학술논문
전자자료 공정이용 안내
우리 대학 도서관에서 구독·제공하는 모든 전자자료(데이터베이스, 전자저널, 전자책 등)는 국내외 저작권법과 출판사와의 라이선스 계약에 따라 엄격하게 보호를 받고 있습니다.
전자자료의 비정상적 이용은 출판사로부터의 경고, 서비스 차단, 손해배상 청구 등 학교 전체에 심각한 불이익을 초래할 수 있으므로, 아래의 공정이용 지침을 반드시 준수해 주시기 바랍니다.
공정이용 지침
- 전자자료는 개인의 학습·교육·연구 목적의 비영리적 사용에 한하여 이용할 수 있습니다.
- 합리적인 수준의 다운로드 및 출력만 허용됩니다. (일반적으로 동일 PC에서 동일 출판사의 논문을 1일 30건 이하 다운로드할 것을 권장하며, 출판사별 기준에 따라 다를 수 있습니다.)
- 출판사에서 제공한 논문의 URL을 수업 관련 웹사이트에 게재할 수 있으나, 출판사 원문 파일 자체를 복제·배포해서는 안 됩니다.
- 본인의 ID/PW를 타인에게 제공하지 말고, 도용되지 않도록 철저히 관리해 주시기 바랍니다.
불공정 이용 사례
- 전자적·기계적 수단(다운로딩 프로그램, 웹 크롤러, 로봇, 매크로, RPA 등)을 이용한 대량 다운로드
- 동일 컴퓨터 또는 동일 IP에서 단시간 내 다수의 원문을 집중적으로 다운로드하거나, 전권(whole issue) 다운로드
- 저장·출력한 자료를 타인에게 배포하거나 개인 블로그·웹하드 등에 업로드
- 상업적·영리적 목적으로 자료를 전송·복제·활용
- ID/PW를 타인에게 양도하거나 타인 계정을 도용하여 이용
- EndNote, Mendeley 등 서지관리 프로그램의 Find Full Text 기능을 이용한 대량 다운로드
- 출판사 콘텐츠를 생성형 AI 시스템에서 활용하는 행위(업로드, 개발, 학습, 프로그래밍, 개선 또는 강화 등)
위반 시 제재
- 출판사에 의한 해당 IP 또는 기관 전체 접속 차단
- 출판사 배상 요구 시 위반자 개인이 배상 책임 부담
'학술논문'
에서 검색결과 11건 | 목록
1~20
Academic Journal
Chen, Y.; Ereditato, A.; Goeldi, D.; Kreslo, I.; Lorca, D.; Luethi, M.; Mettler, T.; Rohr, C.R.V.; Sinclair, J.; Weber, M.; Bass, M.; Bishai, M.; Gu, W.; Ji, X.; Joshi, J.; Kirby, B.; Li, Y.; Qian, X.; Radeka, V.; Viren, B.; Wei, H.; Zhang, C.; Luo, X.; Anthony, J.; Sanchez, L.E.; De Vries, J.J.; Smith, A.; Uchida, M.A.; Mastbaum, A.; Miller, K.; Schmitz, D.W.; Grosso, R.; Johnson, R.A.; Terrazas, I.C.; Mooney, M.; Rogers, H.E.; Camilleri, L.; Cianci, D.; Crespo-Anadón, J.I.; Genty, V.; Jwa, Y.-J.; Karagiorgi, G.; Ross-Lonergan, M.; Seligman, W.; Shaevitz, M.H.; Sutton, K.; Eberly, B.; Baller, B.; Berkman, S.; Caratelli, D.; Fernandez, R.C.; Cavanna, F.; Cerati, G.; Duffy, K.; Gardiner, S.; Gramellini, E.; Greenlee, H.; James, C.; Ketchum, W.; Kirby, M.; Kobilarcik, T.; Lockwitz, S.; Lundberg, B.; Marchionni, A.; Marcocci, S.; Mohayai, T.; Moore, C.D.; Palamara, O.; Pavlovic, Z.; Raaf, J.L.; Schukraft, A.; Snider, E.L.; Spentzouris, P.; Stancari, M.; John, J.S.; Strauss, T.; Toups, M.; Wolbers, S.; Wospakrik, M.; Wu, W.; Yang, T.; Zeller, G.P.; Zennamo, J.; Adams, C.; Tutto, M.D.; Foppiani, N.; Guenette, R.; Martin-Albo, J.; Prince, S.; Soleti, S.R.; Pontseele, W.V.D.; An, R.; Lepetic, I.; Littlejohn, B.R.; Alrashed, M.; Bolton, T.; Horton-Smith, G.A.; Meddage, V.; Neely, R.K.; Paudel, A.; Rafique, A.; Blake, A.; Devitt, D.; Lister, A.; Nowak, J.; Huang, E.-C.; Louis, W.C.; Thornton, R.T.; De Water, R.G.V.; Basque, V.; Bhanderi, A.; Evans, J.J.; Furmanski, A.P.; Garcia-Gamez, D.; Goodwin, O.; Green, P.; Guzowski, P.; Hill, C.; McConkey, N.; Mistry, K.; Murrells, R.; Porzio, D.; Söldner-Rembold, S.; Szelc, A.M.; Ashkenazi, A.; Carr, R.; Conrad, J.M.; Diaz, A.; Hen, O.; Hourlier, A.; Moon, J.; Papadopoulou, A.; Yates, L.E.; Barnes, C.; Fitzpatrick, R.S.; Mousseau, J.; Spitz, J.; Papavassiliou, V.; Pate, S.F.; Ren, L.; Sword-Fehlberg, S.; Woodruff, K.; Tagg, N.; Barr, G.; Church, E.; Dytman, S.; Jiang, L.; Naples, D.; Paolone, V.; Wickremasinghe, D.A.; Nienaber, P.; Convery, M.; Domine, L.; Itay, R.; Rochester, L.; Terao, K.; Tsai, Y.