학술논문
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1~20
Academic Journal
Janusz Błaszkowski; Bruno Tomio Goto; Szymon Zubek; Paweł Milczarski; Ryszard Malinowski; Piotr Niezgoda; Tomasz Błaszkowski
MycoKeys, Vol 124, Iss , Pp 383-384 (2025)
Conference
Kara, G.; Puybaret, R.; Malainou, A.; Tezcan, D. Sabuncuoglu; Figeys, B.; Jansen, R.; Rottenberg, X.; Tack, K.; Lieberman, I.; Cheyns, D.; Malinowski, P.E.; Heremans, P.; Pejovic, V.
2025 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2025 IEEE International. :1-4 Dec, 2025
Conference
Vora, Meet; Gudibande, Rajatesh R.; Sanchez, Elif; Paillart, Christophe; Karthik Putcha, Sai Murali; Malinowski, Karyn; McKeever, Kenneth H.
2025 IEEE BioSensors Conference (BioSensors) BioSensors Conference (BioSensors), 2025 IEEE. :1-4 Aug, 2025
Conference
Chen, X.; Mistry, A.; Sayed, A. El; Williams, C.; Iotti, L.; Atef, A.; Padmaraju, K.; Malinowski, M.; Che, D.; Sukkar, R.; Younce, R.; Horth, A.; Dziashko, Y.; Guan, H.; Shi, R.; Gill, D.; Seyoum, A.; Marsh, C.; Schmidt, M.; Burrell, G.; Basak, J.; Chapman, D.; Mikami, A.; Rylyakov, A.; Leven, A.; Jaeger, N. A. F.
2024 IEEE BiCMOS and Compound Semiconductor Integrated Circuits and Technology Symposium (BCICTS) BiCMOS and Compound Semiconductor Integrated Circuits and Technology Symposium (BCICTS), 2024 IEEE. :95-98 Oct, 2024
Academic Journal
IEEE Access Access, IEEE. 13:183706-183721 2025
Academic Journal
Chen, X.; Mistry, A.; Bahadori, M.; Padmaraju, K.; Malinowski, M.; Che, D.; Sukkar, R.; Younce, R.; Horth, A.; Dziashko, Y.; Guan, H.; Shi, R.; Gill, D.; Seyoum, A.; Naik, J.; Lim, D.; Sayed, A.E.; Rylyakov, A.; Schmidt, M.; Luo, Z.; Patel, R.; Magill, P.; Burrell, G.; Basak, J.; Chapman, D.; Mikami, A.; Man, Y.; Astolfi, M.; Leven, A.; Jaeger, N.A.F.
Journal of Lightwave Technology J. Lightwave Technol. Lightwave Technology, Journal of. 42(12):4296-4301 Jun, 2024
Conference
Kang, S.; Benelajla, M.; Ciamain, R. Mac; Ali, F.; Papadopoulou, A.; Shramkova, O.; Witters, L.; De Vos, J.; Malinowski, P.E.; Heremans, P.; Le Thomas, N.; Figeys, B.; Gehlhaar, R.; Genoe, J.
2023 International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2023 International. :1-4 Dec, 2023
Academic Journal
H. Segura; X. Pedruzo-Bagazgoitia; P. Weiss; S. K. Müller; T. Rackow; J. Lee; E. Dolores-Tesillos; I. Benedict; M. Aengenheyster; R. Aguridan; G. Arduini; A. J. Baker; J. Bao; S. Bastin; E. Baulenas; T. Becker; S. Beyer; H. Bockelmann; N. Brüggemann; L. Brunner; S. K. Cheedela; S. Das; J. Denissen; I. Dragaud; P. Dziekan; M. Ekblom; J. F. Engels; M. Esch; R. Forbes; C. Frauen; L. Freischem; D. García-Maroto; P. Geier; P. Gierz; Á. González-Cervera; K. Grayson; M. Griffith; O. Gutjahr; H. Haak; I. Hadade; K. Haslehner; S. ul Hasson; J. Hegewald; L. Kluft; A. Koldunov; N. Koldunov; T. Kölling; S. Koseki; S. Kosukhin; J. Kousal; P. Kuma; A. U. Kumar; R. Li; N. Maury; M. Meindl; S. Milinski; K. Mogensen; B. Niraula; J. Nowak; D. S. Praturi; U. Proske; D. Putrasahan; R. Redler; D. Santuy; D. Sármány; R. Schnur; P. Scholz; D. Sidorenko; D. Spät; B. Sützl; D. Takasuka; A. Tompkins; A. Uribe; M. Valentini; M. Veerman; A. Voigt; S. Warnau; F. Wachsmann; M. Wacławczyk; N. Wedi; K.-H. Wieners; J. Wille; M. Winkler; Y. Wu; F. Ziemen; J. Zimmermann; F. A.-M. Bender; D. Bojovic; S. Bony; S. Bordoni; P. Brehmer; M. Dengler; E. Dutra; S. Faye; E. Fischer; C. van Heerwaarden; C. Hohenegger; H. Järvinen; M. Jochum; T. Jung; J. H. Jungclaus; N. S. Keenlyside; D. Klocke; H. Konow; M. Klose; S. Malinowski; O. Martius; T. Mauritsen; J. P. Mellado; T. Mieslinger; E. Mohino; H. Pawłowska; K. Peters-von Gehlen; A. Sarré; P. Sobhani; P. Stier; L. Tuppi; P. L. Vidale; I. Sandu; B. Stevens
Geoscientific Model Development, Vol 18, Pp 7735-7761 (2025)
Academic Journal
IEEE Industry Applications Magazine IEEE Ind. Appl. Mag. Industry Applications Magazine, IEEE. 29(6):33-42 Jan, 2023
Academic Journal
Atmospheric Measurement Techniques, Vol 18, Pp 2619-2638 (2025)
Academic Journal
Pal, S.; Ghosh Majumder, M.; Resalayyan, R.; Gopakumar, K.; Umanand, L.; Malinowski, M.; Zielinski, D.
