학술논문
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Academic Journal
IEEE Transactions on Components, Packaging and Manufacturing Technology IEEE Trans. Compon., Packag. Manufact. Technol. Components, Packaging and Manufacturing Technology, IEEE Transactions on. 1(8):1147-1153 Aug, 2011
Conference
Furukawa, A.; Kinouchi, S.; Nakatake, H.; Ebiike, Y.; Kagawa, Y.; Miura, N.; Nakao, Y.; Imaizumi, M.; Sumitani, H.; Oomori, T.
2011 IEEE 23rd International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD), 2011 IEEE 23rd International Symposium on. :288-291 May, 2011
Conference
Ueno, S.; Eimori, T.; Kuroiwa, T.; Furuta, H.; Tsuchimoto, J.; Maejima, S.; Iida, S.; Ohshita, H.; Hasegawa, S.; Hirano, S.; Yamaguchi, T.; Kurisu, H.; Yutani, A.; Hashikawa, N.; Maeda, H.; Ogawa, Y.; Kawabata, K.; Okumura, Y.; Tsuji, T.; Ohtani, J.; Tanizaki, T.; Yamaguchi, Y.; Ohishi, T.; Hidaka, H.; Takenaga, T.; Beysen, S.; Kobayashi, H.; Oomori, T.; Koga T; Ohji, Y.
IEDM Technical Digest. IEEE International Electron Devices Meeting, 2004. Electron devices meeting Electron Devices Meeting, 2004. IEDM Technical Digest. IEEE International. :579-582 2004
Conference
Miura, N.; Fujihira, K.; Nakao, Y.; Watanabe, T.; Tarui, Y.; Kinouchi, S.-i.; Imaizumi, M.; Oomori, T.
2006 IEEE International Symposium on Power Semiconductor Devices and IC's Power Semiconductor Devices and IC's , 2006. ISPSD 2006. IEEE International Symposium on. :1-4 2006
Conference
2002 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility Electromagnetic Compatibility, 2002. EMC 2002. IEEE International Symposium on. 2:866-870 vol.2 2002
Conference
2001 6th International Symposium on Plasma- and Process-Induced Damage (IEEE Cat. No.01TH8538) Plasma- and process-induced damage Plasma- and Process-Induced Damage, 2001 6th International Symposium on. :108-111 2001
Academic Journal
IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 55(8):2041-2045 Aug, 2008
Conference
Ohnakado, T.; Yamakawa, S.; Murakami, T.; Furukawa, A.; Nishikawa, K.; Taniguchi, E.; Ueda, H.; Ono, M.; Tomisawa, J.; Yoneda, Y.; Hashizume, Y.; Sugahara, K.; Suematsu, N.; Oomori, T.
IEEE Radio Frequency Integrated Circuits (RFIC) Symposium, 2003 Radio frequency integrated circuits Radio Frequency Integrated Circuits (RFIC) Symposium, 2003 IEEE. :229-232 2003
Conference
Ohnakado, T.; Yamakawa, S.; Murakami, T.; Furukawa, A.; Taniguchi, E.; Ueda, H.; Suematsu, N.; Oomori, T.
2003 Symposium on VLSI Circuits. Digest of Technical Papers (IEEE Cat. No.03CH37408) VLSI circuits VLSI Circuits, 2003. Digest of Technical Papers. 2003 Symposium on. :25-28 2003
Conference
IEEE/PES Transmission and Distribution Conference and Exhibition Transmission and distribution conference Transmission and Distribution Conference and Exhibition 2002: Asia Pacific. IEEE/PES. 2:1145-1150 vol.2 2002
Conference
52nd Electronic Components and Technology Conference 2002. (Cat. No.02CH37345) Electronic components and technology conference Electronic Components and Technology Conference, 2002. Proceedings. 52nd. :18-21 2002
Conference
IEEE Seventh International Symposium on Spread Spectrum Techniques and Applications, Spread spectrum techniques and applications Spread Spectrum Techniques and Applications, 2002 IEEE Seventh International Symposium on. 1:59-63 vol.1 2002
Conference
2002 IEEE Conference on Ultra Wideband Systems and Technologies (IEEE Cat. No.02EX580) Ultra wideband systems and technologies Ultra Wideband Systems and Technologies, 2002. Digest of Papers. 2002 IEEE Conference on. :37-40 2002
Conference
Nishioka, Y.; Shiozawa, K.; Oishi, T.; Kanamoto, K.; Tokuda, Y.; Sumitani, H.; Aya, S.; Yabe, H.; Itoga , K.; Hifumi, T.; Marumoto, K.; Kuroiwa, T.; Kawahara, T.; Nishikawa, K.; Oomori, T.; Fujino, T.; Yamamoto, S.; Uzawa, S.; Kimata, M.; Nunoshita, M.; Abe, H.
Proceedings of International Electron Devices Meeting Electron devices Electron Devices Meeting, 1995. IEDM '95., International. :903-906 1995
Academic Journal
Ohnakado, T.; Yamakawa, S.; Murakami, T.; Furukawa, A.; Taniguchi, E.; Ueda, H.; Suematsu, N.; Oomori, T.
IEEE Journal of Solid-State Circuits IEEE J. Solid-State Circuits Solid-State Circuits, IEEE Journal of. 39(4):577-584 Apr, 2004
Academic Journal
Ohnakado, T.; Yamakawa, S.; Murakami, T.; Furukawa, A.; Nishikawa, K.; Taniguchi, E.; Ueda, H.; Ono, M.; Tomisawa, J.; Yoneda, Y.; Hashizume, Y.; Sugahara, K.; Suematsu, N.; Oomori, T.
IEEE Electron Device Letters IEEE Electron Device Lett. Electron Device Letters, IEEE. 24(3):192-194 Mar, 2003
Academic Journal
Iwabuchi, M.; Usami, M.; Kashiyama, M.; Oomori, T.; Murata, S.; Hiramoto, T.; Hashimoto, T.; Nakajima, Y.
IEEE Journal of Solid-State Circuits IEEE J. Solid-State Circuits Solid-State Circuits, IEEE Journal of. 29(4):419-425 Apr, 1994
Conference
Ohnakado, T.; Furukawa, A.; Ono, M.; Taniguchi, E.; Yamakawa, S.; Nishikawa, K.; Murakami, T.; Hashizume, Y.; Sugahara, K.; Oomori, T.
2002 Symposium on VLSI Technology. Digest of Technical Papers (Cat. No.01CH37303) VLSI technology VLSI Technology, 2002. Digest of Technical Papers. 2002 Symposium on. :162-163 2002
Conference
Ichino, M.; Yoshikawa, S.; Oomori, H.; Maeda, Y.; Nishiyama, N.; Takayama, T.; Mizue, T.; Tounai, I.; Nishie, M.
Proceedings Electronic Components and Technology, 2005. ECTC '05. Electronic components and technology Electronic Components and Technology Conference, 2005. Proceedings. 55th. :1044-1049 Vol. 1 2005
Conference
Usami, M.; Iwabuchi, M.; Kashiyama, M.; Oomori, T.; Murata, S.; Hiramoto, T.; Hashimoto, T.; Nakajima, Y.
Symposium 1993 on VLSI Circuits VLSI circuits VLSI Circuits, 1993. Digest of Technical Papers. 1993 Symposium on. :109-110 1993
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