-T.; Usher, T.; Caicedo, D.A.M.; Bhat, A.; Hamilton, P.; Pulliam, G.; Soderberg, M.; Cohen, E.O.; Piasetzky, E.; Gollapinni, S.; Mogan, A.; Tang, W.; Yarbrough, G.; Asaadi, J.; Williams, Z.; Bay, F.; Mason, K.; Mills, J.; Sharankova, R.; Wongjirad, T.; Gu, L.; Mariani, C.; Murphy, M.; Pandey, V.; Marshall, J.; Balasubramanian, S.; Cooper-Troendle, L.; Fleming, B.T.; Franco, D.; Jo, J.H.; Russell, B.; Scanavini, G.; Tufanli, S.
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, July 2020, 15(7))
Academic Journal
Chen, Y.; Ereditato, A.; Goeldi, D.; Kreslo, I.; Lorca, D.; Luethi, M.; Mettler, T.; Rohr, C.R.V.; Sinclair, J.; Weber, M.; Bass, M.; Bishai, M.; Gu, W.; Ji, X.; Joshi, J.; Kirby, B.; Li, Y.; Qian, X.; Viren, B.; Wei, H.; Zhang, C.; Anthony, J.; Sanchez, L.E.; De Vries, J.J.; Smith, A.; Mastbaum, A.; Miller, K.; Schmitz, D.W.; Grosso, R.; Johnson, R.A.; Terrazas, I.C.; Mooney, M.; Rogers, H.E.; Camilleri, L.; Cianci, D.; Crespo-Anadón, J.I.; Genty, V.; Jwa, Y.-J.; Karagiorgi, G.; Ross-Lonergan, M.; Seligman, W.; Shaevitz, M.H.; Sutton, K.; Eberly, B.; Baller, B.; Berkman, S.; Caratelli, D.; Fernandez, R.C.; Cavanna, F.; Cerati, G.; Duffy, K.; Gardiner, S.; Gramellini, E.; Greenlee, H.; James, C.; Ketchum, W.; Kirby, M.; Kobilarcik, T.; Lockwitz, S.; Lundberg, B.; Marchionni, A.; Marcocci, S.; Mohayai, T.; Moore, C.D.; Palamara, O.; Pavlovic, Z.; Raaf, J.L.; Schukraft, A.; Snider, E.L.; Spentzouris, P.; Stancari, M.; John, J.S.; Strauss, T.; Toups, M.; Wolbers, S.; Wospakrik, M.; Wu, W.; Yang, T.; Zeller, G.P.; Zennamo, J.; Adams, C.; Foppiani, N.; Guenette, R.; Martin-Albo, J.; Prince, S.; Soleti, S.R.; Pontseele, W.V.D.; An, R.; Lepetic, I.; Littlejohn, B.R.; Alrashed, M.; Bolton, T.; Horton-Smith, G.A.; Meddage, V.; Neely, R.K.; Paudel, A.; Rafique, A.; Blake, A.; Devitt, D.; Lister, A.; Nowak, J.; Huang, E.-C.; Louis, W.C.; Thornton, R.T.; De Water, R.G.V.; Basque, V.; Bhanderi, A.; Evans, J.J.; Furmanski, A.P.; Garcia-Gamez, D.; Goodwin, O.; Green, P.; Guzowski, P.; Hill, C.; McConkey, N.; Mistry, K.; Murrells, R.; Porzio, D.; Söldner-Rembold, S.; Szelc, A.M.; Ashkenazi, A.; Carr, R.; Conrad, J.M.; Diaz, A.; Hen, O.; Hourlier, A.; Moon, J.; Papadopoulou, A.; Yates, L.E.; Barnes, C.; Fitzpatrick, R.S.; Mousseau, J.; Spitz, J.; Papavassiliou, V.; Pate, S.F.; Ren, L.; Sword-Fehlberg, S.; Woodruff, K.; Tagg, N.; Barr, G.; Tutto, M.D.; Church, E.; Dytman, S.; Jiang, L.; Naples, D.; Paolone, V.; Wickremasinghe, D.A.; Nienaber, P.; Convery, M.; Domine, L.; Itay, R.; Rochester, L.; Terao, K.; Tsai, Y.-T.; Usher, T.; Caicedo, D.A.M.; Bhat, A.; Esquivel, J.; Hamilton, P.; Pulliam, G.; Soderberg, M.; Cohen, E.O.; Piasetzky, E.; Gollapinni, S.; Mogan, A.; Tang, W.; Yarbrough, G.; Asaadi, J.; Williams, Z.; Bay, F.; Mason, K.; Mills, J.; Sharankova, R.; Wongjirad, T.; Gu, L.; Mariani, C.; Murphy, M.; Pandey, V.; Marshall, J.; Balasubramanian, S.; Cooper-Troendle, L.; Fleming, B.T.; Franco, D.; Jo, J.H.; Luo, X.; Russell, B.; Scanavini, G.; Tufanli, S.
