학술논문
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1~20
Academic Journal
Anderson, Chris; Allezy, Arnaud; Chao, Weilun; Conley, Lucas; Cork, Carl; Cork, Will; Delano, Rene; DePonte, Jason; Dickinson, Michael; Gaines, Geoff; Gamsby, Jeff; Gullikson, Eric; Jones, Gideon; McQuade, Lauren; Miyakawa, Ryan; Naulleau, Patrick; Rekawa, Seno; Salmassi, Farhad; Vollmer, Brandon; Zehm, Daniel; Zhu, Wenhua
Proceedings of SPIE--the International Society for Optical Engineering, vol 11323
Academic Journal
Miyakawa, Ryan; Anderson, Chris; Zhu, Wenhua; Gaines, Geoff; Gamsby, Jeff; Cork, Carl; Jones, Gideon; Dickenson, Michael; Rekawa, Seno; Chao, Weilun; Oh, Sharon; Naulleau, Patrick
Proceedings of SPIE the International Society for Optical Engineering, vol 10957
Conference
Anderson, Chris; Allezy, Arnaud; Weilun Chao; Cork, Carl; Cork, Will; Delano, Rene; DePonte, Jason; Dickinson, Michael; Gaines, Geoff; Gamsby, Jeff; Gullikson, Eric; Jones, Gideon; Meyers, Stephen; Miyakawa, Ryan; Naulleau, Patrick; Rekawa, Seno; Salmassi, Farhad; Vollmer, Brandon; Zehm, Daniel; Wenhua Zhu
Proceedings of SPIE; 1/20/2019, Vol. 10957, p1095708-1-1095708-8, 8p
Academic Journal
Naulleau, Patrick P.; Anderson, Christopher N.; Baclea-an, Lorie-Mae; Denham, Paul; George, Simi; Goldberg, Kenneth A.; Jones, Gideon; McClinton, Brittany; Miyakawa, Ryan; Rekawa, Seno; Smith, Nathan
SPIE Proceedings. 7972:797202
Academic Journal
Naulleau, Patrick; Goldberg, Kenneth A.; Anderson, Erik; Cain, Jason P.; Denham, Paul; Hoef, Brian; Jackson, Keith; Morlens, Anne-Sophie; Rekawa, Seno; Dean, Kim
SPIE Proceedings. 5751:56
Academic Journal
Patrick P. Naulleau; Kenneth A. Goldberg; Erik Anderson; Jason P. Cain; Paul Denham; Keith Jackson; Anne-Sophie Morlens; Seno Rekawa; Farhad Salmassi
Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures Processing, Measurement, and Phenomena. 22:2962-2965
Academic Journal
Patrick Naulleau; Kenneth A. Goldberg; Erik H. Anderson; David Attwood; Phillip Batson; Jeffrey Bokor; Paul Denham; Eric Gullikson; Bruce Harteneck; Brian Hoef; Keith Jackson; Deirdre Olynick; Seno Rekawa; Farhad Salmassi; Ken Blaedel; Henry Chapman; Layton Hale; Paul Mirkarimi; Regina Soufli; Eberhard Spiller; Don Sweeney; John Taylor; Chris Walton; Donna O’Connell; Daniel Tichenor; Charles W. Gwyn; Pei-Yang Yan; Guojing Zhang
Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures Processing, Measurement, and Phenomena. 20:2829-2833
Academic Journal
Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures Processing, Measurement, and Phenomena. 18:2930-2934
Academic Journal
Seongtae Jeong; Lewis Johnson; Seno Rekawa; Chris C. Walton; Shon T. Prisbrey; Edita Tejnil; James H. Underwood; Jeffrey Bokor
Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures Processing, Measurement, and Phenomena. 17:3009-3013
Academic Journal
Seongtae Jeong; Mourad Idir; Yun Lin; Lewis Johnson; Seno Rekawa; Michael Jones; Paul Denham; Phil Batson; Rick Levesque; Patrick Kearney; Pei-Yang Yan; Eric Gullikson; James H. Underwood; Jeffrey Bokor
Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures Processing, Measurement, and Phenomena. 16:3430-3434
Academic Journal
Patrick P, Naulleau; Christopher N, Anderson; Erik H, Anderson; Nord, Andreson; Weilun, Chao; Changhoon, Choi; Kenneth A, Goldberg; Eric M, Gullikson; Seong-Sue, Kim; Donggun, Lee; Ryan, Miyakawa; Jongju, Park; Seno, Rekawa; Farhad, Salmassi
Optics Express. 22:20144
Academic Journal
Patrick Naulleau; Christopher N. Anderson; Lorie-Mae Baclea-an; Paul Denham; Simi George; Kenneth A. Goldberg; Gideon Jones; Brittany McClinton; Ryan Miyakawa; Iacopo Mochi; Warren Montgomery; Seno Rekawa; Tom Wallow
SPIE Proceedings. 7985:798509
Conference
Jeong, Seongtae; Johnson, Lewis; Lin, Yun; Rekawa, Seno; Yan, Pei-Yang; Kearney, Patrick A.; Tejnil, Edita; Underwood, James H.; Bokor, Jeffrey
In: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering . (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 1999, 3676(I):298-308)
Conference
In: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering . (Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 1999, 3873:I/)
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