학술논문
전자자료 공정이용 안내
우리 대학 도서관에서 구독·제공하는 모든 전자자료(데이터베이스, 전자저널, 전자책 등)는 국내외 저작권법과 출판사와의 라이선스 계약에 따라 엄격하게 보호를 받고 있습니다.
전자자료의 비정상적 이용은 출판사로부터의 경고, 서비스 차단, 손해배상 청구 등 학교 전체에 심각한 불이익을 초래할 수 있으므로, 아래의 공정이용 지침을 반드시 준수해 주시기 바랍니다.
공정이용 지침
- 전자자료는 개인의 학습·교육·연구 목적의 비영리적 사용에 한하여 이용할 수 있습니다.
- 합리적인 수준의 다운로드 및 출력만 허용됩니다. (일반적으로 동일 PC에서 동일 출판사의 논문을 1일 30건 이하 다운로드할 것을 권장하며, 출판사별 기준에 따라 다를 수 있습니다.)
- 출판사에서 제공한 논문의 URL을 수업 관련 웹사이트에 게재할 수 있으나, 출판사 원문 파일 자체를 복제·배포해서는 안 됩니다.
- 본인의 ID/PW를 타인에게 제공하지 말고, 도용되지 않도록 철저히 관리해 주시기 바랍니다.
불공정 이용 사례
- 전자적·기계적 수단(다운로딩 프로그램, 웹 크롤러, 로봇, 매크로, RPA 등)을 이용한 대량 다운로드
- 동일 컴퓨터 또는 동일 IP에서 단시간 내 다수의 원문을 집중적으로 다운로드하거나, 전권(whole issue) 다운로드
- 저장·출력한 자료를 타인에게 배포하거나 개인 블로그·웹하드 등에 업로드
- 상업적·영리적 목적으로 자료를 전송·복제·활용
- ID/PW를 타인에게 양도하거나 타인 계정을 도용하여 이용
- EndNote, Mendeley 등 서지관리 프로그램의 Find Full Text 기능을 이용한 대량 다운로드
- 출판사 콘텐츠를 생성형 AI 시스템에서 활용하는 행위(업로드, 개발, 학습, 프로그래밍, 개선 또는 강화 등)
위반 시 제재
- 출판사에 의한 해당 IP 또는 기관 전체 접속 차단
- 출판사 배상 요구 시 위반자 개인이 배상 책임 부담
'학술논문'
에서 검색결과 800건 | 목록
1~20
Report
Double Chooz Collaboration; Abrahão, T.; Almazan, H.; Anjos, J. C. dos; Appel, S.; Barriere, J. C.; Bekman, I.; Bezerra, T. J. C.; Bezrukov, L.; Blucher, E.; Bourgeois, C.; Buck, C.; Busenitz, J.; Cabrera, A.; Cerrada, M.; Chauveau, E.; Chimenti, P.; Corpace, O.; Dawson, J. V.; Du, J. F.; Djurcic, Z.; Etenko, A.; Furuta, H.; Gil-Botella, I.; Givaudan, A.; Gomez, H.; Goodman, M. C.; Hara, T.; Haser, J.; Hellwig, D.; Hourlier, A.; Ishitsuka, M.; Jochum, J.; Jollet, C.; Kale, K.; Kaneda, M.; Karakac, M.; Kawasaki, T.; Kemp, E.; Kryn, D.; Kuze, M.; Lachenmaier, T.; Lane, C. E.; Lasserre, T.; Lhuillier, D.; Lima Jr, H. P.; Lindner, M.; LoSecco, J. M.; Lubsandorzhiev, B.; Maeda, J.; Mariani, C.; Maricic, J.; Martino, J.; Matsubara, T.; Mention, G.; Meregaglia, A.; Miletic, T.; Milincic, R.; Minotti, A.; Mougeot, X.; Navas-Nicolás, D.; Nikitenko, Y.; Novella, P.; Oberauer, L.; Obolensky, M.; Onillon, A.; Oralbaev, A.; Palomares, C.; Pepe, I. M.; Perisse, L.; Pronost, G.; Reichenbacher, J.; Schönert, S.; Schoppmann, S.; Scola, L.; Sharankova, R.; Sibille, V.; Sinev, V.; Skorokhvatov, M.; Soldin, P.; Stahl, A.; Stancu, I.; Stock, M. R.; Stokes, L. F. F.; Suekane, F.; Sukhotin, S.; Sumiyoshi, T.; Veyssiere, C.; Viaud, B.; Vivier, M.; Wagner, S.; Wiebusch, C.; Yang, G.; Yermia, F.