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, March 2020, 15(3))
Academic Journal
Chen, Y.; Ereditato, A.; Goeldi, D.; Kreslo, I.; Lorca, D.; Luethi, M.; Mettler, T.; Rohr, C.R.V.; Sinclair, J.; Weber, M.; Bass, M.; Bishai, M.; Gu, W.; Ji, X.; Joshi, J.; Kirby, B.; Li, Y.; Qian, X.; Viren, B.; Wei, H.; Zhang, C.; Anthony, J.; Sanchez, L.E.; De Vries, J.J.; Smith, A.; Mastbaum, A.; Miller, K.; Schmitz, D.W.; Grosso, R.; Johnson, R.A.; Terrazas, I.C.; Mooney, M.; Rogers, H.E.; Camilleri, L.; Cianci, D.; Crespo-Anadón, J.I.; Genty, V.; Jwa, Y.-J.; Karagiorgi, G.; Ross-Lonergan, M.; Seligman, W.; Shaevitz, M.H.; Sutton, K.; Eberly, B.; Baller, B.; Berkman, S.; Caratelli, D.; Fernandez, R.C.; Cavanna, F.; Cerati, G.; Duffy, K.; Gardiner, S.; Gramellini, E.; Greenlee, H.; James, C.; Ketchum, W.; Kirby, M.; Kobilarcik, T.; Lockwitz, S.; Lundberg, B.; Marchionni, A.; Marcocci, S.; Mohayai, T.; Moore, C.D.; Palamara, O.; Pavlovic, Z.; Raaf, J.L.; Schukraft, A.; Snider, E.L.; Spentzouris, P.; Stancari, M.; John, J.S.; Strauss, T.; Toups, M.; Wolbers, S.; Wospakrik, M.; Wu, W.; Yang, T.; Zeller, G.P.; Zennamo, J.; Adams, C.; Foppiani, N.; Guenette, R.; Martin-Albo, J.; Prince, S.; Soleti, S.R.; Pontseele, W.V.D.; An, R.; Lepetic, I.; Littlejohn, B.R.; Alrashed, M.; Bolton, T.; Horton-Smith, G.A.; Meddage, V.; Neely, R.K.; Paudel, A.; Rafique, A.; Blake, A.; Devitt, D.; Lister, A.; Nowak, J.; Huang, E.-C.; Louis, W.C.; Thornton, R.T.; De Water, R.G.V.; Basque, V.; Bhanderi, A.; Evans, J.J.; Furmanski, A.P.; Garcia-Gamez, D.; Goodwin, O.; Green, P.; Guzowski, P.; Hill, C.; McConkey, N.; Mistry, K.; Murrells, R.; Porzio, D.; Söldner-Rembold, S.; Szelc, A.M.; Ashkenazi, A.; Carr, R.; Conrad, J.M.; Diaz, A.; Hen, O.; Hourlier, A.; Moon, J.; Papadopoulou, A.; Yates, L.E.; Barnes, C.; Fitzpatrick, R.S.; Mousseau, J.; Spitz, J.; Papavassiliou, V.; Pate, S.F.; Ren, L.; Sword-Fehlberg, S.; Woodruff, K.; Tagg, N.; Barr, G.; Tutto, M.D.; Church, E.; Dytman, S.; Jiang, L.; Naples, D.; Paolone, V.; Wickremasinghe, D.A.; Nienaber, P.; Convery, M.; Domine, L.; Itay, R.; Rochester, L.; Terao, K.; Tsai, Y.-T.; Usher, T.; Caicedo, D.A.M.; Bhat, A.; Esquivel, J.; Hamilton, P.; Pulliam, G.; Soderberg, M.; Cohen, E.O.; Piasetzky, E.; Gollapinni, S.; Mogan, A.; Tang, W.; Yarbrough, G.; Asaadi, J.; Williams, Z.; Bay, F.; Mason, K.; Mills, J.; Sharankova, R.; Wongjirad, T.; Gu, L.; Mariani, C.; Murphy, M.; Pandey, V.; Marshall, J.; Balasubramanian, S.; Cooper-Troendle, L.; Fleming, B.T.; Franco, D.; Jo, J.H.; Luo, X.; Russell, B.; Scanavini, G.; Tufanli, S.
