학술논문
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1~20
Conference
Zhou, Kan; Guo, Xin; Bian, Yuyang; Zhou, Wenzhan; Zhang, Yu; van Mil, Ijen; Shi, Elly; Zhu, Robbin; Zhu, Jo; Mao, Ivan; Koolen, Elvira; Chi, Kaiyuan; Trinchant, Jose Carlos Font; Isai, Gratiela; Chen, Selena; Wang, Jing; Wang, Pei; Su, Shane; Zhu, Xuechen; Lin, Kolos; Pao, Kelvin; Thuijs, Koen; Lee, Peja; Elmalk, Abdalmohsen; Raghunathan, Sudharshanan; Zhang, Andy; Liang, Leon; Wang, Xander; Zhang, Gary
2021 International Workshop on Advanced Patterning Solutions (IWAPS) Advanced Patterning Solutions (IWAPS), 2021 International Workshop on. :1-7 Dec, 2021
Academic Journal
Menchtchikov, Boris; Socha, Robert; Zheng, Chumeng; Raghunathan, Sudharshanan; Karssemeijer, Leendertjan; Lyulina, Irina; Lee, Jonathan; Aarts, Igor; Shome, Krishanu; de Ruiter, Chris; Rijpstra, Manouk; Megens, Henry; Brinkhof, Ralph; Teeuwisse, Floris; Li, Chung-Tien; Hermans, Jan; Leray, Philippe
Optical Microlithography XXXI
Academic Journal
Jing Guo; Tim Tang; Shu-Yu Lai; Pooya Sharifani; Amir Nojoomi; Adam Lai; Kyoyeon Cho; Bo Wang; Ton Kiers; Jasper van Rens; Abdalmohsen Elmalk; Mark O'Mahony; Jimmy Fan; Yi-Hsin Chang; Lingling Pu; Sudharshanan Raghunathan
Metrology, Inspection, and Process Control XXXIX. :86
Academic Journal
Wallace He; Camille Xu; Daniels Bae; Kunyuan Chen; Andy Lan; Richer Yang; Abdalmohsen Elmalk; Aiqin Jiang; Fuming Wang; Double Chung; Shane Su; Kuo-Feng Pao; Oliver D. Patterson; Sudharshanan Raghunathan; Marc Kea; Jason Liao
Metrology, Inspection, and Process Control for Semiconductor Manufacturing XXXV. :76
Academic Journal
Wenzhan Zhou; Fang Wei; Yu Zhang; Jun Zhu; Chan-Yuan Hu; Kyoyeon Cho; Antonio Corradi; KUO-FENG PAO; Vivek Jain; Abdalmohsen Elmalk; Sudharshanan Raghunathan; Stefan Hunsche; Robbin Zhu; Selena Chen; Luke Lin; Leon Liang; Lei Liu
Metrology, Inspection, and Process Control for Semiconductor Manufacturing XXXV. :62
Academic Journal
Kuan-Ming Chen; Wolfgang Henke; Ji-Hoon Jung; Ewa Kasperkiewicz; Anita Bouma; Rizvi Rahman; Gratiela Isai; Gwang-Gon Kim; Sotirios Tsiachris; Jae-Doug Yoo; Yuna Park; JaeYoung Park; Jonggeun Won; Nang-Lyeom Oh; Hsin-Yu Chen; WeiTai Lin; Chih-Hung Hsieh; Kuo-Feng Pao; Kyoyeon Cho; Abdalmohsen Elmalk; Sudharshanan Raghunathan; Taekwon Jee; Seung-Uk Jeong; Jeongwoo Jae; Sang-Woo Kim; Dongyoung Lee; Jungchan Kim; WonKwang Ma; Sang-Ho Lee; Chan-Ha Park
Metrology, Inspection, and Process Control for Semiconductor Manufacturing XXXV. :59
Academic Journal
Sudharshanan Raghunathan; Obert R. Wood; Pawitter Mangat; Erik Verduijn; Vicky Philipsen; Eric Hendrickx; Rik Jonckheere; Kenneth A. Goldberg; Markus P. Benk; Patrick Kearney; Zachary Levinson; Bruce W. Smith
Journal of Vacuum Science & Technology B, Nanotechnology and Microelectronics: Materials, Processing, Measurement, and Phenomena. 32
Academic Journal
Obert Wood; Sudharshanan Raghunathan; Pawitter Mangat; Vicky Philipsen; Vu Luong; Patrick Kearney; Erik Verduijn; Aditya Kumar; Suraj Patil; Christian Laubis; Victor Soltwisch; Frank Scholze
SPIE Proceedings. 9422:94220I
Academic Journal
Journal of Micro/Nanolithography, MEMS, and MOEMS. 12:043001
Academic Journal
SPIE Proceedings. 8679:867918
Academic Journal
SPIE Proceedings. 8679:86790P
Academic Journal
Emily Gallagher; Gregory McIntyre; Tom Wallow; Sudharshanan Raghunathan; Obert Wood; Louis Kindt; John Whang; Monica Barrett
SPIE Proceedings. 7969:79690W
Academic Journal
Kevin Orvek; Jaewoong Sohn; Jin Choi; Roxann Engelstad; Sudharshanan Raghunathan; John Zimmerman; Thomas Laursen; Yoshitake Shusuke; Tsutomu Shoki
SPIE Proceedings. 7379:73790Q
Academic Journal
Oleg Kritsun; Bruno La Fontaine; Yudong Hao; Jie Li; Obert Wood; Sudharshanan Raghunathan; Tim Brunner; Chiew-Seng Koay; Hiroyuki Mizuno
SPIE Proceedings. 7271:727121
Conference
Mizuno, Hiroyuki; McIntyre, Gregory; Koay, Chiew-seng; Burkhardt, Martin; He, Long; Hartley, John; Johnson, Corbet; Raghunathan, Sudharshanan; Goldberg, Kenneth; Mochi, Iacopo; La Fontaine, Bruno; Wood, Obert
Proceedings of SPIE; Nov2009 Part 3, Issue 1, p73790J-73790J-11, 11p
News
Journal of Engineering. March 4, 2015, p6222.
News
Journal of Engineering. December 31, 2014, p6132.
News
Journal of Engineering. April 2, 2014, p10466.
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