Report
LiquidO Collaboration; Apilluelo, J.; Asquith, L.; Bannister, E. F.; Barradas, N. P.; Beney, J. L.; Santos, M. Berberan e; de la Bernardie, X.; Bezerra, T. J. C.; Bongrand, M.; Bourgeois, C.; Breton, D.; Buck, C.; Busto, J.; Burns, K.; Cabrera, A.; Cadiou, A.; Calvo, E.; Chauveau, E.; Cattermole, B. J.; Chen, M.; Chimenti, P.; Cowen, D. F.; Dusini, S.; Earle, A.; Felizardo, M.; Martins, C. Frigerio; Galán, J.; García, J. A.; Gazzini, R.; Gibson-Foster, A.; Girard-Carillo, C.; Gramlich, B.; Grassi, M.; Griffith, W. C.; Gómez-Cadenas, J. J.; Guitière, M.; Haddad, F.; Hartnell, J.; Holin, A.; Irastorza, I. G.; Jovanovic, I.; Kling, A.; Koch, L.; Lasorak, P.; Du, J. F. Le; Lefebvre, C.; Lefevre, F.; Loaiza, P.; Lock, J. A.; Luzón, G.; Maalmi, J.; Malhado, J. P.; Mantovani, F.; Marques, J. G.; Marquet, C.; Martínez, M.; Navas-Nicolás, D.; Nunokawa, H.; Obolensky, M.; Ochoa-Ricoux, J. P.; Palmeira, T.; Palomares, C.; Pedras, B.; Petyt, D.; Pillot, P.; Pin, A.; Porter, J. C. C.; Pravikoff, M. S.; Rodrigues, N.; Roche, M.; Rosero, R.; Roskovec, B.; Roy, N.; Sarsa, M. L.; Schoppmann, S.; Serafini, A.; Shepherd-Themistocleous, C.; Shorrock, W.; Silva, M.; Simard, L.; Soleti, S. R.; Steiger, H. Th. J.; Stocco, D.; Strati, V.; Stutzmann, J. S.; Suekane, F.; Tunc, A.; Tuccori, N.; Verdugo, A.; Viaud, B.; Wakely, S. M.; Weber, A.; Wendel, G.; Wilhelm, A. S.; Yeh, M.; Yermia, F.
Report
Consortium, LiquidO; Cabrera, A.; Chen, M.; Mantovani, F.; Serafini, A.; Strati, V.; Apilluelo, J.; Asquith, L.; Beney, J. L.; Bezerra, T. J. C.; Bongrand, M.; Bourgeois, C.; Breton, D.; Briere, M.; Busto, J.; Cadiou, A.; Calvo, E.; Chaumat, V.; Chauveau, E.; Cattermole, B. J.; Chimenti, P.; Delafosse, C.; de Kerret, H.; Dusini, S.; Earle, A.; Frigerio-Martins, C.; Galán, J.; García, J. A.; Gazzini, R.; Gibson-Foster, A.; Gallas, A.; Girard-Carillo, C.; Griffith, W. C.; Haddad, F.; Hartnell, J.; Hourlier, A.; Hull, G.; Irastorza, I. G.; Koch, L.; Laniéce, P.; Du, J. F. Le; Lefebvre, C.; Lefevre, F.; Legrand, F.; Loaiza, P.; Lock, J. A.; Luzón, G.; Maalmi, J.; Marquet, C.; Martínez, M.; Mathon, B.; Ménard, L.; Navas-Nicolás, D.; Nunokawa, H.; Ochoa-Ricoux, J. P.; Obolensky, M.; Palomares, C.; Pillot, P.; Porter, J. C. C.; Pravikoff, M. S.; Ramarijaona, H.; Roche, M.; Rosier, P.; Roskovec, B.; Sarsa, M. L.; Schoppmann, S.; Shorrock, W.; Simard, L.; Steiger, H. Th. J.; Stocco, D.; Stutzmann, J. S.; Suekane, F.; Tunc, A.; Verdier, M. -A.; Verdugo, A.; Viaud, B.; Wakely, S. M.; Weber, A.; Yermia, F.