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, 10 February 2020, 15(2))
Academic Journal
Auger, M.; Chen, Y.; Ereditato, A.; Goeldi, D.; Kreslo, I.; Lorca, D.; Luethi, M.; Mettler, T.; Rohr, C.R.V.; Sinclair, J.; Weber, M.; Bass, M.; Bishai, M.; Joshi, J.; Kirby, B.; Li, Y.; Qian, X.; Viren, B.; Wei, H.; Zhang, C.; Anthony, J.; Sanchez, L.E.; De Vries, J.J.; Marshall, J.; Smith, A.; Thomson, M.; Mastbaum, A.; Schmitz, D.W.; Zennamo, J.; Grosso, R.; Johnson, R.A.; Terrazas, I.C.; Mooney, M.; Camilleri, L.; Caratelli, D.; Cianci, D.; Crespo-Anadón, J.I.; Fadeeva, A.A.; Genty, V.; Jwa, Y.-J.; Karagiorgi, G.; Ross-Lonergan, M.; Seligman, W.; Shaevitz, M.H.; Sutton, K.; Baller, B.; Fernandez, R.C.; Cavanna, F.; Cerati, G.; Duffy, K.; Greenlee, H.; James, C.; Jostlein, H.; Ketchum, W.; Kirby, M.; Kobilarcik, T.; Lockwitz, S.; Lundberg, B.; Marchionni, A.; Marcocci, S.; Moore, C.D.; Palamara, O.; Pavlovic, Z.; Raaf, J.L.; Schukraft, A.; Snider, E.L.; Spentzouris, P.; John, J.S.; Strauss, T.; Toups, M.; Wolbers, S.; Yang, T.; Zeller, G.P.; Adams, C.; Guenette, R.; Martin-Albo, J.; Soleti, S.R.; Pontseele, W.V.D.; An, R.; Littlejohn, B.R.; Caicedo, D.A.M.; Alrashed, M.; Bolton, T.; Horton-Smith, G.A.; Meddage, V.; Rafique, A.; Blake, A.; Devitt, D.; Lister, A.; Nowak, J.; Garvey, G.T.; Huang, E.-C.; Louis, W.C.; Mills, G.B.; Thornton, R.T.; De Water, R.G.V.; Evans, J.J.; Furmanski, A.P.; Garcia-Gamez, D.; Goodwin, O.; Guzowski, P.; Hewes, J.; Hill, C.; Mistry, K.; Murrells, R.; Porzio, D.; Söldner-Rembold, S.; Szelc, A.M.; Ashkenazi, A.; Carr, R.; Collin, G.H.; Conrad, J.M.; Diaz, A.; Hen, O.; Hourlier, A.; Moon, J.; Papadopoulou, A.; Yates, L.E.; Barnes, C.; Fitzpatrick, R.S.; Mousseau, J.; Spitz, J.; Papavassiliou, V.; Pate, S.F.; Sword-Fehlberg, S.; Woodruff, K.; Tagg, N.; Barr, G.; Tutto, M.D.; Bhattacharya, K.; Church, E.; Wierman, K.; Dytman, S.; Jiang, L.; Naples, D.; Paolone, V.; Wickremasinghe, D.A.; Nienaber, P.; Convery, M.; Eberly, B.; Rochester, L.; Terao, K.; Tsai, Y.-T.; Usher, T.; Bhat, A.; Esquivel, J.; Hamilton, P.; Pulliam, G.; Soderberg, M.; Cohen, E.; Piasetzky, E.; Gollapinni, S.; Mogan, A.; Tang, W.; Yarbrough, G.; Asaadi, J.; Williams, Z.; Bay, F.; Sharankova, R.; Wongjirad, T.; Mariani, C.; Murphy, M.; Pandey, V.; Balasubramanian, S.; Cooper-Troendle, L.; Fleming, B.T.; Franco, D.; Gramellini, E.; Hackenburg, A.; Luo, X.; Russell, B.; Tufanli, S.
