학술논문
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1~10
Conference
Hermozo, L.; Puech, J.; Brogniez, H.; Roca, R.; Fiolleau, T.; Chaboureau, J.-P.; Auguste, F.; Bougniol, D.; Delanoe, J.; Amiot, T.; Steunou, N.; Redondo, R.; Boulanger, X.; Schmisser, R.; Carayon, B.; Melle, S.; Malassingne, C.; Costes, L.; Orlhac, J.-C.; Moraine, A.; Le Drogo, S.; Tucker, C.; Ade, P.; Walker, I.; Treuttel, J.; Gay, G.; Gatilova, L.; Feret, A.; Vacelet, T.; Krieg, J.-M.
IGARSS 2024 - 2024 IEEE International Geoscience and Remote Sensing Symposium Geoscience and Remote Sensing Symposium, IGARSS 2024 - 2024 IEEE International. :5679-5682 Jul, 2024
Academic Journal
Oh, H.; Xiang, Y.; Redondo, F.G.; Gupta, M.K.; Perumkunnil, M.; Bardon, M.G.; Dhiman, A.; Gowda, S.N.; Walke, A.; Fantini, A.; Yasin, F.; Kar, G.S.; Hellings, G.; Dehaene, W.
IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 71(9):5380-5387 Sep, 2024
Report
Egge, J.; Leppla-Weber, D.; Knirck, S.; Garcia, B. Ary dos Santos; Bergermann, D.; Caldwell, A.; Dabhi, V.; Diaconu, C.; Diehl, J.; Dvali, G.; Ekmedžić, M.; Gallo, F.; Garutti, E.; Heyminck, S.; Hubaut, F.; Ivanov, A.; Jochum, J.; Karst, P.; Kramer, M.; Kreikemeyer-Lorenzo, D.; Krieger, C.; Lee, C.; Lindner, A.; Maldonado, J. P. A.; Majorovits, B.; Martens, S.; Martini, A.; Miyazaki, A.; Öz, E.; Pralavorio, P.; Raffelt, G.; Ringwald, A.; Redondo, J.; Roset, S.; Salama, N.; Schaffran, J.; Schmidt, A.; Steffen, F.; Strandhagen, C.; Usherov, I.; Wang, H.; Wieching, G.; Cancelo, G.; Di Federico, M.; Hoshino, G.; Stefanazzi, L.
Report
The MADMAX Collaboration; Garcia, B. Ary Dos Santos; Bergermann, D.; Caldwell, A.; Dabhi, V.; Diaconu, C.; Diehl, J.; Dvali, G.; Egge, J.; Ekmedzic, M.; Gallo, F.; Garutti, E.; Heyminck, S.; Hubaut, F.; Ivanov, A.; Jochum, J.; Karst, P.; Kramer, M.; Kreikemeyer-Lorenzo, D.; Krieger, C.; Leppla-Weber, D.; Lindner, A.; Maldonado, J.; Majorovits, B.; Martens, S.; Martini, A.; Öz, E.; Pralavorio, P.; Raffelt, G.; Redondo, J.; Ringwald, A.; Roset, S.; Schaffran, J.; Schmidt, A.; Steffen, F.; Strandhagen, C.; Usherov, I.; Wang, H.; Wieching, G.
Conference
Gupta, M.; Xiang, Y.; Garcia-Redondo, F.; Cai, K.; Abdi, D.; Liu, H.-H.; Rao, S.; Hiblot, G.; Couet, S.; Garcia-Bardon, M.; Hellings, G.