IEEE Transactions on Industrial Electronics IEEE Trans. Ind. Electron. Industrial Electronics, IEEE Transactions on. 69(12):12261-12269 Dec, 2022
Academic Journal
Kenny K. H. Yu; Sreyashi Basu; Gerard Baquer; Ryuhjin Ahn; Jennifer Gantchev; Sonali Jindal; Michael S. Regan; Zaki Abou-Mrad; Michael C. Prabhu; Marc J. Williams; Alicia D. D’Souza; Seth W. Malinowski; Kelsey Hopland; Yuval Elhanati; Sylwia A. Stopka; Alexei Stortchevoi; Charles Couturier; Zhong He; Jingjing Sun; Yulong Chen; Alexsandra B. Espejo; Kin Hoe Chow; Smitha Yerrum; Pei-Lun Kao; Brittany Parker Kerrigan; Lisa Norberg; Douglas Nielsen; The GBM TeamLab; Vinay K. Puduvalli; Jason Huse; Rameen Beroukhim; Betty Y. S. Kim; Sangeeta Goswami; Adrienne Boire; Sarah Frisken; Michael J. Cima; Matthias Holdhoff; Calixto-Hope G. Lucas; Chetan Bettegowda; Stuart S. Levine; Tejus A. Bale; Cameron Brennan; David A. Reardon; Frederick F. Lang; E. Antonio Chiocca; Keith L. Ligon; Forest M. White; Padmanee Sharma; Viviane Tabar; Nathalie Y. R. Agar
Nature Communications, Vol 16, Iss 1, Pp 1-23 (2025)
Academic Journal
Academic Journal
Paul R. Malinowski (ORCID 0000-0002-2063-2975 ); Jenna Fesemyer (ORCID 0009-0005-1964-6332 ); Minsook Kim (ORCID 0009-0007-0180-531X ); Paige Witte; Isaiah Soto; Kamilli Dugarte; Wesley J. Wilson (ORCID 0000-0002-0462-2726 )
Academic Journal
Jan Bieńkiewicz; Hanna Romanowicz; Miłosz Wilczyński; Grzegorz Jabłoński; Anna Stepowicz; Anna Obłękowska; Andrzej Malinowski; Beata Smolarz
BMC Cancer, Vol 21, Iss 1, Pp 1-6 (2021)
Academic Journal
C.M. Löschnauer; J. Mosca Toba; A.C. Hughes; S.A. King; M.A. Weber; R. Srinivas; R. Matt; R. Nourshargh; D.T.C. Allcock; C.J. Ballance; C. Matthiesen; M. Malinowski; T.P. Harty
PRX Quantum, Vol 6, Iss 4, p 040313 (2025)
Academic Journal
Karcz M; Abd-Elsayed A; Chakravarthy K; Mansoor A; Strand N; Malinowski MN; Latif U; Dickerson D; Suvar T; Lubenow T; Peskin E; D’Souza R; Cornidez E; Dudas A; Lam C; Farrell II M; Sim GY; Sebai M; Garcia R; Bracero L; Ibrahim Y; Mahmood SJ; Lawandy M; Jimenez D; Shahgholi L; Sochacki K; Ramadan ME; Francio V; Syed D; Deer T
Journal of Pain Research, Vol 17, Pp 3757-3790 (2024)
Conference
2019 IEEE 28th International Symposium on Industrial Electronics (ISIE) Industrial Electronics (ISIE), 2019 IEEE 28th International Symposium on. :2343-2348 Jun, 2019
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