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, 8 April 2019, 14(4))
Academic Journal
Auger, M.; Chen, Y.; Ereditato, A.; Goeldi, D.; Kreslo, I.; Lorca, D.; Luethi, M.; Mettler, T.; Rohr, C.R.V.; Sinclair, J.; Weber, M.; Bass, M.; Bishai, M.; Chen, H.; Dolce, M.; Joshi, J.; Kirby, B.; Li, Y.; Qian, X.; Radeka, V.; Viren, B.; Wei, H.; Yu, B.; Zhang, C.; Anthony, J.; Sanchez, L.E.; De Vries, J.J.; Marshall, J.; Smith, A.; Thomson, M.; Foreman, W.; Ho, J.; Mastbaum, A.; Schmitz, D.W.; Zennamo, J.; Grosso, R.; Johnson, R.A.; John, J.S.; Terrazas, I.C.; Mooney, M.; Camilleri, L.; Caratelli, D.; Cianci, D.; Crespo-Anadón, J.I.; Fadeeva, A.A.; Genty, V.; Jwa, Y.-J.; Kaleko, D.; Karagiorgi, G.; Ross-Lonergan, M.; Seligman, W.; Shaevitz, M.H.; Sutton, K.; Baller, B.; Fernandez, R.C.; Cavanna, F.; Cerati, G.; Greenlee, H.; James, C.; Jostlein, H.; Ketchum, W.; Kirby, M.; Kobilarcik, T.; Lockwitz, S.; Lundberg, B.; Marchionni, A.; Marcocci, S.; Moore, C.D.; Palamara, O.; Pavlovic, Z.; Raaf, J.L.; Schukraft, A.; Snider, E.L.; Spentzouris, P.; Strauss, T.; Toups, M.; Wolbers, S.; Yang, T.; Zeller, G.P.; Adams, C.; Guenette, R.; Soleti, S.R.; Pontseele, W.V.D.; An, R.; Littlejohn, B.R.; Caicedo, D.A.M.; Bolton, T.; Horton-Smith, G.A.; Meddage, V.; Rafique, A.; Blake, A.; Devitt, D.; Lister, A.; Nowak, J.; Garvey, G.T.; Huang, E.-C.; Louis, W.C.; Mills, G.B.; De Water, R.G.V.; Evans, J.J.; Furmanski, A.P.; Garcia-Gamez, D.; Guzowski, P.; Hewes, J.; Hill, C.; Murrells, R.; Porzio, D.; Söldner-Rembold, S.; Szelc, A.M.; Carr, R.; Collin, G.H.; Conrad, J.M.; Diaz, A.; Hen, O.; Hourlier, A.; Moon, J.; Papadopoulou, A.; Yates, L.E.; Barnes, C.; Mousseau, J.; Spitz, J.; Miceli, T.; Papavassiliou, V.; Pate, S.F.; Sword-Fehlberg, S.; Woodruff, K.; Tagg, N.; Barr, G.; Tutto, M.D.; Bhattacharya, K.; Church, E.; Wierman, K.; Dytman, S.; Jiang, L.; Naples, D.; Paolone, V.; Wickremasinghe, D.A.; Nienaber, P.; Convery, M.; Eberly, B.; Rochester, L.; Terao, K.; Tsai, Y.-T.; Usher, T.; Bhat, A.; Esquivel, J.; Hamilton, P.; Pulliam, G.; Soderberg, M.; Cohen, E.; Piasetzky, E.; Gollapinni, S.; Mogan, A.; Tang, W.; Yarbrough, G.; Asaadi, J.; Williams, Z.; Bay, F.; Wongjirad, T.; Mariani, C.; Murphy, M.; Pandey, V.; Balasubramanian, S.; Cooper-Troendle, L.; Fleming, B.T.; Gramellini, E.; Hackenburg, A.; Luo, X.; Russell, B.; Tufanli, S.