Academic Journal
Tarasova, E. A.; Obolensky, S. V.; Khazanova, S. V.; Grigoryeva, N. N.; Golikov, O. L.; Ivanov, A. B.; Puzanov, A. S.
Semiconductors. 54(9):1155-1160
Report
Double Chooz Collaboration; de Kerret, H.; Abe, Y.; Aberle, C.; Abrahão, T.; Ahijado, J. M.; Akiri, T.; Alarcón, J. M.; Alba, J.; Almazan, H.; Anjos, J. C. dos; Appel, S.; Ardellier, F.; Barabanov, I.; Barriere, J. C.; Baussan, E.; Baxter, A.; Bekman, I.; Bergevin, M.; Bernstein, A.; Bertoli, W.; Bezerra, T. J. C.; Bezrukov, L.; Blanco, C.; Bleurvacq, N.; Blucher, E.; Bonet, H.; Bongrand, M.; Bowden, N. S; Brugière, T.; Buck, C.; Avanzini, M. Buizza; Busenitz, J.; Cabrera, A.; Calvo, E.; Camilleri, L.; Carr, R.; Cazaux, S.; Cela, J. M.; Cerrada, M.; Chang, P. J.; Charon, P.; Chauveau, E.; Chimenti, P.; Classen, T.; Collin, A. P.; Conover, E.; Conrad, J. M; Cormon, S.; Corpace, O.; Courty, B.; Crespo-Anadón, J. I.; Cribier, M.; Crum, K.; Cuadrado, S.; Cucoanes, A.; D'Agostino, M.; Damon, E.; Dawson, J. V.; Dazeley, S.; Dierckxsens, M.; Dietrich, D.; Djurcic, Z.; Dorigo, F.; Dracos, M.; Durand, V.; Efremekov, Y.; Elnimr, M.; Etenko, A.; Falk, E.; Fallot, M.; Fechner, M.; Felde, J.; Fernandes, S. M.; Fernández-Bedoya, C.; Francia, D.; Franco, D.; Fischer, V.; Franke, A. J.; Franke, M.; Furuta, H.; Garcia, F.; Garcia, J.; Gil-Botella, I.; Giot, L.; Givaudan, A.; Göger-Neff, M.; Gomez, H.; Gonzalez, L. F. G.; Goodenough, L.; Goodman, M. C.; Goon, J.; Gramlich, B.; Greiner, D.; Guertin, A.; Guillon, B.; Habib, S. M.; Haddad, Y.; Hara, T.; Hartmann, F. X.; Hartnell, J.; Haser, J.; Hatzikoutelis, A.; Hellwig, D.; Hervé, S.; Hofacker, R.; Horton-Smith, G.; Hourlier, A.; Ishitsuka, M.; Jänner, K.; Jiménez, S.; Jochum, J.; Jollet, C.; Kaether, F.; Kale, K.; Kalousis, L.; Kamyshkov, Y.; Kaneda, M.; Kaplan, D. M.; Karakac, M.; Kawasaki, T.; Kemp, E.; Kibe, Y.; Kirchner, T.; Konno, T.; Kryn, D.; Kutter, T.; Kuze, M.; Lachenmaier, T.; Lane, C. E.; Langbrandtner, C.; Lasserre, T.; Lastoria, C.; Latron, L.; Leonardo, C.; Letourneau, A.; Lhuillier, D.; Lima Jr, H. P.; Lindner, M.; López-Castaño, J. M.; LoSecco, J. M.; Lubsandorzhiev, B.; Lucht, S.; Maeda, J.; Maesano, C. N.; Mariani, C.; Maricic, J.; Marie, F.; Martinez, J. J.; Martino, J.; Matsubara, T.; McKee, D.; Meigner, F.; Mention, G.; Meregaglia, A.; Meyer, J. P.; Miletic, T.; Milincic, R.; Millot, J. F.; Minotti, A.; Mirones, V.; Miyata, H.; Mueller, Th. A.; Nagasaka, Y.; Nakajima, K.; Navas-Nicolás, D.; Nikitenko, Y.; Novella, P.; Oberauer, L.; Obolensky, M.; Onillon, A.; Oralbaev, A.; Ostrovskiy, I.; Palomares, C.; Peeters, S. J. M.; Pepe, I. M.; Perasso, S.; Perrin, P.; Pfahler, P.; Porta, A.; Pronost, G.; Puras, J. C.; Quéval, R.; Ramirez, J. L.; Reichenbacher, J.; Reinhold, B.; Reissfelder, M.; Remoto, A.; Reyna, D.; Rodriguez, I.; Röhling, M.; Roncin, R.; Rudolf, N.; Rybolt, B.; Sakamoto, Y.; Santorelli, R.; Sato, F.; Schwan, U.; Scola, L.; Settimo, M.; Schönert, S.; Schoppmann, S.; Shaevitz, M. A.; Sharankova, R.; Sibille, V.; Sida, J. L.; Sinev, V.; Shrestha, D.; Skorokhvatov, M.; Soldin, P.; Spitz, J.; Stahl, A.; Stancu, I.; Starzynski, P.; Stock, M. R.; Stokes, L. F. F.; Strait, M.; Stüken, A.; Suekane, F.; Sukhotin, S.; Sumiyoshi, T.; Sun, Y.; Sun, Z.; Svoboda, R.; Tabata, H.; Tamura, N.; Terao, K.; Tonazzo, A.; Toral, F.; Toups, M.; Thi, H. Trinh; Valdivia, F.; Valdiviesso, G.; Vassilopoulos, N.; Verdugo, A.; Veyssiere, C.; Viaud, B.; Vignaud, D.; Vivier, M.; Wagner, S.; Wiebusch, C.; White, B.; Winslow, L.; Worcester, M.; Wurm, M.; Wurtz, J.; Yang, G.; Yáñez, J.; Yermia, F.; Zbiri, K.
Eur.Phys.J. C (2022) 82:804
Academic Journal
Loginov, B. A.; Blinnikov, D. Yu.; Vtorova, V. S.; Kirillova, V. V.; Liashko, E. A.; Makeev, V. S.; Pervykh, A. R.; Abrosimova, N. D.; Zabavichev, I. Yu.; Puzanov, A. S.; Volkova, E. V.; Tarasova, E. A.; Obolensky, S. V.
Technical Physics. 69(6):1629-1635
Report
The Double Chooz Collaboration; Abrahão, T.; Almazan, H.; Anjos, J. C. dos; Appel, S.; Barriere, J. C.; Bekman, I.; Bezerra, T. J. C.; Bezrukov, L.; Blucher, E.; Brugière, T.; Buck, C.; Busenitz, J.; Cabrera, A.; Cerrada, M.; Chauveau, E.; Chimenti, P.; Corpace, O.; Dawson, J. V.; Djurcic, Z.; Etenko, A.; Furuta, H.; Gil-Botella, I.; Givaudan, A.; Gomez, H.; Gonzalez, L. F. G.; Goodman, M. C.; Hara, T.; Haser, J.; Hellwig, D.; Hourlier, A.; Ishitsuka, M.; Jochum, J.; Jollet, C.; Kale, K.; Kaneda, M.; Karakac, M.; Kawasaki, T.; Kemp, E.; de Kerret, H.; Kryn, D.; Kuze, M.; Lachenmaier, T.; Lane, C. E.; Lasserre, T.; Lastoria, C.; Lhuillier, D.; Lima Jr, H. P.; Lindner, M.; López-Castaño, J. M.; LoSecco, J. M.; Lubsandorzhiev, B.; Maeda, J.; Mariani, C.; Maricic, J.; Martino, J.; Matsubara, T.; Mention, G.; Meregaglia, A.; Miletic, T.; Milincic, R.; Minotti, A.; Navas-Nicolás, D.; Novella, P.; Oberauer, L.; Obolensky, M.; Onillon, A.; Oralbaev, A.; Palomares, C.; Pepe, I. M.; Pronost, G.; Reichenbacher, J.; Reinhold, B.; Schönert, S.; Schoppmann, S.; Scola, L.; Sharankova, R.; Sibille, V.; Sinev, V.; Skorokhvatov, M.; Soldin, P.; Stahl, A.; Stancu, I.; Stokes, L. F. F.; Suekane, F.; Sukhotin, S.; Sumiyoshi, T.; Sun, Y.; Veyssiere, C.; Viaud, B.; Vivier, M.; Wagner, S.; Wiebusch, C.; Yang, G.; Yermia, F.
