, Nikolai M.; Koster, Oliver; Kraemer, Benjamin M.; Leavitt, Peter R.; Leoni, Barbara; Lepori, Fabio; Lepskaya, Ekaterina V.; Lottig, Noah R.; Luger, Martin S.; Maberly, Stephen C.; MacIntyre, Sally; McBride, Chris; McIntyre, Peter; Melles, Stephanie J.; Modenutti, Beatriz; Mueller-Navarra, Doerthe C.; Pacholski, Laura; Paterson, Andrew M.; Pierson, Don; Pislegina, Helen V.; Plisnier, Pierre-Denis; Richardson, David C.; Rimmer, Alon; Rogora, Michela; Rogozin, Denis Y.; Rusak, James A.; Rusanovskaya, Olga O.; Sadro, Steve; Salmaso, Nico; Saros, Jasmine E.; Sarvala, Jouko; Saulnier-Talbot, Emilie; Schindler, Daniel E.; Shimaraeva, Svetlana V.; Silow, Eugene A.; Sitoki, Lewis M.; Sommaruga, Ruben; Straile, Dietmar; Strock, Kristin E.; Swain, Hilary; Tallant, Jason M.; Thiery, Wim; Timofeyev, Maxim A.; Tolomeev, Alexander P.; Tominaga, Koji; Vanni, Michael J.; Verburg, Piet; Vinebrooke, Rolf D.; Wanzenbock, Josef; Weathers, Kathleen; Weyhenmeyer, Gesa A.; Zadereev, Egor S.; Zhukova, Tatyana V.
Scientific Data. 8(1)
Review
JOURNAL OF AGGRESSION MALTREATMENT & TRAUMA. 32(4):505-522
Conference
2018 IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC) Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC), 2018 IEEE International. :1-6 May, 2018
Conference
Narayanan, P.; Ambrogio, S.; Okazaki, A.; Hosokawa, K.; Tsai, H.; Nomura, A.; Yasuda, T.; Mackin, C.; Lewis, S. C.; Friz, A.; Ishii, M.; Kohda, Y.; Mori, H.; Spoon, K.; Khaddam-Aljameh, R.; Saulnier, N.; Bergendahl, M.; Demarest, J.; Brew, K. W.; Chan, V.; Choi, S.; Ok, I.; Ahsan, I.; Lie, F. L.; Haensch, W.; Narayanan, V.; Burr, G. W.
2021 Symposium on VLSI Technology VLSI Technology, 2021 Symposium on. :1-2 Jun, 2021
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[검색어] Saulnier, R.
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어