2023 International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2023 International. :1-4 Dec, 2023
Report
Mennella, A.; Ade, P.; Almela, A.; Amico, G.; Arnaldi, L. H.; Aumont, J.; Banfi, S.; Battistelli, E. S.; Bélier, B.; Bergé, L.; Bernard, J. -Ph.; de Bernardis, P.; Bersanelli, M.; Bonaparte, J.; Bonilla, J. D.; Bunn, E.; Buzi, D.; Cacciotti, F.; Camilieri, D.; Cavaliere, F.; Chanial, P.; Chapron, C.; Colombo, L.; Columbro, F.; Coppolecchia, A.; Costanza, M. B.; D'Alessandro, G.; De Gasperis, G.; De Leo, M.; De Petris, M.; Del Castillo, N.; Dheilly, S.; Etchegoyen, A.; Ferazzoli, S.; Ferreyro, L. P.; Franceschet, C.; Lerena, M. M. Gamboa; Ganga, K.; García, B.; Redondo, M. E. García; Gayer, D.; Geria, J. M.; Gervasi, M.; Giard, M.; Gilles, V.; Berisso, M. Gómez; Gonzalez, M.; Gradziel, M.; Grandsire, L.; Hamilton, J. -Ch.; Hampel, M. R.; Isopi, G.; Kaplan, J.; Lamagna, L.; Lazarte, F.; Loucatos, S.; Maffei, B.; Mancilla, A.; Mandelli, S.; Manzan, E.; Marchitelli, E.; Marnieros, S.; Marty, W.; Masi, S.; May, A.; Maya, J.; McCulloch, M.; Mele, L.; Melo, D.; Mirón-Granese, N.; Montier, L.; Mousset, L.; Müller, N.; Nati, F.; O'Sullivan, C.; Paiella, A.; Pajot, F.; Paradiso, S.; Pascale, E.; Passerini, A.; Pelosi, A.; Perciballi, M.; Pezzotta, F.; Piacentini, F.; Piat, M.; Piccirillo, L.; Pisano, G.; Platino, M.; Polenta, G.; Prêle, D.; Rambaud, D.; Ramos, G.; Rasztocky, E.; Régnier, M.; Reyes, C.; Rodríguez, F.; Rodríguez, C. A.; Romero, G. E.; Salum, J. M.; Schillaci, A.; Scóccola, C.; Stankowiak, G.; Tartari, A.; Thermeau, J. -P.; Timbie, P.; Tomasi, M.; Torchinsky, S.; Tucker, G.; Tucker, C.; Vacher, L.; Voisin, F.; Wright, M.; Zannoni, M.; Zullo, A.
Conference
O'Sullivan, C.; Burke, D.; De Petris, M.; Gradziel, M.; Hamilton, J.-Ch.; Torchinsky, S.; Scully, S.; Wright, M.; Ade, P.; Almela, A.; Amico, G.; Arnaldi, L. H.; Aumont, J.; Banfi, S.; Battistelli, E.S.; Belier, B.; Berge, L.; Bernard, J.-Ph.; Bersanelli, M.; Bonaparte, J.; Bonilla, J.D.; Bunn, E.; Buzi, D.; Camilieri, D.; Cavaliere, F.; Chanial, P.; Chapron, C.; Colombo, S.; Columbro, F.; Coppolecchia, A.; Costanza, M.B.; D'Alessandro, G.; de Bernardis, P.; De Gasperis, G.; De Leo, M.; Del Castillo, N.; Dheilly, S.; Etchegoyen, A.; Fama, M.; Ferreyro, L.P.; Franceschet, C.; Lerena, M.M. Gamboa; Ganga, K.M.; Garcia, B.; Garcia Redondo, M.E.; Gayer, D.; Geria, J.M.; Gervasi, M.; Giard, M.; Gilles, V.; Gomez Berisso, M.; Gonzalez, M.; Grandsire, L.; Hampel, M.R.; Isopi, G.; Kaplan, J.; Kristukat, C.; Lamagna, L.; Lazarte, F.; Loucatos, S.; Mancilla, A.; Mandelli, D.; Manzan, E.; Marnieros, S.; Marty, W.; Masi, S.; May, A.; Maya, J.; McCulloch, M.; Mele, L.; Melo, D.; Mennella, A.; Miron-Granese, N.; Montier, L.; Mousset, L.; Muller, N.; Murphy, J.D.; Nati, F.; Paiella, A.; Pajot, F.; Paradiso, S.; Passerini, A.; Pelosi, A.; Perciballi, M.; Pezzotta, F.; Piacentini, F.; Piat, M.; Piccirillo, L.; Pisano, G.; Platino, M.; Polenta, G.; Prele, D.; Rambaud, D.; Ramos, G.; Rasztocky, E.; Regnier, M.; Reyes, C.; Rodriguez, F.; Rodriguez, C.A.; Romero, G. E.; Salum, J.M.; Schillaci, A.; Scoccola, C.; Stankowiak, G.; Supanitsky, A.D.; Taboada, A.; Tartari, A.; Thermeau, J.-P.; Timbie, P.; Tucker, G.; Tucker, C.; Vacher, L.; Voisin, F.; Zannoni, M.; Zullo, A.