Eur. Phys. J. C 81, 775 (2021)
Report
Double Chooz Collaboration; Abrahão, T.; Almazan, H.; Anjos, J. C. dos; Appel, S.; Bekman, I.; Bezerra, T. J. C.; Bezrukov, L.; Blucher, E.; Brugière, T.; Buck, C.; Busenitz, J.; Cabrera, A.; Cerrada, M.; Chauveau, E.; Chimenti, P.; Dawson, J. V.; Djurcic, Z.; Etenko, A.; Furuta, H.; Gil-Botella, I.; Gonzalez, L. F. G.; Goodman, M. C.; Hara, T.; Hellwig, D.; Hourlier, A.; Ishitsuka, M.; Jochum, J.; Jollet, C.; Kale, K.; Kaneda, M.; Kawasaki, T.; Kemp, E.; de Kerret, H.; Kryn, D.; Kuze, M.; Lachenmaier, T.; Lane, C. E.; Lasserre, T.; Lastoria, C.; Lhuillier, D.; Lima Jr, H. P.; Lindner, M.; López-Castaño, J. M.; LoSecco, J. M.; Lubsandorzhiev, B.; Maeda, J.; Mariani, C.; Maricic, J.; Martino, J.; Matsubara, T.; Mention, G.; Meregaglia, A.; Miletic, T.; Milincic, R.; Minotti, A.; Navas-Nicolás, D.; Novella, P.; Oberauer, L.; Obolensky, M.; Onillon, A.; Oralbaev, A.; Palomares, C.; Pepe, I. M.; Pronost, G.; Reichenbacher, J.; Reinhold, B.; Schönert, S.; Schoppmann, S.; Sharankova, R.; Sibille, V.; Sinev, V.; Skorokhvatov, M.; Soldin, P.; Stahl, A.; Stancu, I.; Stokes, L. F. F.; Suekane, F.; Sukhotin, S.; Sumiyoshi, T.; Sun, Y.; Viaud, B.; Vivier, M.; Wagner, S.; Wiebusch, C.; Yang, G.; Yermia, F.
JHEP 01 (2021) 190
Academic Journal
Golikov, O. L.; Kodochigov, N. E.; Obolensky, S. V.; Puzanov, A. S.; Tarasova, E. A.; Khazanova, S. V.
Russian Microelectronics. 53(1):51-56
Academic Journal
Golikov, O. L.; Zabavichev, I. Yu.; Ivanov, A. S.; Obolensky, S. V.; Obolenskaya, E. S.; Paveliev, D. G.; Potekhin, A. A.; Puzanov, A. S.; Tarasova, E. A.; Khazanova, S. V.
Russian Microelectronics. 53(1):44-50
Academic Journal
Technical Physics. February, 2024, Vol. 69 Issue 2, p271, 3 p.
Report
Cabrera, A.; Abusleme, A.; Anjos, J. dos; Bezerra, T. J. C.; Bongrand, M.; Bourgeois, C.; Breton, D.; Buck, C.; Busto, J.; Calvo, E.; Chauveau, E.; Chen, M.; Chimenti, P.; Corso, F. Dal; De Conto, G.; Dusini, S.; Fiorentini, G.; Martins, C. Frigerio; Givaudan, A.; Govoni, P.; Gramlich, B.; Grassi, M.; Han, Y.; Hartnell, J.; Hugon, C.; Jiménez, S.; de Kerret, H.; Nevé, A. Le; Loaiza, P.; Maalmi, J.; Mantovani, F.; Manzanillas, L.; Marquet, C.; Martino, J.; Navas-Nicolás, D.; Nunokawa, H.; Obolensky, M.; Ochoa-Ricoux, J. P.; Ortona, G.; Palomares, C.; Pessina, F.; Pin, A.; Porter, J. C. C.; Pravikoff, M. S.; Roche, M.; Roskovec, B.; Roy, N.; Santos, C.; Schoppmann, S.; Serafini, A.; Simard, L.; Sisti, M.; Stanco, L.; Strati, V.; Stutzmann, J. -S.; Suekane, F.; Verdugo, A.; Viaud, B.; Volpe, C.; Vrignon, C.; Wagner, S.; Yermia, F.