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, 6 July 2018, 13(7))
Academic Journal
Auger, M.; Chen, Y.; Ereditato, A.; Goeldi, D.; Kreslo, I.; Lorca, D.; Luethi, M.; Rohr, C.R.V.; Sinclair, J.; Weber, M.; Bass, M.; Bishai, M.; Chen, H.; Joshi, J.; Kirby, B.; Li, Y.; Mooney, M.; Qian, X.; Radeka, V.; Thorn, C.; Viren, B.; Wei, H.; Yu, B.; Zhang, C.; Anthony, J.; Sanchez, L.E.; De Vries, J.J.; Marshall, J.; Smith, A.; Thomson, M.; Foreman, W.; Ho, J.; Mastbaum, A.; Schmitz, D.W.; Zennamo, J.; Grosso, R.; Johnson, R.A.; John, J.S.; Camilleri, L.; Caratelli, D.; Cianci, D.; Crespo-Anadón, J.I.; Fadeeva, A.A.; Genty, V.; Jwa, Y.-J.; Kaleko, D.; Karagiorgi, G.; Ross-Lonergan, M.; Seligman, W.; Shaevitz, M.H.; Sutton, K.; Terao, K.; Bagby, L.; Baller, B.; Fernandez, R.C.; Cavanna, F.; Cerati, G.; Greenlee, H.; James, C.; Jostlein, H.; Ketchum, W.; Kirby, M.; Kobilarcik, T.; Lockwitz, S.; Lundberg, B.; Marchionni, A.; Marcocci, S.; Moore, C.D.; Palamara, O.; Pavlovic, Z.; Raaf, J.L.; Schukraft, A.; Snider, E.L.; Spentzouris, P.; Strauss, T.; Toups, M.; Wolbers, S.; Yang, T.; Zeller, G.P.; Adams, C.; Guenette, R.; Soleti, S.R.; Pontseele, W.V.D.; An, R.; Littlejohn, B.R.; Caicedo, D.A.M.; Bolton, T.; Horton-Smith, G.A.; Meddage, V.; Rafique, A.; Blake, A.; Devitt, D.; Lister, A.; Nowak, J.; Garvey, G.T.; Huang, E.-C.; Louis, W.C.; Mills, G.B.; De Water, R.G.V.; Evans, J.J.; Furmanski, A.P.; Garcia-Gamez, D.; Guzowski, P.; Hewes, J.; Hill, C.; Murrells, R.; Porzio, D.; Söldner-Rembold, S.; Szelc, A.M.; Collin, G.H.; Conrad, J.M.; Diaz, A.; Hen, O.; Hourlier, A.; Moon, J.; Papadopoulou, A.; Wongjirad, T.; Yates, L.E.; Barnes, C.; Mousseau, J.; Spitz, J.; Miceli, T.; Papavassiliou, V.; Pate, S.F.; Sword-Fehlberg, S.; Woodruff, K.; Tagg, N.; Barr, G.; Tutto, M.D.; Bhattacharya, K.; Church, E.; Wierman, K.; Dytman, S.; Jiang, L.; Naples, D.; Paolone, V.; Wickremasinghe, D.A.; Nienaber, P.; Convery, M.; Eberly, B.; Rochester, L.; Tsai, Y.-T.; Usher, T.; Bhat, A.; Esquivel, J.; Hamilton, P.; Pulliam, G.; Soderberg, M.; Cohen, E.; Piasetzky, E.; Gollapinni, S.; Mogan, A.; Tang, W.; Yarbrough, G.; Asaadi, J.; Williams, Z.; Bay, F.; Mariani, C.; Murphy, M.; Pandey, V.; Balasubramanian, S.; Cooper-Troendle, L.; Fleming, B.T.; Gramellini, E.; Hackenburg, A.; Luo, X.; Russell, B.; Tufanli, S.
