학술논문
'학술논문'
에서 검색결과 194건 | 목록
1~10
Conference
2017 IEEE Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomenon (CEIDP) Electrical Insulation and Dielectric Phenomenon (CEIDP), 2017 IEEE Conference on. :30-33 Oct, 2017
Expert systems with applications. 201
Conference
2004 2nd International IEEE Conference on 'Intelligent Systems'. Proceedings (IEEE Cat. No.04EX791) Intelligent systems Intelligent Systems, 2004. Proceedings. 2004 2nd International IEEE Conference. 2:508-513 Vol.2 2004
Academic Journal
IEEE Transactions on Plasma Science IEEE Trans. Plasma Sci. Plasma Science, IEEE Transactions on. 40(3):909-918 Mar, 2012
Academic Journal
IEEE Transactions on Education IEEE Trans. Educ. Education, IEEE Transactions on. 53(4):672-676 Nov, 2010
Report
Alekhin, S.; Altarelli, G.; Amapane, N.; Andersen, J.; Andreev, V.; Arneodo, M.; Avati, V.; Baines, J.; Ball, R. D.; Banfi, A.; Baranov, S. P.; Bartels, J.; Behnke, O.; Bellan, R.; Blumlein, J.; Bottcher, H.; Bolognesi, S.; Boonekamp, M.; Bourilkov, D.; Bracinik, J.; Bruni, A.; Bruni, G.; Buckley, A.; Bunyatyan, A.; Buttar, C. M.; Butterworth, J. M.; Butterworth, S.; Cacciari, M.; Carli, T.; Cerminara, G.; Chekanov, S.; Ciafaloni, M.; Colferai, D.; Collins, J.; Cooper-Sarkar, A.; Corcella, G.; Corradi, M.; Cox, B. E.; Croft, R.; Czyczula, Z.; Dainese, A.; Dasgupta, M.; Davatz, G.; Del Debbio, L.; Delenda, Y.; De Roeck, A.; Diehl, M.; Diglio, S.; Dissertori, G.; Dittmar, M.; Ellis, J.; Eskola, K. J.; Eynck, T. O.; Feltesse, J.; Ferro, F.; Field, R. D.; Forshaw, J.; Forte, S.; Geiser, A.; Gieseke, S.; Glazov, A.; Gleisberg, T.; Golonka, P.; Gotsman, E.; Grindhammer, G.; Grothe, M.; Group, C.; Groys, M.; Guffanti, A.; Gustafson, G.; Gwenlan, C.; Hoche, S.; Hogg, C.; Huston, J.; Iacobucci, G.; Ingelman, G.; Jadach, S.; Jung, H.; Kalliopuska, J.; Kapishin, M.; Kersevan, B.; Khoze, V.; Klasen, M.; Klein, M.; Kniehl, B. A.; Kolhinen, V. J.; Kowalski, H.; Kramer, G.; Krauss, F.; Kretzer, S.; Kutak, K.; Lamsa, J. W.; Lonnblad, L.; Lastovicka, T.; Lastovicka-Medin, G.; Laenen, E.; Lagouri, Th.; Latorre, J. I.; Lavesson, N.; Lendermann, V.; Levin, E.; Levy, A.; Lipatov, A. V.; Lublinsky, M.; Lytkin, L.; Maki, T.; Magnea, L.; Maltoni, F.; Mangano, M.; Maor, U.; Mariotti, C.; Marola, N.; Martin, A. D.; Meyer, A.; Moch, S.; Monk, J.; Moraes, A.; Morsch, A.; Motyka, L.; Naftali, E.; Newman, P.; Nikitenko, A.; Oljemark, F.; Orava, R.; Ottela, M.; Osterberg, K.; Peters, K.; Petrucci, F.; Piccione, A.; Pilkington, A.; Piotrzkowski, K.; Piskounova, O. I.; Proskuryakov, A.; Prygarin, A.; Pumplin, J.; Rabbertz, K.; Ranieri, R.; Ravindran, V.; Reisert, B.; Richter-Was, E.; Rinaldi, L.; Robbe, P.; Rodrigues, E.; Rojo, J.; Ruiz, H.; Ruspa, M.; Ryskin, M. G.; Vera, A. Sabio; Salam, G. P.; Schalicke, A.; Schatzel, S.; Schorner-Sadenius, T.; Schienbein, I.; Schilling, F-P.; Schumann, S.; Seymour, M. H.; Siegert, F.; Sjostrand, T.; Skrzypek, M.; Smith, J.; Smizanska, M.; Spiesberger, H.; Schrempp, F.; Stasto, A.; Stenzel, H.; Stirling, W. J.; Szczypka, P.; Tapprogge, S.; Targett-Adams, C.; Tasevsky, M.; Teubner, T.; Thorne, R. S.; Tonazzo, A.; Tricoli, A.; Tuning, N.; Turnau, J.; Uwer, U.; Van Mechelen, P.; Venugopalan, R.; Verducci, M.; Vermaseren, J. A. M.; Vogt, A.; Vogt, R.; Ward, B. F. L.; Was, Z.; Watt, G.; Waugh, B. M.; Weiser, C.; Whalley, M. R.; Wing, M.; Winter, J.; Yost, S. A.; Zanderighi, G.; Zotov, N. P.