Communications Physics 4, 273 (2021)
Academic Journal
Khazanova, S. V.; Golikov, O. L.; Puzanov, A. S.; Tarasova, E. A.; Zabavichev, I. Yu.; Potekhin, A. A.; Obolenskaya, E. S.; Ivanov, A. S.; Paveliev, D. G.; Obolensky, S. V.
Bulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics. 87(6):800-804
Academic Journal
Semiconductors. June, 2022, Vol. 56 Issue 6, p346, 6 p.
Academic Journal
Tarasova, E. A.; Khazanova, S. V.; Golikov, O. L.; Puzanov, A. S.; Obolensky, S. V.; Zemlyakov, V. E.
Semiconductors. December, 2021, Vol. 55 Issue 12, p895, 4 p.
Report
Abrahão, T.; Almazan, H.; Anjos, J. C. dos; Appel, S.; Baussan, E.; Bekman, I.; Bezerra, T. J. C.; Bezrukov, L.; Blucher, E.; Brugière, T.; Buck, C.; Busenitz, J.; Cabrera, A.; Camilleri, L.; Carr, R.; Cerrada, M.; Chauveau, E.; Chimenti, P.; Corpace, O.; Crespo-Anadón, J. I.; Dawson, J. V.; Dhooghe, J.; Djurcic, Z.; Dracos, M.; Etenko, A.; Fallot, M.; Franco, D.; Franke, M.; Furuta, H.; Gil-Botella, I.; Giot, L.; Givaudan, A.; Gögger-Neff, M.; Gómez, H.; Gonzalez, L. F. G.; Goodman, M.; Hara, T.; Haser, J.; Hellwig, D.; Hourlier, A.; Ishitsuka, M.; Jochum, J.; Jollet, C.; Kale, K.; Kampmann, P.; Kaneda, M.; Kaplan, D. M.; Kawasaki, T.; Kemp, E.; de Kerret, H.; Kryn, D.; Kuze, M.; Lachenmaier, T.; Lane, C.; Laserre, T.; Lastoria, C.; Lhuillier, D.; Lima, H.; Lindner, M.; López-Castaño, J. M.; LoSecco, J. M.; Lubsandorzhiev, B.; Maeda, J.; Mariani, C.; Maricic, J.; Matsubara, T.; Mention, G.; Meregaglia, A.; Miletic, T.; Minotti, A.; Nagasaka, Y.; Navas-Nicolás, D.; Novella, P.; Oberauer, L.; Obolensky, M.; Onillon, A.; Oralbaev, A.; Palomares, C.; Pepe, I.; Pronost, G.; Reinhold, B.; Rybolt, B.; Sakamoto, Y.; Santorelli, R.; Schönert, S.; Schoppmann, S.; Sharankova, R.; Sibille, V.; Sinev, V.; Skorokhvatov, M.; Soiron, M.; Soldin, P.; Stahl, A.; Stancu, I.; Stokes, L. F. F.; Strait, M.; Suekane, F.; Sukhotin, S.; Sumiyoshi, T.; Sun, Y.; Svoboda, B.; Tonazzo, A.; Veyssiere, C.; Vivier, M.; Wagner, S.; Wiebusch, C.; Wurm, M.; Yang, G.; Yermia, F.; Zimmer, V.