2023 17th European Conference on Antennas and Propagation (EuCAP) Antennas and Propagation (EuCAP), 2023 17th European Conference on. :1-5 Mar, 2023
Report
LISA Consortium Waveform Working Group; Afshordi, Niayesh; Akçay, Sarp; Seoane, Pau Amaro; Antonelli, Andrea; Aurrekoetxea, Josu C.; Barack, Leor; Barausse, Enrico; Benkel, Robert; Bernard, Laura; Bernuzzi, Sebastiano; Berti, Emanuele; Bonetti, Matteo; Bonga, Béatrice; Bozzola, Gabriele; Brito, Richard; Buonanno, Alessandra; Cárdenas-Avendaño, Alejandro; Casals, Marc; Chernoff, David F.; Chua, Alvin J. K.; Clough, Katy; Colleoni, Marta; Dhesi, Mekhi; Druart, Adrien; Durkan, Leanne; Faye, Guillaume; Ferguson, Deborah; Field, Scott E.; Gabella, William E.; García-Bellido, Juan; Gracia-Linares, Miguel; Gerosa, Davide; Green, Stephen R.; Haney, Maria; Hannam, Mark; Heffernan, Anna; Hinderer, Tanja; Helfer, Thomas; Hughes, Scott A.; Husa, Sascha; Isoyama, Soichiro; Katz, Michael L.; Kavanagh, Chris; Khanna, Gaurav; Kidder, Larry E.; Korol, Valeriya; Küchler, Lorenzo; Laguna, Pablo; Larrouturou, François; Tiec, Alexandre Le; Leather, Benjamin; Lim, Eugene A.; Lim, Hyun; Littenberg, Tyson B.; Long, Oliver; Lousto, Carlos O.; Lovelace, Geoffrey; Lukes-Gerakopoulos, Georgios; Lynch, Philip; Macedo, Rodrigo P.; Markakis, Charalampos; Maggio, Elisa; Mandel, Ilya; Maselli, Andrea; Mathews, Josh; Mourier, Pierre; Neilsen, David; Nagar, Alessandro; Nichols, David A.; Novák, Jan; Okounkova, Maria; O'Shaughnessy, Richard; Oshita, Naritaka; O'Toole, Conor; Pan, Zhen; Pani, Paolo; Pappas, George; Paschalidis, Vasileios; Pfeiffer, Harald P.; Pompili, Lorenzo; Pound, Adam; Pratten, Geraint; Rüter, Hannes R.; Ruiz, Milton; Sam, Zeyd; Sberna, Laura; Shapiro, Stuart L.; Shoemaker, Deirdre M.; Sopuerta, Carlos F.; Spiers, Andrew; Sundar, Hari; Tamanini, Nicola; Thompson, Jonathan E.; Toubiana, Alexandre; Tsokaros, Antonios; Upton, Samuel D.; van de Meent, Maarten; Vernieri, Daniele; Wachter, Jeremy M.; Warburton, Niels; Wardell, Barry; Witek, Helvi; Witzany, Vojtěch; Yang, Huan; Zilhão, Miguel; Albertini, Angelica; Arun, K. G.; Bezares, Miguel; Bonilla, Alexander; Chapman-Bird, Christian; Cownden, Bradley; Cunningham, Kevin; Devitt, Chris; Dolan, Sam; Duque, Francisco; Dyson, Conor; Fryer, Chris L.; Gair, Jonathan R.; Giacomazzo, Bruno; Gupta, Priti; Han, Wen-Biao; Haas, Roland; Hirschmann, Eric W.; Huerta, E. A.; Jetzer, Philippe; Kelly, Bernard; Khalil, Mohammed; Lewis, Jack; Lloyd-Ronning, Nicole; Marsat, Sylvain; Nardini, Germano; Neef, Jakob; Ottewill, Adrian; Pantelidou, Christiana; Piovano, Gabriel Andres; Redondo-Yuste, Jaime; Sagunski, Laura; Stein, Leo C.; Skoupý, Viktor; Sperhake, Ulrich; Speri, Lorenzo; Spieksma, Thomas F. M.; Stevens, Chris; Trestini, David; Vañó-Viñuales, Alex
Conference
2022 IEEE International Conference on Big Data (Big Data) Big Data (Big Data), 2022 IEEE International Conference on. :2515-2521 Dec, 2022
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