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, 6 July 2018, 13(7))
Academic Journal
Auger, M.; Ereditato, A.; Goeldi, D.; Kreslo, I.; Lorca, D.; Luethi, M.; Rohr, C.R.V.; Sinclair, J.; Weber, M.; Bishai, M.; Chen, H.; Joshi, J.; Kirby, B.; Li, Y.; Mooney, M.; Qian, X.; Viren, B.; Zhang, C.; Anthony, J.; Sanchez, L.E.; De Vries, J.J.; Marshall, J.; Thomson, M.; Foreman, W.; Ho, J.; Schmitz, D.W.; Zennamo, J.; Grosso, R.; Johnson, R.A.; John, J.S.; Camilleri, L.; Caratelli, D.; Cianci, D.; Crespo-Anadón, J.I.; Genty, V.; Kaleko, D.; Karagiorgi, G.; Seligman, W.; Shaevitz, M.H.; Terao, K.; Acciarri, R.; Bagby, L.; Baller, B.; Carls, B.; Fernandez, R.C.; Cavanna, F.; Greenlee, H.; James, C.; Jostlein, H.; Ketchum, W.; Kirby, M.; Kobilarcik, T.; Lockwitz, S.; Lundberg, B.; Marchionni, A.; Moore, C.D.; Palamara, O.; Pavlovic, Z.; Raaf, J.L.; Schukraft, A.; Snider, E.L.; Spentzouris, P.; Strauss, T.; Toups, M.; Wolbers, S.; Yang, T.; Zeller, G.P.; An, R.; Littlejohn, B.R.; Caicedo, D.A.M.; Bolton, T.; Gollapinni, S.; Horton-Smith, G.; Meddage, V.; Rafique, A.; Blake, A.; Devitt, D.; Lister, A.; Nowak, J.; Garvey, G.T.; Huang, E.-C.; Louis, W.C.; Mills, G.B.; De Water, R.G.V.; Furmanski, A.P.; Garcia-Gamez, D.; Hewes, J.; Hill, C.; Murrells, R.; Porzio, D.; Söldner-Rembold, S.; Szelc, A.M.; Bugel, L.; Collin, G.H.; Conrad, J.M.; Hen, O.; Moon, J.; Wongjirad, T.; Yates, L.; Abratenko, P.; Barnes, C.; Mousseau, J.; Spitz, J.; Miceli, T.; Papavassiliou, V.; Pate, S.F.; Woodruff, K.; Tagg, N.; Barr, G.; Bass, M.; Tutto, M.D.; Guenette, R.; Laube, A.; Soleti, S.R.; Church, E.; Dytman, S.; Graf, N.; Jiang, L.; Naples, D.; Paolone, V.; Wickremasinghe, D.A.; Nienaber, P.; Convery, M.; Eberly, B.; Rochester, L.; Tsai, Y.-T.; Usher, T.; Esquivel, J.; Hamilton, P.; Pulliam, G.; Soderberg, M.; Cohen, E.; Piasetzky, E.; Asaadi, J.; Bay, F.; Jen, C.-M.; Kalousis, L.N.; Mariani, C.; Adams, C.; Balasubramanian, S.; Fleming, B.T.; Gramellini, E.; Hackenburg, A.; Luo, X.; Russell, B.; Tufanli, S.
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, 18 October 2017, 12(10))
Academic Journal
Auger, M.; Ereditato, A.; Goeldi, D.; Kreslo, I.; Lorca, D.; Luethi, M.; Rohr, C.R.V.; Sinclair, J.; Weber, M.; Bishai, M.; Chen, H.; Joshi, J.; Kirby, B.; Li, Y.; Mooney, M.; Qian, X.; Viren, B.; Zhang, C.; Anthony, J.; Sanchez, L.E.; De Vries, J.J.; Marshall, J.; Thomson, M.; Foreman, W.; Ho, J.; Schmitz, D.W.; Zennamo, J.; Grosso, R.; Johnson, R.A.; John, J.S.; Camilleri, L.; Caratelli, D.; Cianci, D.; Crespo-Anadón, J.I.; Genty, V.; Kaleko, D.; Karagiorgi, G.; Seligman, W.; Shaevitz, M.H.; Sutton, K.A.; Terao, K.; Acciarri, R.; Bagby, L.; Baller, B.; Carls, B.; Fernandez, R.C.; Cavanna, F.; Greenlee, H.; James, C.; Jostlein, H.; Ketchum, W.; Kirby, M.; Kobilarcik, T.; Lockwitz, S.; Lundberg, B.; Marchionni, A.; Moore, C.D.; Palamara, O.; Pavlovic, Z.; Raaf, J.L.; Schukraft, A.; Snider, E.L.; Spentzouris, P.; Strauss, T.; Toups, M.; Wolbers, S.; Yang, T.; Zeller, G.P.; An, R.; Littlejohn, B.R.; Caicedo, D.A.M.; Bolton, T.; Gollapinni, S.; Horton-Smith, G.; Meddage, V.; Rafique, A.; Blake, A.; Devitt, D.; Lister, A.; Nowak, J.; Garvey, G.T.; Huang, E.-C.; Louis, W.C.; Mills, G.B.; De Water, R.G.V.; Furmanski, A.P.; Garcia-Gamez, D.; Hewes, J.; Hill, C.; Murrells, R.; Porzio, D.; Söldner-Rembold, S.; Szelc, A.M.; Bugel, L.; Collin, G.H.; Conrad, J.M.; Hen, O.; Moon, J.; Wongjirad, T.; Yates, L.; Barnes, C.; Mousseau, J.; Spitz, J.; Miceli, T.; Papavassiliou, V.; Pate, S.F.; Woodruff, K.; Tagg, N.; Barr, G.; Bass, M.; Tutto, M.D.; Guenette, R.; Laube, A.; Soleti, S.R.; Church, E.; Dytman, S.; Graf, N.; Jiang, L.; Naples, D.; Paolone, V.; Wickremasinghe, D.A.; Nienaber, P.; Convery, M.; Eberly, B.; Rochester, L.; Tsai, Y.-T.; Usher, T.; Esquivel, J.; Hamilton, P.; Pulliam, G.; Soderberg, M.; Cohen, E.; Piasetzky, E.; Asaadi, J.; Bay, F.; Jen, C.-M.; Mariani, C.; Adams, C.; Balasubramanian, S.; Fleming, B.T.; Gramellini, E.; Hackenburg, A.; Luo, X.; Russell, B.; Tufanli, S.