Journal of Cosmology and Astroparticle Physics 02 (2017) 017
Report
de Kerret, H.; Abrahão, T.; Almazan, H.; Anjos, J. C. dos; Appel, S.; Barriere, J. C.; Bekman, I.; Bezerra, T. J. C.; Bezrukov, L.; Blucher, E.; Brugière, T.; Buck, C.; Busenitz, J.; Cabrera, A.; Cerrada, M.; Chauveau, E.; Chimenti, P.; Corpace, O.; Dawson, J. V.; Djurcic, Z.; Etenko, A.; Franco, D.; Furuta, H.; Gil-Botella, I.; Givaudan, A.; Gomez, H.; Gonzalez, L. F. G.; Goodman, M. C.; Hara, T.; Haser, J.; Hellwig, D.; Hourlier, A.; Ishitsuka, M.; Jochum, J.; Jollet, C.; Kale, K.; Kaneda, M.; Karakac, M.; Kawasaki, T.; Kemp, E.; Kryn, D.; Kuze, M.; Lachenmaier, T.; Lane, C. E.; Lasserre, T.; Lastoria, C.; Lhuillier, D.; Lima Jr, H. P.; Lindner, M.; López-Castaño, J. M.; LoSecco, J. M.; Lubsandorzhiev, B.; Maeda, J.; Mariani, C.; Maricic, J.; Martino, J.; Matsubara, T.; Mention, G.; Meregaglia, A.; Miletic, T.; Milincic, R.; Navas-Nicolás, D.; Novella, P.; Nunokawa, H.; Oberauer, L.; Obolensky, M.; Onillon, A.; Oralbaev, A.; Palomares, C.; Pepe, I. M.; Pronost, G.; Reichenbacher, J.; Reinhold, B.; Settimo, M.; Schönert, S.; Schoppmann, S.; Scola, L.; Sharankova, R.; Sibille, V.; Sinev, V.; Skorokhvatov, M.; Soldin, P.; Stahl, A.; Stancu, I.; Stokes, L. F. F.; Suekane, F.; Sukhotin, S.; Sumiyoshi, T.; Sun, Y.; Tonazzo, A.; Veyssiere, C.; Viaud, B.; Vivier, M.; Wagner, S.; Wiebusch, C.; Wurm, M.; Yang, G.; Yermia, F.
Report
Abrahão, T.; Almazan, H.; Anjos, J. C. dos; Appel, S.; Bekman, I.; Bezerra, T. J. C.; Bezrukov, L.; Blucher, E.; Brugière, T.; Buck, C.; Busenitz, J.; Cabrera, A.; Camilleri, L.; Cerrada, M.; Chauveau, E.; Chimenti, P.; Corpace, O.; Crespo-Anadón, J. I.; Dawson, J. V.; Djurcic, Z.; Etenko, A.; Fallot, M.; Franco, D.; Furuta, H.; Gil-Botella, I.; Givaudan, A.; Gómez, H.; Gonzalez, L. F. G.; Goodman, M.; Hara, T.; Haser, J.; Hellwig, D.; Hourlier, A.; Ishitsuka, M.; Jochum, J.; Jollet, C.; Kale, K.; Kampmann, P.; Kaneda, M.; Kawasaki, T.; Kemp, E.; de Kerret, H.; Kryn, D.; Kuze, M.; Lachenmaier, T.; Lane, C.; Lasserre, T.; Lastoria, C.; Lhuillier, D.; Lima, H.; Lindner, M.; López-Castaño, J. M.; LoSecco, J. M.; Lubsandorzhiev, B.; Maeda, J.; Mariani, C.; Maricic, J.; Matsubara, T.; Mention, G.; Meregaglia, A.; Miletic, T.; Milincic, R.; Minotti, A.; Navas-Nicolás, D.; Novella, P.; Oberauer, L.; Obolensky, M.; Onillon, A.; Oralbaev, A.; Palomares, C.; Pepe, I.; Pronost, G.; Reinhold, B.; Santorelli, R.; Schönert, S.; Schoppmann, S.; Settimo, M.; Sharankova, R.; Sibille, V.; Sinev, V.; Skorokhvatov, M.; Soldin, P.; Stahl, A.; Stancu, I.; Stokes, L. F. F.; Suekane, F.; Sukhotin, S.; Sumiyoshi, T.; Sun, Y.; Tonazzo, A.; Veyssiere, C.; Viaud, B.; Vivier, M.; Wagner, S.; Wiebusch, C.; Yang, G.; Yermia, F.
Journal of Instrumentation, Volume 13, Number 01 (2018) P01031
Academic Journal
Semiconductors. December, 2021, Vol. 55 Issue 12, p885, 6 p.
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[검색어] Obolensky, S. V.
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어