Report
Alekhin, S.; Altarelli, G.; Amapane, N.; Andersen, J.; Andreev, V.; Arneodo, M.; Avati, V.; Baines, J.; Ball, R. D.; Banfi, A.; Baranov, S. P.; Bartels, J.; Behnke, O.; Bellan, R.; Blumlein, J.; Bottcher, H.; Bolognesi, S.; Boonekamp, M.; Bourilkov, D.; Bracinik, J.; Bruni, A.; Bruni, G.; Buckley, A.; Bunyatyan, A.; Buttar, C. M.; Butterworth, J. M.; Butterworth, S.; Cacciari, M.; Carli, T.; Cerminara, G.; Chekanov, S.; Ciafaloni, M.; Colferai, D.; Collins, J.; Cooper-Sarkar, A.; Corcella, G.; Corradi, M.; Cox, B. E.; Croft, R.; Czyczula, Z.; Dainese, A.; Dasgupta, M.; Davatz, G.; Del Debbio, L.; Delenda, Y.; De Roeck, A.; Diehl, M.; Diglio, S.; Dissertori, G.; Dittmar, M.; Ellis, J.; Eskola, K. J.; Eynck, T. O.; Feltesse, J.; Ferro, F.; Field, R. D.; Forshaw, J.; Forte, S.; Geiser, A.; Gieseke, S.; Glazov, A.; Gleisberg, T.; Golonka, P.; Gotsman, E.; Grindhammer, G.; Grothe, M.; Group, C.; Groys, M.; Guffanti, A.; Gustafson, G.; Gwenlan, C.; Hoche, S.; Hogg, C.; Huston, J.; Iacobucci, G.; Ingelman, G.; Jadach, S.; Jung, H.; Kalliopuska, J.; Kapishin, M.; Kersevan, B.; Khoze, V.; Klasen, M.; Klein, M.; Kniehl, B. A.; Kolhinen, V. J.; Kowalski, H.; Kramer, G.; Krauss, F.; Kretzer, S.; Kutak, K.; Lamsa, J. W.; Lonnblad, L.; Lastovicka, T.; Lastovicka-Medin, G.; Laenen, E.; Lagouri, Th.; Latorre, J. I.; Lavesson, N.; Lendermann, V.; Levin, E.; Levy, A.; Lipatov, A. V.; Lublinsky, M.; Lytkin, L.; Maki, T.; Magnea, L.; Maltoni, F.; Mangano, M.; Maor, U.; Mariotti, C.; Marola, N.; Martin, A. D.; Meyer, A.; Moch, S.; Monk, J.; Moraes, A.; Morsch, A.; Motyka, L.; Naftali, E.; Newman, P.; Nikitenko, A.; Oljemark, F.; Orava, R.; Ottela, M.; Osterberg, K.; Peters, K.; Petrucci, F.; Piccione, A.; Pilkington, A.; Piotrzkowski, K.; Piskounova, O. I.; Proskuryakov, A.; Prygarin, A.; Pumplin, J.; Rabbertz, K.; Ranieri, R.; Ravindran, V.; Reisert, B.; Richter-Was, E.; Rinaldi, L.; Robbe, P.; Rodrigues, E.; Rojo, J.; Ruiz, H.; Ruspa, M.; Ryskin, M. G.; Vera, A. Sabio; Salam, G. P.; Schalicke, A.; Schatzel, S.; Schorner-Sadenius, T.; Schienbein, I.; Schilling, F-P.; Schumann, S.; Seymour, M. H.; Siegert, F.; Sjostrand, T.; Skrzypek, M.; Smith, J.; Smizanska, M.; Spiesberger, H.; Schrempp, F.; Stasto, A.; Stenzel, H.; Stirling, W. J.; Szczypka, P.; Tapprogge, S.; Targett-Adams, C.; Tasevsky, M.; Teubner, T.; Thorne, R. S.; Tonazzo, A.; Tricoli, A.; Tuning, N.; Turnau, J.; Uwer, U.; Van Mechelen, P.; Venugopalan, R.; Verducci, M.; Vermaseren, J. A. M.; Vogt, A.; Vogt, R.; Ward, B. F. L.; Was, Z.; Watt, G.; Waugh, B. M.; Weiser, C.; Whalley, M. R.; Wing, M.; Winter, J.; Yost, S. A.; Zanderighi, G.; Zotov, N. P.
Academic Journal
In: Computers and Security . (Computers and Security, October 2024, 145)
Report
Alwall, J.; Hoeche, S.; Krauss, F.; Lavesson, N.; Lonnblad, L.; Maltoni, F.; Mangano, M. L.; Moretti, M.; Papadopoulos, C. G.; Piccinini, F.; Schumann, S.; Treccani, M.; Winter, J.; Worek, M.
Eur.Phys.J.C53:473-500,2008
Report
Alwall, J.; Ballestrero, A.; Bartalini, P.; Belov, S.; Boos, E.; Buckley, A.; Butterworth, J. M.; Dudko, L.; Frixione, S.; Garren, L.; Gieseke, S.; Gusev, A.; Hinchliffe, I.; Huston, J.; Kersevan, B.; Krauss, F.; Lavesson, N.; Lönnblad, L.; Maina, E.; Maltoni, F.; Mangano, M. L.; Moortgat, F.; Mrenna, S.; Papadopoulos, C. G.; Pittau, R.; Richardson, P.; Seymour, M. H.; Sherstnev, A.; Sjöstrand, T.; Skands, P.; Slabospitsky, S. R.; Wcas, Z.; Webber, B. R.; Worek, M.; Zeppenfeld, D.
Comput.Phys.Commun.176:300-304,2007
검색 결과 제한하기
제한된 항목
[검색어] Lavesson, N.
발행연도 제한
-
학술DB(Database Provider)
저널명(출판물, Title)
출판사(Publisher)
자료유형(Source Type)
주제어
언어