학술논문
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Academic Journal
In: Physical Review B . (Physical Review B, 16 March 2021, 103(12))
Conference
Fifteenth Annual IEEE Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium (Cat. No.99CH36306) Semiconductor thermal measurement and management Semiconductor Thermal Measurement and Management Symposium, 1999. Fifteenth Annual IEEE. :105-112 1999
Report
Kataoka, T.; Sakamoto, Y.; Yamazaki, Y.; Singh, V. R.; Fujimori, A.; Takeda, Y.; Ohkochi, T.; Fujimori, S. -I.; Okane, T.; Saitoh, Y.; Yamagami, H.; Tanaka, A.
Solid State Communications, 152, 806 (2012)
Report
Kataoka, T.; Yamazaki, Y.; Singh, V. R.; Sakamoto, Y.; Fujimori, A.; Takeda, Y.; Ohkochi, T.; Fujimori, S. -I.; Okane, T.; Saitoh, Y.; Yamagami, H.; Tanaka, A.; Kapilashrami, M.; Belova, L.; Rao, K. V.
Appl. Phys. Lett. 99, 132508 (2011)
Report
Okane, T.; Ohkochi, T.; Takeda, Y.; Fujimori, S. -i.; Yasui, A.; Saitoh, Y.; Yamagami, H.; Fujimori, A.; Matsumoto, Y.; Sugi, M.; Kimura, N.; Komatsubara, T.; Aoki, H.
Phys. Rev. Lett. 102, 216401 (2009)
Local electronic structure of Cr in the II-VI diluted ferromagnetic semiconductor Zn$_{1-x}$Cr$_x$Te
Report
Kobayashi, M.; Ishida, Y.; Hwang, J. I.; Song, G. S.; Fujimori, A.; Yang, C. -S.; Lee, L.; Lin, H. -J.; Huang, D. -J.; Chen, C. T.; Takeda, Y.; Fujimori, S. -I.; Okane, T.; Saitoh, Y.; Yamagami, H.; Kobayashi, K.; Tanaka, A.; Saito, H.; Ando, K.
New J. Phys. 10, 055011 (2008)
Report
Kobayashi, M.; Hwang, J. I.; Song, G. S.; Ooki, Y.; Takizawa, M.; Fujimori, A.; Takeda, Y.; Fujimori, S. -I.; Terai, K.; Okane, T.; Saitoh, Y.; Yamagami, H.; Lin, Y. -H.; Nan, C. -W.
Phys. Rev. B 78, 155322 (2008)
Report
Kobayashi, M.; Ooki, Y.; Takizawa, M.; Song, G. S.; Fujimori, A.; Takeda, Y.; Terai, K.; Okane, T.; Fujimori, S. -I.; Saitoh, Y.; Yamagami, H.; Seki, M.; Kawai, T.; Tabata, H.
Appl. Phys. Lett. 92, 082502 (2008)
Report
Okamoto, J.; Okane, T.; Saitoh, Y.; Terai, K.; Fujimori, S. -I.; Muramatsu, Y.; Yoshii, K.; Mamiya, K.; Koide, T.; Fujimori, A.; Fang, Z.; Takeda, Y.; Takano, M.
Phys. Rev. B 76, 184441 (2007).
Report
Ishida, Y.; Kobayashi, M.; Hwang, J. I.; Takeda, Y.; Fujimori, S. -i.; Okane, T.; Terai, K.; Saitoh, Y.; Muramatsu, Y.; Fujimori, A.; Tanaka, A.; Saito, H.; Ando, K.
Appl. Phys. Express 1, 041301 (2008)
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