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, 14 September 2017, 12(9))
Academic Journal
Auger, M.; Ereditato, A.; Goeldi, D.; Kreslo, I.; Lorca, D.; Luethi, M.; Rohr, C.R.V.; Sinclair, J.; Weber, M.; Bishai, M.; Bullard, B.; Chen, H.; Geronimo, G.D.; Joshi, J.; Kirby, B.; Li, S.; Li, Y.; Mooney, M.; Qian, X.; Radeka, V.; Rescia, S.; Thorn, C.; Viren, B.; Yu, B.; Zhang, C.; Anthony, J.; Sanchez, L.E.; De Vries, J.J.; Marshall, J.; Smith, A.; Thomson, M.; Foreman, W.; Ho, J.; Schmitz, D.W.; Zennamo, J.; Grosso, R.; Johnson, R.A.; John, J.S.; Camilleri, L.; Caratelli, D.; Cianci, D.; Crespo-Anadón, J.I.; Fadeeva, A.A.; Genty, V.; Kaleko, D.; Karagiorgi, G.; Seligman, W.; Shaevitz, M.H.; Terao, K.; Acciarri, R.; Bagby, L.; Baller, B.; Carls, B.; Fernandez, R.C.; Cavanna, F.; Greenlee, H.; James, C.; Jostlein, H.; Ketchum, W.; Kirby, M.; Kobilarcik, T.; Lockwitz, S.; Lundberg, B.; Marchionni, A.; Moore, C.D.; Palamara, O.; Pavlovic, Z.; Raaf, J.L.; Schukraft, A.; Snider, E.L.; Spentzouris, P.; Strauss, T.; Toups, M.; Wolbers, S.; Yang, T.; Zeller, G.P.; An, R.; Littlejohn, B.R.; Caicedo, D.A.M.; Bolton, T.; Gollapinni, S.; Horton-Smith, G.; Meddage, V.; Rafique, A.; Blake, A.; Devitt, D.; Lister, A.; Nowak, J.; Garvey, G.T.; Huang, E.-C.; Louis, W.C.; Mills, G.B.; De Water, R.G.V.; Furmanski, A.P.; Garcia-Gamez, D.; Hewes, J.; Hill, C.; Murrells, R.; Porzio, D.; Söldner-Rembold, S.; Szelc, A.M.; Collin, G.H.; Conrad, J.M.; Hen, O.; Hourlier, A.; Moon, J.; Wongjirad, T.; Yates, L.; Barnes, C.; Mousseau, J.; Spitz, J.; Miceli, T.; Papavassiliou, V.; Pate, S.F.; Woodruff, K.; Tagg, N.; Barr, G.; Bass, M.; Tutto, M.D.; Guenette, R.; Laube, A.; Soleti, S.R.; Pontseele, W.V.D.; Church, E.; Dytman, S.; Graf, N.; Jiang, L.; Naples, D.; Paolone, V.; Wickremasinghe, D.A.; Nienaber, P.; Convery, M.; Eberly, B.; Rochester, L.; Tsai, Y.-T.; Usher, T.; Esquivel, J.; Hamilton, P.; Pulliam, G.; Soderberg, M.; Cohen, E.; Piasetzky, E.; Asaadi, J.; Bay, F.; Jen, C.-M.; Mariani, C.; Adams, C.; Balasubramanian, S.; Fleming, B.T.; Gramellini, E.; Hackenburg, A.; Luo, X.; Russell, B.; Tufanli, S.
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, 4 August 2017, 12(8))
Academic Journal
Auger, M.; Ereditato, A.; Goeldi, D.; Kreslo, I.; Lorca, D.; Luethi, M.; Rohr, C.R.V.; Sinclair, J.; Weber, M.S.
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, 6 October 2016, 11(10))
Academic Journal
Auger, M.; Blatter, A.; Ereditato, A.; Goeldi, D.; Janos, S.; Kreslo, I.; Luethi, M.; Rohr, C.R.V.; Strauss, T.; Weber, M.S.
In: Journal of Instrumentation . (Journal of Instrumentation, 16 March 2016, 11(3))
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[검색어] Rohr, C.R.V.
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어